JPH02199033A - 光学ガラスの製造方法 - Google Patents
光学ガラスの製造方法Info
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- JPH02199033A JPH02199033A JP2035489A JP2035489A JPH02199033A JP H02199033 A JPH02199033 A JP H02199033A JP 2035489 A JP2035489 A JP 2035489A JP 2035489 A JP2035489 A JP 2035489A JP H02199033 A JPH02199033 A JP H02199033A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C1/00—Ingredients generally applicable to manufacture of glasses, glazes, or vitreous enamels
- C03C1/006—Ingredients generally applicable to manufacture of glasses, glazes, or vitreous enamels to produce glass through wet route
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光学ガラスを製造する方法に関する。
さらに詳しくは、割れや気泡などの不整がなく光学的に
均質な大型のフッ素添加石英ガラス体を製造する方法に
関する。
均質な大型のフッ素添加石英ガラス体を製造する方法に
関する。
(従来技術)
高純度なガラスの製造方法として、シリコンアルコキシ
ドの加水分解、縮合により溶液中でSi02ガラス重合
体を生成する、ゾルゲル法が知られている。ゾルゲル法
では、適当な触媒の元で加水分解することにより、異な
る構造のガラス重合体を得ることができる0例えば、塩
酸などの酸性触媒を添加した場合には、線形ポリマ状の
重合体が生成する。一方、アンモニアなどの塩基性触媒
を用いた場合には、平均粒径が0.001〜0.3μm
の広い範囲で単一な粒度分布を有する微粒子状の重合体
を得ることができる。ゾルゲル法によるフッ素添加石英
ガラスの製造方法として、液相フッ素添加法が本発明者
らにより提案されている。
ドの加水分解、縮合により溶液中でSi02ガラス重合
体を生成する、ゾルゲル法が知られている。ゾルゲル法
では、適当な触媒の元で加水分解することにより、異な
る構造のガラス重合体を得ることができる0例えば、塩
酸などの酸性触媒を添加した場合には、線形ポリマ状の
重合体が生成する。一方、アンモニアなどの塩基性触媒
を用いた場合には、平均粒径が0.001〜0.3μm
の広い範囲で単一な粒度分布を有する微粒子状の重合体
を得ることができる。ゾルゲル法によるフッ素添加石英
ガラスの製造方法として、液相フッ素添加法が本発明者
らにより提案されている。
第5図に、このフッ素添加石英ガラス製造方法の工程を
示す、この方法は、シリコンアルコキシドを加水分解し
たゾル溶液1に、フッ素添加剤として、アルコキシ基の
一部をフッ素で置換したアルコキシド4を加えてフッ素
添加SiO2ゾル溶液5とし、続いてゲル6化し、乾燥
し、多孔質ゲル体7とし、これを高温処理して透明なフ
ッ素添加石英ガラス体8を得る方法である。
示す、この方法は、シリコンアルコキシドを加水分解し
たゾル溶液1に、フッ素添加剤として、アルコキシ基の
一部をフッ素で置換したアルコキシド4を加えてフッ素
添加SiO2ゾル溶液5とし、続いてゲル6化し、乾燥
し、多孔質ゲル体7とし、これを高温処理して透明なフ
ッ素添加石英ガラス体8を得る方法である。
この方法によれば、金属やOH基などの不純物が少なく
、また、気泡などの不整のない均質なフッ素添加石英ガ
ラス体を、屈折率の制御性よく製造することができる。
、また、気泡などの不整のない均質なフッ素添加石英ガ
ラス体を、屈折率の制御性よく製造することができる。
(発明の解決しようとする問題点)
従来、この方法では、粒度分布の侠いSiO2微粒子を
含むゾル溶液を用いていたため、以下の問題点が生じて
いた。5102微粒子の平均粒径が0.03μm以下の
場合には、ゲルの気孔径が小さいため、乾燥工程におい
て溶媒や水分を蒸発させる際、ゲル体の内部に大きな応
力が生じ、ゲル体の割れが発生し易かった。このため、
直径20mm、長さ50mm程度以上の寸法を持ったガ
ラス体は得られていなかった。一方、平均粒径が0.0
