JPH02177414A - 露光量監視装置及び露光装置 - Google Patents

露光量監視装置及び露光装置

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JPH02177414A
JPH02177414A JP63328832A JP32883288A JPH02177414A JP H02177414 A JPH02177414 A JP H02177414A JP 63328832 A JP63328832 A JP 63328832A JP 32883288 A JP32883288 A JP 32883288A JP H02177414 A JPH02177414 A JP H02177414A
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隆夫 宇梶
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裕二 鶴岡
Takasumi Yui
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、パルス光を発する光源を用いたアライナある
いはエツチング装置などの半導体装置において使用され
る露光量監視装置に関するものである。
[従来の技術] 従来、パルス光を用いた露光装置などにおける露光量監
視装置は、通常、高速な光電変換素子の出力信号をレー
ザの発光に同期した発振同期信号から作った固定のタイ
ミングで積分し、その積分結果をCPUによって読みと
って1パルスの露光量とし、パルス発光ごとにその1パ
ルスの露光量をCPU内部で加算することにより、露光
量を求めている。そして、この露光量とあらかじめ設定
されている指定露光量との比較を行なうなどの処理を経
て、露光量の監視を行なっている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、例えばこの種のパルス光発光源として用
いられるエキシマレーザでは、発光前の発振同期信号か
らセンサがパルス光波形を出力するまでのタイミングt
Xが経時的に変化する可能性があり、長期にわたり安定
した測定を行なうには積分区間t2を長くとる必要があ
った。このため、パルス光の発光時間以外にセンサから
出力されるノイズやオフセットをも積分してしまい、露
光量の測定精度を低下させてしまう欠点があった。
特にエキシマレーザでは、ガスや放電電極の劣化などに
より徐々に発光前の発振同期信号からセンサがパルス光
波形を出力するまでのタイミングt×が変化し、また劣
化したガスや電極を交換した場合には大幅に上記のタイ
ミングtXが変わってしまう。したがって、このような
場合には再調整する必要があり、メンテナンス工数の増
大を招いてしまうという不都合があった。
本発明は、上述の従来形における問題点に鑑み、レーザ
の経時変化などに伴なう露光量の測定精度の低下を抑え
、安定した露光量監視を行なうことのできる露光量監視
装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段および作用]上記の目的を
達成するため、本発明に係る露光量監視装置は、パルス
発光前に出力される発振同期信号から生成される積分開
始信号と積分時間とを可変できるような積分制御信号発
生手段と、積分手段によるパルス光の積分結果に基づい
て最適な信号時間すなわち積分開始信号と積分時間とを
を設定する手段を具備することとしている。
これにより、発光タイミングの経時変化に伴ない積分開
始時間および積分時間が最適化され、安定した精度で露
光量監視を行なうことができる。
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の一実施例に係る露光量監視装置の構
成図である。同図において、エキシマレーザ光源1は例
えばKrFやXeC1tが封入されパルス化されたレー
ザ光を発光する光源である。
エキシマレーザ光源1で発生したレーザ光は照明系2に
入射する。照明系2は、入射したレーザ光を所望のビー
ム形状に整形し、光束の配光特性を均一にして出射させ
るものである。照明系2の出射光路には集積回路パター
ンが形成されたマスクMが配置され、投影光学系3によ
りこの集積回路パターンはウェハW上に投影露光される
一方、照明系2から出射した光束の一部は、ミラー4に
よってセンサ5の光電変換面に入射される。エキシマレ
ーザ1の出射パルス光の時間的な幅は数Ions程度と
極めて短いため、センサ5としてはPINフォトダイオ
ードやバイプラナ光電管のような応答性が数ns以下の
充電変換素子を用いるのがよい、また、照明系2の出射
ビームは配光特性が均一であるため、センサ5に入射す
る光のパワーとウェハWに到達する光のパワーは比例関
係にある。したがって、センサ5の電気的出力信号を計
