JPH02192046A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

光磁気記録媒体

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JPH02192046A
JPH02192046A JP11833089A JP11833089A JPH02192046A JP H02192046 A JPH02192046 A JP H02192046A JP 11833089 A JP11833089 A JP 11833089A JP 11833089 A JP11833089 A JP 11833089A JP H02192046 A JPH02192046 A JP H02192046A
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小林 政信
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仁典 前野
Kayoko Oishi
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は光磁気記録媒体に関するものであり、特に、
CN比(Carrier No1se Ratio:搬
送波対雑音比)と記録感度とに優れた反射膜を具える光
磁気記録媒体に関する。
(従来の技術) 光磁気記録媒体(以下、単に記録媒体と称する場合も有
る。)は、書換えの出来る磁性膜を具えた高密度記録媒
体としで、研究開発が活発に行なわれている。
このような記録媒体の磁性膜を構成する光磁気記録材料
の内でも、希土類金属と遷移金属との非晶質合金(以下
、単にRE−TM金合金称する場合も有る。)は、磁化
方向が成膜面に対して垂直に配向した垂直磁化膜となる
こと、保磁力か数(にOe)と大きいこと、スパッタ、
真空蒸着またはその他の被着技術で比較的容易に成膜が
可能であること等の点で、最も研究が進み、実用化が進
んでいる。
このようなRE−TM金合金用いた記録媒体では、磁性
膜が垂直磁化膜であることから108(ビット/cm2
)という極めて高密度な記録が可能であり、ざらに、原
理的には、情報の消去と再書込みとの繰り返しを無限回
に近く行なうことができるという優れた特色を有する。
しかしなから、RE−TM金合金ら成る磁性膜は耐食性
が低く(例えば文献■: 「光磁気ディスク」 (今村
修武監修、■トリケッブス発行。
第427頁)参照)、シがも、磁気光学的な効果(カー
(にerr)効果)が小さいという欠点が有る。
そこで、上述した磁性膜の、読取り側とは相反する位H
に反射膜を設けたり、保護膜によって磁性膜を挟んで配
設することにより、光の屈折及び反射を利用して見掛は
上のカー(にerr)回転角を大きくする構造が知られ
ている(前記文献■:第119頁)。
以下、図面を参照しで、上述した従来の光磁気記録媒体
につき説明する。
第5図(A)は、従来の記録媒体の一構成例を説明する
ため、概略的な断面により示す説明図である。尚、同図
中、断面を示すハツチングは一部省略する。
この第5図(A)に示すように、基板11の表面に保護
膜13a、fii性膜15、保護膜+3b及び反射膜1
7ヲ順次形成することによって記録媒体19が構成され
る。
このうち、基板11は、ポリカーボネート樹脂、ガラス
、エポキシ樹脂のように記録媒体の書込みや読出しに用
いられる光の波長で透明な材料から構成される。
また、保護膜13aと+3bとは、例えば5iO1Si
02、A見N 、 5iJ4、/1(jSiN 、 A
(jsiONといった保護膜材料を被着させて形成する
さらに、磁性膜15は前述したRE−TM金合金ら構成
され、このような合金として例えばTb−Fe合金、T
b −Co合金、Tb−Fe−Co合金またはその他、
希土類金属と遷移金属との組み合わせが、種々、知られ
ている。
これに加えて、反射膜17を構成する材料としては、ア
ルミニウム(/lu)、金(Au)、銀(Ag)、銅(
Cu)またはチタン(Ti)といった反射膜材料が知ら
れている。
また、上述の反射膜17ヲ具えて構成した記録媒体とし
ては、基板11の表面に、保護膜13a、磁性膜15、
反射膜17及び保護膜+3bを順次積層した構成の記録
媒体21(第5図(B)g照)も知られている。
このような記録媒体は、外部磁界をかけた状態で、基板
11から磁性膜15へ向かう方向に1(um)程度のス
