JPH02190473A - プラズマcvd用原料ガス供給装置 - Google Patents
プラズマcvd用原料ガス供給装置Info
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- JPH02190473A JPH02190473A JP1093089A JP1093089A JPH02190473A JP H02190473 A JPH02190473 A JP H02190473A JP 1093089 A JP1093089 A JP 1093089A JP 1093089 A JP1093089 A JP 1093089A JP H02190473 A JPH02190473 A JP H02190473A
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- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、プラズマCVD用反応容器に原料ガスを供給
するためのプラズマCVD用原料ガス供給装置に関する
ものである。
するためのプラズマCVD用原料ガス供給装置に関する
ものである。
[従来技術]
従来のプラズマCVD用反応容器内で基板にプラズマC
VD法により薄膜を形成するためのプラズマCVD装置
は、第2図に示すように、真空(0,05〜5Torr
)にしたプラズマCVD用反応容器1内のるつは2中に
常温固相又は液相の原料3を入れ、これを加熱して気相
の原料ガスを得、下に設けられた平行平板電極3A、3
B間に高圧電3!4より高電圧を印加してプラズマを発
生させ、上方の平板電極3Aの上にあるワーク5に気相
化学反応により成膜を行わせていた。
VD法により薄膜を形成するためのプラズマCVD装置
は、第2図に示すように、真空(0,05〜5Torr
)にしたプラズマCVD用反応容器1内のるつは2中に
常温固相又は液相の原料3を入れ、これを加熱して気相
の原料ガスを得、下に設けられた平行平板電極3A、3
B間に高圧電3!4より高電圧を印加してプラズマを発
生させ、上方の平板電極3Aの上にあるワーク5に気相
化学反応により成膜を行わせていた。
このようなプラズマCVD装置では、反応容器1内で原
料ガスの形成を行っているので、るつぼ2内の原料3が
なくなると原料ガスの形成ができず、このため原料ガス
の連続供給が行えない問題点があった。
料ガスの形成を行っているので、るつぼ2内の原料3が
なくなると原料ガスの形成ができず、このため原料ガス
の連続供給が行えない問題点があった。
これを改善するため、反応容器の外で常温で固相の原料
をバブラーに入れ、加熱により液相に融解し、液相の該
原料に対するキャリヤガスのバブリングにより気相の原
料ガスを得、該原料ガスを配管及び弁を経て反応容器に
供給する構造のプラズマCVD用原料ガス供給装置が検
討されている。
をバブラーに入れ、加熱により液相に融解し、液相の該
原料に対するキャリヤガスのバブリングにより気相の原
料ガスを得、該原料ガスを配管及び弁を経て反応容器に
供給する構造のプラズマCVD用原料ガス供給装置が検
討されている。
この場合、配管を経ての原料ガスの供給中に該配管の温
度が低いと、原料ガスが該配管の内面に析出し、これが
不純物の原因となる。これを避けるためには、配管及び
弁の外周にヒータを巻付けて加熱を行う必要がある。
度が低いと、原料ガスが該配管の内面に析出し、これが
不純物の原因となる。これを避けるためには、配管及び
弁の外周にヒータを巻付けて加熱を行う必要がある。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、ヒータを巻付けての加熱では、配管及び
弁を均一に加熱することが難しく、いずれかの部分に温
度が低い箇所が生ずると、そこに原料ガスの析出が生ず
る問題点があった。
弁を均一に加熱することが難しく、いずれかの部分に温
度が低い箇所が生ずると、そこに原料ガスの析出が生ず
る問題点があった。
本発明の目的は、配管及び弁を均一に加熱することがで
