JPH02157662A - サンプリングオシロスコープ - Google Patents
サンプリングオシロスコープInfo
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- JPH02157662A JPH02157662A JP31252988A JP31252988A JPH02157662A JP H02157662 A JPH02157662 A JP H02157662A JP 31252988 A JP31252988 A JP 31252988A JP 31252988 A JP31252988 A JP 31252988A JP H02157662 A JPH02157662 A JP H02157662A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 46
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
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- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［ｌ！ｔＩｆｉ］
周期的に変化する被測定電圧を各位相点について複数回
サンプリングしその平均値をディスプレイに表示するサ
ンプリングオシロスコープに関し、所望の電圧分解能の
測定電圧波形を得ることを目的とし、 周期的に変化する被測定電圧を各位相点について複数回
サンプリングし、その測定電圧及び測定回数から該測定
電圧の平均値を求め、該平均値をディスプレイに表示す
るサンプリングオシロスコープにおいて、該測定電圧、
該平均値及び該測定回数を用いて該各位相点での該測定
電圧の分散を算出する分散算出手段と、該分散、該測定
回数及び測定位相点数を用いて該測定電圧の電圧分解能
を算出する電圧分解能算出手段とを備えて、該電圧分解
能を該ディスプレイに表示し、さらには、電圧分解能を
設定するための電圧分解能設定手段と、算出された前記
電圧分解能と設定された該電圧分解能とを比較し該算出
値が該設定値以下になった場合に該サンプリングを停止
させるサンプリング停止手段とを備えて構成する。
サンプリングしその平均値をディスプレイに表示するサ
ンプリングオシロスコープに関し、所望の電圧分解能の
測定電圧波形を得ることを目的とし、 周期的に変化する被測定電圧を各位相点について複数回
サンプリングし、その測定電圧及び測定回数から該測定
電圧の平均値を求め、該平均値をディスプレイに表示す
るサンプリングオシロスコープにおいて、該測定電圧、
該平均値及び該測定回数を用いて該各位相点での該測定
電圧の分散を算出する分散算出手段と、該分散、該測定
回数及び測定位相点数を用いて該測定電圧の電圧分解能
を算出する電圧分解能算出手段とを備えて、該電圧分解
能を該ディスプレイに表示し、さらには、電圧分解能を
設定するための電圧分解能設定手段と、算出された前記
電圧分解能と設定された該電圧分解能とを比較し該算出
値が該設定値以下になった場合に該サンプリングを停止
させるサンプリング停止手段とを備えて構成する。
［産業上の利用分野］
本発明は、周期的に変化する被測定電圧を各位相点につ
いて複数回サンプリングしその平均値をディスプレイに
表示するサンプリングオシロスコープに関する。
いて複数回サンプリングしその平均値をディスプレイに
表示するサンプリングオシロスコープに関する。
［従来の技術］
１Ｇ−”ｓｅａ以下の超高速周期的電圧信号波形の測定
にはサンプリングオシロスコープが使用される。
にはサンプリングオシロスコープが使用される。
被測定電圧波形には一般にノイズが含まれているため、
各位相点について複数回サンプリングし、その平均値を
ディスプレイに表示することにより分解能の高い測定電
圧波形を得る構成となっている。この測定回数は、設定
器により設定され、または使用者がディスプレイに表示
された測定電圧波形を見て適当な時点でスイッチを操作
しサンプリング終了要求を出すことにより定まる。
