JPH02163618A

JPH02163618A - 電子天びん

Info

Publication number: JPH02163618A
Application number: JP31821188A
Authority: JP
Inventors: Akira Kawamoto; 河本　晟; Akira Nishio; 章西尾
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1988-12-16
Filing date: 1988-12-16
Publication date: 1990-06-22

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〈産業上の利用分野〉本発明は校正用分銅を内蔵した電子天びんに関する。

〈従来の技術〉電子天びんの校正は、一般に、荷重センサを含む荷重検
出機構にひょう量近傍の質量既知の分銅を負荷し、その
負荷した状態での計量表示値が分銅質量に一致するよう
、調整ボリューム等を操作したり、また、分銅負荷時の
Ａ／Ｄ変換値と分銅質量値から、Ａ／Ｄ変換値の１カウ
ント当りの質量を算出記憶させる等の方法が採用されて
いる。

ところで、このような校正は、電子天びんの設置時のみ
ならず電子天びんの構成部材の経年変化によるスパン変
化等を解消すべく、必要に応じてもしくは定期的に、ユ
ーザサイドにおいて頻繁に行うことが望ましい。

そこで、従来、この校正動作を容易化するために、天び
んに専用の校正分銅を内蔵し、精密な基準分銅を別途用
意することなく校正を行えるようにしている。

〈発明が解決しようとする課題〉ところで、校正用分銅を内蔵した天びんにおいては、従
来、校正用分銅を負荷／負荷解除するための加除機構が
付設されている。この加除機構は構造が複雑でありコス
トが高く、天びんの製品コストの低減化をはかる上での
妨げとなっていた。

さらに、加除機構は、通常、天びんハウジング内に収容
されており、このため、ハウジング内に荷重検出機構の
他に余分なスペースが必要になるという問題があった。

本発明の目的は、加除機構を設けることなく、内蔵した
校正分銅の負荷／負荷解除操作を行うことのできる、電
子天びんを提供することにある。

〈課題を解決するための手段〉上記の目的を達成するだめの構成を、実施例に対応する
第１図、第２図を参照しつつ説明すると、本発明は、天
びんハウジング１の内部に配設され、受感部材２ａ・・
・２ａがハウジング１の上面に形成された孔１ａ・・・
１ａを介して外部に突出する荷重検出機構２と、試料皿
３および校正用分銅４とを有し、第１の使用状態では、
試料皿４が受感部材２ａ・・・２ａに載置されるととも
に、その載置された試料皿４とハウジング■の上面との
間に形成された空間に校正用分銅４が受感部材２ａ・・
・２ａおよび試料皿３に非接触の状態で配設され、第２
の使用状態では、試料皿３および校正用分銅４のいずれ
か一方がその他方を保持した状態で受感部材２ａ・・・
２ａに支承されるよう構成するとともに、試料皿３およ
び校正用分銅４を人手により一体的に持ち上げて、上記
の第１もしくは第２の使用状態に設置できるよう構成し
たことを特徴としている。

〈作用〉第１の使用状態、例えば第１図の状態では、校正用分銅
４は試料皿３および受感部材２ａ・・・２ａのいずれに
も接触しておらず、試料皿３上に載せられた荷重のみが
荷重検出機構２によって検出される。

第２の使用状態、例えば第２図の状態では、校正用分銅
４の上面に試料皿３が載った状態で校正用分銅４が荷重
検出機構２の受感部材２ａ・・・２ａに支承され、これ
により、試料皿３と校正用分銅４との合計重量が負荷さ
れることになる。

〈実施例〉本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。

第１図は本発明の一実施例の第１の使用状態を示す平面
図および縦断面図、第２図は第１図に示す実施例の第２
の使用状態を示す平面図および縦断面図である。

ハウジング１内には、電磁力平衡機構等の荷重センサを
含む公知の荷重検出機構２が配設されており、この荷重
検出機構２は４木の受感部材２ａ・・・２ａに作用する
荷重を検出することができる。

受感部材２ａ・・・２ａは鉛直線に沿って直立する部材
であって、その上部はハウジング１の上面に穿たれた孔
１ａ・・・１ａから外部に突出している。

そして、この受感部材２ａ・・・２ａの突出端部に試料
皿３が載せられている。

試料皿３は全体として矩形形状をなす一体形の皿であり
、その周縁部は下方に屈曲するとともに、受感部材２ａ
・・・２ａに対して位置決めを行うための凹部３ａが４
箇所に形成されている。

