JPH0219684Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0219684Y2 JPH0219684Y2 JP4424282U JP4424282U JPH0219684Y2 JP H0219684 Y2 JPH0219684 Y2 JP H0219684Y2 JP 4424282 U JP4424282 U JP 4424282U JP 4424282 U JP4424282 U JP 4424282U JP H0219684 Y2 JPH0219684 Y2 JP H0219684Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- turntable
- pick
- arm
- height
- head body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の技術分野〕
この考案はたとえばビデオデイスクプレーヤな
どにおけるターンテーブルの高さ測定装置に関す
る。
どにおけるターンテーブルの高さ測定装置に関す
る。
ビデオデイスクプレーヤやレコードプレーヤな
どの再生時において、安定した再生特性を得るた
めにはターンテーブルの高さ、平行度を設定値内
におさめる必要があり、組立時に高精度の調整が
要求される。そこで、従来においては、ピツクア
ツプアームに測定ヘツド本体を３点支持し、ピツ
クアツプアームを基準面として測定ヘツド本体に
設けられた接触子をターンテーブルに接触させる
ことにより高さ測定している。
どの再生時において、安定した再生特性を得るた
めにはターンテーブルの高さ、平行度を設定値内
におさめる必要があり、組立時に高精度の調整が
要求される。そこで、従来においては、ピツクア
ツプアームに測定ヘツド本体を３点支持し、ピツ
クアツプアームを基準面として測定ヘツド本体に
設けられた接触子をターンテーブルに接触させる
ことにより高さ測定している。
しかしながら、ピツクアツプアームに測定ヘツ
ド本体を単に載置しているだけであるため測定時
に測定圧力の反作用が測定ヘツド本体に加わり、
測定ヘツド本体が不安定となつて高精度の測定が
できないという不都合がある。そこで、測定ヘツ
ド本体の重量を上げて安定化を図ることも試みら
れているが、ピツクアツプアームの強度、スペー
スに制約があり、重量を上げるにも制限されると
いう問題がある。
ド本体を単に載置しているだけであるため測定時
に測定圧力の反作用が測定ヘツド本体に加わり、
測定ヘツド本体が不安定となつて高精度の測定が
できないという不都合がある。そこで、測定ヘツ
ド本体の重量を上げて安定化を図ることも試みら
れているが、ピツクアツプアームの強度、スペー
スに制約があり、重量を上げるにも制限されると
いう問題がある。
この考案は上記事情に着目してなされたもの
で、その目的とするところは、軽量でありながら
安定した測定ができ、基準面に対するターンテー
ブルの高さを高精度に測定できるターンテーブル
の高さ測定装置を提供しようとするものである。
で、その目的とするところは、軽量でありながら
安定した測定ができ、基準面に対するターンテー
ブルの高さを高精度に測定できるターンテーブル
の高さ測定装置を提供しようとするものである。
ピツクアツプアームの基準面に着磁力によつて
固定される測定ヘツド本体を着脱可能に設け、測
定ヘツド本体の安定化を図るとともに、この測定
ヘツド本体にターンテーブルの上面と接触する接
触子を設けてこの接触子の移動量をセンサによつ
て検出することにある。
固定される測定ヘツド本体を着脱可能に設け、測
定ヘツド本体の安定化を図るとともに、この測定
ヘツド本体にターンテーブルの上面と接触する接
触子を設けてこの接触子の移動量をセンサによつ
て検出することにある。
以下、この考案を図面に示す一実施例にもとづ
いて説明する。図中１はベースで、このベース１
上にはビデオデイスクあるいはレコードデイスク
を載置するためのターンテーブル２が設けられて
いる。このターンテーブル２の隣側に位置するベ
ース１上にはレール３，３が敷設されていて、こ
れらレール３，３上にはピツクアツプアーム４が
走行自在に載置されている。すなわち、ピツクア
ツプアーム４は枠体５とこの枠体５の開口部を閉
塞する底板６および枠体５の長手方向両端部に設
けたローラ７，７とからなり、これらローラ７，
７は上記レール３，３上を転動するようになつて
いる。さらに、枠体５の長手方向中間部にはピツ
クアツプ（図示しない。）を取付けるためのピツ
クアツプホルダ８がピン９を支点として上下方向
開閉自在に枢着されていて、閉塞時に上記ピツク
アツプがターンテーブル２上のデイスク（図示し
ない。）に接触するようになつている。