測することによってウェハWでの光のパワーをモニタす
ることができる。
センサ5の出力信号は積分器6に入力され、レーザ光の
1パルス毎に電気的にアナログ積分される。そして、そ
の積分値はA/D変換器7によってディジタル値に変換
されマイクロコンピュータ8に読み込まれる。マイクロ
コンピュータ8はこの1パルス毎のディジタル化された
積分値を積算する。そして、その積算値とあらかじめ設
定されたウェハWへの露光量と比較して、設定露光量よ
りも大きくなったら、レーザ制御部9に指令を出してエ
キシマレーザ1の発光を停止させる。これによって露光
量制御を行なうことができる。
積分制御信号発生部10は、積分器6に積分開始および
終了を規定する積分制御信号を発生させる部分である。
第2図は、積分器6に関する処理タイミングを示すタイ
ミングチャートである。同図において、発振同期信号a
は実発光のタイミングの数μs前にエキシマレーザ1か
ら出力される同期信号である。この発振同期信号aとし
ては、通常、レーザ発光のトリガーとなるサイラトロン
のトリガー信号を使用する。そのため、この同期タイミ
ングからレーザの実発光タイミングまでのデイレイ時間
(遅延時間)tつは固定ではなく、先にも述べたように
経時変化する。また、数10nsのジッター成分を含ん
でいることが知られている。
そこで本実施例では、この発振同期信号aを基準とし、
これから デイレイ時間tウージッタ分==jt時間の後に積分を
開始し、さらに発光時間twに対してマージンを見込ん
だt7時間の後に積分器出力をホールドすることとした
。このようにすることより積分器6の積分区間にレーザ
の実発光エネルギーを収めることができる。
積分実行時間t、は積分値の精度を上げるためには極力
短い方が有効である。その理由は、レーザ1の発光を電
気信号に変換するセンサ5の出力信号にはノイズが混入
することがあり、またそのオフセットレベルが微小に変
動するため、これらを考慮して数10nSのパルスを積
分するために敏感になっている積分器6への影響を少な
くするためである。
積分制御信号発生部10は、積分開始時間t1と積分開
始からホールドまでの積分実行時間t2とをマイクロコ
ンピュータ8の指令により可変できるような積分制御信
号、すなわち積分開始信号すとホールド信号dとをエキ
シマレーザlの発振に同期して出力する。
第3図は積分開始タイミングが発光デイレイ時間に比べ
て長くなった時のタイミングを、第4図は短くなった時
のタイミングを示している。これらの図から明らかなよ
うに、発光デイレイ時間txに対し適切な積分タイミン
グt1を設定していないと、積分値は適切なタイミング
を与えた時に比べ小さな値となる。
次に、第6図および第8図のフローチャートを参照して
、積分タイミングt、および積分実行時間t2の決定の
手順を説明する。なお、これらのフローチャートにおい
て用いる記号t、、t2゜Δt、i、n、Lなどはマイ
クロコンピュータ8内のレジスタあるいは不図示のメモ
リ上に確保された記憶領域を示すものとする。例えば、
t、は積分タイミングの値を記憶するために確保された
レジスタなどを表わし、t2は積分実行時間の値を記憶
するために確保されたレジスタなどを表わすものとする
第6図のステップS1でマイクロコンピュータ8はレジ
スタなどの初期設定を行なう。ここではt2を100、
iを0、nを50、Δtを10ns、L (Q) 〜L
 (n)を0と設定する。Lは配列である。
なお、ここで初期設定を行なう際にt、はパルス光の発
光中+ジッタ成分十マージン分を見込んだ値を設定して
おく、また1、は発光デイレイ時間が最も短い時を考慮
して設定されている。
次にステップS2で、記憶保持しているtlおよびt2
の値を積分制御信号発生部10に指定する。そして、ス
テップS3でマイクロコンピュータ8は1パルス発光命
令を出力し、ステップS4で積分値Aを読み込む。ステ
ップS5で、t、をΔtだけ増加させ、iをインクリメ
ントし、L(i)に積分値Aをセットする0次に、ステ
ップS6でiがn以上となったか否か判別し、そうでな
ければステップS2に戻り再びステップ52〜S6を繰
返す。iがn以上の場合はステップS6からステップS
7へと進む。ステップS7でL(0)〜L(n)の最大
値を求め、それをMとする。そして、ステップS8で L (j)< 0.8M<L (j+1)L (k) 
> O,lSM>L (k+ 1 )となるj、kを求
め、ステップS9でT、をと算出する。そして、この値
はマイクロコンピュータに保持記憶される。
上記のシーケンスは、積分開始タイミング1゜を変化さ
せて積分値をマイクロコンピュータで読み込み、その積
分値の中で最大のものを探し、最大値の80%と交差す
る時間jとkを求め、その中間値をT1とするものであ
る。第5図はiと積分値との関係を示すグラフである。
次に、第8図のフローチャートに示す手順で1、.1.