3μm以上のSiO2微粒子を用いた場合には、ゲル体
が柔弱であり、乾燥工程においてゲル体の変形が生じる
ため、所定の形状のガラス体を、寸法精度よく製造する
ことは困難であった。
含むゾル溶液を用いていたため、以下の問題点が生じて
いた。5102微粒子の平均粒径が0.03μm以下の
場合には、ゲルの気孔径が小さいため、乾燥工程におい
て溶媒や水分を蒸発させる際、ゲル体の内部に大きな応
力が生じ、ゲル体の割れが発生し易かった。このため、
直径20mm、長さ50mm程度以上の寸法を持ったガ
ラス体は得られていなかった。一方、平均粒径が0.0
3μm以上のSiO2微粒子を用いた場合には、ゲル体
が柔弱であり、乾燥工程においてゲル体の変形が生じる
ため、所定の形状のガラス体を、寸法精度よく製造する
ことは困難であった。
本発明は、上記の問題点に鑑みなされたものであり、光
学的に均質な大型のフッ素添加石英ガラス体を、寸法精
度よく製造する方法を提供するものである。
学的に均質な大型のフッ素添加石英ガラス体を、寸法精
度よく製造する方法を提供するものである。
(問題を解決するための手段)
本発明の製造方法は、シリコンのアルコキシドSi (
OR)4 (Rはアルキル基)を加水分解した平均粒径
が0.005μm以上0.03μm未満のSiO2微粒
子を含むゾル溶液と、平均粒径が0.03μm以上のS
i 02微粒子を混合し、続いてゲル化、乾燥して、
多孔質ゲル体とし、これを高温処理して、透明なガラス
体を得ることを特徴とする。
OR)4 (Rはアルキル基)を加水分解した平均粒径
が0.005μm以上0.03μm未満のSiO2微粒
子を含むゾル溶液と、平均粒径が0.03μm以上のS
i 02微粒子を混合し、続いてゲル化、乾燥して、
多孔質ゲル体とし、これを高温処理して、透明なガラス
体を得ることを特徴とする。
また、本発明の第2の製造方法は、上記0.03μm以
上のSiO2微粒子を混合した後のゾル溶液にシリコン
アルコキシドのアルコキシ基の少なくとも一つをフッ素
で置換したアルコキシドSi (OR)4−nFn (
0<n≦4)を加えたことを特徴としている。
上のSiO2微粒子を混合した後のゾル溶液にシリコン
アルコキシドのアルコキシ基の少なくとも一つをフッ素
で置換したアルコキシドSi (OR)4−nFn (
0<n≦4)を加えたことを特徴としている。
さらに本発明によれば、上記平均粒径が0.03μm以
上のSi02微粒子の添加量が、全シリコン原子に対し
、10モル%以上であることを特徴とする。
上のSi02微粒子の添加量が、全シリコン原子に対し
、10モル%以上であることを特徴とする。
本発明をさらに詳しく説明する。
本発明の光学ガラスの製造方法を第1図に示す。
この第1図より明らかなように、本発明による光学ガラ
スの製造方法によれば、Si(OR)4(Rはアルキル
基)を加水分解してえた平均粒径が0.005μm以上
0.03ttm未満のSiO2微粒子を含むゾル溶液1
と、平均粒径が0.03μm以上のSi02微粒子2を
混合し、このSiO2溶液3に任意にSi (OR)4
−nFn4を添加混合する。このような任意にフッ素置
換アルコキシドを添加したフッ素添加Si02ゾル溶液
5を静置してゲル6としたのち、乾燥して多孔質ゲル体
7とする。これを高温処理して透明ガラス体8を得る。
スの製造方法によれば、Si(OR)4(Rはアルキル
基)を加水分解してえた平均粒径が0.005μm以上
0.03ttm未満のSiO2微粒子を含むゾル溶液1
と、平均粒径が0.03μm以上のSi02微粒子2を
混合し、このSiO2溶液3に任意にSi (OR)4
−nFn4を添加混合する。このような任意にフッ素置
換アルコキシドを添加したフッ素添加Si02ゾル溶液
5を静置してゲル6としたのち、乾燥して多孔質ゲル体
7とする。これを高温処理して透明ガラス体8を得る。
上述のようなS i 02ゾル溶液に含まれる5t02
微粒子の平均粒径は0.005μm以上0゜03μm未
満である。このSi02微粒子の平均粒径が0.005
μm未満であると、後述の実施例より明らかなように均
質で、気泡などの不整のないガラスの作製が困難である
どう欠点を生じる。
微粒子の平均粒径は0.005μm以上0゜03μm未
満である。このSi02微粒子の平均粒径が0.005
μm未満であると、後述の実施例より明らかなように均
質で、気泡などの不整のないガラスの作製が困難である
どう欠点を生じる。
このようなゾル溶液に平均粒径が0.03μm以上のS
i 02微粒子を添加する。この微粒子は乾燥工程な
どにおいて、割れなどを防止するために添加され、0.