いて説明する。図中１はベースで、このベース１
上にはビデオデイスクあるいはレコードデイスク
を載置するためのターンテーブル２が設けられて
いる。このターンテーブル２の隣側に位置するベ
ース１上にはレール３，３が敷設されていて、こ
れらレール３，３上にはピツクアツプアーム４が
走行自在に載置されている。すなわち、ピツクア
ツプアーム４は枠体５とこの枠体５の開口部を閉
塞する底板６および枠体５の長手方向両端部に設
けたローラ７，７とからなり、これらローラ７，
７は上記レール３，３上を転動するようになつて
いる。さらに、枠体５の長手方向中間部にはピツ
クアツプ（図示しない。）を取付けるためのピツ
クアツプホルダ８がピン９を支点として上下方向
開閉自在に枢着されていて、閉塞時に上記ピツク
アツプがターンテーブル２上のデイスク（図示し
ない。）に接触するようになつている。
このように構成されたピツクアツプアーム４に
はターンテーブル２の高さを測定するための高さ
測定器１０が着脱可能に設けられている。１１は
測定ヘツド本体で、これは金属板状体を逆Ｕ字状
に曲成し、その折曲部１２の両端部に脚部１３，
１４を設けた形状に形成されている。そして、測
定ヘツド本体１１の折曲部１２は上記ピツクアツ
プホルダ８を起立したときこれを包容する大きさ
に形成され、脚部１３，１４には支持部材１５，
１６が設けられている。この一方の支持部材１５
にはその下端にフエライトなどの永久磁石１７が
取付けられており、この永久磁石１７の着磁力に
よつてピツクアツプアーム４の底板６に吸着され
るようになつている。また、他方の支持部材１６
は傾斜面１８，１８を隣接した支持ブロツク１９
によつて形成され、底板６上のコイルホルダ２０
と接触するようになつている。すなわち、測定ヘ
ツド本体１，１はピツクアツプアーム４の底板６
を高さ方向の基準面２１として永久磁石１７と２
つの傾斜面１８，１８とによつて３点支持される
ようになつている。さらに、この測定ヘツド本体
１１の一方の脚部１３にはセンサホルダ２２に取
付けられている。そして、このセンサホルダ２２
には上記底板６の通孔２３を貫通する接触子２４
が上下動自在に支承され、その下端は測定面すな
わちターンテーブル２の上面に接触するようにな
つている。また、接触子２４の上端は上記センサ
ホルダ２２に取付けられたセンサ２５に当接して
おり、接触子２４の上下方向の移動量を測定し、
その測定値を表示部（図示しない。）に表示でき
るようになついる。
はターンテーブル２の高さを測定するための高さ
測定器１０が着脱可能に設けられている。１１は
測定ヘツド本体で、これは金属板状体を逆Ｕ字状
に曲成し、その折曲部１２の両端部に脚部１３，
１４を設けた形状に形成されている。そして、測
定ヘツド本体１１の折曲部１２は上記ピツクアツ
プホルダ８を起立したときこれを包容する大きさ
に形成され、脚部１３，１４には支持部材１５，
１６が設けられている。この一方の支持部材１５
にはその下端にフエライトなどの永久磁石１７が
取付けられており、この永久磁石１７の着磁力に
よつてピツクアツプアーム４の底板６に吸着され
るようになつている。また、他方の支持部材１６
は傾斜面１８，１８を隣接した支持ブロツク１９
によつて形成され、底板６上のコイルホルダ２０
と接触するようになつている。すなわち、測定ヘ
ツド本体１，１はピツクアツプアーム４の底板６
を高さ方向の基準面２１として永久磁石１７と２
つの傾斜面１８，１８とによつて３点支持される
ようになつている。さらに、この測定ヘツド本体
１１の一方の脚部１３にはセンサホルダ２２に取
付けられている。そして、このセンサホルダ２２
には上記底板６の通孔２３を貫通する接触子２４
が上下動自在に支承され、その下端は測定面すな
わちターンテーブル２の上面に接触するようにな
つている。また、接触子２４の上端は上記センサ
ホルダ２２に取付けられたセンサ２５に当接して
おり、接触子２４の上下方向の移動量を測定し、
その測定値を表示部（図示しない。）に表示でき
るようになついる。
しかして、ターンテーブル２の高さを測定する
場合には、ピツクアツプアーム４のピツクアツプ
ホルダ８をピン９を支点として起立し、底板６上
に測定ヘツド本体１１を載置する。このとき、測
定ヘツド本体１１は支持部材１５に設けた永久磁
石１７の着磁力と支持部材１６に設けた傾斜面１
８，１８とによつて基準面２１上に３点支持され
る。したがつて、測定ヘツド本体１１はピツクア
ツプアーム４上に固定的に支持され、接触子２４
はその下端がターンテーブル２の上面に接触す
る。この状態で、測定ヘツド本体１１を載置した
ピツクアツプアーム４をレール３，３に沿つて走
行すると、接触子２４はターンテーブル２の上面
を摺動しながら径方向に走査する。したがつて、
