JPH02161240A - クリーンルームの床下二層構造 - Google Patents

クリーンルームの床下二層構造

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JPH02161240A
JPH02161240A JP31440788A JP31440788A JPH02161240A JP H02161240 A JPH02161240 A JP H02161240A JP 31440788 A JP31440788 A JP 31440788A JP 31440788 A JP31440788 A JP 31440788A JP H02161240 A JPH02161240 A JP H02161240A
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JP
Japan
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air
chamber
room
sucked
underfloor
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JP31440788A
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Michio Suzuki
道夫 鈴木
Hidenao Kawatani
河谷 秀直
Shuichi Takeuchi
秀一 竹内
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Hitachi Plant Technologies Ltd
Original Assignee
Hitachi Plant Technologies Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はクリーンルームの床下二層構造に係り、特に半
導体製造工場等のクリーンルームに適したクリーンルー
ムの床下二重構造に関する。
〔従来の技術〕
半導体製造は無直環境を必要とする為、その製造は通常
クリーンルーム内で行われる。クリーンルームは、天井
面に取付けられたHEPA (高性能)フィルタを通し
て清浄エアをクリーンルーム内に吹き出し、そのルーム
内のエアを通気構造を有する床面から吸い込んで、再び
天井面のHEPAフィルタを通すエア循環方式が採用さ
れ、清浄エアがルーム内に於いてダウンフロー(層流)
されている。また、前記通気構造を存する床下チャンバ
には、真空ポンプ及びボンベボックス等のプロセス装置
が配設されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、従来のクリーンルーム構造であると前記
床下チャンバにダウンフローされてきたエアは、配設さ
れた前記プロセス装置に衝突する為、床下チャンバに偏
気流が発生する場合があった。
また、プロセス装置によって、エアのダウンフローが妨
げられていた。
または、前記プロセス装置の各々の自己発熱によって、
ダウンフローされてきたエアに悪影響を与え、床下チャ
ンバに偏気流が発生する場合があった。これらの偏気流
が強くなると、ルーム内のダウンフローに悪影響を与え
る場合があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、ルー
ム内のエア流を均一にするクリーンルームの床下二重構
造を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は前記目的を達成する為に、天井面に取付けられ
た高性能フィルタを通して清浄エアをルーム内に吹き出
すと共に、床下チャンバにルーム内のエアを吸い込んで
排気するクリーンルームに於いて、前記床下チャンバを
多孔板によって二層に分割し、上層をリターンエアチャ
ンバに形成し、下層にポンプ等の機器を配設することを
特徴とする。
〔作用〕
本発明によれば、クリーンルームの床下チャンバを多孔
板によって二層に分割する。そして、上層をリターンエ
アチャンバに形成し、下層をポンプ等の機器の配設チャ
ンバに形成する。これによって、前記上層チャンバにダ
ウンフローされたエアは悪影響を受けないようになり、
ルーム内のエア流を均一にすることができるようになる
〔実施例〕
以下添付図面に従って本発明に係るクリーンルームの床
下二層構造の好ましい実施例を詳説する。
図は本発明に係るクリーンルームの床下二層構造の断面
図である。
クリーンルーム10の天井室12は、右側面に送風口1
4が設けられ、循環エアはこの送風口14を通って天井
室12に供給される。また、天井室12には、複数のH
EPAフィルタ16.16・・・が配置され、天井室1
2のエアは、HEPAフィルタ16.16・・・を通っ
てルーム20に送られる。
一方、基礎床27には複数の支柱26.26・・・が立
設され、支柱26.26・・・によって床面用グレーチ
ング22、シャッタ23が敷設され、床下チャンバが形
成されている。また、パンチングボード28によって床
下チャンバが2分割されて上層チャンバ24、下層チャ
ンバ29が形成されている。前記グレーチング22には
多数の通気孔が形成され、通気孔の開口率は前記シャッ
タ23が前記グレーチング22の裏面に対してスライド
移動することによって調節自在であり、また、パンチン
グボード28にも同様に多数の通気孔が形成されている
ルーム20のエアは、前記グレーチング22、シャッタ
23を通って床下の前記上層チャンバ24に吸い込まれ