各位相点について複数回サンプリングし、その平均値を
ディスプレイに表示することにより分解能の高い測定電
圧波形を得る構成となっている。この測定回数は、設定
器により設定され、または使用者がディスプレイに表示
された測定電圧波形を見て適当な時点でスイッチを操作
しサンプリング終了要求を出すことにより定まる。
［発明が解決しようとする課ｍｌ
しかし、電圧分解能の値が不明であったため、測定時間
が短すぎて必要な電圧分解能の測定電圧波形が得られな
かったり、測定時間が必要以上に長くなって無駄が生じ
ていた。
が短すぎて必要な電圧分解能の測定電圧波形が得られな
かったり、測定時間が必要以上に長くなって無駄が生じ
ていた。
本発明の目的は、上記問題点に鑑み、所望の電圧分解能
の測定電圧波形を得ることが可能なサンプリングオンロ
スコープを提供することにある。
の測定電圧波形を得ることが可能なサンプリングオンロ
スコープを提供することにある。
［課題を解決するための手段及びその作用］第１図は本
第１発明の原理構成を示すブロック図である。
第１発明の原理構成を示すブロック図である。
図中、ｌはサンプリング手段であり、サンプリングパル
スに応答して、周期的に変化する被測定電圧を各位相点
について複数回サンプリングする。
スに応答して、周期的に変化する被測定電圧を各位相点
について複数回サンプリングする。
２は測定回数計数手段であり、このサンプリングパルス
の個数が測定位相点数を越える毎に測定回数をインクリ
メントする。３は平均値算出手段であり、サンプリング
された測定電圧及び測定回数計数手段２．により計数さ
れた測定回数から該測定電圧の平均値を求める。４は分
散算出手段であり、該測定電圧、該平均値及び該測定回
数を用いて該各位相点での該測定電圧の分散を算出する
。５は電圧分解能算出手段であり、該分散、該測定回数
及び該測定位相点数を用いて該測定電圧の電圧分解能を
算出する。６はディスプレイであり、該平均値及び該電
圧分解能を該ディスプレイに表示する。
の個数が測定位相点数を越える毎に測定回数をインクリ
メントする。３は平均値算出手段であり、サンプリング
された測定電圧及び測定回数計数手段２．により計数さ
れた測定回数から該測定電圧の平均値を求める。４は分
散算出手段であり、該測定電圧、該平均値及び該測定回
数を用いて該各位相点での該測定電圧の分散を算出する
。５は電圧分解能算出手段であり、該分散、該測定回数
及び該測定位相点数を用いて該測定電圧の電圧分解能を
算出する。６はディスプレイであり、該平均値及び該電
圧分解能を該ディスプレイに表示する。
電圧分解能は被測定波形のＳＮ比により異なるが、電圧
分解能が実時間で求められてディスプレイに表示される
ので、使用者は適当な時点でサンプリングを停止さける
ことができ、所望の電圧分解能の測定電圧波形を得るこ
とができる。
分解能が実時間で求められてディスプレイに表示される
ので、使用者は適当な時点でサンプリングを停止さける
ことができ、所望の電圧分解能の測定電圧波形を得るこ
とができる。
したがって、測定時間が短すぎて必要な電圧分解能の測
定電圧波形が得られなかったり、測定時間が必要以上に
長くなったりするのを防止することができる。
定電圧波形が得られなかったり、測定時間が必要以上に
長くなったりするのを防止することができる。
第２図は本第２発明の原理構成を示すブロック図である
。この第２発明では、所望の電圧分解能の測定電圧波形
が得られたときにサンプリングを自動的に停止させるた
めに、」二記第１発明の構成にさらに、次のような構成
が付設されている。
。この第２発明では、所望の電圧分解能の測定電圧波形
が得られたときにサンプリングを自動的に停止させるた
めに、」二記第１発明の構成にさらに、次のような構成
が付設されている。
図中、７は電圧分解能設定手段であり、電圧分解能を設
定するためのものである。８はサンプリング停止手段で
あり、算出された前記電圧分解能と設定された該電圧分
解能とを比較し、該算出値が該設定値以下になった場合
には、例えばゲート９を閉じてサンプリングパルスがサ