ポット径に絞ったレーザビームを照射し、所謂、熱磁気
書込み方式によって情報の書込みが行なわれる。即ち、
上述のレーザヒムによって局部的に加熱された磁性膜は
保磁力か低下し、この際、記録情報を担った外部磁界に
より、磁性膜に情報が書き込まれる。また、このような
記録情報の書込みを上述したレーザビームのビット長や
間隔によって行なうことも成されている。
上述した説明からも理解できるように、光磁気記録媒体
の記録感度は、磁性膜に対する保温性と多重反射の度合
とに大きく影響を受ける。
従って、このような観点から反射膜を見た場合、熱伝導
率が小さい材料で反射膜を構成して書込み時の放熱を抑
制すると共に、反射率が高い材料で当該膜を構成し、読
出し時の多重反射を効率良く行なうことが要求される。
(発明が解決しようとする課題) 上述したように、従来知られている反射膜材料のうち、
銀(八9)を用いて反射膜を構成する場合には、A9が
高い反射率を有するため、約48(dB)のCN比を達
成することができる。しかしながら、この反面、熱伝導
率が大きいので、磁性膜の放熱を補うために、書込みに
用いるレーザビームの出力に相当する記録パワーを高エ
ネルギーとする必要か有った。
この発明の目的は、上述した従来の問題点に鑑み、銀単
体で反射膜を構成した場合に比べて小さな記録パワーで
書込むことができ、しかも実用的な読出し感度を有する
光磁気記録媒体を提供することに有る。
(課題を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この出願の第発明に係る光
磁気記録媒体によれば、基板上に少なくとも磁性膜と反
射膜とを具えて成る光磁気記録媒体において、 上述の反射膜が、銀(Ag)とマンガン(Mn)とから
成る ことを特徴としている。
この第一発明の実施に当っては、上述した反射膜の、銀
(Ag)−マンガン(Mn)におけるマンガン(Mn)
の添加率を2(原子%)以上32(原子%)以下とする
のが好適である。
また、この出願の第二発明に係る光磁気記録媒体の構成
によれば、基板上に少なくとも磁性膜と反射膜とを具え
て成る光磁気記録媒体において、 上述の反射膜が、銀(Ag)とマンガン(Mn)と錫(
Sn)とから成る ことを特徴としている。
この第二出願の実施に当っては、上述した銀(Ag)−
マンガン(Mn)−錫(Sn)からなる反射膜の組成を
、 ■マンガン(Mn)の添加率を1(原子1%)とした場
合には、錫(Sn)の添加率を1(原子%)以上23(
原子%)以下 ■マンガン(Mn)の添加率を7(原子%)とした場合
には、錫(Sn)の添加率を1(原子%)以上20(原
子%)以下 ■マンガン(Mn)の添加率ヲ15(原子%)とした場
合には錫(Sn)の添加率を1(原子%)以上14(原
子%)以下 の、夫々の範囲内とするのが好適である。
(作用) この出願の第一発明に係る光磁気記録媒体によれば、C
N比を高く採り得る銀(Ag)と、マンガン(Mn)と
によって反射膜を構成する。これがため、Mn7a含む
構成とすることによりA9単体で構成された反射膜に比
べて記録パワーの低減を図ることができる。
また、この出願の第二発明に係る光磁気記録媒体によれ
ば、CN比を高く採り得る銀(Ag)と、マンガン(M
n)及び錫(Sn)との組み合わせで反射膜を構成する
。これがため、Mn及びSnt含む構成とすることによ
り、A9単体で構成された反射膜に比べて記録パワーの
低減を図ることができる。
(実施例) 以下、図面を参照して、この発明の実施例につき説明す
る。尚、以下説明する実施例は、この発明の範囲内の好
ましい数値例、その他の条件で説明するが、これらは単
なる例示であって、この発明がこれら条件にのみ限定さ
れるものではないことを理解されたい。
以下、第一発明に係る銀(Ag)とマンガン(Mn)と
によって反射膜を構成する場合を実施例1とし、第二発
明に係る銀(Ag)とマンガン(Mn)及び錫(Sn)
とによって反射膜を構成する場合を実施例2として説明
する。
東】l性1 ます、この実施例]では、銀(Ag)とマンガン(Mn
)とで構成される反射膜におけるMnの添加率を種々に
変え、異なる膜厚の反射膜を形成した複数の光磁気記録
媒体につき、記録パワーとCN比とを測定した。
〈光磁気記録媒体の作製〉 始めに、図面を参照して、測定試料となる光磁気記録媒
体の作製手順につき説明する。
この実施例では、前述した第5図(B)に示す構成で記
録媒体を作製し、基板11の表面に、保護膜13a、磁
性膜15、反射膜17及び保護膜+3bを順次積層して