、大部分が吸気口30に吸気される。更に、前記吸気口
30に吸い込まれないエアは、パンチングボード28を
通って下層チャンバ29に吸い込まれ、吸気口36に吸
気される。前記下層チャンバ29には、ボンベボックス
32、真空ポンプ34等が適宜配設されている。前記吸
気口30.36は吸気ダクト38を介して空気調和機4
0に外気導入ダクト42と共に接続され、この空気調和
機40でミキシングされた空調空気は送風機44により
、送気ダクト46を介して天井室12に再び供給される
次に前記の如く構成されたクリーンルームの床下二層構
造の作用について説明する。
先ず、清浄エアは天井室12に取付けられた複数のHE
PAフィルタ16.16・・・を通ってルーム内に吹き
出される。エアは降下気流となって床面グレーチング2
2に吸い込まれ、上層チャンバ24に吸い込まれる。
次に、前記上層チャンバ24に吸い込まれてきたエアは
大部分が吸気口30に吸気される。また、上層チャンバ
24にはプロセス装置が配設されていない為、上層チャ
ンバ24にダウンフローされてきたエアはプロセス装置
に衝突することがなくなる。従って、偏気流は発生しな
くなる。
次に、吸気口30に吸気されなかったエアは、パンチン
グボード28を通って、下層チャンバ29に吸い込まれ
給気口36に吸気される。前記吸気口36によって吸気
されたエアは、吸気ダクト38、空気調和機40及び送
風144等を介して再び天井室12内に供給される。
一方、前記下層チャンバ29に配設されているプロセス
装置が作動した場合、下層チャンバ29はプロセス装置
の自己発熱によって温められるが、前記パンチングボー
ド28を設けているので、上層チャンバ24に悪影響を
及ぼすことはなくなる。
従って、上層チャンバ24には偏気流が発生しなくなり
、ルーム20内のエア流を均一にすることができるよう
になる。
尚、前記グレーチング22の通気孔開口率を、吸気口3
0.36から遠ざかるに従ってシャッタ23の作動によ
り大きくして、ルーム20内のエアダウンフローを適宜
に調節すれば良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明に係るクリーンルームの床
下二層構造によれば、パンチングボードによって床下チ
ャンバを二層に分割し、上層をリターンエアチャンバに
形成し、下層をプロセス装置の設置チャンバに形成した
ので、上層チャンバに悪影響を与えなくなり偏気流は発
生しなくなる。
従って、ルーム内のエア流を均一にすることができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明に係るクリーンルームの床下二層構造を有す
るクリーンルームの実施例を示す断面図である。 10・・・クリーンルーム、  12・・・天井室! 
 14・・・送風口、  16・・・HEPAフィルタ
、20・・・ルーム、  22・・・グレーチング、 
 23・・・シャッタ、  24・・・上層、  27
・・・基礎床、  28・・・パンチングボード、  
29・・・下層、 30・・・吸気口、 32・・・ボ
ンベボックス、 34・・・真空ポンプ、 36・・・
吸気口、  38・・・吸気ダクト、 40・・・空気
調和機、 42・・・外気導入ダクト、 44・・・送
風機、 46・・・送風ダクト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 天井面に取付けられた高性能フィルタを通して清浄エア
    をルーム内に吹き出すと共に、床下チャンバにルーム内
    のエアを吸い込んで排気するクリーンルームに於いて、 前記床下チャンバを多孔板によって二層に分割し、上層
    をリターンエアチャンバに形成し、下層にポンプ等の機
    器を配設することを特徴とするクリーンルームの床下二
    層構造。
JP63314407A 1988-12-13 1988-12-13 クリーンルームの床下二層構造 Expired - Lifetime JPH0745945B2 (ja)

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JPH02161240A true JPH02161240A (ja) 1990-06-21
JPH0745945B2 JPH0745945B2 (ja) 1995-05-17

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0972587A (ja) * 1995-09-08 1997-03-18 Shin Nippon Kucho Kk クリーンルームにおける気流制御構造
WO2002010651A1 (fr) * 2000-07-31 2002-02-07 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Chambre remontage de barreaux de silicium
JP5620023B1 (ja) * 2014-03-06 2014-11-05 株式会社三菱地所設計 データセンターのフロア構造およびデータセンター

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01281352A (ja) * 1988-05-02 1989-11-13 Kumagai Gumi Co Ltd クリーンルームの清浄エアの送風方法

Patent Citations (1)

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