ンプリング手段！に供給されるのを停止することにより
、被測定電圧のサンプリングを停止させる。この第２発
明では電圧分解能を設定するので、電圧分解能の表示は
必須ではない。
定するためのものである。８はサンプリング停止手段で
あり、算出された前記電圧分解能と設定された該電圧分
解能とを比較し、該算出値が該設定値以下になった場合
には、例えばゲート９を閉じてサンプリングパルスがサ
ンプリング手段！に供給されるのを停止することにより
、被測定電圧のサンプリングを停止させる。この第２発
明では電圧分解能を設定するので、電圧分解能の表示は
必須ではない。
この第２発明によれば、容易かつ確実に所望の電圧分解
能の測定電圧波形が得られる。
能の測定電圧波形が得られる。
［実施例］
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。
最初に、測定電圧波形の電圧分解能について説明する。
被測定電圧波形は例えば第５Ａ図に示す如く周期的に変
化し、その測定位相点Ｘにおけるに回目の測定電圧をＶ
ｂｓとする。位相点Ｘでの測定電圧Ｖ１．（ｉ ＝ １
−ｋ）ノ分散１３ｈａは次式で表される。
化し、その測定位相点Ｘにおけるに回目の測定電圧をＶ
ｂｓとする。位相点Ｘでの測定電圧Ｖ１．（ｉ ＝ １
−ｋ）ノ分散１３ｈａは次式で表される。
＝に一１Σｖ ”ｔ、−＾ｖ”ｈ、 −−
−（ｉ ）１ＩＬ ここに、＾Ｖ ｋＡｌ！測定電圧Ｖ ＋−（ｉ ＝ １
〜ｋ ）（Ｄ平均値である。
−（ｉ ）１ＩＬ ここに、＾Ｖ ｋＡｌ！測定電圧Ｖ ＋−（ｉ ＝ １
〜ｋ ）（Ｄ平均値である。
ここで、測定回数にの値が小さい場合には分散Ｂ ｋＡ
の信頼度は不充分である。しかし、測定回数にの値を充
分大きくすると一般には分散Ｂ ｈａは測定位相点Ｘに
よらず一定値Ｂに収束する（第６図参照）。この場合、
９９％の信頼度で次式が成立する。
の信頼度は不充分である。しかし、測定回数にの値を充
分大きくすると一般には分散Ｂ ｈａは測定位相点Ｘに
よらず一定値Ｂに収束する（第６図参照）。この場合、
９９％の信頼度で次式が成立する。
Ｂ、−３Δｈ＜Ｂ≦Ｂｈ＋３Δ、 ・・・（２）ここ
に、 Ｂｈ＝ｎ−’ΣＢｋＭ ・
・ ・ （３）入ＩＬ Δｈ＝ｌｌ−’（Σ（Ｂ ｋ、−Ｂ ｋ）”）””
・ ・ ・ （４）に−１ である。また、ｎは位相点数である。
に、 Ｂｈ＝ｎ−’ΣＢｋＭ ・
・ ・ （３）入ＩＬ Δｈ＝ｌｌ−’（Σ（Ｂ ｋ、−Ｂ ｋ）”）””
・ ・ ・ （４）に−１ である。また、ｎは位相点数である。
ｋ回測定した電圧波形の電圧分解能Ｍの最確値Ｍ１は、
Ｍ Ｋ” ３ （Ｕ ｋ／ｋ ）””
・ ・ （５）となり、９９７％の信頼度
でＭ≦Ｒｈとなる電圧分解能の上限値Ｒ２は ｎ ｋ−３（（Ｂ ＞ ＋３ Δｈ）／ｋ）””
（６）となる。
・ ・ （５）となり、９９７％の信頼度
でＭ≦Ｒｈとなる電圧分解能の上限値Ｒ２は ｎ ｋ−３（（Ｂ ＞ ＋３ Δｈ）／ｋ）””
（６）となる。
次に、第３図に基づいて、サンプリングオンロスコープ
の要部構成を説明する。
の要部構成を説明する。
測定位相点数設定器ｌＯ１電圧分解能設定器菫２により
それぞれ測定位相点数ｎ１電圧分解能Ｍを設定し、被測
定電圧波形の測定を開始させると、以下に示すようなハ
ードウェア構成により実時間で上記電圧分解能Ｍ１が評
価され、これが設定された電圧分解能Ｍ以下になるとサ
ンプリングが自動的に終了し、マイクロコンビュータロ
４により測定電圧波形及びその電圧分解能Ｍ２等がディ
スプレイ１６に表示されるとともに、測定終了を報知す
る音が電子ブザー１８から出力される。
それぞれ測定位相点数ｎ１電圧分解能Ｍを設定し、被測
定電圧波形の測定を開始させると、以下に示すようなハ
ードウェア構成により実時間で上記電圧分解能Ｍ１が評
価され、これが設定された電圧分解能Ｍ以下になるとサ
ンプリングが自動的に終了し、マイクロコンビュータロ
４により測定電圧波形及びその電圧分解能Ｍ２等がディ
スプレイ１６に表示されるとともに、測定終了を報知す
る音が電子ブザー１８から出力される。
すなわち、測定開始パルスによりＲＳフリップフロップ