、測定試料となる光磁気記録媒体21を得た。
まず、ポリカーボネートから成る基板11の表面に、膜
厚700(λ)で窒化珪素アルミニウム(#jSiN)
から成る保護膜13aを被着せしめる。
この被着はマグネトロシスバッタ法によって行ない、被
着条件は、投入電力か約500(W )、アルゴンのガ
ス圧が3 (mTorr)とした。
続いて、上述の被着方法及び被着条件によって、テルビ
ウム:鉄:コバルトの原子数の比が22ニア0:8の組
成を有するターゲットを用い、保護膜13aの表面に約
300(人)の膜厚で磁性膜15を被着する。
次に、上述した保護膜+3bの表面に、A9とMnとに
おけるMnの添加率をO〜45(原子%)の範囲内で種
々に変え、さらに、膜厚を200(人)、300(大)
及び400(λ)として、Mn添加率と膜厚とが異なる
反射膜17を、夫々、被着形成する。
この時の被着条件は、前述と同様に投入電力500(W
) 、アルゴンガス圧3 (mTorr)とし、各々の
単一金属から成るターゲット同士を重ねた際の、被スパ
ツタ面における面積比を変えることにより、上述したM
nの添加率を種々に変えた。
然る後、上述した反射膜17の表面に、保護膜13aと
同一の被着条件及び膜厚1こよって、AQSjNから成
る保護膜+3bを被着し、測定試料として、反射膜17
の組成が異なる複数の光磁気記録媒体21を得た。
〈特性測定の手順〉 次に、上述した測定試料としての記録媒体につき、記録
パワー及びCN比を測定した手順につき説明する。
まず、各試料の記録パワーの測定(こ当っては、波長8
30(nm)の光を用い、回転数1800(r、p、m
、)、デユーティ−33(%)、記録周波数3.7(M
Hz)の記録条件に統一して行なった。
また、CN比の測定は上述した条件で夫々の試料に応じ
た記録パワーを以って書込んだ後、読出しパワー1.0
(mW) 、バント幅30(にHz)の読出し条件で行
なった。
〈特性測定の結果〉 次に、図面を参照して、上述した記録パワ及びCN比の
測定結果と、A9−MnにおけるMnの添加率との関係
につき説明する。
第1図は、上述した添加率と記録パワーとの関係を説明
するため、縦軸に記録パワー(mW)及び横軸1こは八
g−MnにおけるMnの添加率(原子%)を夫々採って
示す特性曲線図である。同図中、曲線aは膜厚を400
(λ)として反射膜を具えた試料の結果、曲線すは膜厚
を300(人)として反射膜を具えた試料の結果、及び
曲線Cは膜厚を200(λ)として反射膜を具えた試料
の結果を、各々、表わしている。
この第1図からも理解できるように、反射膜におけるM
n添加率が0(原子%)(Agのみから成る反射膜に相
当)である試料の場合、記録パワは反射膜の膜厚によっ
て異なり、膜厚が400(^)では約8.0(mW) 
、300(λ)では約6.2(mW)、200(大)で
は約5.4(mW)であった。
これに対して、Mnの添加率を増加させること1こよっ
て記録パワーは減少し、例えば、Mn添加率を2(原子
%) (AgeaMn2の反射膜に相当)として作製し
た試料では、膜厚が400(λ)では約6.0(mW)
、300(λ)では約5. O(mW)、200(人)
では約4.4(mW)にまで、夫々、記録パワーを低減
させることができた。
また、反射膜の膜厚を400(A)とした場合、曲線a
から理解できるように、Mn添加率を上述した2(原子
%)から増加させるに従って記録パワーは減少傾向を示
し、Mn添加率ヲ45(原子%)として作製した試料で
は約4.0(mW)の記録パワーが得られ、当該添加率
を45(原子%)以上としても、実質的な記録パワーの
低減は図れなかった。
方、この膜厚を300(λ)(曲線b)または200(
人)(曲線C)とした場合には、いずれも−度は減少傾
向を示した記録パワーか、Mn添加率を増加させるに従
って、再度、増大してしまうのが理解できる。
続いて、第2図ヲ参照して、上述した実施例1の記録媒
体に関するCN比の測定結果とMn添加率との関係につ
き説明する。
第2図は、上述した添加率とCN比との関係を説明する
ため、縦軸にCN比(dB)及び横軸にはA9Mnにお
けるMnの添加率(原子%)を夫々採って示す特性曲線
図である。同図中においても、第1図と同様に、各々の
膜厚に対応させて曲線に符号を付して有る。
この第2図からも理解できるように、反射膜におけるM
n添加率が0(原子%)(Agのみから成る反射膜に相
当)である試料(曲線a)の場合、いずれの膜厚であっ