試料皿３の屈曲部内方における空間には矩形板状の校正
用分銅４が収容されており、この校正用分銅４はハウジ
ング１の上面に植設された４本の分銅受け５・・・５に
よって支持されている。この状態では校正用分銅４は試
料皿３に非接触で、かつ、試料皿３の屈曲部の下部に固
着された２本の分銅外れ止め３ｂ、３ｂにも非接触とな
っており、さらに、４個の貫通孔４ａ・・・４ａによっ
て受感部材２ａ・・・２ａにも非接触となっている。

校正用分銅４の下面には、分銅受け５・・・５に対して
位置決めを行うための４個の凹部４ｂ８．・・・４ｂａ
の他に、左方端部に２個の凹部４ｂＳ、４ｂ６が形成さ
れており、この２個の凹部４ｂｓ、４ｂ６と右側２個の
凹部４ｂ１．４ｂ２との位置関係は、４本の受感部材２
ａ・・・２ａの位置関係と対応している。すなわち、校
正用分銅４を、凹部４ｂ＋４　ｂｚ、４　ｂｓ、　　４
　ｂ＋、により受感部材２　ａ　−２ａに対して位置決
めしつつ、受感部材２ａ・・・２ａのＧ− 突出端部に載せることができる。

以上の構成により、第１図に示す第１の使用状態では、
校正用分銅４は試料皿３および受感部材２ａ・・・２ａ
のいずれにも接触しておらず、試料皿３」二に載せられ
た荷重のみが荷重検出機構２によって検出される。

次に校正手順を説明する。まず、第１図の状態から試料
皿３を持ち上げる。このとき、まずは分銅外れ止め３ｂ
、３ｂが校正用分銅４の下面に当接し、次いで校正用分
銅４が試料皿３と一体となって持ち」二がることになる
。そして、校正用分銅４の下面が受感部材２ａ・・・２
ａの突出端部よりも上方に位置した時点で試料皿３を右
方へとずらし、次いで校正用分銅４の凹部ａｂ１．　４
ｂ２，４ｂｓ４ｂ６をそれぞれ対応する受感部材２ａ・
・・２ａの突出端部に合わせつつ、試料皿３を受感部材
２ａ・・・２ａ上に載せ直すことにより、第２図に示す
ように、受感部材２ａ・・・２ａの突出端部に校正用分
銅４が載り、かつ、その校正用分銅４の上面に試料皿３
が載ることになる。この第２の使用状態では校正用分銅
４は分銅受け５・・・５には接触しておらず、従って、
試料皿３と校正用分銅４との合計重量が受感部材２ａ・
・・２ａを介して荷重検出機構２に荷重される。以後、
「従来の技術」の項で述べた公知の方法により天びんの
校正を行う。

なお、分銅外れ止め３ｂ、３ｂは必ずしも必要ではなく
、例えば操作者らが試料皿３を持ち上げる際に、試料皿
３の下方に指を差し入れて、試料皿３とともに校正用分
銅４を持ち上げるようにすることで、省略することも可
能である。

また、校正用分銅としては、第３図の平面図に示すよう
に、受感部材２ａ・・・２ａに対応する箇所に切り欠き
部３４ａ・・・３４ａを形成した校正用分銅３４を用い
てもよい。なお、３４ｂｌ、・・・、３４ｂｂは第１図
と同様の凹部である。

さらに、試料皿３および校正用分銅４に、それぞれ位置
決めのための凹部３ａ・・・３ａおよび４ｂ・・・、４
ｂ６を形成しているが、これに限られることなく、例え
ば各々の下面にキャップ状の部品を固着する等、他の位
置決め手段でもよい。

第４図は本発明の他の実施例の第１の使用状態を示す平
面図および縦断面図、第５図は第４図に示す実施例の第
２の使用状態を示す平面図および縦断面図である。

この例では、受感部材４２ａ・・・４２ａを長方形状に
配置し、試料皿４３を持ち上げて、９０°回したときに
、校正用分銅４４の貫通孔４４ａ・・・４４ａが受感部
材４２ａ・・・４２ａに一致しないようにしている。こ
れにより、第４図に示す通常の測定状態から、試料皿４
３を持ち上げて、９０°回した後、試料皿４３を受感部
材４２ａ・・・４２ａ上に置くことにより、第５図に示
すように、試料皿４３と校正用分銅４４との合計重量が
受感部材４２ａ・・・４２ａを介して荷重検出機構４２
に荷重されることになる。

