JPH02185784A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
- Publication number
- JPH02185784A JPH02185784A JP615689A JP615689A JPH02185784A JP H02185784 A JPH02185784 A JP H02185784A JP 615689 A JP615689 A JP 615689A JP 615689 A JP615689 A JP 615689A JP H02185784 A JPH02185784 A JP H02185784A
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- JP
- Japan
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- optical disk
- optical disc
- time
- fan
- circuit
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 abstract 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスク装置に関し、特に筐体の冷却方法に
関する。
関する。
最近市場に出ている光ディスク装置は、磁気ディスク装
置に比較して、1桁以上の面記録密度を実現している。
置に比較して、1桁以上の面記録密度を実現している。
この光ディスク装置では、レーザ・ダイオードのレーザ
光を光ディスク媒体上において1μm程度の微小スポッ
トに絞るための対物レンズを使用している。この対物レ
ンズへの塵埃等の付着は光ディスク媒体への情報の書き
込み品質に大きく影響を与える。一方、光ディスク装置
の中には論理回路部、読み出し・書き込み回路、サーボ
回路及びサーボ・アンプ部等の発熱源を有しており、こ
れらの回路部の決められた温度上昇以下に抑えるために
は、ある程度の冷却風が必要であり、その目的のために
ファンが使用されている。
光を光ディスク媒体上において1μm程度の微小スポッ
トに絞るための対物レンズを使用している。この対物レ
ンズへの塵埃等の付着は光ディスク媒体への情報の書き
込み品質に大きく影響を与える。一方、光ディスク装置
の中には論理回路部、読み出し・書き込み回路、サーボ
回路及びサーボ・アンプ部等の発熱源を有しており、こ
れらの回路部の決められた温度上昇以下に抑えるために
は、ある程度の冷却風が必要であり、その目的のために
ファンが使用されている。
従来、この種の光ディスク装置では、このファンによる
風量は光ディスク装置の最頻動作モード、すなわち、シ
ーク動作時における最大デユーティ時のキャリッジ駆動
部等の発熱量を考慮して必要な風量を決定していた。
風量は光ディスク装置の最頻動作モード、すなわち、シ
ーク動作時における最大デユーティ時のキャリッジ駆動
部等の発熱量を考慮して必要な風量を決定していた。
上述した従来の光ディスク装置では、筐体内の空冷のた
めのファンの回転数は、光ディスク装置の装置動作モー
ド(特に、シーク・モード)の最頻動作時を想定した回
転数の設定となっているため、光ディスク装置の電源が
投入されていれば、非動作時、あるいは待機時において
も、余分な冷却風が送られ電力の浪費となる。また、冷
却風の中に含まれる筐体外部からの塵埃が、光ディスク
装置に搭載されている光学ヘッド内の対物レンズに付着
しやすく、光ディスク媒体上に情報を書き込む際の塵埃
に起因する障害発生の頻度も多くなって、光ディスク装
置の信頼性を確保することが困難になるという欠点があ
る。
めのファンの回転数は、光ディスク装置の装置動作モー
ド(特に、シーク・モード)の最頻動作時を想定した回
転数の設定となっているため、光ディスク装置の電源が
投入されていれば、非動作時、あるいは待機時において
も、余分な冷却風が送られ電力の浪費となる。また、冷
却風の中に含まれる筐体外部からの塵埃が、光ディスク
装置に搭載されている光学ヘッド内の対物レンズに付着
しやすく、光ディスク媒体上に情報を書き込む際の塵埃
に起因する障害発生の頻度も多くなって、光ディスク装
置の信頼性を確保することが困難になるという欠点があ
る。
本発明は、レーザ・ダイオードから照射するレーザ光を
微小に絞る光学ヘッドにより、駆動モータにより回転す
る光ディスク媒体上に情報の記録・再生を行う光ディス
ク装置において、前記光学ヘッドを搭載し、且つ、前記
光学ヘッドを前記光ディスク媒1体上の任意のトラック
へ移動可能な光ディスク駆動機構部と、上位装置からの
命令によって前記光ディスク駆動機構部を制御するため
の駆動信号を発生する光ディスク駆動制御回路部と、前
記駆動信号を整流する整流回路部と、前記整流回路部の
出力を平滑する平滑回路部と、前記平滑回路部の出力を
遅延させる遅延回路部と、前記遅延回路部の出力を増幅
する増幅器と、前記増幅器の出力により回転数の変化す
る冷却ファンとを備えたことを特徴とする。