ても、CN比は約48.0(dB)であった。Mn添加
率を増加させることによるCN比の低下は当該添加率が
7(原子%)(Ag9Jn7の反射膜に相当)程度まで
の範囲内では実質的に認められず、約48.0(dB)
の値が維持された。ざらに、Mnの添加率を上述の7(
原子%)から増加させるに従ってCN比は低下するのか
理解できる。
その低下の度合は、反射膜の膜厚が小さい程大きく成り
、Mn添加率ヲ45(原子%)  (AgssMn45
)として作製した記録媒体では、膜厚が400(λ)の
場合に約44.0(dB) (曲線a) 、300(人
)では約43.0(dB) (曲線b ) 、200(
A )では39(dB)程度(曲線C)のCN比であっ
た。
以下、上述した第1図及び第2図を参照して、第一発明
の^q−Mnによって構成される反射膜におけるMni
加率の好適範囲につき説明する。
これら2つの特性曲線図に示す結果からも理解できるよ
うに、Mn添加率と記録パワーとの関係は反射膜の膜厚
によって異なり、当該膜厚を400(人)とした場合に
は、Mn添加率を大きくするに従って記録パワーの低減
を図ることができる。
しかしながら、300(λ)以下の膜厚で反射膜を形成
した場合、Mn添加率の増加による反射特性の劣化を来
して光か透過してしまう割合のほうが大きくなり、CN
比の低下及び記録パワーの増大を来す。
これらの知見から、Mn添加率の好適範囲の下限は記録
パワーの測定結果から設定し、当該範囲の上限はCN比
の測定結果から設定すれば良い。
まず、第1図に示す曲線から理解できるように、Mn添
加率を比較的低い値の範囲内で増加させるに従って記録
パワーの低減を図ることができる。ここで、曲線の傾き
に注目すれば、この傾きはMn添加率か約3.5(原子
%)近傍から徐々に小さくなり始めるのが理解できる。
従って、Ag−MnfこおけるMnの添加率の下限は上
述した値を含み、2(原子%)以上とするのが好適であ
る。
また、CN比については、ISO(Internati
onalOr9anization for 5tan
dardization:国際標準化機構)の国際規格
によって、回転数1800(r、p、m、)及び周波数
3.7(MHz)で書き込みを行なった場合(こ45(
dB)以上を満たすことが要求されている。
従って、この規格を満たすMnの添加率を第2図から求
め、当該添加率を32(原子%)以下とすれば良いこと
が理解できる。
上述した説明からも理解できるように、銀単体で反射膜
を構成した場合に比べて小さな記録パワーで書込むこと
ができ、しがも実用的な読出し感度を有する反射膜を得
るには、A9−MnにおけるMnの添加率を2(原子%
)以上、32(原子%)以下とするのが好適である。
東11性λ この実施例2では、銀(八9)とマンガン(Mn)及び
錫(Sn)とで構成される反射膜において、MnとSn
との添加率を種々に変えて反射膜を形成した試料につき
、記録パワーとCN比とを測定した結果を説明する。尚
、特性測定と当該測定に当っての試料となる記録媒体の
作、製とについては、実施例1で述べた条件に統一して
行なった。従って、以下の説明においでは重複説明を回
避するため、測定結果についてのみ図面を参照して説明
する。
また、MnとSnとの添加率を変えるに当っては、A9
−Mn−3nにおけるMnの添加率を一定とした条件下
でSnの添加率のみを種々に変えて複数の記録媒体を作
製することにより行なった。さらに、この実施例では、
反射膜の膜厚を400(人)として作製した記録媒体と
、当該膜厚を200(λ)として作製した記録媒体との
測定結果につき説明する。
第3図(A)及び(B)は、A9−Mn−Snにおける
Mn添加率及び5n5fi加率と、記録パワーとの関係
を説明するため、縦軸に記録パワー(mW)及び横軸に
はSnの添加率(原子%)を夫々採って示す特性曲線図
である。これら特性曲線図のうち、第3図(A)は反射
膜の膜厚を400(λ)とした場合の測定結果を表わし
、第3図(B)は当該膜厚を200(λ)とし7′Lz
ti合の結果を表わしている。ざらに、これら図中、曲
線工は第二発明に係る反射膜との比較を行なうため、M
ni添加することなくA9とSnとの組成を種々に変え
て作製した試料の測定結果を示している。また、曲線I
I〜曲線Vは、Mnの添加率を1(原子%)、7(原子
%)、15(原子%)または30(原子%)で一定とし
、各々、O〜35(原子%)の範囲内でSnの添加率を
種々に変えで作製した複数の試料の測定結果を示す。こ