ターンテーブル２の高さによつて接触子２４は上
下方向に移動し、その移動量すなわち高さはセン
サ２５によつて検出されることになる。なお、こ
のとき、測定圧力の反作用が測定ヘツド本体１１
に加わつても測定ヘツド本体１１は着磁力によつ
て基準面２１に固定されているため安定し、高精
度の測定ができる。
場合には、ピツクアツプアーム４のピツクアツプ
ホルダ８をピン９を支点として起立し、底板６上
に測定ヘツド本体１１を載置する。このとき、測
定ヘツド本体１１は支持部材１５に設けた永久磁
石１７の着磁力と支持部材１６に設けた傾斜面１
８，１８とによつて基準面２１上に３点支持され
る。したがつて、測定ヘツド本体１１はピツクア
ツプアーム４上に固定的に支持され、接触子２４
はその下端がターンテーブル２の上面に接触す
る。この状態で、測定ヘツド本体１１を載置した
ピツクアツプアーム４をレール３，３に沿つて走
行すると、接触子２４はターンテーブル２の上面
を摺動しながら径方向に走査する。したがつて、
ターンテーブル２の高さによつて接触子２４は上
下方向に移動し、その移動量すなわち高さはセン
サ２５によつて検出されることになる。なお、こ
のとき、測定圧力の反作用が測定ヘツド本体１１
に加わつても測定ヘツド本体１１は着磁力によつ
て基準面２１に固定されているため安定し、高精
度の測定ができる。
この考案は以上説明したように、ピツクアツプ
アームの基準面に着磁力によつて固定される測定
ヘツド本体を設けたから、測定時の測定圧力によ
る反作用が加わつても安定した状態に保持でき、
高精度の測定ができるという効果を奏する。
アームの基準面に着磁力によつて固定される測定
ヘツド本体を設けたから、測定時の測定圧力によ
る反作用が加わつても安定した状態に保持でき、
高精度の測定ができるという効果を奏する。
図面はこの考案の一実施例を示すもので、第１
図は斜視図、第２図は測定器の縦断面図、第３図
は支持部材の斜視図である。 １……ベース、２……ターンテーブル、３……
レール、４……ピツクアツプアーム、１１……測
定ヘツド本体、２１……基準面、２４……接触
子、２５……センサ。
図は斜視図、第２図は測定器の縦断面図、第３図
は支持部材の斜視図である。 １……ベース、２……ターンテーブル、３……
レール、４……ピツクアツプアーム、１１……測
定ヘツド本体、２１……基準面、２４……接触
子、２５……センサ。
Claims (1)
- ターンテーブルを備えたベースと、このベース
に敷設されたレールと、このレール上に走行自在
に設けられ前進時に上記ターンテーブルの上面と
対向するピツクアツプアームと、このピツクアツ
プアームの基準面に着脱可能に３点支持されると
ともに着磁力によつて固定される測定ヘツド本体
と、この測定ヘツド本体に上下動自在に設けられ
下端部が上記ターンテーブルの上面に接触する接
触子と、この接触子の移動量を検出してターンテ
ーブルの高さを検出するセンサとを具備したこと
を特徴とするターンテーブルの高さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4424282U JPS58146912U (ja) | 1982-03-29 | 1982-03-29 | タ−ンテ−ブルの高さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4424282U JPS58146912U (ja) | 1982-03-29 | 1982-03-29 | タ−ンテ−ブルの高さ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58146912U JPS58146912U (ja) | 1983-10-03 |
| JPH0219684Y2 true JPH0219684Y2 (ja) | 1990-05-30 |
Family
ID=30055302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4424282U Granted JPS58146912U (ja) | 1982-03-29 | 1982-03-29 | タ−ンテ−ブルの高さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58146912U (ja) |
-
1982
- 1982-03-29 JP JP4424282U patent/JPS58146912U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58146912U (ja) | 1983-10-03 |
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