微小に絞る光学ヘッドにより、駆動モータにより回転す
る光ディスク媒体上に情報の記録・再生を行う光ディス
ク装置において、前記光学ヘッドを搭載し、且つ、前記
光学ヘッドを前記光ディスク媒1体上の任意のトラック
へ移動可能な光ディスク駆動機構部と、上位装置からの
命令によって前記光ディスク駆動機構部を制御するため
の駆動信号を発生する光ディスク駆動制御回路部と、前
記駆動信号を整流する整流回路部と、前記整流回路部の
出力を平滑する平滑回路部と、前記平滑回路部の出力を
遅延させる遅延回路部と、前記遅延回路部の出力を増幅
する増幅器と、前記増幅器の出力により回転数の変化す
る冷却ファンとを備えたことを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。第
1図において、光ディスク駆動機構2には光学ヘッドを
搭載したキャリッジ等の可動部があり、光ディスク駆動
制御回路lとの間の信号線10によって制御される。光
ディスク躯動制御回路lは上位装置(図示せず)からの
制御入力線9より送られてくる命令を解読し、信号線l
Oを介して光ディスク駆動機構2に対して必要な制御を
行う。また、駆動信号線11は光ディスク駆動機構2に
搭載された光学ヘッドを任意の指定されたトラックへ位
置づけるための駆動信号を光ディスク駆動機構2と整流
回路3とに入力される。整流回路3から平滑回路4及び
緩復旧型遅延回路5を経た出力信号は増幅回路4によっ
て増幅されて光ディスク装置の内部を冷却するファン8
に供給される。これらの光ディスク駆動制御回路1.光
ディスク駆動機構2.整流回路3.平滑回路4.綬復旧
型遅延回路5.増幅回路6.ファン7、制御入力線9.
信号線lO及び駆動信号線11は光ディスク装置の筺体
8の中に実装配置されている。
1図において、光ディスク駆動機構2には光学ヘッドを
搭載したキャリッジ等の可動部があり、光ディスク駆動
制御回路lとの間の信号線10によって制御される。光
ディスク躯動制御回路lは上位装置(図示せず)からの
制御入力線9より送られてくる命令を解読し、信号線l
Oを介して光ディスク駆動機構2に対して必要な制御を
行う。また、駆動信号線11は光ディスク駆動機構2に
搭載された光学ヘッドを任意の指定されたトラックへ位
置づけるための駆動信号を光ディスク駆動機構2と整流
回路3とに入力される。整流回路3から平滑回路4及び
緩復旧型遅延回路5を経た出力信号は増幅回路4によっ
て増幅されて光ディスク装置の内部を冷却するファン8
に供給される。これらの光ディスク駆動制御回路1.光
ディスク駆動機構2.整流回路3.平滑回路4.綬復旧
型遅延回路5.増幅回路6.ファン7、制御入力線9.
信号線lO及び駆動信号線11は光ディスク装置の筺体
8の中に実装配置されている。
このような筐体♂内部の構成で理解できるように、筐体
6内の各構成要素からの発熱による温度上昇に対する冷
却はファン7による送風によって行われる。このファン
7の送風量、すなわちファンの設計の際には、発熱量の
最小時である光ディスク装置の待機時、すなわち、光デ
ィスク媒体の駆動モータや各電子回路等のみの発熱量と
、発熱量の最大時である光ディスク駆動機横2内のキャ
リッジ可動部であるキャリッジ・コイル部、パワー・ア
ンプ部の最大動作頻度時の発熱量とを考慮する必要があ
る。本発明においては、駆動信号線11から送出されて
駆動される光ディスク駆動機横2のキャリッジ可動部の
動作等に伴う温度上昇に相応した送風を行うものであっ
て、駆動信号の頻度の高い(発熱量が大)ときには、冷
却風量を増加させ、反対に駆動信号の頻度の低い(発熱
量が小)ときには、冷却風量を低減させる。また、光デ
ィスク駆動制御回路lから出力された駆動信号線11は
正負双方向の信号波形であって整流回路3で一方向に整
流され、平滑回路4によって直流成分のみが取り出され
、緩復旧型遅延回路5を経て増幅回路6で増幅すること
によって、ファン7に可変電圧を供給し、ファン8の回
転数を可変する。この緩復旧型遅延回路5はキャリッジ
可動部の動作に伴う発熱による筐体8内部の温度上昇後
に動作頻度が少なくなった場合、筺体8内部の温度は急
には低下しないが、その間にファン7の回転数が下って
送風量が減るのを防ぐための温度変化の時間的遅れを補
正する遅延回路である。
6内の各構成要素からの発熱による温度上昇に対する冷
却はファン7による送風によって行われる。このファン
7の送風量、すなわちファンの設計の際には、発熱量の
最小時である光ディスク装置の待機時、すなわち、光デ
ィスク媒体の駆動モータや各電子回路等のみの発熱量と
、発熱量の最大時である光ディスク駆動機横2内のキャ
リッジ可動部であるキャリッジ・コイル部、パワー・ア
ンプ部の最大動作頻度時の発熱量とを考慮する必要があ
る。本発明においては、駆動信号線11から送出されて
駆動される光ディスク駆動機横2のキャリッジ可動部の
動作等に伴う温度上昇に相応した送風を行うものであっ
て、駆動信号の頻度の高い(発熱量が大)ときには、冷
却風量を増加させ、反対に駆動信号の頻度の低い(発熱
量が小)ときには、冷却風量を低減させる。また、光デ
