JPH021584A - 中性子検出器出力の監視法と装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電離箱型中性子検出器の出力を監視する方法お
よび装置に関するものである。

詳しく言えば、本発明は原子炉の炉心内において中性子
束を測定するために使用される電離箱型中性子検出器お
よびそれを含む装置に関する。

原子炉の炉心内において中性子束を測定監視するための
炉心内検出装置はたとえばジー・アール・パーコス（Ｇ
、　Ｒ，Ｐａｒｋｏｓ　）等の米国特許第３ｊ乙ｊｚｊ
Ｏ号明細書中に記載されているが、これは本発明を適用
し得る装置の一例を成すものである。

！離籍型中性子検出器は公知であって、たとえばエル・
アール・ボイド（Ｌ、　Ｒ，Ｂｏｙｄ　）等の米国特許
第３０’Ａ３りｊ≠号明細書中に記載されている。

かかる電離箱は、通例、互いに離隔して配置されかつ電
気的に絶縁された／対の電極並びＫそれらの間に配置さ
れた中性子受感物質および電離性気体から成る。　たと
えば核分裂電離箱すなわちフィッションチェンバの場合
、中性子受感物質は中性子によって核分裂可能なＵ−よ
はのごとき物質である。　入射した中性子が電離箱内の
ウランの核分裂を誘発したために生じた核分裂生成物は
、電離箱内における中性子束の大きさに比例して気体を
電離する。　また、別の種類の中性子受感電離箱におい
ては気体状の三フッ化ホウ素のごとき中性子受感物質が
使用される。　これらの電離箱の電極間に直流電圧が印
加された場合には、電離量従って電離箱内の中性子束に
比例した出力電流が生じる。

ところで核分裂電離箱内の中性子束を求めるためには、
公知のごとく、電離箱を通って流れる平均電流を測定す
ることにより電離箱を通って流れる直流を表わす信号（
通常はＤＣ信号と呼ぶ）を得るか、あるいは適当な周波
数範囲内において＠、電離箱内平均二乗交流を測定する
ことにより電離箱を通って流れる交流を表わす信号（通
常はＡＣ信号と呼ぶ）を得ればよい。　いずれの方法に
よって得られた信号も電離箱内の中性子束の測度として
使用される。　現在、沸騰水型原子炉においては、原子
炉の出力領域における中性子束の測度としてＤＣ信号が
使用され、またそれより低い出力レベルにおける中性子
束の測度としてＡＣ信号が使用されている。

中性子検出器としての核分裂電離箱は、感度が良く、寿
命が十分に長く、かつ中性子束の変化に対する応答が早
いという利点を有している。

しかしながら、その応答は非直線的であることが多く、
従って中性子束に対する出力電流を個々の電離箱につい
て正確に予測することはできない。

更にまた、中性子受感物質の燃焼あるいは電離箱内の電
離性気体の密度変化に原因する感度低下のため、使用中
の電離箱をかなり頻繁に較正し直さなければならない。

　一般に、かかる核分裂電離箱の動作は損われ易いし、
色々な種類の機能低下によって感度変化の生じることが
あるが、それの存在および程度は較正をやり直すまで検
出されないままに終る可能性がある。

核分裂電離箱の最も弱い部分の７つは、電離箱と接続ケ
ーブルとの間の封止部である。　この封止部は気体を電
離箱内に封じ込め、そして電離箱内に一定の気体密度を
維持するのに役立つ。

この封止部が破損した場合には、破損時における電離箱
内およびケーブル内の気体圧力に応じ、気体が電離箱か
らケーブル内へ流れたり、あるいはケーブルから電離箱
内へ流れたりすることがある。

いずれの場合にせよ、電離箱の感度は変化するから、電
離箱から得られるＡＣ信号およびＤＣ信号は中性子束の
測度として誤ったものとなる。　このような気体密度の
変化は破損の程度に応じ数分間から数日間にわたって起
り得るから、誤った読みが気付かれないこともある。　
そのし、たとえ誤った読みに気付いたとしても、核分裂
電離箱を較正し直す以外に誤差の大きさを決定する方法
はない。　従って、電離箱内における気体密度の変化を
探知して誤差の大きさを決定することにより電離箱の出
力を自動的に補正することのできる装置が要望されてい
る。

核分裂電離箱型の中性子検出器に関して見られるもう７
つの間頂け、ガンマ線もまた電離箱内の気体を［離し、
それによって電離箱内のカンマ線に比例するＤＣ信号を
与えるという点である。

′＠、離箱離籍得られたＤＣ信号の中性子由来部分とガ
ンマ線由来部分とを識別する方法はない。そこで、沸騰
水型原子炉の出力領域において現在使用されているごと
くにＤＣ信号を中性子束の測度として使用する場合には
、中性子由来電流が電離箱の全電流中の所定比率を下回
れば電離箱の寿命が終了したと見なされる。しかしなが
ら、原子炉の炉心内の検出器付近江おけるガンマ線照射
率は未知でありかつ正確な測定も不可能であるから、上
記の寿命終了を探知する方法は目下のところ存在しない
。それ故、ＤＣ信号が中性子束の測度として使用される
場合には、中性子照射によって生じる部分の電流を測定
することによって電離箱の寿命終了を予測することので
きる装置が要望されている。

核分裂電離箱型の中性子検出器に関して見られるもう１
つの問題は、を離籍の応答が非直線性を示すという点で
ある。すなわち、検出器の出力電流は電離箱内の中性子
束に正しく比例しないのである。このような非直線性の
原因は、原子炉の出力に応じて検出器の温度が変動し、
そのため検出器の有効容積内の気体密度が出力に応じて
変動することにある。その結果、検出器の感度は出力に
依存し、従って検出器の応答は非直線的となる。

原子炉の炉心内の検出器付近における中性子束を正確に
測定することは不可能であるから、電離箱を使用すべき
中性子束領域内において中性子束に対する電離箱の出力
を測定するという従来方法の場合には非直線度を決定し
て補正を行うことはできない。ところが、最新の高出力
密度原子炉の運転を可能にする最高出力レベルは炉心内
検出器の非直線度の関数であるから、検出器の非直線度
を決定することは重要である。従って、様々な出力レベ
ルにおける電離箱型中性子検出器の非直線度を決定する
ような装置も要望されている。

さて本発明に従って簡潔に述べれば、核分裂電離箱から
得られたＡＣ信号とＸ信号との比を使用することにより
、電離箱内の気体密度の変化を探知し、気体密度の変化
を補正し、Ｘ信号が中性子束の測度として使用される場
合には検出器の寿命終了を予測し、しかも様々な出力レ
ベルにおける検出器の非直線度を決定するような中性子
検出器用監視装置が提供される。