きるプラズマCVD用原料ガス供給装置を提供する。
きるプラズマCVD用原料ガス供給装置を提供する。
[課題を解決するための手段]
上記の目的を達成するための本発明の詳細な説明すると
、本発明は常温で固相の原料をバブラー内で液相に融解
し、液相の前記原料に対するキャリヤガスのバブリング
により気相の原料ガスを得、該原料ガスを配管及び弁を
介してプラズマCVD用反応容器内に供給するプラズマ
CVD用原料ガス供給装置において、前記バブラー、前
記配管及び前記弁が恒温槽内に収容されていることを特
徴とする。
、本発明は常温で固相の原料をバブラー内で液相に融解
し、液相の前記原料に対するキャリヤガスのバブリング
により気相の原料ガスを得、該原料ガスを配管及び弁を
介してプラズマCVD用反応容器内に供給するプラズマ
CVD用原料ガス供給装置において、前記バブラー、前
記配管及び前記弁が恒温槽内に収容されていることを特
徴とする。
[作 用]
このようにバブラー、配管及び弁を恒温槽内に収容する
と、配管や弁を容易に均一に加熱できる。
と、配管や弁を容易に均一に加熱できる。
[実施例]
以下、本発明の実施例を第1図を参照して詳細に説明す
る。例えばQ、1TOrrに減圧されるプラズマCVD
用反応容器1内には、1対のシャワー状電極6.7が平
行に対向配置されている。シャワー状′ili極6.7
は、均圧容器6A、7Aの前面に多数の小孔を有する有
孔電極板6B、7Bが設けられ、均圧容器6A、7A内
の原料ガスを有孔電極板68.7Bの各小孔を経て一様
に流出させる構造になっている。これらシャワー状電極
6゜7は接地されている。有孔電極板6B、7B間には
、ワーク5が図示しないワークホルダで支持されて配置
されている。該ワーク5はワークホルダを介して13.
56MHzの高周波電圧を印加する図示しない高周波電
源に接続されている。これによりワーク5とその両側の
有孔電極板6B、7Bとの間にプラズマがそれぞれ発生
し、各プラズマ中に各シャワー状電穫6,7から原料ガ
スが供給され、ワーク5の両面に同時に成膜が行えるよ
うになっている。各シャワー状電極6.7の均圧容器6
△、7A内には、内部原料ガス配管8を経て原料ガスが
供給されるようになっている。反応容器1内の該内部原
料ガス配管8の外周には、ヒータ9が巻付けられて取付
けられている。
る。例えばQ、1TOrrに減圧されるプラズマCVD
用反応容器1内には、1対のシャワー状電極6.7が平
行に対向配置されている。シャワー状′ili極6.7
は、均圧容器6A、7Aの前面に多数の小孔を有する有
孔電極板6B、7Bが設けられ、均圧容器6A、7A内
の原料ガスを有孔電極板68.7Bの各小孔を経て一様
に流出させる構造になっている。これらシャワー状電極
6゜7は接地されている。有孔電極板6B、7B間には
、ワーク5が図示しないワークホルダで支持されて配置
されている。該ワーク5はワークホルダを介して13.
56MHzの高周波電圧を印加する図示しない高周波電
源に接続されている。これによりワーク5とその両側の
有孔電極板6B、7Bとの間にプラズマがそれぞれ発生
し、各プラズマ中に各シャワー状電穫6,7から原料ガ
スが供給され、ワーク5の両面に同時に成膜が行えるよ
うになっている。各シャワー状電極6.7の均圧容器6
△、7A内には、内部原料ガス配管8を経て原料ガスが
供給されるようになっている。反応容器1内の該内部原
料ガス配管8の外周には、ヒータ9が巻付けられて取付
けられている。
反応容器1の外部には、原料ガスを形成するバブラー1
0が設けられ、該バブラー10で形成された原料ガスは
外部原料ガス配管11を経て内部原料ガス配管8に供給
されるようになっている。
0が設けられ、該バブラー10で形成された原料ガスは
外部原料ガス配管11を経て内部原料ガス配管8に供給
されるようになっている。
該外部原料ガス配管11には弁v1.絞り弁Nl。
弁V2が接続されている。
バブラー10には、常温で同相の原料12が収容され、
後述する恒温槽による加熱で溶融されて液相になってい
る。バブラー10内の液相の原料12中には、バブリン