れら曲線に関する説明の理解を容易とするため、曲線■
には’A9+oo−xSnxJ 、曲線■にはrA9e
e−xMnSnx J 、曲線■(こはr A(1゜3
−xMn7Snx J 、曲線■には’A9a5−xM
n+5Snx J及び曲線(こは「八97o−xMn3
oSnx J  (イ旦し、X>O)のように、各々の
曲線が表わす測定試料の反射膜の組成を包括的に表わす
表現を付しである。
まず、400(λ)の膜厚を有する反射膜では、この第
3図(A)に示す曲線Iと曲線IIとの比較から、A9
にSnのみを添加した場合に比べて、A9に1(原子%
)のMnとSnとを添加した場合には、記録パワー低減
の度合が大きい。また、上述の曲線工と、曲線■〜Vと
の各々の比較から、所定のSn添加率ではMn添加率を
大きく採った記録媒体はど、記録パワーは小さな値を採
ることが理解できる。
以下、この第3図(A)の曲線■〜Vにより示される反
射膜組成と記録パワーとの関係につき、具体的な数値を
例示する。
まず、Snの添加率を1(原子%)とした場合の記録パ
ワーにつき比較すれば、曲線工に係る記録媒体(Ags
eSnの反射膜)では約7.6 (mW)の記録パワー
であるのに対して、曲線Hに係る記録媒体(AgeaM
nSn)では約5.7(mW) 、曲線■に係る記録媒
体(AqsJn7Sn)では約5.0(mW) 、曲線
■に係る記録媒体(Aga4Mn + 5Sn)では約
4.3(mW)及び曲線■に係る記録媒体(AgseM
n3oSn)では約4.0(mW)の、夫々の記録パワ
ーが得られた。
ざらに、この実施例2の記録パワー測定の上限であるS
n添加率が35(原子%)の場合につき比較すれば、曲
線I(こ係る記録媒体(Ag.sSnの反射膜)では約
5 、5 (mW)の記録パワーであるのに対して、曲
線■に係る記録媒体(AgeaMnSn)では約4.1
(mW)、曲線■に係る記録媒体(AgeJn7Sn)
では約3.8(mW) 、曲線■に係る記録媒体(Ag
aJn+5Sn)では約3.6(mW)及び曲線Vに係
る記録媒体(Ag6゜Mn3oSn)では約3.3(m
W)となった。尚、Mn添加率を上述した30(原子%
)よりも大きな値とした場合であっても、各々のSn添
加率に応じて記録パワーの低減を図ることができた。し
かしながら、この第3図(A)に示す曲線H−Vの比較
からも理解できるように、A9−Mn−Snの反射膜に
おいてMnの占める割合が大きいほど、Snの添加率を
増加させてゆく際に得られる記録パワーの低減の度合は
小さくなる傾向が認められる。
次(こ、200(λ)の膜厚を有する反射膜でも、第3
図(B)に示す曲!mIと曲線IIとの比較から、A9
−8nの反射膜を具えた記録媒体に比べて、A9と1(
原子%)のMnとにSnを添加した記録媒体では、記録
パワー低減の度合が大きい。
また、上述の曲線Iと、曲線■〜Vとの各々の比較から
、反射膜の膜厚が200(人)と薄い場合、記録パワー
は、Mn添加率とSn添加率とに依存して、複雑な変化
を示すのが理解できる。
この第3図(B)の曲線工〜Vにより示される反射膜組
成と記録パワーとの関係につき、具体的な数値を例示す
る。
ます、Snの添加率を1(原子%)とした場合の記録パ
ワーにつき比較すれば、曲線■に係る記録媒体(Ag9
9Snの反射膜)では約5.5(mW)の記録パワーで
あるのに対して、曲線Hに係る記録媒体(AgeaMn
sn)では約4.4(mW) 、曲線■に係る記録媒体
(AgsJn7Sn)では約3.4(mW) 、曲線■
に係る記録媒体(AgaJn+5Sn)では約2.9(
mW)及び曲線Vに係る記録媒体では(AgeeMn3
oSn)では約3.5(mW)の、夫々の記録パワーが
得られた。
この第3図(B)から見て採れるように、Sn添加率を
増加せしめることによって、当該添加率か比較的小さな
範囲では、いずれのMn添加率の場合であっても、A9
−3nの反射膜に比べて記録パワーの低減を図ることが
できるが、Sn添加率が大きくなると、記録パワーが増
大傾向を示すように成る。これは、反射膜が200(人
)程度の小さな膜厚で形成されているため、Snの添加
率が多く成る程透過率が高まり、書込みに用いた記録パ
ワーを有効に利用できないためと考えられる。
また、A9−Mn−8nから成る反射膜において、Mn
添加率を大きく採るほど、記録パワーが増大に転じる際
のSn添加率は少ないのか理解できる。
続いて、第4図(A)及び(B)を参照して、上述した
実施例2の記録媒体に関するCN比の測定結果と、Mn