詳しく言えば、ｔａ箱内の平均二乗交流に比例する電圧
（通常はＡＣ信号と呼ばれる）が作成され、電離箱内の
直流に比例する電圧（通常はＤＣ信号と呼ばれる）が作
成され、かかるＡＣ信号とＤＣ信号との比が作成され、
そしてその比が監視される。この比の急速な変化は気体
の漏れすなわち電離箱内の気体密度の変化を表わす。こ
の比でＤＣ信号を割れば、電離箱内の気体密度に関係な
く電離箱内の中性子束に比例する信号が得られる。また
、て・１ この比を二乗した値でＡＣＣ信号側れば、検出器から得
られたＡＣ信号が補正される。■シ信号が中性子束の測
度として使用される場合、電離箱の寿命終了はこの比が
初期値のＭ／（Ｍ＋／）倍に等しくなることによって探
知される。ここでは、電離箱の寿命終了は電離箱内の中
性子由来電流がガンマ線由来電流のＭ倍（ただしＭは所
定の倍数である）になった場合として定義されている。

高出力レベルにおけるＡＣ信号とＤＣ信号との比を低出
力レベルにおけるＡＣ信号とｙ信号との比で割った商を
低出力レベルにおける既知のＤＣ／ｉ度に掛ければ、高
出力レベルにおける電離箱のＤＣ感度、従ってＤＣ信号
を使用した場合における電離箱の非直線度が決定される
。また、高出力レベルにおけるＡＣ信号とＤＣ信号との
比の二乗を低出力レベルにおけるＡＣ信号とＤＣ信号と
の比の二乗で割った商を低出力レベルにおける既知のＡ
Ｃ感度に掛ければ、窩出力レベルにおける電離箱のＡＣ
感度、従ってＡＣ信号を使用した場合における［離籍の
非直線度が決定される。

以下、添付の図面を参照しながら本発明を一層詳しく説
明しよう。

先ず第１図を見れば、中性子束を監視するため原子炉の
炉心２内に配置された複数の検出器１が示されている。

　公知の通り、かかる炉心は互いに離隔して配置された
多数の燃料集合体３から成っていて、その各々にはＵ−
，２１のごとき核分裂性物質を含有する複数の燃料要素
すなわち燃料棒が含まれている。　燃料集合体３同士の
間隙には、検出器１を収容するための保護管４が配置さ
れている。　矢印５によって示されるごとく、燃料集合
体中を通って冷却材（通常は水）を循環させることによ
って熱が取出される。　保護管４は密閉することもでき
るし、また図示のごとくに開放して検出器の周囲に冷却
材を流すこともできる。

実際には、各保護管４内の相異なる水準に若干の検出器
が配置されることも含め、炉心内に一定数の検出器が所
定の方式で配置される結果、炉心内の中性子束の大きさ
および分布が正確に表示される。　なお、その詳細は前
述の米国特許第３ｊ乙ｆ７１，０号明細査中に図示され
かつ記載されている。

本発明と共に使用し得る種類の検出器を第２図に略示す
る。　ｖ！、′ｍ箱型の検出器１は互いに離隔して配置
された２個の導電性電極１１および１２を有している。

　電極１１および１２間の空隙１３は密封され、かつ貴
ガス（たとえばアルゴン）のごとき電離性気体で満たさ
れている。　電極１１および１２の一方または両方の表
面上には、中性子による放射化の可能な物質（たとえば
核分裂性ウラン）の薄膜、薄層または被膜１４が設置さ
れている。　中性子束の存在下では、被膜１４の物質が
中性子束に比例した速度で核分裂反応を受ける。　こう
して生じた核分裂生成物は、核分裂の数に比例して、電
極間の空隙１３に存在する気体の電離を引起す。　適当
な電圧の電源が電極１１および１２間に接続されれば、
イオン対はそれらの電極によって捕集される。　その結
果、電離箱を通って交流および直流が流されるが、これ
らはいずれも電離箱内の中性子束の測度を成す。

本発明方法に従えば、ｔ！＃１箱内の平均二乗交流に比
例する信号ＶＭＳＶ（通常はＡＣ信号と呼ぶ）が作成さ
れ、また電離箱内の平均電流に比例する信号ＶＤ。（通
常はＤＣ信号と呼ぶ）が作成される。　これらのＤＣ信
号およびＡＣ信号はいずれもｔｉ箱内の中性子束に正比
例する。　そこで、■も ＡＣ信号とＤＣ信号との彬で作成され、そしてこの比Ｒ
が監視される。　Ｒの急速な変化は気体の漏れすなわち
電離箱内の気体密度の変化を表わす。

八 ■Ｄｏを比Ｒで割太ばＤＣ信号は？［離籍内の気体密度
の変化に対して補正される。　また、７Ｍ８ｖを比Ｒの
二乗で割ればＡＣ信号は電離箱内の気体密度の変化に対
して補正される。　補正済みのＤＣ信号およびＡＣ信号
はいずれも電離箱内の気体密度に関係なく電離箱内の中
性子束を表わす。　仄信号が中性子束の測度として使用
される場合、電離箱の寿命終了は凡が初期値のＭ／（Ｍ
＋／）倍に等しくなることに工って探知される。　ここ
では、電離箱の寿命終了は電離箱内の中性子由来電流が
カンマ線由来電流のＭ倍（ただしＭは所定の倍数である
）になった場合として定義されている。

ＤＣ信号が中性子束の測度として使用される場合には、
高出力レベルにおけるＲを低出力レベルにおけるＲで割
った商を低出力レベルにおける既知のＤＣ感度に掛けれ
ば、高出力レベルにおける電離箱のＤＣ感度ＳＤＣ％従
って高出力レベルにおける電離箱の非直線度が決定され
る。　またＡＣ信号が中性子束の測度として使用される
場合には、高出力レベルにおけるＲの二乗を低出力レベ
ルにおけるＲの二乗で割った商を低出力レベルにおける
既知のＡＣ感度に掛ければ、高出力レベルにおける電離
箱のＡＣ感度ＳＡい従って高出力レベルにおける電離箱
の非直線度が決定される。　ところで、本発明方法は以
下のような数学的表現を用いれば最も良く記述される。

電離箱を通って流れる平均中性子由来電流は次式で表わ
される。

■ｎ＝ｒｎＱｎ ただし工。＝平均中性子由来電流。

「　＝核分裂電離箱の中性子受感被膜中において起る核
分裂の時間速度。

Ｑｎ＝中性子受感被膜中における７回の核分裂について
核分裂電離箱の気体中 力 に生じる／〆の符号を持った平均電 荷。

同様に、を離籍を通って流れる平均ガンマ線由来電流は
次式で表わされる。

Ｉｒ””ｒＱｒ タタＬ、Ｉγ＝平均ガンマ線由来電流。

ｒｒ”核分裂電離箱内において起るガンマ線反応の時間
速度。

Ｑｒ−７回のガンマ線反応について核分裂電離箱の気体
中に生じる７種の符号 を持った平均電荷。

従って、電離箱を通って流れる全平均電流は次式％式％ ただしＶＤ。＝増幅されたＤＣ信号、あるいは単にＤＣ
信号。

Ｇ＝電子回路の低周波数伝達インピーダンス。

式（４）は次のように書直すことができる。

ＶＤＣ＝　Ｇ（Ｉ、＋Ｉ、　ｌ　　　　　　　（５）電
離箱を通って流れる単位周波数区間当りの平均二乗交流
は次式で表わされる。

Ｉ２　＝　ｋ（ｒｎＱ、％　＋　ｒｒＱ：　）ただしＩ
２＝単位周波数区間ａｂの平均二乗交流。

ｋ＝周波数に依有する値を持った定数。

Ｑ４＝中性子受感被膜中における７回の核適当な標準増
幅回路により、この電流が電離箱内のＤＣ笥、流に比例
した電圧■Ｄｃに変換される。

かかる回路の出力は次式で表わされる。

乗電荷。

Ｑ’　＝　７回のガンマ線反応について核分裂電離箱の
気体中に生じる７オの符号ｉ を持った平均二乗電荷。

ところで、実際の核分裂電離箱は中性子由来平均二乗交
流がカンマ線由来平均二乗交流よりも遥かに大きくなる
ように設計されている。　すなわち、実際の核分裂電離
箱については次式が成立つことが証明できる。