グ用キャリヤガス配v!13と温度センサ14とが挿入
されている。該バブリング用キャリヤガス配管13には
、弁V3が接続されている。
後述する恒温槽による加熱で溶融されて液相になってい
る。バブラー10内の液相の原料12中には、バブリン
グ用キャリヤガス配v!13と温度センサ14とが挿入
されている。該バブリング用キャリヤガス配管13には
、弁V3が接続されている。
外部原料ガス配管11には、Arの如きキャリヤガスを
供給する第1〜第3のキャリヤガス配管15.16.1
7が接続されている。第1のキャリヤガス配管15は、
弁V1と絞り弁N1との間で外部原料ガス配管11に弁
v4を介して接続されている。同じく、第2のキャリヤ
ガス配管16も、弁■1と絞り弁N1との間で外部原料
ガス配管11に接続されている。第3のキャリヤガス配
管17は、弁■2の後の外部原料ガス配管11に弁v5
を介して接続されている。
供給する第1〜第3のキャリヤガス配管15.16.1
7が接続されている。第1のキャリヤガス配管15は、
弁V1と絞り弁N1との間で外部原料ガス配管11に弁
v4を介して接続されている。同じく、第2のキャリヤ
ガス配管16も、弁■1と絞り弁N1との間で外部原料
ガス配管11に接続されている。第3のキャリヤガス配
管17は、弁■2の後の外部原料ガス配管11に弁v5
を介して接続されている。
これら第1〜第3のキャリヤガス配管15〜17には、
弁V6.V7.絞り弁N2を介して第1〜第3の質m流
量制御器(以下、第1〜第2のMFCという)18〜2
0が接続されている。これら第1〜第3のMFC18〜
20からそれぞれ供給されるキャリヤガスは、 (第2のMFC19からの流I)+(第3のMFC20
からの流量)−(第1のMFCI 8からの流量)・・
・(1) という流19El係かに満たされるようになっている。
弁V6.V7.絞り弁N2を介して第1〜第3の質m流
量制御器(以下、第1〜第2のMFCという)18〜2
0が接続されている。これら第1〜第3のMFC18〜
20からそれぞれ供給されるキャリヤガスは、 (第2のMFC19からの流I)+(第3のMFC20
からの流量)−(第1のMFCI 8からの流量)・・
・(1) という流19El係かに満たされるようになっている。
弁■6と弁■4の間で第1のキャリヤガス配管15には
、バブリング用キャリヤガス配管13が接続されている
。
、バブリング用キャリヤガス配管13が接続されている
。
絞り弁N1と弁■2との間で外部原料ガス配管11には
、ベントライン21が弁v8を介して接続されている。
、ベントライン21が弁v8を介して接続されている。
また、絞り弁N2と弁■5との間で第3のキャリヤガス
配管17は弁■9を介してベントライン21に接続され
ている。
配管17は弁■9を介してベントライン21に接続され
ている。
弁V6.V7及び絞り弁N2以後の第1のキャリヤガス
配管15〜17、外部原料ガス配管11、バブリング用
キャリヤガス配管13、一部のベントライン21、バブ
ラー10、弁V1〜V5.V8及び絞り弁N1は、恒温
槽22内に収容され、原料ガスの析出が生じない温度に
均一に加熱されるようになっている。恒温槽22と反応
容器1との間の短い外部原料ガス配管11の部分にもヒ
ータ23が取付けられている。なお、この部分は、外部
原料ガス配管11と内部原料ガス配管8との接続部に相
当している。
配管15〜17、外部原料ガス配管11、バブリング用
キャリヤガス配管13、一部のベントライン21、バブ
ラー10、弁V1〜V5.V8及び絞り弁N1は、恒温
槽22内に収容され、原料ガスの析出が生じない温度に
均一に加熱されるようになっている。恒温槽22と反応
容器1との間の短い外部原料ガス配管11の部分にもヒ
ータ23が取付けられている。なお、この部分は、外部
原料ガス配管11と内部原料ガス配管8との接続部に相
当している。
反応基器1の底部には、排気管24が接続されている。
次に、このような反応容器1とその左側に設けられた原
料ガス供給装置との動作について説明する。反応容器1