及びSnの添加率との関係につき説明する。
第4図(A)及び(B)は、実施例2に係る記録媒体に
関するMn及びSnの添加率とCN比との関係を説明す
るため、縦軸にCN比(dB)及び横軸にはSnの添加
率(原子%)を夫々採って示す特性曲線図であり、第4
図(A)は反射膜の膜厚が400(λ)の場合の結果を
表わし、第4図(B)は当該膜厚を200(人)とした
場合の結果を表わす。
さらに、これら図に示す曲線には、第3図(A)及び(
B)に対応して曲線工〜Vの符号と共に、各々の曲線か
表わす記録媒体の反射膜の包括的な組成式を付しである
まず、比較的膜厚が大きな400(λ)の反射膜を具え
た記録媒体の場合、第4図(A)に示す曲線I−Vから
も理解できるように、銀単体に対してMn或いはSnヲ
添加して作製した記録媒体では、総じてCN比の低下を
来たした。前述したISOの国際規格である45(dB
)のCN比にまで低下するSnの添加率を示せば、Mn
を添加せずに作製した記録媒体(曲線I)では約32(
原子%) 、Mnを1(原子%)添加した記録媒体(曲
線II )では約28(原子%) 、Mnを7(原子%
)添加した記録媒体(曲線■)では約24(原子%) 
、Mn@ 15 (原子%)添加した記録媒体(曲線■
)では約18(原子%)及びMnを30(原子%)添加
した記録媒体(曲線V)では約6.5(原子%)の、夫
々の値であった。
次に、第4図(8)に示す曲線からも理解できるように
、比較的膜厚が小さな200(人)の反射膜を具えた記
録媒体の場合であっても、総じてCN比の低下を来たし
た。前述した45(dB)のCN比(こまで低下するS
nの添加率に着目すれば、Mnを添加せずに作製した記
録媒体(曲線工)では約27(原子%) 、Mnを1(
原子%)添加した記録媒体(曲線■)では約23(原子
%) 、Mnを7(原子%)添加した記録媒体(曲線■
)では約20(原子%)、Mnを15(原子%)添加し
た記録媒体(曲線■)では約14(原子%)及びMnを
30(原子%) :、yA加した記録媒体(曲線V)で
は約3(原子%)の、夫々の値であった。
上述した第3図(A)及び第4図(A)と、第3図(B
)及び第4図(B)との比較からも理解できるように、
同一組成の反射膜の膜厚を小さく採ることによって、C
N比が低下してしまう。従って、実用に供し得るCN比
を達成し、しかも記録パワー低減を図るためには、A9
− Mn −Snから成る反射膜を構成するに当って、
膜厚が小ざい場合の結果を尺度としで、M n 5FA
加率及びSn添加率に、より狭い好適節回を設定する必
要が有る。
以下、第3図(B)及び第4図(B)を参照して、第二
発明のAg−Mn−5nで構成される反射膜の、Mn添
加率とSn添加率の好適範囲につき説明する。
始めに、マンガン(Mn)添加率の好適範囲につき説明
する。
ます、第3図(B)に示す曲線■と曲線■〜Vとの比較
から理解できるように、Mn添加率を1(原子%)以上
とすれば、A9にSnのみを添加する場合に比して、充
分な記録パワーの低減効果が得られる。
一方、第4図(B)に示す45(dB)以上のCN比を
達成し得るSn添加率の範囲に着目し、曲線■(閘n添
加率15(原子%))のうちでSn添加率が約3〜7(
原子%)の範囲内ではCN比の低下が比較的紙やかにな
っている。このような傾向は曲線11(Mn添加率1(
原子%))、曲線III(Mn添加率7(原子%))及
び曲線IV(Mn添加率15(原子%))に関しても認
められる。これに対して、Mn添加率ヲ30(原子%)
とした曲線Vでは、測定した範囲内のいずれのSn添加
率でもCN比の低下傾向が連続して見られる。これから
理解できるように、Mn添加率の好適範囲は15(原子
%)以下とすれば良い。
上述したように、記録パワーの低減効果とCN比の低下
とから、Mn添加率の好適範囲を1(原子%)以上15
(原子%)以下に設定すれば良いことが理解できる。
次に、錫(Sn)添加率の好適範囲につき説明する。
ます、第3図(B)から、A9単体で構成した反射膜を
具える記録媒体が約5.7(mW)の記録パワーである
のに対して、Sn添加率を1(原子%)以上に設定すれ
ば、曲線II −Vとして示すいずれのMn添加率であ
っても20(%)以上の記録パワー低減を図ることがで
きる。
また、第4図(B)に示すCN比の測定結果を参照して
既に説明したように、Sn添加率の上限は実用上充分な
特性とされる国際規格から、45(dB)以上のCN比
を満足するように設定すれば良い。