ｒｎＱ舌＞＞ｒ、叫 それ故、式（６）は次のように＠直すことができる。

１２＝ｋｒｎＱＡ そこで、電離箱を通って流れる平均二乗交流を表ただし
ＶＭＳＶ　＝増幅されたＭＳＶ信号、あるいは単にＡＣ
信号。

Ａ＝二乗回路の低周波数伝達関数。

〔Ｈ〕＝電子回路の線形部分の伝達関数の絶対値。

ｆ＝周波数。

かがる回路の線形部分の通過帯域は、定数にの値が通過
帯域全体にわたって一様でありかつ封止部が破損しても
変化しないように設定することができる。　なお、式（
９）は次のように書直すことができる。

ｖＭＳ■＝ＦｒｎＱｎ α０） ルタから成る適当な標準増幅回路により、この電流が電
圧■ｈ＋ｓｖに変換される。　かかる回路の出力は次式
で表わされる。

ＶＭＳＶ　＝　’ｎＱｎ’すｌ＜（Ｈ〕２ｄｆ従って、
ＡＣ信号とＤＣ信号との比Ｒは次のようになる。

さて、ＤＣ信号が中性子束の測度として使用される場合
、比Ｒは電離箱の寿命終了を探知するために使用される
。　かかる目的のためには、弐０ｚが次のように＠直さ
れる。

電離箱が新しい時、中性子由来電流はガンマ線由来ｉｔ
ｌ流よりも挨かに太きい。　すなわちｒ　ｎＱ　ｎ　）
）　ｒ　ｒＱ　ｒ Ｑ４） 式０４）は次のように書直すことができる。

子受感物質は消耗し、従って中性子由来電流はガンマ線
由来電流に比べて減少する。　結局、中性子由来電流が
電離箱の全出力中で占める比率がある程度まで小さくな
れば、電離箱の出力はもはや中性子束の測度として役に
立たなくなる。　従って、中性子束由来電流がガンマ線
由来電流のＭ倍（ただしＭは所定の倍数である）になっ
た時に電離箱の寿命は終了したと見なされる。　すなわ
ち、その時には次式が成立つ。

ｒＱｎ＝　ＭｒｒＱ。

αη 式Ｃ１７）は次のように書直すことができる。

従って、式０■は次のように書直すことができる。

弐叫および（ｉ杓をまとめれば ただしＥ（、、＝電離箱が新しい時におけるＡＣ信号と
ＤＣ信号との比。

電離箱が使用によって古くなるにつれ、中性ただしＲ２
＝電離箱の寿命終了時におけるＡＣ信号とＤＣ信号との
比。

式α■は次のように書直すことができる。

そこで、式０■および■をまとめると次式が得られる。

Ｒ２：　　　　　　Ｒ。

Ｍ、＋／ Ｑυ 式ＣＤかられかる通り、ＤＣ信号が中性子束の測度とし
て使用される場合、Ｎ、離籍の寿命終了はＡＣ信号とＤ
Ｃ信号との比）ｔ２が初期値Ｒ４のＭ／（Ｍ＋／　）倍
に等しくなることによって探知されることに力る。

次に、電離箱と接続ケーブルとの間の封止部が破損し、
そのため電離箱の有効容積内の気体密度がＤからＤ′に
変化した場合を考える（ただしＤおよびＤ′は単位体積
当りの原子数−または分子数である）。　その場合、７
回の中性子反応についての平均電荷は次式によって与え
られる。

′ｎ なお、ダッシュ（′）は封止部の破損後における値を表
わすために使用される。　同様に、１回のガンマ線反応
についての平均電荷は次式によって与えられる。

また、７回の中性子反応についての平均二乗電荷は次式
によって与えられる。

ここで弐〇７Ｊを使用すれば、封止部の破損後における
ＡＣ信号とＤＣ信号との比は次式によって与えられる。

式＠、（ハ）および２４）を式（ハ）中に代入すれば次
式が得られる。

式■および＠を使用すれば、この式は次のように書直す
ことができる。

式αカおよび■をまとめると次のような結果になる。

式（４）、（５）および（至）ｋｔとめると次のような
結果になる。

式罰かられかる通り、封止部の破損後におけるＡＣ信号
とＤＣ信号との比Ｒは封止部の破損前後における気体密
度りおよびＤ’（７）比の一次関数である。

従って、比Ｒが比較的急速に（すなわち数分間から数日
間にわたって）変化した場合には、封止部の破損が起っ
たことが探知される。

沸騰水型原子炉の出力領域において現在使用されている
方法に従い、ＤＣ信号が中性子束の測度として使用され
る場合、封止部の破損後におけるそれの値は次式によっ
て与えられる。

’Ｑｃ−Ｇ（ｒｎＱ、１＋　ｒ、Ｑ、　）　　　　（２
８式艶かられかる通り、ＤＣ信号を正しい値に補正する
ためには、誤った値にＲ，／Ｒ，’を掛けるか、あるい
は誤った値を）（’／Ｒで割ればよい。

さもなければ、式００）を次のように書直すことができ
る。

式（３υかられかる通り、封止部の破損後における仄信
号を封止部の破損後におけるＡＣ信号とＤＣ信号との比
で割った値は、封止部の破損前におけるＤＣ信号を封止
部の破損前におけるＡＣ信号と仄信号との比で割った値
に等しい。　それ故、ＤＣ信号をＡＣ信号とＤＣ信号と
の比で常に割り、そしてその値をＭ、離籍内の気体密度
に関係しない中性子束の測度として使用することが好ま
しい場合もある。

他方、ＡＣ信号が中性子束の測度として使用される場合
、封止部の破損後におけるそれの値は次式によって与え
られる。

ＶＭＳＶ　＝　Ｆｒｎ（鴫）　２ ■ 弐Ｃ！（イ）を使用すれば、この式は次のように書直す
ことができる。

式α臼および（イ）を式Ｑ中に代入すれば次式が得られ
る。

あるいは誤った値を（ＦＬ／Ｒ）２　で割ればよい。

さもなければ、式（２）を次のように書直すことができ
る。

式（ハ）かられかる通り、封止部の破損後におけＭＣ信
号を封止部の破損後におけるＡＣ信号とＤＣ信号との比
の二乗で割った値は、封止部の破損前におけるＡＣ信号
を封止部の破損前におけるＡＣ信号とＤＣ信号との比の
二乗で割った値に等しい。