03μm未満の平均粒径であると、割れ防止などの効果
が発揮しにくい、一方この粒子の平均粒径の上限は好ま
しくは0.1μmである。0.1μmを越えるとゾル溶
液中で微粒子が沈殿してしまい恐れを生じるからである
。
i 02微粒子を添加する。この微粒子は乾燥工程な
どにおいて、割れなどを防止するために添加され、0.
03μm未満の平均粒径であると、割れ防止などの効果
が発揮しにくい、一方この粒子の平均粒径の上限は好ま
しくは0.1μmである。0.1μmを越えるとゾル溶
液中で微粒子が沈殿してしまい恐れを生じるからである
。
この微粒子の添加量は好ましくは10モル%以上である
。10モル%未満であると、乾燥工程において割れを生
じる恐れがある。一方、好ましい添加量の上限は70モ
ル%である。70モル%を越えて添加しても改良効果は
変化しないからである。
。10モル%未満であると、乾燥工程において割れを生
じる恐れがある。一方、好ましい添加量の上限は70モ
ル%である。70モル%を越えて添加しても改良効果は
変化しないからである。
上述のようなゾル溶液に本発明においては任意にS i
(OR)4−nFnで示されるアルコキシドを添加す
る。このフッ素置換アルコキシドはゲル強度を高くする
ために添加され、その好ましい添加量は1〜70モル%
である。1モル%未満であると添加効果がなく、一方7
0モル%を越えるとフッ素の触媒効果によって縮重合を
生じ、2次粒子を生成する。このため粒子の粒径が大き
くなって1500’C未満で透明ガラス化できなくなる
という欠点を生じる。
(OR)4−nFnで示されるアルコキシドを添加す
る。このフッ素置換アルコキシドはゲル強度を高くする
ために添加され、その好ましい添加量は1〜70モル%
である。1モル%未満であると添加効果がなく、一方7
0モル%を越えるとフッ素の触媒効果によって縮重合を
生じ、2次粒子を生成する。このため粒子の粒径が大き
くなって1500’C未満で透明ガラス化できなくなる
という欠点を生じる。
上述のアルコキシドおよびフッ素置換アルコキシドにお
いて、Rはアルキル基であり、好ましくはメチル、エチ
ル、プロピル、ブチル等低級アルキル基であるのがよい
。
いて、Rはアルキル基であり、好ましくはメチル、エチ
ル、プロピル、ブチル等低級アルキル基であるのがよい
。
(作用)
本発明の方法は、ゾル溶液中に、より粒径の大きいSi
02微粒子を添加することにより、ゲルの機械的強度を
高めることができ、乾燥工程における割れを発生するこ
となく、寸法精度の高い大型フッ素添加石英ガラス体の
製造を可能とするものである0本方法で得られるガラス
には、気泡などの不整の残留がなく、光学的な均質性が
非常に高いという特徴がある。
02微粒子を添加することにより、ゲルの機械的強度を
高めることができ、乾燥工程における割れを発生するこ
となく、寸法精度の高い大型フッ素添加石英ガラス体の
製造を可能とするものである0本方法で得られるガラス
には、気泡などの不整の残留がなく、光学的な均質性が
非常に高いという特徴がある。
以下、実施例により詳細に説明する。
(実施例1)
テトラエトキシシランSl(OC2H3)4をアンモニ
ア触媒の元に加水分解し、平均粒径が0゜01μmのS
i 02微粒子を含有するゾル溶液を作製した。この
ゾル溶液に、気相法により作製した平均粒径が0,01
μm、0.03μm、0゜1μmのSi02微粒子粉末
を加え、フッ素添加剤として Si (OC2H5)3Fを2モル%添加し、十分混合
した後、容器中でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、多孔
質ゲル体(直径12mm、長さ50mm)を得た。
ア触媒の元に加水分解し、平均粒径が0゜01μmのS
i 02微粒子を含有するゾル溶液を作製した。この
ゾル溶液に、気相法により作製した平均粒径が0,01
μm、0.03μm、0゜1μmのSi02微粒子粉末
を加え、フッ素添加剤として Si (OC2H5)3Fを2モル%添加し、十分混合
した後、容器中でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、多孔
質ゲル体(直径12mm、長さ50mm)を得た。
作製した乾燥ゲル体の曲げ強度を、三点曲げ試験により
評価した。第2図に結果を示す、アルコキシドから作製
したSi02微粒子の粒径と等しい0.01μmの微粒
子を添加した場合には、ゲルの強度は一定であるのに対