従って、第二発明に係る実施例2の測定結果から得られ
、Ag −Mn −Sn@反射膜とした場合の組成範囲
は、 ■曲線IIに示す結果から、A99゜−xMnSnxの
組成式で表わされる反射膜組成の場合には、錫(Sn)
の添加率を1(原子%)以上23(原子%)以下■曲線
■に示す結果から、A9゜3−xMn7snxの組成式
で表わされる反射膜組成の場合には、錫(Sn)の添加
率1F!、1(原子%)以上20(原子%)以下0曲線
■に示す結果から、八9as−xMn+ 5Snxの組
成式で表わされる反射膜組成の場合には、錫(Sn)の
添加率を1(原子%)以上14(原子%)以下 の夫々の範囲内とするのが好適である。
東11性旦 この実施例3では、上述した実施例1及び実施例2の記
録媒体の代わりに、光磁気記録媒体の他の構成例として
、第5図(A)に示す積層関係で記録媒体を作製し、記
録パワー及びCN比を測定した。
各構成成分の膜厚及び材料につき説明すれば、ポリカー
ボネートからなる基板11の表面に、膜厚700(^)
で窒化珪素アルミニウム(/lQ、5iN)から成る保
護膜13a、膜厚300(人)で前述した組成のTb−
Fe−Goから成る磁性膜15及び膜厚1000 (人
)で上述の#、SiNから成る保護膜+3bを順次被着
形成する。
然る後、この保護膜+3bの表面に、第二発明に係るA
g−Mn−3n系の反射膜構成の一例として、A9ae
Mn7Sn7の組成式で表わされる反射膜を400(人
)或いは200(人)の膜厚で被着形成し、実施例3に
係る光磁気記録媒体19を得た。
尚、これら保護膜を含む構成成分の被着は前述した実施
例1及び実施例2と同一の条件として行なった。
また、A9のみから成る反射膜を具えることを除いては
同一の条件で記録媒体を別途作製し、これら2つの記録
媒体につき、前述した手順及び数値条件で、記録パワー
とCN比とを測定した。
その結果、反射膜の膜厚を400(λ)としで作製した
比較例(こ係る記録媒体では、8 (mW)の記録パワ
ー及び50.4(dB)のCN比か得られた。一方、上
述の膜厚を200(人)とした比較例に係る記録媒体で
は、5.7(mW)の記録パワー及び50.2(dB)
のCN比が得られた。
これに対して、反射膜の膜厚を400(λ)とした実施
例3に係る記録媒体では、4.5(mW)の記録パワー
と、実質的(こ比較例と同程度である50、 I(dB
)のCN比とが得られた。さらに、当該膜厚を200(
大)とした実施例3に係る記録媒体では、3.1(mW
)の記録パワー及び50.0(dB)のCN比とが得ら
れた。
この結果からも理解できるように、この出願に係る実施
例2の記録媒体と、比較例に係る従来の記録媒体のいず
れであっても、保護膜の配設位晋を変更することによっ
て、記録感度を低下させることなく、カー効果エンハン
スメントによるCN比の向上を図ることができる。従っ
て、種々の積層関係で光磁気記録媒体を作製するに当っ
て、この出願に係る発明を利用することにより、実施例
1及び実施例2に係る記録媒体として測定した結果より
も高いCN比を実現することができる。
以上、この出願に係る発明の実施例につき詳細(こ説明
したか、この発明は、上述した実施例にのみ限定される
ものではないこと明らかである。
例えば、上述の実施例では、光磁気記録媒体を構成する
基板、磁性膜及び保護膜につき、材料、膜厚及びその他
、特定の条件を例示して説明した。しかしながら、この
発明は、これら条件に限定してのみ効果が得られるもの
ではない。
また、第−発明及び第二発明に係る実施例として所定の
反射膜組成を有する記録媒体を作製し、好適範囲につき
説明したが、この出願に係る発明は、この好適範囲内で
のみ効果が得られるものではないこと明らかである。例
えば実施例2においては、説明の理解を容易とするため
、所定のMn添加率を例示し、Mn添加率を一定とした
条件下でSn添加率の好適範囲につき検討した。しかし
ながら、Mn添加率とSn添加率との組成範囲は、実施
例として例示した好適範囲内でのみ効果が得られるもの
ではなく、例示した反射膜組成を任意好適(こ変更して
作製した記録媒体であっても同等の効果を期待し得る。
これに加えで、上述した一連の実施例では、反射膜を構
成するに当って、所定の膜厚を例示して説明したが、こ
の出願に係る発明は、例示した膜厚にのみ限定されるも
のではない。詳細なデータを省略するが、この出願に係
る発明者の実験によれば、反射膜の膜厚を500(人)
とした場合には、磁性膜での書き込みに利用し得る熱が