なお、この例においては、試料皿４３を回す角度を９０
°としているが、例えば３０’、４５°等、９００以外
の角度で校正を行えるよう構成してもよく、この場合、
受感部材４２ａ・・・４２ａの配置を正方形配置とする
ことができる。

第６図は本発明の他の実施例の第１の使用状態を示す平
面図および縦断面図、第７図は第６図に示す実施例の第
２の使用状態を示す平面図および縦断面図である。

この例では、第６図に示す通常の測定状態から、試料皿
６３を持ち上げた後、試料皿６３を裏返し、試料載置面
６３ｃを下方に向けて受感部材６２ａ・・・６２ａに載
せる。これにより、第７図に示すように、受感部材６２
ａ・・・６２ａの突出端部に試料皿６３が裏返った状態
で載り、がっ、その試料皿６３上に校正用分銅６４が載
ることになり、試料皿６３と校正用分銅６４との合計重
量が受感部材６２ａ・・・６２ａを介して荷重検出機構
６２に荷重される。

なお、この例においては、校正用分銅として、第８図の
平面図に示すような、貫通孔ならびに切り欠き部等のな
い校正用分銅８４を用いることもできる。

以上の実施例では、荷重検出機構の受感部材の本数を４
木としているが、本発明はこれに限られることなく、例
えば３本等、本発明の主旨を変えない範囲で変更可能で
あることは勿論である。

〈発明の効果〉以上説明したように、本発明によれば、試料皿および校
正用分銅を一体的に持ち上げて、第１もしくは第２の使
用状態つまり通常の測定時もしくは校正時の状態に設置
できるよう構成したから、加除機構等を設けることなく
、校正用分銅の負荷／負荷解除操作を人手により簡単に
かつじん速に行うごとが可能になる。これにより、加除
機構等の収納のためのスペースをハウジング内に設ける
必要がなく、校正用分銅を内蔵しない天ぴんと同等のハ
ウジングによって分銅内蔵型天びんが得られ、コンパク
ト化に寄与するところ大であり、しかも、機構的構造が
不要で、故障の発生が低減するとともに低コスト化を達
成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の第１の使用状態を示す平面
図および縦断面図、第２図は第１図に示す実施例の第２の使用状態を示す平
面図および縦断面図である。第３図は第１図に示す実施例の校正用分銅４の変形例を
示す平面図である。第４図は本発明の他の実施例の第１の使用状態を示す平
面図および縦断面図、第５図は第４図に示す実施例の第２の使用状態を示す平
面図および縦断面図である。第６図は本発明の他の実施例の第１の使用状態を示す平
面図および縦断面図、第７図は第６図に示す実施例の第２の使用状態を示す平
面図および縦断面図である。第８図は第６図に示す実施例の校正用分銅６４の変形例
を示す平面図である。１　ａ・・・１ａ２ａ・・・２ａ・・・ハウジング・・・孔・・・荷重検出機構・・・受感部材・・・試料皿・・・校正用分銅第１図３４ｂ６−、− ３４ｂｓ　−−−−− 第４図第５図４Ｇ

Claims

【特許請求の範囲】

ハウジングの内部に配設され、受感部材が上記ハウジン
グの上面に形成された孔を介して外部に突出する荷重検
出機構と、試料皿および校正用分銅とを有し、第１の使
用状態では、上記試料皿が上記受感部材に載置されると
ともに、その載置された試料皿と上記ハウジングの上面
との間に形成された空間に上記校正用分銅が上記受感部
材および上記試料皿に非接触の状態で配設され、第２の
使用状態では、上記試料皿および上記校正用分銅のいず
れか一方がその他方を保持した状態で上記受感部材に支
承されるよう構成するとともに、上記試料皿および上記
校正用分銅を人手により一体的に持ち上げて、上記第１
もしくは第２の使用状態に設置できるよう構成した、電
子天びん。