し、平均粒径が0.03μm、0.1μmの微粒子を添
加した場合には、添加量の増加と共に乾燥ゲル体の強度
が大きくなることが明らかとなった。平均粒径0゜1μ
mの微粒子を10モル%以上添加した場合には、曲げ強
度は添加しない場合の2倍となった。
評価した。第2図に結果を示す、アルコキシドから作製
したSi02微粒子の粒径と等しい0.01μmの微粒
子を添加した場合には、ゲルの強度は一定であるのに対
し、平均粒径が0.03μm、0.1μmの微粒子を添
加した場合には、添加量の増加と共に乾燥ゲル体の強度
が大きくなることが明らかとなった。平均粒径0゜1μ
mの微粒子を10モル%以上添加した場合には、曲げ強
度は添加しない場合の2倍となった。
本実施例により、アルコキシドの加水分解により作製し
たSiO2微粒子を含むゾル溶液に、より粒径の大きい
S i 02微粒子粉末を添加することにより、ゲル体
の機械的強度が高まることが明らかとなった。
たSiO2微粒子を含むゾル溶液に、より粒径の大きい
S i 02微粒子粉末を添加することにより、ゲル体
の機械的強度が高まることが明らかとなった。
(実施例2)
テトラエトキシシランSi (OC2H5)4をアンモ
ニア触媒の元に加水分解し、平均粒径が0.01μmの
Si02微粒子を含有するゾル溶液を作製した。このゾ
ル溶液に、気相法により作製した平均粒径が0.1μm
のSi02微粒子粉末を加え、フッ素添加剤として Si (OC2H5)3Fを10モル%添加し、十分混
合した後、容器中でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、多
孔質ゲル体を得た。このゲル体を1350°Cで高温処
理して、透明なフッ素添加石英ガラス体(直径45〜5
5mm、長さ135〜160mm)を得た。
ニア触媒の元に加水分解し、平均粒径が0.01μmの
Si02微粒子を含有するゾル溶液を作製した。このゾ
ル溶液に、気相法により作製した平均粒径が0.1μm
のSi02微粒子粉末を加え、フッ素添加剤として Si (OC2H5)3Fを10モル%添加し、十分混
合した後、容器中でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、多
孔質ゲル体を得た。このゲル体を1350°Cで高温処
理して、透明なフッ素添加石英ガラス体(直径45〜5
5mm、長さ135〜160mm)を得た。
第3図に、透明ガラス体に発生した割れの密度(ガラス
体中に生じた割れの総数をガラス体の体積で除した値)
と、気相法で作製したSiO2微粒子の添加量との関係
を示す0図に示すように、添加量が増すと共に割れの密
度が減少し、添加量10モル%以上で全く割れのないフ
ッ素添加石英ガラス棒が得られることが判明した。
体中に生じた割れの総数をガラス体の体積で除した値)
と、気相法で作製したSiO2微粒子の添加量との関係
を示す0図に示すように、添加量が増すと共に割れの密
度が減少し、添加量10モル%以上で全く割れのないフ
ッ素添加石英ガラス棒が得られることが判明した。
本実施例により、アルコキシドの加水分解により作製し
たSiO2微粒子を含むゾル溶液に、より粒径の大きい
SiO2微粒子粉末を添加することにより、割れのない
フッ素添加石英ガラス体を作製できることが明らかとな
った。実施例1で示したように、ゲルの機械的強度が高
まり、割れの発生を防ぐことができたものと考えられる
。
たSiO2微粒子を含むゾル溶液に、より粒径の大きい
SiO2微粒子粉末を添加することにより、割れのない
フッ素添加石英ガラス体を作製できることが明らかとな
った。実施例1で示したように、ゲルの機械的強度が高
まり、割れの発生を防ぐことができたものと考えられる
。
(実施例3)
テトラエトキシシランSi (OC2H5)4をアンモ
ニア触媒の元に加水分解し、平均粒径が0.003.0
.005.0.01μmのSiO2微粒子を含有する3
種類のゾル溶液を作製した。これらのゾル溶液それぞれ
70モル%に、気相法により作製した平均粒径が0.1
μmのSiO2微粒子粉末20モル%を加え、フッ素添
加剤として Si(OC2H3)3Fを10モル%添加し、十分混合
した後、容器中でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、3種
類の多孔質ゲル体を得た。これらのゲル体を1350℃
で高温処理して、フッ素添加石英ガラス体く直径10m
m、長さ80mm)を得た。