それ故、ＡＣ信号をＡＣ信号とＤＣ信号との比で常に割
ることにより、電離箱内の気体密度に関係なく中性子束
に比例する信号を得ることが好ましい場合もある。

核分裂電離箱の有効容積内の気体密度の変化が小さい場
合、中性子受感被膜中における７回のそれ故、増幅され
たＡＣ信号を正しい値に補正するためには、誤った値Ｋ
（Ｒ／Ｒ′）２　を掛けるか、に比例する。　すなわち Ｑｎ＝に、ρ （至） Ｑ、　＝　ｋ２ρ ｃ３の ただし、ｋ、およびに２は比例定数、そしてρは電符号
を持った平均二乗電荷は気体密度の二乗に比例する。　
すガわち 暢＝＝に５ρ２ ■ ただし、ｋ３は比例定数である。　式（至）、Ｃ３７）
および儲を式α３と共にまとめると次式が得られる。

この式は次のように書直すことができる。

Ｒ−に４ρ 個Ｏ この最後の量に４は、ｒ、／ｒｎがほとんど変化しない
期間内においては一定である。　それ故、このような期
間内においてＲが変化したとすれば、それは電離箱の有
効容積内の気体密度の変化に原因するものである。　従
って、凡の値は電離箱の有効容積内の気体密度の変化に
原因する検出器の非直線性の測度として使用することが
できる。　第１の出力レベルにおける検出器のＤＣ感度
をＳＤ。

（ｉ）、電離箱の有効容積内の気体密度をρ（ｉ）、か
つＡＣ信号とＤＣ信号との比をＬ（（ｉ）とし、また第
２の出力レベルにおける検出器のＤＣ感度を５ＤｏＯ）
、電離箱の有効容積内の気体密度をρ（ｊ）、かつＡＣ
信号とＤＣ信号との比をＲ（ｊ）とすれば、ｒ、／ｒ。

が一定である期間内においては、これらのＤＣ感度、気
体密度および比の間に次のような関係が成立つ。

式ｆ４３を用いれば、様々な出力レベルにおけるＤＣ感
度、従って様々な出力レベルにおける検出器の直線度を
決定する方法が得られることになる。

同様に、第７の出力レベルにおける検出器ＡＣ感度をＳ
Ａ　ｏ（ｉ　）とし、また第２の出力レベルにおける検
出器のＡＣ感度＋　５Ａｏ（ｊ）とすれば、ｒ　ｒ　／
　ｒ　ｎが一定である期間内においては、これらのＡＣ
感度、気体密度および比の間に次のような関係が成立つ
。

弐６１′５を用いれば、様々な出力レベルにおけるＡＣ
感度、従って様々な出力レベルにおける検出器の非直線
度を決定する方法が得られることになる。

非直線度を決定するためには、ＲをＤＣ信号またはＡＣ
信号の関数として第一近似でプロットすればよい。　こ
の結果、中性子束の直接の測度として見た場合、ＤＣ信
号およびＡＣ信号は検出器の非直線性の程度に応じて不
正確であることがわかろう。　そこで、式（ハ）または
（４３を用いながら検出器の非直線度に対してＤＣ信号
またはＡＣ？信号を繰返し補正すれば、直線性を持った
正確な推定」を得ることができる。　この方法は小さな
系統的非直線性を持った検出器に良く適合するものであ
り、しかも従来の非直線度決定方法における主要な難点
であった中性子束の測定を必要としない。

かかる方法は、ｒｒ　／　ｒｎがほとんど変化しない期
間内に原子炉を様々な出力レベルで運転する場合に実施
するのがよい。　このような期間は原子炉の正常な連転
開始時に実現される。　ところで、式ｆ４Ｚは次のよう
に書直すことができる。

従って、高出力レベルにおける検出器のＤＣ感度を決定
するためには、各出力レベルにおけるＡＣ信号とＤＣ信
号との比が記録される。　次いで、標準較正技術によっ
て得られた初期出力レベルにおける既知のＤＣ感度を使
用しながら、以後の各出力レベルにおけるＤＣ感度を式
（４４）Ｋ従って繰返し計算すればよい。

また、式日は次のように書直すことができる。

従って、高出力レベルにおける検出器のＡＣ感度を決定
するためには、各出力レベルにおけるＡＣ信号とＤＣ信
号との比が記録される。　次いで、儂準較正技術によっ
て得られた初期出力レベルにおける既知のＡＣ感度を使
用しながら、以後の各出力レベルにおけるＡＣ感度を式
（昏に従って計算すればよい。

次に、本発明方法を実施するための電気回路のブロック
図を第２図に示す。　検出器１の電極１１および１２は
、線路２０および２１により、電源兼信号調節回路１９
の端子１７および１８にそれぞれ接続されている。　線
路２１はまた大地にも接続されている。　電源兼信号調
節回路１９には、検出器１に所要電圧を供給するための
直流電圧源、中性子束によって検出器１内に生じ九記信
号とＤＣ信号とを分離するための回路、並びにＡＣ信号
およびＤＣ信号用の適当な増幅調節回路が含まれている
。　分離されかつ増幅されたＡＣ信号およびＤＣ信号は
電源兼信号調節回路１９の出力端子２２および２３にそ
れぞれ現われる。

端子２２の出力は、検出器１の電離箱を通って流れる平
均二乗交流に比例する■ｈ＋ｓｖである。　また、端子
２３の出力は電離箱を通って流れる直流に比例するＶＤ
。である。　　７Ｍ８ｖおよびｖＤｏの視覚表示（また
は記録）を得るためには、電圧計（または自動記録計な
ど）２４および２５を端子２２および２３にそれぞれ接
続すればよい。

端子２２および２３はまた、演算回路２９の端子２６お
よび２７にもそれぞれ接続されている。

演算回路２９Ｆｉ、本発明方法の演算を実行し得るもの
であれば、アナログかディジタルかを問わず任意適宜の
演算回路であってよい。　演算回路２９は、ＡＣ信号お
よびＤＣ信号を受信し、ＡＣ信号とＤＣ信号との比Ｒを
計算し、比の二乗Ｒ２を計算し、そして補正済みのＡＣ
信号ＶＭ、３ｖ／Ｒ２およびＤＣ信号ＶＤＣ／Ｒを計算
する。　演算回路２９の出力は端子３０．３１および３
２に現われる。　端子３０の出力はＶＭＳＶ／”２、端
子３１の出力は／／Ｒ，そし、て端子３２の出力は・Ｖ
ＤＣ／Ｒである。

それぞれの出力を表示（−または記録）するため、電圧
計（または自動記録計など）３３．３４および３５が端
子３０．３１および３２にそれぞれ接続されている。　
々お、電圧計２４および２５上に現われる信号はそれぞ
れ未補正のＡＣ信号および■信号を表わす。　これらの
電圧計はもっばら情報収集用であるから、本発明の一部
の実施例では削除されることもある。　電圧計３４上に
現われる信号はＡＣ信号とＤＣ信号との比Ｒを表わすも
ので、この信号の使用によってｔ′ａ箱の漏れが寥知さ
れ、ＤＣ信号が中性子束の測度として使用される場合に
は検出器の寿命終了が予測され、かつ検出器の非直線度
が決定される。　電圧計３３および３５上に現われる信
号はそれぞれ補正済みのＥ信号およびＤＣ信号を表わす
。　これらの信号は電離箱内の気体密度に関係せず、従
って通常は検出器内の中性子束の測度として使用される
。