を求める。まず、ステップSitでt2を0、iを0、
nを50、ΔtをIns、L(0)〜L(n)を0と初
期設定する。次にステップS12で、記憶保持している
T1およびt2よりtlを とし、ここでPは、ステップS1で初期設定されるt2
の設定値を示す0次に、ステップS13でこの1..1
.の値を積分制御信号発生部10に指定する。そして、
ステップS14でマイクロコンピュータ8は1パルス発
光命令を出力し、ステップS15で積分値Aを読み込む
、ステップS16で、t2をΔtだけ増加させ、lをイ
ンクリメントし、L (i)に積分値Aをセットする。
次に、ステップS17でiがn以上となったか否か判別
し、そうでなければステップS12に戻り再びステップ
312〜S17を繰返す、lがn以上の場合はステップ
S17からステップS18へと進む。ステップS18で
L(0)〜L (n)の最大値を求め、それをMとする
。そして、ステップS19で t、 (j)< 0.9M<L (j+1)となるjで
最小のjを求め、ステップS20で1、.1.を tz=jXΔt X 1.5 と算出する。
上記のシーケンスは、積分実行時間t2を変化させて積
分値をマイクロコンピュータで読み込み、その積分値の
中で最大のものを探し、最大値の90%と交差する時間
のうち最小のものを求め、それを1.5−倍してt、と
したものである。
11は式■より求める。このようにして最適なt、とt
2を求めることができる。第7図はt2と積分値との関
係を示すグラフである。
なお、上記実施例ではステップS1の初期設定でt2=
100ns、Δt=10nsとし、さらにステップS8
で80%、ステップS19で90%、ステップS20で
1.5倍といった定数値を用いたが、これに限られるも
のではなく、適宜変更して実行することができる。
上記のように求めた積分開始タイミングt、および積分
実行時間t、の最適値を積分制御信号発生部に設定すれ
ば、精度の高い積分が実現できることとなる。この最適
値設定を例えばウェハ1枚ごとに行なえば、エキシマレ
ーザの経時変化を吸収した露光量制御を行なうことがで
きる。
[他の実施例] 上記実施例では積分器6としてアナログ回路を用いたが
、ディジタルサンプリングと加算回路で実施することも
できる。また、積分実行時間t。
の経時変化は積分開始タイミング1.に比べ小さいため
、t2を一定値とすることも可能である。
さらに、上記実施例ではレーザ光源1の側から発振同期
信号を受は取っているが、レーザを外部同期発光させる
場合は、レーザ側に与える同期信号を発振同期信号とし
て用いても同様の効果が得られる。また、積分開始タイ
ミングとホールドのタイミングを一つの信号の立上りと
立下りにした積分ウィンドウ信号で積分器6をコントロ
ールしてもよい。さらに、最適タイミングの決定手段は
実施例ではマイクロコンピュータ8が計算により行なっ
ているが、計算方法は上記実施例に限らず、アナログ回
路により実現することも可能である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、積分タイミング
を積分回路の出力に基づいて最適化しているので、ノイ
ズやオフセットドリフト、レーザの経時変化の影響が少
なく測定精度の低下を抑えて安定した露光量監視を行な
うことができる。さらに、光源となるレーザの種類を変
えて同期信号のタイミングが変わっても、ハードウェア
およびソフトウェアの変更なしに露光量の監視をするこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係る露光量監視装置の構
成図、 第2図〜第4図は、本実施例の装置の信号タイミンクを
説明するためのタイミングチャート、第5図は、T1の
決定の際のlと積分値との関係を示すグラフ、 第6図は、本実施例におけるマイクロコンピュータの処
理の一部を説明するためのフローチャート、 第7図は、1..1.の決定の際のt2と積分値との関
係を示すグラフ、 第8図は、本実施例におけるマイクロコンピュータの処
理の一部を説明するためのフローチャートである。 :エキシマレーザ、 :照明系、 一投影光学系、 :ハーフミラー :光電変換素子、 : f員分器、 : A/D変換器、 :マイクロコンピュータ、 9:レーザ制御部、 10;積分制御信号発生部、 M:マスク、 W:ウェハ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)断続的に発せられるパルス光を露光光として露光
    を行なう半導体装置における露光量を監視する装置であ
    って、 上記パルス光の光束の一部を受光して電気信号を出力す
    る光電変換手段と、 該光電変換手段の出力を積分する手段と、 上記パルス光の発光前に出力される発振同期信号から所
    定の遅延時間の後に上記積分手段による積分処理を開始
    せしめかつ所定の積分実行時間の後に積分処理を終了せ
    しめるべく、積分制御信号を発生する手段と、 上記積分手段の出力値に基づいて、上記遅延時間および
    /または上記積分実行時間を最適化する手段と を具備することを特徴とする露光量監視装置。
JP63328832A 1988-12-28 1988-12-28 露光量監視装置及び露光装置 Expired - Fee Related JP2821752B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000277413A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Canon Inc 露光量制御方法、露光装置およびデバイス製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000277413A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Canon Inc 露光量制御方法、露光装置およびデバイス製造方法

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