ニア触媒の元に加水分解し、平均粒径が0.003.0
.005.0.01μmのSiO2微粒子を含有する3
種類のゾル溶液を作製した。これらのゾル溶液それぞれ
70モル%に、気相法により作製した平均粒径が0.1
μmのSiO2微粒子粉末20モル%を加え、フッ素添
加剤として Si(OC2H3)3Fを10モル%添加し、十分混合
した後、容器中でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、3種
類の多孔質ゲル体を得た。これらのゲル体を1350℃
で高温処理して、フッ素添加石英ガラス体く直径10m
m、長さ80mm)を得た。
その結果、平均粒径0.003μmの微粒子を含有する
ゾル溶液に微粒子粉末を添加して作製したガラスには、
気泡の残留が認められた。一方、平均粒径0.005μ
m以上のゾル溶液に微粒子粉末を添加して作製したガラ
スは、非常に均質であり、気泡などの不整は全く見られ
なかった。
ゾル溶液に微粒子粉末を添加して作製したガラスには、
気泡の残留が認められた。一方、平均粒径0.005μ
m以上のゾル溶液に微粒子粉末を添加して作製したガラ
スは、非常に均質であり、気泡などの不整は全く見られ
なかった。
本実施例より、平均粒径が0.005μm以上のSiO
2微粒子を含むゾル溶液に、より粒径の大きいS i
02微粒子を添加することにより、気泡や割れのない非
常に均質なフッ素添加石英ガラス体を作製できることが
明らかとなった。
2微粒子を含むゾル溶液に、より粒径の大きいS i
02微粒子を添加することにより、気泡や割れのない非
常に均質なフッ素添加石英ガラス体を作製できることが
明らかとなった。
(実施例4)
気相法で作製したSiO2微粒子粉末に変えて、アルコ
キシドをアンモニア触媒の元に加水分解した、平均粒径
が0.03μmのS i 02微粒子を含むゾル溶液を
添加し、実施例2と同様の実験を行なった。
キシドをアンモニア触媒の元に加水分解した、平均粒径
が0.03μmのS i 02微粒子を含むゾル溶液を
添加し、実施例2と同様の実験を行なった。
第4図に、フッ素添加石英ガラス体(直径43〜48m
m、長さ130〜150mm)に発生した割れの密度と
、平均粒径0.03μmのSiO2微粒子の添加量との
関係を示す、実施例2の場合と同様に、添加量が増すと
共に割れの密度が減少し、添加量40モル%以上で全く
割れのないフッ素添加石英ガラス棒が得られることが判
明した。
m、長さ130〜150mm)に発生した割れの密度と
、平均粒径0.03μmのSiO2微粒子の添加量との
関係を示す、実施例2の場合と同様に、添加量が増すと
共に割れの密度が減少し、添加量40モル%以上で全く
割れのないフッ素添加石英ガラス棒が得られることが判
明した。
本実施例より、アルコキシドの加水分解により作製した
、より粒径の大きいSiO2微粒子を含むゾル溶液を添
加することにより、気相法で作製した微粒子粉末を添加
した場合と同様に、割れのないフッ素添加石英ガラス体
を作製できることが明らかとなった。
、より粒径の大きいSiO2微粒子を含むゾル溶液を添
加することにより、気相法で作製した微粒子粉末を添加
した場合と同様に、割れのないフッ素添加石英ガラス体
を作製できることが明らかとなった。
(実施例5)
実施例4と同様にして、平均粒径が0.01μmの微粒
子を50モル%、平均粒径が0.03μmの微粒子を4
0モル%含有するSiO2ゾル溶液に、フッ素添加剤S
i (OC2H5)3Fを10モル%添加し、十分混合
した後、シャーレ内でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、
多孔質ゲル板を得た。このゲル板を1350℃で高温処
理して、割れや気泡の全くない透明なフッ素添加石英ガ
ラス板(直径60mm、厚さ10mm)を得た。
子を50モル%、平均粒径が0.03μmの微粒子を4
0モル%含有するSiO2ゾル溶液に、フッ素添加剤S
i (OC2H5)3Fを10モル%添加し、十分混合
した後、シャーレ内でゲル化し、ゆっくりと乾燥して、
多孔質ゲル板を得た。このゲル板を1350℃で高温処
理して、割れや気泡の全くない透明なフッ素添加石英ガ
ラス板(直径60mm、厚さ10mm)を得た。
(実施例6)
作製したフッ素添加石英ガラスの光学的な品質を評価す
るため、光ファイバの作製を行なった。
るため、光ファイバの作製を行なった。
実施例5と全く同様にして作製したゾル溶液を、円筒状