次に第３図を見ると、本発明方法を実施するための回路
の実例が略示されている。　点線１９によって囲まれた
回路は、第２図中にブロックとして示された電源兼信号
調節回路１９０機能を果すものである。　！た、点線２
９によって囲まれた回路は、第２図中にブロックとして
示された演算回路２９の機能を果すアナログ演算回路で
ある。

なお、第２および３図中に示された同一要素には同じ参
照番号が付けられている。

第３図中に示された信号調節回路には、検出器への印加
電圧を供給する電源４０が含まれている。　かかる電源
はここでは電池として図示されているが、一般には非接
地方式で動作し得る通常の電源装置が使用される。　Ａ
Ｃ信号調節回路の第１の増偏段は差動増幅器４１から成
り、またＤＣ信号調節回路の第１の増幅段は電流増幅器
４２から成る。　差動増幅器４１の入力は検出器１の接
地電極と非接地電極との間に接続されている。

印加電圧供給源すなわち電源４０Ｖｉ検出器１の非接地
電極と電流増幅器４２の入力との間に接続されている。

　電源４０と検出器１の非接地電極との間には適当な値
の安定抵抗４３が接続されている。　　Ｄ（，１信号調
節回路をＡＣ信号調節回路から分離するため、差動増幅
器４１０入力側には適当な値のコンデンサ４４および４
５がフィルタとして使用されている。　適当な値のコン
デンサ４６はＡＣ信号を電源４０およびＤＣ信号調節回
路に流さないために役立つ。　なお、差動増幅器４１と
して使用するのに適した増幅器はたとえばフェアチャイ
ルド（Ｆａｉｒｃｈｉｌｄ　）　ＵＡ　７’ｌ−タＣ型
増幅器であり、また電流増幅器４２として使用するのに
適した増幅器はたとえばアナログ・テバイシズ社（Ａｎ
ａｌｏｇｕｅ　Ｄｅｖｉｃｅｓ　、　Ｉｎｃ　、　）製
のｊＯ６Ｌ型増幅器である。

ＡＣ信号調節回路にＦｉまた、帯域フィルタ５０電圧増
幅器５１、二乗回路５２、並びに抵抗５３．５４および
コンデンサ５５から成るＥ（、Ｃ回路が含まれている。

　帯域フィルタ５０は差動増幅器４１の出力と電圧増幅
器５１の入力との間に直列接続されている。　この帯域
フィルタ５０は所定の周波数範囲内の信号を通すように
選ばれる。　ある周波数範囲内のＡＣ信号が最高の信頼
度を与えることは公知であるから、通過周波数周囲は適
宜に選べばよい。　帯域フィルタ５０の出力は電圧増幅
器Ｓに送られるが、これは電圧増幅器として接続されて
いる点を別にすれは差動増幅器４１と同種の増幅器であ
る。　電圧増幅器５１の出力は二乗回路５２に送られる
。　二乗回路５２の出力け８０回路に送られるが、これ
は信号を安定化しかつ平滑化するのに役立つ。　かかる
８０回路が使用される理由は、中性子束測定用の回路は
雑音が多くかつ変動を受は易いことにある。　　８０回
路の時定数は監視装置の使用目的に応じて選ばれる。　
監視装置が主として検出器の非１線度を決定するために
使用され、従って読みの正確さが特に′Ｔｉ要である場
合には、時定数の大きいＲｅ回路が選ばれる。　監視装
置が原子炉出力を計算するために使用され、従って中性
子束の迅速な表示が所望される場合には、それよりも時
定数の小さいＲ（？回路が望ましい。　なお、５０とし
て使用するのに適した帯域フィルタはたとえば、ティー
・ティー−エレクトロニクス社（Ｔ、　Ｔ、　Ｅｌｅｃ
ｔｒｏｎｉｃｓ　。

Ｉｎｃ　、　）　１＝４ｔＤ　Ｋ　１７７７−　Ｂ型帯
域フィルタであり、また５２として使用するの′ＶＣ適
した二乗回路はたとえばアナログ・デバイシズ社製の４
Ｌ２ＦＢ型乗算、回路である。

ＤＣ信号調紡口路には、電流増幅器４２並びに抵［６０
，６１およびコンデンサ６２から成る北回路が含まれて
いる。　電流増幅器４２の入力は電源４０および大地に
接続されている。　電流増幅器４２の出力はＤＣ信号調
節回路中のＲ（ユ回路に接続されている。　　ＤＣ信号
調節回路中のＲｅ回路の時定数は上記の場合と同様にし
て選ばれる。

とは言え、ひとたび時定数を選んだならば、いずれのＲ
ｅ回路にも同じ時定数が与えられる。　なぜなら、ＡＣ
信号およびＤＣ信号は同一時点における検出器内の中性
子束を表わすことが必要だからである。

信号調節回路１９の端子２２および２３は演算回路２９
の端子２６および２７にそれぞれ接続されている。　従
って、ＡＣ信号およびＤＣ信号は抵抗６４および６５を
通って除算回路６６のＸおよびＺ端子へ同時に送られる
。　抵抗６４および６５はもっばらＡＣ信号およびＤＣ
信号を除算回路６６の入力レベルに整合させるためのも
のである。　除算回路６６は、Ｘ端子の電圧がＺ端子の
電圧をＸ端子の電圧で割った商に比例するようなもので
あれば任意適宜の回路であり得る。　従って、Ｘ端子に
接続された線路６７上に現われる電圧は／／Ｒ（ただし
Ｒけ検出器１から得られるＡＣ信号とＤＣ信号との比で
ある）に等しくなる。

この／β信号を表示するため、ＤＣ電圧計（または自動
記録計など）３４が端子２９全通して線路６７に接続さ
れている。　ＤＣ信号が中性子束の測度として使用され
る場合、電圧計３４の読みが徐々に増大して初期値の（
Ｍ＋／）Ｍ倍になれば、検出器の寿命が終了したことが
示される。　また、電圧計３４の表示する信号が急激に
変化した場合には、通例は封止部の漏れに原因する電離
箱内の気体密度の変化が示される。　低出力レベルにお
ける検出器のＤＣ感度およびＡＣ感度が既知であれば、
電圧計３４の表示する信号の使用によって高出力レベル
におけるＤＣ感反およびＡＣ感度が計算され、従って高
出力レベルにおける検出器の非直線度が決定される。

端子２７からのＤＣ信号および線路６７からの／β信号
は、抵抗７０および７１を通して乗算回路７２のＹおよ
びＸ端子にそれぞれ送られる。

抵抗７０および７１はもっばら信号を乗算回路の入力レ
ベルに整合させるためのものである。　乗算回路７２は
、２端子の電圧がＸおよびＸ端子の電圧の積に比例する
ようなものであれば任意適宜の回路であり得る。　従っ
て、Ｚ端子の電圧は■　／ルとなる。　■Ｄｏ／ＲはＤ
Ｃ電圧計（甘たり。