２０がセットされるとアンドゲート２２が開かれてサン
プリングパルスがサンプルホールド回路２４へ供給され
（第５Ｂ図）、これに応答して被測定電圧■がサンプル
ホールド回路２４により抽出保持され、Ａ／Ｄ変換器２
６によりデジタル値■、に変換され（第５Ａ図）、加算
′ａ２８の一方の入力端子に供給される。
２０がセットされるとアンドゲート２２が開かれてサン
プリングパルスがサンプルホールド回路２４へ供給され
（第５Ｂ図）、これに応答して被測定電圧■がサンプル
ホールド回路２４により抽出保持され、Ａ／Ｄ変換器２
６によりデジタル値■、に変換され（第５Ａ図）、加算
′ａ２８の一方の入力端子に供給される。
アンドゲート２２を通ったサンプリングパルスはカウン
タ３０により計数され、その計数値Ｘによりレジスタ群
３２がアドレス指定され、その内容Ｓｖｋ、−１が加算
４２８の他方の入力端子に供給されて前記■。に加算さ
れ、加算値ＳＶ、、がレジスタ群３２の当該指定アドレ
スＸに書き込まれる。このＸはデジタル比較器３４によ
り測定位相点数ｎと比較され、ｘ＞ｎになるとカウンタ
３０の計数値が１にセットされる。カウンタ３０の初期
値は１である。
タ３０により計数され、その計数値Ｘによりレジスタ群
３２がアドレス指定され、その内容Ｓｖｋ、−１が加算
４２８の他方の入力端子に供給されて前記■。に加算さ
れ、加算値ＳＶ、、がレジスタ群３２の当該指定アドレ
スＸに書き込まれる。このＸはデジタル比較器３４によ
り測定位相点数ｎと比較され、ｘ＞ｎになるとカウンタ
３０の計数値が１にセットされる。カウンタ３０の初期
値は１である。
したがって、Ｎ個のレジスタＡ、〜Ａ７からなるレジス
タ群３２のうちｎ個のレジスタＡ１〜Ａｌｌがサイクリ
ックにアドレス指定され、レジスタＡ。
タ群３２のうちｎ個のレジスタＡ１〜Ａｌｌがサイクリ
ックにアドレス指定され、レジスタＡ。
には測定位相点Ｘにおける測定電圧Ｖ＋−（ｉ＝１〜ｋ
）の合計値が保持される。
）の合計値が保持される。
測定回数にはデジタル比較″ａ３４の出カバスルをカウ
ンタ３６で計数することにより得られる。
ンタ３６で計数することにより得られる。
このカウンタ３６は１に初期設定されている。前記ＳＶ
、、は除算器３８によりこのｋで除せられて、測定位相
点Ｘにおける測定電圧の平均値ＡＶｈＪが求められ、次
いでこの値が乗算器４０により自乗されてＡＶ”ｈ−と
なる。
、、は除算器３８によりこのｋで除せられて、測定位相
点Ｘにおける測定電圧の平均値ＡＶｈＪが求められ、次
いでこの値が乗算器４０により自乗されてＡＶ”ｈ−と
なる。
一方、測定電圧Ｖｋｍは乗算器４２により自乗されて加
算器４４の一方の入力端子に供給され、カウンタ３０に
よりアドレス指定されたレジスタ群４６のレジスタＢ１
の内容５ｌｌｋ−０に加算されて５Ｕｈ−となり、レジ
スタＢヨに書き込まれる。このレジスタ群４６もレジス
タ群３２と同様に、Ｎ個のレジスタＢ、〜Ｉ３Ｎからな
る。ｓｕｈ、は除算器４８に供給されてカウンタ３６の
出力値にで除せられ、■３□の平均値ＡＵｍ−が求めら
れる。
算器４４の一方の入力端子に供給され、カウンタ３０に
よりアドレス指定されたレジスタ群４６のレジスタＢ１
の内容５ｌｌｋ−０に加算されて５Ｕｈ−となり、レジ
スタＢヨに書き込まれる。このレジスタ群４６もレジス
タ群３２と同様に、Ｎ個のレジスタＢ、〜Ｉ３Ｎからな
る。ｓｕｈ、は除算器４８に供給されてカウンタ３６の
出力値にで除せられ、■３□の平均値ＡＵｍ−が求めら
れる。
八〇ｋ１１及びＡＶ”、、は減算器５０に供給されてそ
の差である上式（１）の分散Ｂ。が求められる。この分
散８１は加算器５２の一方の入力端子に供給され、加算
器５２の他方の入力端子にはレジスタ５４の内容５Ｂｈ
−１が供給されて両者の加算値ＳＢ、が求められ、これ
がレジスタ５４に書き込まれる。このレジスタ５４の内
容は、０に初期設定されており、また、カウンタ３０に
よりｘ＞ｎが検出される毎に０クリアされる。したがっ
て、レジスタ５４の内容ＳＢ、は分散Ｂ１．（ｉ＝ｌ〜
ｋ）の合計値となる。
の差である上式（１）の分散Ｂ。が求められる。この分