内は0. ITorrに減圧し、ワーク5には13.5
6M)tzの高周波電圧を印加する。
料ガス供給装置との動作について説明する。反応容器1
内は0. ITorrに減圧し、ワーク5には13.5
6M)tzの高周波電圧を印加する。
第1のMFCl 8からArガスよりなるキャリヤガス
をv6−弁3を経てバブラー10内に吹き込む。この時
、弁■4は閏である。バブラー10内に吹き込んだキャ
リヤガスのバブリングにより原料ガスを形成し、弁V1
−絞り弁N1−弁■8を経てベントライン21に流す。
をv6−弁3を経てバブラー10内に吹き込む。この時
、弁■4は閏である。バブラー10内に吹き込んだキャ
リヤガスのバブリングにより原料ガスを形成し、弁V1
−絞り弁N1−弁■8を経てベントライン21に流す。
このとき、弁■4は閉である。また、第2のMFCl
9からもArガスよりなるキャリヤガスを弁v7−絞り
弁N1−弁■8を経てベントライン21に流す。
9からもArガスよりなるキャリヤガスを弁v7−絞り
弁N1−弁■8を経てベントライン21に流す。
一方、第3のMFC20からは、Arガスよりなるキャ
リヤガスを絞り弁N2−弁V5を経て反応容器1内のシ
ャワー状電極6.7に流す。このとき、弁9は開である
。これにより両シャワー状電極6.7からワーク5に向
かってキャリヤガスが出ている。この場合、第1〜第3
のMFCl 8〜20からのキャリヤガスの流mは、前
述した(1)式を満たすようになっている。この状態で
、ワーク5の両側にはプラズマが発生している。
リヤガスを絞り弁N2−弁V5を経て反応容器1内のシ
ャワー状電極6.7に流す。このとき、弁9は開である
。これにより両シャワー状電極6.7からワーク5に向
かってキャリヤガスが出ている。この場合、第1〜第3
のMFCl 8〜20からのキャリヤガスの流mは、前
述した(1)式を満たすようになっている。この状態で
、ワーク5の両側にはプラズマが発生している。
次に、同時に弁V2開、弁v8閉、弁V5開、弁9閑に
切換えて、シャワー状電極6,7に原料ガスを供給する
。このとき、バブラー10内では常温固相の原料12が
恒温槽22により例えば150℃に加熱され、液相にな
っており、前述したようにキャリヤガスの吹き込みによ
り原料ガスが形成されている。
切換えて、シャワー状電極6,7に原料ガスを供給する
。このとき、バブラー10内では常温固相の原料12が
恒温槽22により例えば150℃に加熱され、液相にな
っており、前述したようにキャリヤガスの吹き込みによ
り原料ガスが形成されている。
このような原料ガスの供給がワーク5の両側のプラズマ
中になされると、気相化学反応によりワーク5の両面に
成膜がなされる。
中になされると、気相化学反応によりワーク5の両面に
成膜がなされる。
成膜は一定時間後に停止する必要がある。このときには
、弁■2閉、弁■8開、弁■5閉、弁■9開の状態に同
時に切換える。次に、プラズマを停止させ、また、弁V
3.弁■1を閉、弁V4を開にする。
、弁■2閉、弁■8開、弁■5閉、弁■9開の状態に同
時に切換える。次に、プラズマを停止させ、また、弁V
3.弁■1を閉、弁V4を開にする。
このような作業中、バブラー10、弁V6.V7及び絞
り弁N2より後の第1〜第3のキャリヤガス配管15〜
17、バブリング用キャリヤガス配管13、外部原料ガ
ス配管11、ベントライン21の前半部分、弁V1〜V
5.V10、及ヒ絞り弁N1は恒温槽22内で均一に加
熱されている。
り弁N2より後の第1〜第3のキャリヤガス配管15〜
17、バブリング用キャリヤガス配管13、外部原料ガ
ス配管11、ベントライン21の前半部分、弁V1〜V
5.V10、及ヒ絞り弁N1は恒温槽22内で均一に加
熱されている。
従って、これらの各部に対する原料ガスの析出は生じな
い。また、恒温槽22と反応容器1との間の短い外部原
料ガス配管11の部分、及び反応容器1内の内部原料ガ
ス配管8も、恒温槽22内と同じ温度にヒータ23,9
で加熱されている。
い。また、恒温槽22と反応容器1との間の短い外部原
料ガス配管11の部分、及び反応容器1内の内部原料ガ