は自動記録計など）３５によって表示される。

の信号は電離箱内の気体密度に関係なく電離箱内の中性
子束を表わすものである。

線路６７からのｌＡ倍信号また、抵抗８２全通して二乗
回路８１のＸ端子にも送られる。　抵抗８２はもっばら
／β信号を二乗回路８１の入力レベルに整合させるため
のものである。　二乗回路８１ば、Ｚ端子の電圧がＸ端
子の電圧の二乗に比例するようなものであれば任意適宜
の回路であり得る。　従って、Ｚ端子の電圧は／／１（
，２に比例する。　二乗回路８１から／／Ｒ２信号およ
び端子２６からのＡＣ信号は乗算回路８３に送られる。

二乗回路８１の２端子は乗算回路８３のＸ端子に接続さ
れている。　端子２６からのＡＣ信号は、それを乗算回
路８３の入力レベルに整合させるように選ばれた抵抗８
４を通して乗算回路のＸ端子に送られる。　乗算回路８
３は、Ｚ端子の電圧がＸおよびＸ端子の電圧の積に比例
するようなものであれば任意適宜の回路であり得る。　
従って、ＤＣ電圧計（または自動記録計など）３３上に
表示されるＺ端子の電圧はＶＭＳＶ　”となる。　この
ＶＭＳＶ／Ｒ２信号は電離箱内の気体密度に関係なくを
離籍内の中性子束を表わすものである。

除算回路６６として使用するのに適した回路はたとえば
アナログ・デバイシス社製のＲＡＢ型除算器であり、ま
た乗算回路７２、二乗回路８１および乗算回路８３とし
て使用するのに適した回路はたとえばアナログ・デバイ
シス社製のｌＡ３！；に型乗算器である。

次に第μ図を見７′Ｌば、変形された信号調節回路およ
び（アナログ演算回路ではなく）ディジタル演算回路を
使用した本発明の別の実施例が示されている。　なお、
第３および≠図中に示された同一要素には同じ参照番号
が付けられている。

信号調節回路は点線１９′によって囲まれ、またディジ
タル演算回路は点線２９′によって囲まれている。　第
７図の信号調節回路が第３図のものと異なるのは、検出
器１の非接地電極と電源４０との間に接続された非接地
増幅器９０が第３図の増鄭器４２の代りに使用されてい
る点である。　この場合には電源４０が接地されている
。　このような構成は監視装置を複数の検出器の間で切
換えて使用する場合に特に適している。　なお、第３図
の信号調節回路は監視装置をただ１つの検出器に対して
使用する場合に好適である。　第３およびμ図に示され
た信号調節回路は互いに交換可能であって、第３および
供回に示されたアナログおよびディジタル演算回路と自
由に組合わせて使用できる。

第≠図に示されたディジタル演算回路２９′には、アナ
ログ−ディジタル交換器９５および９６並びにプログラ
ム制御可能なディジタル計算機９７が含まれている。　
アナログ−ディジタル変換器９５け端子２６からのＡＣ
信号を受信し、またアナログ−ディジタル変換器９６は
端子２７がらのＤＣ信号を受信する。　アナログ−ディ
ジタル変換器９５および９６は、ディジタル計算機９７
への入力を可能にするため、それぞれＡＣ信号およびＤ
Ｃ信号をディジタル表現に変換する。　ディジタル計算
器９７は、本発明方法の演算を実行できるものであれば
任意適宜のディジタル計算機であり得る。端子２８．２
９および３０にはそれぞれＶＭＳＶ／Ｒ２、／／Ｒ，お
よびｖＤｏ／Ｒが現われる。ディジタル計器３３．３４
および３５を使用すれば、それぞれ７Ｍ８ｖ／Ｒ２、／
／Ｒ，およびＶＤＣ／Ｒの視覚表示が得られる。これら
の値のいずれか／っを永久的に記録することが所望され
るならば、１００として示されたような自動記録計が接
続される。その場合には、自動記録計１００の入力条件
に合わせ計算機９７のディジタル出力を変換するための
ディジタル−アナログ変換器１０１が併用される。なお
、９５および９６として使用するのに適したアナログ−
ディジタル変換器はたとえばアナログ・デバイシス社製
のＡＤＣ−／２ＱＺ型アナログーディジタル変換器であ
り、９７として使用するのに適したプログラム制御可能
なディジタル計算機はたとえばインテル社（Ｉｎｔｅｌ
　、　Ｉｎｃ薯製６Ｄ　ＳＢＣｆＯ／　１０型ディジタ
ル計算機であり、また１０１として使用するのに適した
ディジタル−アナログ変換器はたとえばアナログ・デバ
イシス社製のり、ＡＣ−／２ＱＭ壓ディジタルーアナロ
グ変換器である。

第３および≠図に示された実施例のいずれにおいても、
封止部の破損が起った場合には、ＡＣ信号とＤＣ信号と
の比がかなり急速に変化する。

このような変化はＶＤＣ／ＶＭＳＶすなわち／／Ｒを表
示する計器３４によって示される。　ひとたび封止部の
破損が起れば、検出器の感度が変化するため計器２４お
よび２５の読みは誤ったものとなる。

ところが、計器３３および３５上に表示される電圧は変
化しない。　なぜなら、それらの値はｔ離籍内の気体密
度に関係なく７Ｍ８Ｖ／Ｒ２およびｖＤ。

／ＲＫそれぞれ比例するからである。　計器３４はまた
、ＤＣ信号が中性子束の測度として使用される場合に検
出器の寿命終了を探知するためにも使用される。　検出
器の寿命終了は、計器３４の読みが初期値の（Ｍ＋／）
７Ｍ倍に等しくなることによって探知される。　低出力
レベルにおける検出器のＡＣ感度およびＤＣ感度が既知
である場合には、ｒ、／ｒｎが比較的一定である期間内
ならば、式（４荀および（ハ）の使用によって高出力レ
ベルにおける感度を計算し、従って検出器の非直線度を
決定することができる。　通常、計器３３および３５に
表示される値は電離箱内の気体密度に関係しない電離箱
内の中性子束の測度として使用される。　その際、計器
３３上の補正されたＡＣ信号は原子炉の低出力レベルに
おいて使用され、−１次計器３５上の補正されたＤＣ信
号は原子炉の出力領域において使用されるのが普通であ
る。　なお、計器２４および２５は一般的な情報収集用
として役立つものである。

上記のごとき演算に当っては、ＡＣ信号と仄信号との比
の代りにＤＣ信号とＡＣ信号との比を使用してもよいこ
とに注意すべきである。　その場合、結果の数学的表現
は異なるが原匪は全く同じである。

【図面の簡単な説明】

第１図は内部に中性子検出器の装備された原子炉の炉心
を示す略図、第２図は本発明に基づく電気回路のブロッ
ク図、第３図は本発明の一実施例を示す略回路図、そし
て第μ図は本発明の別の実施例を示す略回路図である。 図中、１は中性子検出器、１１および１２ｋｉ電極、１
３は空隙、１４Ｆ′ｉ中性子受感物質の被膜、１９は電
源兼信号調節回路、そして２９は演算回路を表わす。 特許出願人ゼネラル・−レクトリック■代理人（７６３
ｕ）生　沼　点二

