JPH02170045A - 試料導入装置 - Google Patents

試料導入装置

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Publication number
JPH02170045A
JPH02170045A JP63325176A JP32517688A JPH02170045A JP H02170045 A JPH02170045 A JP H02170045A JP 63325176 A JP63325176 A JP 63325176A JP 32517688 A JP32517688 A JP 32517688A JP H02170045 A JPH02170045 A JP H02170045A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
laser light
carrier gas
focused
solid sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63325176A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Yamanaka
一夫 山中
Kenichi Sakata
健一 阪田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP63325176A priority Critical patent/JPH02170045A/ja
Publication of JPH02170045A publication Critical patent/JPH02170045A/ja
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  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、試料導入装置に係わり、特に、高周波誘導結
合プラズマ質量分析計のような元素分析計にレーザアブ
リベーション法により固体試料を導入する際に用いる試
料セルの収り扱い性を改善した試料導入装置に関する。
〈従来の技術〉 第2図は、高周波誘導結合プラズマを用いた分析計の一
般的な構成説明図である。この図において、プラズマh
−ヂ1の外室1bと最外室1cにはガス調節器2を介し
てアルゴンカス供給源3がらアルゴンカスが供給され、
内室1aには試料セル4内の固体試料がレーザ光源5が
らのレーザ光によって気化されてのちアルゴンカスによ
って搬入されるようになっている。また、プラズマ1−
ヂ1に巻回された高周波誘導コイル6には高周波電源1
0によって高周波電流が流され、該コイル6の周囲に高
周波磁界(図示せず)が形成されている。
方、Aは検出系であり、Bは信号処理部である。
尚、検出系Aとしては、例えは、第2図に示すような構
成のものが用いられる。即ぢ、ノズル8とスキマー9に
挟まれたフォアチャンバー本体11内は、真空ポンプ1
2によって例えばITorr、に吸引されている。更に
、センターチャンバ13内にはイオンレンズ14a、1
4bか設けられると共に、該センターチャンバー13の
内部は第1油拡散ポンプ15によって例えば1O−4T
orr、に吸引され、マスフィルタ(例えば四重径マス
フィルタ)16を収容しているリアチャンバー17内は
第2油拡散ポンプ18によって例えば1O−5Torr
、に吸引されている。
この状態で上記高周波磁界の近傍でアルゴンガス中に電
子かイオンが植え付けられると、該高周波磁界の作用に
よって瞬時に高周波誘導プラズマ7か生ずる。この高周
波誘導プラズマ中に気化された試料が導入され、イオン
化や発光が行われる。
該プラズマ7内のイオンは、検出系Aで検出されてのち
信号処理部Bで信号処理される。即ち、検出系Aか例え
ば第2図に示すような構成である場合には、ノズル8や
スキマー9を経由してのちイオンレンズ14a、]、4
b(若しくはタブレット四重径レンズ)の間を通って収
束され、その後、マスフィルタ16を通り二次電子増倍
管]9に導かれて検出される。また、高周波誘褥結合プ
ラズマ発光分光分析計においては、発光を分光器で測定
して信号を得ていた。これらの検出信号か信号処理部2
0に送出されて演算・処理されることによって、前記試
料中の被測定元素分析値か求められるようになっている
〈発明が解決しようとする問題点〉 然しながら、上記従来例においては、試料セル4内に固
体試料をセットするとき試料セル4内の底面に単に置い
ているたりであるため、該固体試料の厚さが変わるごと
に試料の分析面がレーザ光の焦点からすれるようになっ
ていた。即ち、固体試料21が、初め、第3図(イ)に
示す如く試料セル4内の底面に単に置かれており、レー
ザ光はレンズ23を通って固体試料21の表面に焦点を
結ぶようになっている。しかし、固体試料21が小さく
なったり変えられなりして第4図(ロ)に示す如く固体
試料21−が試料セル4内の底面に置かれている場合に
は、レーザ光はレンズ23を通って固体試料21の表面
と離れた場所で焦点を結ぶようになる。
このため、固体試料が小さくなったり変えられたりする
度に、レーザ光の焦点合わせをしなければならず操作が
繁雑であるという欠点があった。
本発明は、かかる従来例の問題に鑑みてなされものであ
り、その課題は、固体試料が小さくなったり変えられた
りしてもレーザ光の焦点合わせをしなくとも済むような
試料導入装置を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉 本発明は、高周波誘導結合プラズマ分析計などの元素分
析計に装着され固体試料を気化して該元素分析計に供給
する試料導入装置において、内部が突起部によって」−
側の第1室と下側の第2室に仕切られた筐体と、前記固
体試料を前記突起部に押圧する押し上は部材と、前記筐
体内にキャリアガスを導入するキャリアガス導入口と、
前記筐体内にキャリアガスを導出するキャリアガス導出
[1と、前記筐体内部に照射されるレーザ光が透過する
レーザ光用の窓とを設り、該レーザ光用の窓を透過した
レーザ光が前記固定試料の表面に焦点を結ぶように構成
することにより前記課題を解決したものである。