の容器中でゲル化し、乾燥後、1350℃で高温処理し
て、透明なフッ素添加石英ガラス管(石英ガラスに対す
る比屈折率差−0,38%、外径25mm、内径15m
m、長さ200mm)を得た。このフッ素添加石英ガラ
ス管を加熱し、表面よりフッ素を蒸発させ、管内表面に
フッ素濃度の小さい拡散層を生じせしめ、続いてこのガ
ラス管を中実化して、中心軸に高屈折率部(コア)を有
する光フアイバ母材を得た。この母材を高温で線引きし
て、シングルモード光ファイバを得た。
の容器中でゲル化し、乾燥後、1350℃で高温処理し
て、透明なフッ素添加石英ガラス管(石英ガラスに対す
る比屈折率差−0,38%、外径25mm、内径15m
m、長さ200mm)を得た。このフッ素添加石英ガラ
ス管を加熱し、表面よりフッ素を蒸発させ、管内表面に
フッ素濃度の小さい拡散層を生じせしめ、続いてこのガ
ラス管を中実化して、中心軸に高屈折率部(コア)を有
する光フアイバ母材を得た。この母材を高温で線引きし
て、シングルモード光ファイバを得た。
得られたフッ素添加石英ガラス管は、均一な内径、外径
、肉厚を持ち、本方法により、寸法精度の高いガラス管
を製造できることが判明した0作製した光ファイバの損
失は、波長1.60μmにおいて0.3dB/kmと小
さく、作製したガラスが光学的に均質であることが明ら
かとなった。
、肉厚を持ち、本方法により、寸法精度の高いガラス管
を製造できることが判明した0作製した光ファイバの損
失は、波長1.60μmにおいて0.3dB/kmと小
さく、作製したガラスが光学的に均質であることが明ら
かとなった。
(発明の効果)
以上説明したように、アルコキシドの加水分解により作
製した、平均粒径が0.005μm以上0.03μm未
満のSi02微粒子を含有するゾル溶液に、より粒径に
大きいSi02微粒子を加えることにより、従来法で得
られるガラス体と比較して2倍以上寸法の大きい、光学
的に均質なフッ素添加石英ガラス体を、寸法精度よく、
製造することができる。
製した、平均粒径が0.005μm以上0.03μm未
満のSi02微粒子を含有するゾル溶液に、より粒径に
大きいSi02微粒子を加えることにより、従来法で得
られるガラス体と比較して2倍以上寸法の大きい、光学
的に均質なフッ素添加石英ガラス体を、寸法精度よく、
製造することができる。
第1図は本発明の光学ガラス製造方法の工程を示した図
、第2図は気相法で作製したS i 02微粒子の添加
量と乾燥ゲル体の曲げ強度の関係を示す図、第3図はフ
ッ素添加石英ガラス体に発生した割れの密度と、平均粒
径0.1μmの5102微粒子の添加量との関係を示す
図、第4図はフッ素添加石英ガラス体に発生した割れの
密度と、平均粒径0.03μmのS i 02微粒子の
添加量との関係を示す図、第5図は従来のフッ素添加石
英ガラスの製造方法の工程を示した図である。
、第2図は気相法で作製したS i 02微粒子の添加
量と乾燥ゲル体の曲げ強度の関係を示す図、第3図はフ
ッ素添加石英ガラス体に発生した割れの密度と、平均粒
径0.1μmの5102微粒子の添加量との関係を示す
図、第4図はフッ素添加石英ガラス体に発生した割れの
密度と、平均粒径0.03μmのS i 02微粒子の
添加量との関係を示す図、第5図は従来のフッ素添加石
英ガラスの製造方法の工程を示した図である。
Claims (3)
- (1)シリコンのアルコキシドSi(OR)_4(Rは
アルキル基)を加水分解した平均粒径が0.005μm
以上0.03μm未満のSiO_2微粒子を含むゾル溶
液と、平均粒径が0.03μm以上のSiO_2微粒子
を混合し、続いてゲル化、乾燥して、多孔質ゲル体とし
、これを高温処理して、透明なガラス体を得ることを特
徴とする光学ガラスの製造方法。 - (2)平均粒径が0.03μm以上のSiO_2微粒子
を混合したゾル溶液はシリコンアルコキシドのアルコキ
シ基の少なくとも一つをフッ素で置換したアルコキシド Si(OR)_4_−_nF_n(0<n≦4)を添加
したものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の光学ガラスの製造方法。 - (3)平均粒径が0.03μm以上のSiO_2微粒子
の添加量が、全シリコン原子に対し、10モル%以上で
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2