ィスク駆動制御回路lから出力された駆動信号線11は
正負双方向の信号波形であって整流回路3で一方向に整
流され、平滑回路4によって直流成分のみが取り出され
、緩復旧型遅延回路5を経て増幅回路6で増幅すること
によって、ファン7に可変電圧を供給し、ファン8の回
転数を可変する。この緩復旧型遅延回路5はキャリッジ
可動部の動作に伴う発熱による筐体8内部の温度上昇後
に動作頻度が少なくなった場合、筺体8内部の温度は急
には低下しないが、その間にファン7の回転数が下って
送風量が減るのを防ぐための温度変化の時間的遅れを補
正する遅延回路である。
なお、増幅回路6はファン7が光ディスク装置の発熱量
の最小時である待機時においても、最少必要量の送風を
行うための駆動電力を供給していることは言うまでもな
い。
の最小時である待機時においても、最少必要量の送風を
行うための駆動電力を供給していることは言うまでもな
い。
以上説明したように本発明の光ディスク装置によれば、
ファンの回転数は光ディスク装置内の主な発熱源である
光ディスク駆動機構への駆動信号の頻度に応じ、すなわ
ち、発熱源の発熱量の程度に相応し、駆動電圧を制御し
て可変させるので、光ディスク装置の非動作時、あるい
は待機時においても、余分な冷却風を送らないので消費
電力の節減にもなる。また、冷却風の中に含まれる筐体
外部からの塵埃が、光ディスク装置に搭載されている光
学ヘッド内の対物レンズに付着することも少なくなり、
したがって、光ディスク媒体上に情報を書き込む際の塵
埃に起因する障害発生の頻度も少なくなり、光ディスク
装置の信頼性に大きく寄与できるという効果がある。
ファンの回転数は光ディスク装置内の主な発熱源である
光ディスク駆動機構への駆動信号の頻度に応じ、すなわ
ち、発熱源の発熱量の程度に相応し、駆動電圧を制御し
て可変させるので、光ディスク装置の非動作時、あるい
は待機時においても、余分な冷却風を送らないので消費
電力の節減にもなる。また、冷却風の中に含まれる筐体
外部からの塵埃が、光ディスク装置に搭載されている光
学ヘッド内の対物レンズに付着することも少なくなり、
したがって、光ディスク媒体上に情報を書き込む際の塵
埃に起因する障害発生の頻度も少なくなり、光ディスク
装置の信頼性に大きく寄与できるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
l・・・光ディスク駆動制御回路、2・・・光ディスク
駆動機構、3・・・整流回路、4・・・平滑回路、5・
・・緩復旧型遅延回路、6・・・増幅回路、7・・・フ
ァン、8・・・筐体、9・・・制御入力線、lO・・・
信号線、11・・・駆動信号線。
駆動機構、3・・・整流回路、4・・・平滑回路、5・
・・緩復旧型遅延回路、6・・・増幅回路、7・・・フ
ァン、8・・・筐体、9・・・制御入力線、lO・・・
信号線、11・・・駆動信号線。
Claims (1)
- レーザ・ダイオードから照射するレーザ光を微小に絞
る光学ヘッドにより、駆動モータにより回転する光ディ
スク媒体上に情報の記録・再生を行う光ディスク装置に
おいて、前記光学ヘッドを搭載し、且つ、前記光学ヘッ
ドを前記光ディスク媒体上の任意のトラックへ移動可能
な光ディスク駆動機構部と、上位装置からの命令によっ
て前記光ディスク駆動機構部を制御するための駆動信号
を発生する光ディスク駆動制御回路部と、前記駆動信号
を整流する整流回路部と、前記整流回路部の出力を平滑
する平滑回路部と、前記平滑回路部の出力を遅延させる
遅延回路部と、前記遅延回路部の出力を増幅する増幅器
と、前記増幅器の出力により回転数の変化する冷却ファ
ンとを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP615689A JPH02185784A (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP615689A JPH02185784A (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02185784A true JPH02185784A (ja) | 1990-07-20 |
Family
ID=11630667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP615689A Pending JPH02185784A (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02185784A (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
-
1989
- 1989-01-12 JP JP615689A patent/JPH02185784A/ja active Pending
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
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