ス配管8も、恒温槽22内と同じ温度にヒータ23,9
で加熱されている。
恒温槽22と反応容器1との間の外部原料ガス配管11
の部分は、非常に短かいが、温度調節はなされている。
の部分は、非常に短かいが、温度調節はなされている。
反応容器1内は真空であるため、絞り弁N1.N2によ
ってその右側がQ、1Torr。
ってその右側がQ、1Torr。
左側は760 Torr (大気圧)に差圧が保たれる
。
。
このため第1〜第3のMFCI 8〜20は常圧で使用
できる。また、バブラー10内も絞り弁N1の圧力遮蔽
作用により反応容器1の影響が及ばず、一定圧となる。
できる。また、バブラー10内も絞り弁N1の圧力遮蔽
作用により反応容器1の影響が及ばず、一定圧となる。
弁V2.と弁■5とを閉にしたとき、反応容器1内が真
空であれば弁V2と弁■5まで同一の真空となる。真空
での原料12の蒸気圧は高いので、弁V2と弁■5まで
の配管内には原料12は元々凝固しにくい。
空であれば弁V2と弁■5まで同一の真空となる。真空
での原料12の蒸気圧は高いので、弁V2と弁■5まで
の配管内には原料12は元々凝固しにくい。
具体例
第1のMFC18: 80CC/Win 、 Ar第
2のMFCl 9 : 40cc/1n 、Ar第3
のMFC20: 40CC/Win 、 Arバブラ
ー10内には、常温固相で150℃では液相になる高分
子材料を原料として入れ、恒温槽22内の温度を150
℃とした。弁■1〜V9は総て空気圧作動弁とし、恒温
槽22内の名辞は高温耐熱性のものとした。絞り弁N1
.N2は手動のものとした。
2のMFCl 9 : 40cc/1n 、Ar第3
のMFC20: 40CC/Win 、 Arバブラ
ー10内には、常温固相で150℃では液相になる高分
子材料を原料として入れ、恒温槽22内の温度を150
℃とした。弁■1〜V9は総て空気圧作動弁とし、恒温
槽22内の名辞は高温耐熱性のものとした。絞り弁N1
.N2は手動のものとした。
ベントライン21は、図示しないロータリーポンプに接
続し、該ベントライン21内の圧力は01TOrrとな
るようにした。また、反応容器1からの排気管24には
図示しないがメカニカルブースタポンプ(以下、MBP
という)を接続し、該MBPの前で排気管24には自動
排気弁を接続し、反応容器1内を一定圧力となるように
制御した。
続し、該ベントライン21内の圧力は01TOrrとな
るようにした。また、反応容器1からの排気管24には
図示しないがメカニカルブースタポンプ(以下、MBP
という)を接続し、該MBPの前で排気管24には自動
排気弁を接続し、反応容器1内を一定圧力となるように
制御した。
反応容器1及び総ての配管はステンレス類とした。
バブラー10内には熱電対よりなる温度センサ14を入
れ、この温度センサ14からの信号で恒温槽22の温度
が一定となるようにした。温度により原料ガスの蒸気圧
が異なるので、原料ガスの供給の安定性のためには重要
である。
れ、この温度センサ14からの信号で恒温槽22の温度
が一定となるようにした。温度により原料ガスの蒸気圧
が異なるので、原料ガスの供給の安定性のためには重要
である。
第2のMFCl9を設けたことで、バブラー10を通す
キャリヤガス(Ar )を別々に制御できる。
キャリヤガス(Ar )を別々に制御できる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係るプラズマCVD用原料
ガス供給装置は、バブラー、配管及び弁を恒温槽内に収
容したので、配管及び弁を容易に均一に加熱することが
できる。従って、配管や弁の低温部に原料ガスが析出す
るのを防止することができる。
ガス供給装置は、バブラー、配管及び弁を恒温槽内に収
容したので、配管及び弁を容易に均一に加熱することが
できる。従って、配管や弁の低温部に原料ガスが析出す
るのを防止することができる。
第1図は本発明に係るプラズマCVD用原料ガス供給装
置の一実施例の配管系統図、第2図は従来のプラズマC
VD装置の概略縦断面図である。 1・・・プラズマCVD用反応容器、3・・・原料、5