項記載の記載の光学ガラスの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1020354A JP2832213B2 (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光学ガラスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1020354A JP2832213B2 (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光学ガラスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02199033A true JPH02199033A (ja) | 1990-08-07 |
JP2832213B2 JP2832213B2 (ja) | 1998-12-09 |
Family
ID=12024779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1020354A Expired - Lifetime JP2832213B2 (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光学ガラスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2832213B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1081103A1 (en) * | 1999-09-03 | 2001-03-07 | Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG | Process for making molded glass and ceramic articles |
US7059153B2 (en) | 2000-06-05 | 2006-06-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for producing glass powders |
US8121072B2 (en) | 2002-07-30 | 2012-02-21 | Fujitsu Limited | Adaptive modulation and coding |
-
1989
- 1989-01-30 JP JP1020354A patent/JP2832213B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1081103A1 (en) * | 1999-09-03 | 2001-03-07 | Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG | Process for making molded glass and ceramic articles |
US7059153B2 (en) | 2000-06-05 | 2006-06-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for producing glass powders |
US8121072B2 (en) | 2002-07-30 | 2012-02-21 | Fujitsu Limited | Adaptive modulation and coding |
US8488520B2 (en) | 2002-07-30 | 2013-07-16 | Fujitsu Limited | Adaptive modulation and coding |
US8576771B2 (en) | 2002-07-30 | 2013-11-05 | Fujitsu Limited | Adaptive modulation and coding |
US8665781B2 (en) | 2002-07-30 | 2014-03-04 | Fujitsu Limited | Adaptive modulation and coding |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2832213B2 (ja) | 1998-12-09 |
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