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流を
   発生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性子検
   出器の出力を監視して気体の漏れを探知する方法におい
   て、前記電離箱内の平均二乗交流に比例するＡＣ信号Ｖ
   ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖを作成し、前記電離箱内の直流に比例する
   ＤＣ信号Ｖ＿Ｄ＿Ｃを作成し、前記ＡＣ信号と前記ＤＣ
   信号との比Ｒを作成し、気体密度の変化が起った後にお
   ける前記ＡＣ信号と前記ＤＣ信号との比Ｒ′を作成し、
   気体密度の変化が起った後に前記電離箱内に生じる直流
   に比例する信号Ｖ′＿Ｄ＿Ｃを作成し、それから関係式
   Ｖ＿Ｄ＿Ｃ＝（Ｒ／Ｒ′）Ｖ′＿Ｄ＿Ｃ に従ってＶ′＿Ｄ＿Ｃを正しい値に補正する諸工程から
   成る方法。 ２、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流を
   発生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性子検
   出器の出力を監視して気体の漏れを探知する方法におい
   て、前記電離箱内の平均二乗交流に比例するＡＣ信号Ｖ
   ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖを作成し、前記電離箱内の直流に比例する
   ＤＣ信号Ｖ＿Ｄ＿Ｃを作成し、前記ＡＣ信号と前記ＤＣ
   信号との比Ｒを作成し、気体密度の変化が起った後にお
   ける前記ＡＣ信号と前記ＤＣ信号との比Ｒ′を作成し、
   気体密度の変化が起った後に前記電離箱内に生じる平均
   二乗交流に比例する信号Ｖ′＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖを作成し、そ
   れから関係式 Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ＝（Ｒ／Ｒ′）＾２Ｖ′＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖに
   従ってＶ′＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖを正しい値に補正する諸工程か
   ら成る方法。 ３、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流並
   びに電離箱内のガンマ線を表わす直流を発生する電離性
   気体入りの電離箱を含むような中性子検出器の寿命終了
   を予測する方法において、前記電離箱内の平均二乗交流
   に比例するＡＣ信号を作成し、前記電離箱内の直流に比
   例するＤＣ信号を作成し、前記ＡＣ信号と前記ＤＣ信号
   との初期比Ｒ＿１を作成し、その後の時点における前記
   ＡＣ信号と前記ＤＣ信号との第２の比Ｒ＿２を作成し、
   そして前記ＤＣ信号が中性子束の測度として使用される
   場合には関係式 Ｒ＿２＝Ｒ＿１（Ｍ／Ｍ＋１） （ただし、Ｍは寿命終了時における前記電離箱内の中性
   子由来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所定の倍
   数である）が成立つことによって前記電離箱の寿命終了
   を探知する諸工程から成る方法。 ４、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流を
   発生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性子検
   出器のＤＣ感度Ｓ＿Ｄ＿Ｃを決定して様々な出力レベル
   における前記中性子検出器の非直線性についての補正を
   行う方法において、前記電離箱内の平均二乗交流に比例
   するＡＣ信号を作成し、前記電離箱内の直流に比例する
   ＤＣ信号を作成し、低出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｉ）を作成し、前記低出力レ
   ベルにおける前記電離箱のＤＣ感度Ｓ＿Ｄ＿Ｃ（ｉ）を
   決定し、それよりも高出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｊ）を作成し、それから関係
   式 Ｓ＿Ｄ＿Ｃ（ｊ）＝（Ｒ（ｊ）／Ｒ（ｉ））Ｓ＿Ｄ＿Ｃ
   （ｉ）に従って前記高出力レベルにおける前記電離箱の
   ＤＣ感度Ｓ＿Ｄ＿Ｃ（ｊ）を決定する諸工程から成る方
   法。 ５、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流を
   発生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性子検
   出器のＡＣ感度Ｓ＿Ａ＿Ｃを決定して様々な出力レベル
   における前記中性子検出器の非直線性についての補正を
   行う方法において、前記電離箱内の平均二乗交流に比例
   するＡＣ信号を作成し、前記電離箱内の直流に比例する
   ＤＣ信号を作成し、低出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｉ）を作成し、前記低出力レ
   ベルにおける前記電離箱のＡＣ感度Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｉ）を
   決定し、それよりも高出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｊ）を作成し、それから関係
   式 Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｊ）＝（Ｒ（ｊ）／Ｒ（ｉ））＾２Ｓ＿Ａ
   ＿Ｃ（ｉ）に従って前記高出力レベルにおける前記電離
   箱のＡＣ感度Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｊ）を決定する諸工程から成
   る方法。 ６、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流を
   発生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性子検
   出器のＡＣ感度Ｓ＿Ａ＿Ｃを決定して様々な出力レベル
   における前記中性子検出器の非直線性についての補正を
   行う方法において、前記電離箱内の平均二乗交流に比例
   するＡＣ信号を作成し、前記電離箱内の直流に比例する
   ＤＣ信号を作成し、低出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｉ）を作成し、前記低出力レ
   ベルにおける前記電離箱のＡＣ感度Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｉ）を
   決定し、それよりも高出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｊ）を作成し、それから関係
   式 Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｊ）＝（Ｒ（ｊ）／Ｒ（ｉ））＾２Ｓ＿Ａ
   ＿Ｃ（ｉ）に従って前記高出力レベルにおける前記電離
   箱のＡＣ感度Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｊ）を決定し、気体密度の変
   化が起った後における前記ＡＣ信号と前記ＤＣ信号との
   比Ｒ′を作成し、気体密度の変化が起った後に前記電離
   箱内に生じる直流に比例する信号Ｖ′＿Ｄ＿Ｃを作成し
   、それから関係式 Ｖ＿Ｄ＿Ｃ＝（Ｒ／Ｒ′）Ｖ′＿Ｄ＿Ｃ に従ってＶ′＿Ｄ＿Ｃを正しい値に補正する諸工程、気
   体密度の変化が起った後に前記電離箱内に生じる平均二
   乗交流に比例する信号Ｖ′＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖを作成し、それ
   から関係式Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ＝（Ｒ／Ｒ′）＾２Ｖ′＿Ｍ
   ＿Ｓ＿Ｖに従ってＶ′＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖを正しい値に補正す
   る諸工程、前記ＡＣ信号と前記ＤＣ信号との初期比Ｒ＿
   １を作成し、その後の時点における前記ＡＣ信号と前記
   ＤＣ信号との第２の比Ｒ＿２を作成し、そして前記ＤＣ
   信号が中性子束の測度として使用される場合には関係式 Ｒ＿２＝Ｒ＿１（Ｍ／Ｍ＋１） （ただし、Ｍは寿命終了時における前記電離箱内の中性
   子由来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所定の倍
   数である）が成立つことによって前記電離箱の寿命終了
   を探知する諸工程、低出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｉ）を作成し、前記低出力レ
   ベルにおける前記電離箱のＤＣ感度Ｓ＿Ｄ＿Ｃ（ｉ）を
   決定し、それよりも高出力レベルにおける前記ＡＣ信号
   と前記ＤＣ信号との比Ｒ（ｊ）を作成し、それから関係