〈実施例〉 以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第1
図は本発明実施例の要部構成説明図であり、図中、25
は試料セルの筐体、26は例えばバネでなる押し上げ部
材、27は固体試料、28aはキャリアガス(C,G、
)の導入口、28bはキャリアガス(C,G、)の導出
口、29はレザ光用の窓、30は試料セル内を上側の第
1室と下側の第2室に仕切る突起部である。このような
構成からなる試料セルは、第1図の底部が開かれる(図
示せず)などして固定試料27と押し上げ部材26か装
着される。
第1図において、キャリアガス(C,G、)用導入口2
8aから筐体25内にキャリアガスか導入され、キャリ
アガス(C,G、’)の導出口28bから導出されてい
る。また、第1図の太線矢印方向から導入されたレーザ
光は、レーザ用窓2つを透過して固体試料27の表面に
焦点を結ぶ。このため、固体試料27はレーザ光の作用
によって気化し、この気化した試料が上記キャリアガス
で搬送されるようになる。一方、固体試料27か小さく
なったり変えられたりした場合には、押し上げ部材26
の作用で固体試料27が突起部30の位置まで押し上げ
られる。このなめ、第1図の太線矢印方向から導入され
たレーザ光は、レーザ用窓29を透過して常に固体試料
27の表面に焦点を結ぶようになり、前記従来例の場合
のようにレザ光が固体試料27の表面と離れた場所で焦
点を結ぶような現象は生じない。尚、本発明は」一連の
実施例に限定されることなく種々の変形が可能であり、
突起部30に例えば0−リンクを介して固体試料27が
当接するようにし第2室によるメモリ効果やコンタミネ
ーションを防止するようにしてもよい。
〈発明の効果〉 以上詳しく説明したような本発明によれば、レザ光用の
窓を透過したレーザ光か常に固定試料の表面に焦点を結
ぶように構成されているため、固体試料が小さくなった
り変えられなりしてもレザ光の焦点合わぜをしなくて済
むような試料導入装置が実現する。また、レーザ光の焦
点合わせか1回で済むため、該試料導入装置を使用して
行なう高周波誘導結合プラズマを用いた各種の分析計を
使用する分析の再現性か向上するという利点もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の要部構成説明図、第2図は高周
波誘導結合プラズマ質量分析計の全体的な構成説明図、
第3図は固体試料の厚さか変わるごとに試料の分析面が
レーザ光の焦点からずれるようになることを説明するた
めの図である。 1・・・・・・プラズマトーチ、2・・・・・・流量制
御部、3・・・・・・アルゴンガス供給源、4・・・・
・・試料セル、5・・・・・・レーザ光源、6・・・・
・・高周波誘導コイル、7・・・・・・高周波誘導結合
プラズマ、8・・・・・・ノズル、9・・・・・・スキ
マー、11・・・・・・フォアチャンバ13・・・・・
・センターチャンバ 16・・・・・・マスフィルタ、17・・・・・・リア
チャンバー20・・・・・・信号処理部、 21、.21−.27・・・・・・固体試料23・・・
・・・レンズ、24・・・・・・レーザ光の焦点、25
・・・・・・試料セルの筐体、26・・・・・・押し上
げ部材、27・・・・・・固体試料、29・・・・・・
レーザ光用の窓! 図 32図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 高周波誘導結合プラズマを用いた分析計などの元素分析
    計に装着され固体試料を気化して該元素分析計に供給す
    る試料導入装置において、 内部が突起部によって上側の第1室と下側の第2室に仕
    切られた筐体と、前記固体試料を前記突起部に押圧する
    押し上げ部材と、前記筐体内にキャリアガスを導入する
    キャリアガス導入口と、前記筐体内にキャリアガスを導
    出するキャリアガス導出口と、前記筐体内部に照射され
    るレーザ光が透過するレーザ光用の窓とを具備し、該レ
    ーザ光用の窓を透過したレーザ光が前記固定試料の表面
    に焦点を結ぶように構成したことを特徴とする試料導入
    装置。
JP63325176A 1988-12-23 1988-12-23 試料導入装置 Pending JPH02170045A (ja)

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JP63325176A JPH02170045A (ja) 1988-12-23 1988-12-23 試料導入装置

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JP63325176A JPH02170045A (ja) 1988-12-23 1988-12-23 試料導入装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02170045A true JPH02170045A (ja) 1990-06-29

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ID=18173859

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JP63325176A Pending JPH02170045A (ja) 1988-12-23 1988-12-23 試料導入装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006153660A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Tdk Corp レーザーアブレーション装置及び方法、試料分析装置及び方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63113340A (ja) * 1986-10-31 1988-05-18 Nkk Corp レ−ザ−照射による固体試料の気化分析方法

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