反射膜を介して散逸しでしまい、良好な記録パワーを達
成することが難しがった。ざらに、反射膜の膜厚を10
0(人)とした場合には、反射膜自体に透過性を生じ、
有効なカーエンハンスメント効果を得ることができず、
CN比の低下及び記録パワーの増大が著しかった。従っ
て、この発明を適用するに当っては、反射膜の膜厚82
00〜400(^)程度に設定すれば、良好な記録感度
を有する光磁気記録媒体を実現し得る。
これら、材料、膜厚、配MM係、数値的条件及びその他
、特定の条件は、この発明の目的の範囲内で、任意好適
な設計の変更及び変形を行ない得ること明らかである。
(発明の効果) 上述した説明からも明らかなように、ます、この出願の
第一発明に係る光磁気記録媒体によれば、銀(Ag)と
マンガン(Mn)とによって反射膜を構成することによ
り、A9が有する反射率を利用すると共に、Mnによっ
て反射膜の熱伝導率を下げることができる。
また、この出願の第二発明に係る光磁気記録媒体によれ
ば、銀(Ag)、マンガン(Mn)及び錫(Sn)の3
つの元素によって反射膜を構成することにより、第一発
明と同様に、八9の反射率を利用すると共に、MnとS
nとによって反射膜の熱伝導率を下げることができる。
従って、この出願に係る第−発明及び第二発明を実施す
ること1こより、実用上充分なCN比を維持し、しかも
小さな熱伝導率を実現することによって記録パワーの低
減を図り、優れた光磁気記録媒体を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、第一発明に係る実施例1を説明するため、縦
軸に記録パワー、及び横軸には^9−MnにおけるMn
の添加率を各々採って示す特性曲線図、第2図は、第一
発明に係る実施例1を説明するため、縦軸にCN比、及
び横軸にはA9−MnにあけるMnの添加率を夫々採っ
て示す特性曲線図、第3図(A)及び(B)は、第二発
明に係る実施例2を説明するため、縦軸に記録パワ及び
横軸にはA9− Mn −SnにおけるSnの添加率を
各々採って示す特性曲線図、 第4図(A)及び(B)は、第二発明に係る実施例21
F!:説明するため、縦軸にCN比、及び横軸にはAg
 −Mn −SnにおけるSnの添加率を夫々採って示
す特性曲線図、 第5図(A)及び(B)は、従来技術及び実施例を説明
するため、光磁気記録媒体の構成を概略的断面により示
す説明図である。 11・・・・基板、13a、 13b・・・・・保護膜
15・・・・磁性膜、17・・・・反射膜19.21・
・・・・光磁気記録媒体。 特 許 出 願 人 沖電気工業株式会社

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に少なくとも磁性膜と反射膜とを具えて成
    る光磁気記録媒体において、 前記反射膜が、銀(Ag)とマンガン(Mn)とから成
    る ことを特徴とする光磁気記録媒体。
  2. (2)前記反射膜の、銀(Ag)−マンガン(Mn)に
    おけるマンガン(Mn)の添加率を2(原子%)以上3
    2(原子%)以下としたことを特徴とする請求項1に記
    載の光磁気記録媒体。
  3. (3)基板上に少なくとも磁性膜と反射膜とを具えて成
    る光磁気記録媒体において、 前記反射膜が、銀(Ag)とマンガン(Mn)と錫(S
    n)とから成る ことを特徴とする光磁気記録媒体。
  4. (4)前記反射膜の、銀(Ag)−マンガン(Mn)−
    錫(Sn)におけるマンガン(Mn)の添加率を1(原
    子%)とし、かつ錫(Sn)の添加率を1(原子%)以
    上23(原子%)以下としたことを特徴とする請求項3
    に記載の光磁気記録媒体。
  5. (5)前記反射膜の、銀(Ag)−マンガン(Mn)−
    錫(Sn)におけるマンガン(Mn)の添加率を7(原
    子%)とし、かつ錫(Sn)の添加率を1(原子%)以
    上20(原子%)以下としたことを特徴とする請求項3
    に記載の光磁気記録媒体。
  6. (6)前記反射膜の、銀(Ag)−マンガン(Mn)−
    錫(Sn)におけるマンガン(Mn)の添加率を15(
    原子%)とし、かつ錫(Sn)の添加率を1(原子%)
    以上14(原子%)以下としたことを特徴とする請求項
    3に記載の光磁気記録媒体。
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