   式Ｓ＿Ｄ＿Ｃ（ｊ）＝（Ｒ（ｊ）／Ｒ（ｉ））Ｓ＿Ｄ＿
   Ｃ（ｉ）に従って前記高出力レベルにおける前記電離箱
   のＤＣ感度Ｓ＿Ｄ＿Ｃ（ｊ）を決定する諸工程、および
   前記低出力レベルにおける前記電離箱のＡＣ感度Ｓ＿Ａ
   ＿Ｃ（ｉ）を決定し、それから関係式Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｊ）
   ＝（Ｒ（ｊ）／Ｒ（ｉ））＾２Ｓ＿Ａ＿Ｃ（ｉ）に従っ
   て前記高出力レベルにおける前記電離箱のＡＣ感度Ｓ＿
   Ａ＿Ｃ（ｊ）を決定する諸工程を有する方法。 ７、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流並
   びに電離箱内のガンマ線を表わす直流を発生する電離性
   気体入りの電離箱を含むような中性子検出器用の監視装
   置において、交流と直流とを分離することによって前記
   電離箱内の平均二乗交流に比例する信号Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ
   および前記電離箱内の直流に比例する信号Ｖ＿Ｄ＿Ｃを
   発生するため前記検出器に接続された手段、前記Ｖ＿Ｍ
   ＿Ｓ＿Ｖ信号および前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号を受信しかつ両
   者間で除算を行って出力信号１／Ｒ（ただしＲは前記Ｖ
   ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号と前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号との比である）
   を与える手段並びに前記１／Ｒ信号に応答して前記１／
   Ｒ信号の急速な変化時には前記箱内の気体密度の変化を
   示しかつ前記１／Ｒ信号がその初期値の（Ｍ＋１）／Ｍ
   倍（ただし、Ｍは寿命終了時における前記電離箱内の中
   性子由来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所定の
   倍数である）に等しい時には前記電離箱の寿命終了を示
   す手段を有する監視装置。 ８、前記Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号および前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号
   を受信する前記手段が、第１および第２の入力線路と出
   力線路を有していて前記第１の入力線路には前記Ｖ＿Ｄ
   ＿Ｃ信号を供給する手段が接続されかつ前記第２の入力
   線路には前記Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号を供給する手段が接続
   される結果として前記出力線路に信号１／Ｒ（ただしＲ
   は前記Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号と前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号との比
   である）を与えるような除算回路である、特許請求の範
   囲第７項記載の監視装置。 ９、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流並
   びに電離箱内のガンマ線を表わす直流を発生する電離性
   気体入りの電離箱を含むような中性子検出器用の監視装
   置において、交流と直流とを分離することによって前記
   電離箱内の平均二乗交流に比例する信号Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ
   および前記電離箱内の直流に比例する信号Ｖ＿Ｄ＿Ｃを
   発生するため前記検出器に接続された手段、前記Ｖ＿Ｍ
   ＿Ｓ＿Ｖ信号および前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号を受信しかつ両
   者間で除算を行って出力信号１／Ｒ（ただしＲは前記Ｖ
   ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号と前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号との比である）
   を与える手段並びに前記１／Ｒ信号に応答して前記１／
   Ｒ信号の急速な変化時には前記箱内の気体密度の変化を
   示しかつ前記１／Ｒ信号がその初期値の（Ｍ＋１）／Ｍ
   倍（ただし、Ｍは寿命終了時における前記電離箱内の中
   性子由来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所定の
   倍数である）に等しい時には前記電離箱の寿命終了を示
   す手段、第１および第２の入力線路と出力線路を有して
   いて前記第１の入力線路には前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号を供給
   する手段が接続されかつ前記第２の入力線路には前記Ｖ
   ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号を供給する手段が接続される結果とし
   て前記出力線路に信号１／Ｒ（ただしＲは前記Ｖ＿Ｍ＿
   Ｓ＿Ｖ信号と前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号との比である）を与え
   るような除算回路、第１および第２の入力線路と出力線
   路とを有していて前記第１の入力線路には前記Ｖ＿Ｄ＿
   Ｃ信号を供給する手段が接続されかつ前記第２の入力線
   路には前記１／Ｒ信号を供給する手段が接続される結果
   として前記電離箱内の気体密度に関係なく前記電離箱内
   の中性子束を表わす信号Ｖ＿Ｄ＿Ｃ／Ｒを前記出力線路
   に与えるような第１の乗算回路を有する監視装置。 １０、電離箱内の中性子束を共に表わす交流および直流
   並びに電離箱内のガンマ線を表わす直流を発生する電離
   性気体入りの電離箱を含むような中性子検出器用の監視
   装置において、交流と直流とを分離することによって前
   記電離箱内の平均二乗交流に比例する信号Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿
   Ｖおよび前記電離箱内の直流に比例する信号Ｖ＿Ｄ＿Ｃ
   を発生するため前記検出器に接続された手段、前記Ｖ＿
   Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号および前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号を受信しかつ
   両者間で除算を行って出力信号１／Ｒ（ただしＲは前記
   Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号と前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号との比である
   ）を与える手段、並びに前記１／Ｒ信号に応答して前記
   １／Ｒ信号の急速な変化時には前記箱内の気体密度の変
   化を示しかつ前記１／Ｒ信号がその初期値の（Ｍ＋１）
   ／Ｍ倍（ただし、Ｍは寿命終了時における前記電離箱内
   の中性子由来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所
   定の倍数である）に等しい時には前記電離箱の寿命終了
   を示す手段、第１および第２の入力線路と出力線路を有
   していて前記第１の入力線路には前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号を
   供給する手段が接続されかつ前記第２の入力線路には前
   記Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号を供給する手段が接続される結果
   として前記出力線路に信号１／Ｒ（ただしＲは前記Ｖ＿
   Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号と前記Ｖ＿Ｄ＿Ｃ信号との比である）を
   与えるような除算回路、第１および第２の入力線路と出
   力線路とを有していて前記第１の入力線路には前記Ｖ＿
   Ｄ＿Ｃ信号を供給する手段が接続されかつ前記第２の入
   力線路には前記１／Ｒ信号を供給する手段が接続される
   結果として前記電離箱内の気体密度に関係なく前記電離
   箱内の中性子束を表わす信号Ｖ＿Ｄ＿Ｃ／Ｒを前記出力
   線路に与えるような第１の乗算回路、入力線路および出
   力線路を有していて前記入力線路には前記１／Ｒ信号を
   供給する手段が接続される結果として前記出力線路に信
   号１／Ｒ＾２を与えるような二乗回路、並びに第１およ
   び第２の入力線路と出力線路とを有していて前記第１の
   入力線路には前記Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ信号を供給する手段が
   接続されかつ前記第２入力線路には前記１／Ｒ＾２信号
   を供給する手段が接続される結果として前記電離箱内の
   気体密度に関係なく前記電離箱内の中性子束を表わす信
   号Ｖ＿Ｍ＿Ｓ＿Ｖ／Ｒ＾２を前記出力線路に与えるよう
   な第２の乗算回路を有する監視装置。