・・・ワーク、6,7・・・シ1アワー状電極、6A、
7A・・・均圧容器、6B、7B・・・有孔電極板、8
・・・内部原料ガス配管、9・・・ヒータ、10・・・
バブラー 11・・・外部原料ガス配管、■1〜v9・
・・弁、N1゜N2・・・絞り弁、12・・・原料、1
3・・・バブリング用キャリヤガス配管、14・・・a
度センサ、15〜17・・・第1〜第3のキャリヤガス
配管、18〜20・・・第1〜第3の質最流量制御器(
MFC)、21・・・ベントライン、22・・・恒温槽
、23・・・ヒータ、24・・・排気管。
置の一実施例の配管系統図、第2図は従来のプラズマC
VD装置の概略縦断面図である。 1・・・プラズマCVD用反応容器、3・・・原料、5
・・・ワーク、6,7・・・シ1アワー状電極、6A、
7A・・・均圧容器、6B、7B・・・有孔電極板、8
・・・内部原料ガス配管、9・・・ヒータ、10・・・
バブラー 11・・・外部原料ガス配管、■1〜v9・
・・弁、N1゜N2・・・絞り弁、12・・・原料、1
3・・・バブリング用キャリヤガス配管、14・・・a
度センサ、15〜17・・・第1〜第3のキャリヤガス
配管、18〜20・・・第1〜第3の質最流量制御器(
MFC)、21・・・ベントライン、22・・・恒温槽
、23・・・ヒータ、24・・・排気管。
Claims (1)
- 常温で固相の原料をバブラー内で液相に融解し、液相の
前記原料に対するキャリヤガスのバブリングにより気相
の原料ガスを得、該原料ガスを配管及び弁を介してプラ
ズマCVD用反応容器内に供給するプラズマCVD用原
料ガス供給装置において、前記バブラー、前記配管及び
前記弁が恒温槽内に収容されていることを特徴とするプ
ラズマCVD用原料ガス供給装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1010930A JP2721222B2 (ja) | 1989-01-19 | 1989-01-19 | プラズマcvd用原料ガス供給装置 |
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Cited By (4)
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---|---|---|---|---|
JP2001217205A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-08-10 | Hynix Semiconductor Inc | 半導体素子の銅金属配線形成方法 |
JP2004356557A (ja) * | 2003-05-30 | 2004-12-16 | Sekisui Chem Co Ltd | プラズマエッチング処理ガス並びにそれを用いた方法及び装置 |
JP2005011827A (ja) * | 2002-07-17 | 2005-01-13 | Sekisui Chem Co Ltd | 常圧プラズマエッチング用ガス供給方法および供給装置 |
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Citations (2)
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JPS61204377A (ja) * | 1985-01-22 | 1986-09-10 | フエアチヤイルド セミコンダクタ コ−ポレ−シヨン | 低圧力cvd方法及び装置 |
JPS63236335A (ja) * | 1987-03-24 | 1988-10-03 | Nec Corp | ハフニウム酸化膜の気相成長法 |
-
1989
- 1989-01-19 JP JP1010930A patent/JP2721222B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
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