散８１は加算器５２の一方の入力端子に供給され、加算
器５２の他方の入力端子にはレジスタ５４の内容５Ｂｈ
−１が供給されて両者の加算値ＳＢ、が求められ、これ
がレジスタ５４に書き込まれる。このレジスタ５４の内
容は、０に初期設定されており、また、カウンタ３０に
よりｘ＞ｎが検出される毎に０クリアされる。したがっ
て、レジスタ５４の内容ＳＢ、は分散Ｂ１．（ｉ＝ｌ〜
ｋ）の合計値となる。
この値ＳＢＫはデジタル比較器５８の一方の入力端子に
供給される。デジタル比較器５８は、カウンタ３０の計
数値がｎとなりかつレジスタ５４の内容ＳＢ、が確定し
た時点で、このＳＢｍをマイクロコンピュータＩ４から
供給されるＦ ＝ ｎ１ｇ’／９と比較する。そして、
Ｂ、％≦Ｆであればサンプリング終了信号をマイクロコ
ンピュータ１４へ供給すると共に、この信号をＲＳフリ
ップフロップ２０のリセット端子へ供給してアンドゲー
ト２２を閉じ、サンプリングを終了させる。
供給される。デジタル比較器５８は、カウンタ３０の計
数値がｎとなりかつレジスタ５４の内容ＳＢ、が確定し
た時点で、このＳＢｍをマイクロコンピュータＩ４から
供給されるＦ ＝ ｎ１ｇ’／９と比較する。そして、
Ｂ、％≦Ｆであればサンプリング終了信号をマイクロコ
ンピュータ１４へ供給すると共に、この信号をＲＳフリ
ップフロップ２０のリセット端子へ供給してアンドゲー
ト２２を閉じ、サンプリングを終了させる。
以上の構成により、電圧分解能Ｍｂが実時間で求められ
、これが設定値Ｍ以下の値になった時点で被測定電圧波
形のサンプリングが自動的に終了する。
、これが設定値Ｍ以下の値になった時点で被測定電圧波
形のサンプリングが自動的に終了する。
一方、減算器５０の出力値Ｂ、は乗算器６０により自乗
されて加算器６２の一方の入力端子に供給され、加算器
６２の他方の入力端子にはレジスタ６４の内容５Ｃｋ−
１が供給され、両者の加算値ＳＣｋがレジスタ６４に書
き込まれる。このレジスタ６４は、レジスタ５４と同様
にＯに初期設定され、また比較器３４によりｘ＞ｎが検
出される毎にクリアされる。したがって、レジスタ６４
の内容ＳＣｈはＢｌ□（ｉ＝１〜ｋ）の合計値となる。
されて加算器６２の一方の入力端子に供給され、加算器
６２の他方の入力端子にはレジスタ６４の内容５Ｃｋ−
１が供給され、両者の加算値ＳＣｋがレジスタ６４に書
き込まれる。このレジスタ６４は、レジスタ５４と同様
にＯに初期設定され、また比較器３４によりｘ＞ｎが検
出される毎にクリアされる。したがって、レジスタ６４
の内容ＳＣｈはＢｌ□（ｉ＝１〜ｋ）の合計値となる。
この値はマイクロコンピュータ１４へ供給される。
次に、第４図に基づいてマイクロコンピュータ１４の処
理手順を説明する。
理手順を説明する。
（１００）サンプリング開始前に、測定位相点数設定器
１０及び電圧分解能設定器１２により設定された測定位
相点敗れ及び電圧分解ｆｌ１Ｍの値を読み込み、 （１０２）このｎ％Ｍを用いてＦ ＝ ｎｋｌ”／９を
算出し、（１０４）次にこのＦをデジタル比較器５８の
他方の入力端子に供給する。
１０及び電圧分解能設定器１２により設定された測定位
相点敗れ及び電圧分解ｆｌ１Ｍの値を読み込み、 （１０２）このｎ％Ｍを用いてＦ ＝ ｎｋｌ”／９を
算出し、（１０４）次にこのＦをデジタル比較器５８の
他方の入力端子に供給する。
（１０６）サンプリング開始後は、デジタル比較器５８
から上述のサンプリング終了信号が供給されるのを待つ
。この信号が供給されると、（１０ｇ）カウンタ３６、
レジスタ５４及び６４からそれぞれに、ＳＢ、、ＳＣｎ
を読み込む。
から上述のサンプリング終了信号が供給されるのを待つ
。この信号が供給されると、（１０ｇ）カウンタ３６、
レジスタ５４及び６４からそれぞれに、ＳＢ、、ＳＣｎ
を読み込む。
（１１Ｇ）次にこれらの値を用いて電圧分解能Ｍｋ及び
その上限値Ｒ１を算出し、 （１１２）これらをディスプレイ１６に表示させる。ま
た、レジスタ群３２の内容を読み込み、その各々をｋで
除して各位相点における測定電圧の平均値を求め、これ
らを測定電圧波形としてディスプレイＩ６に表示する。
その上限値Ｒ１を算出し、 （１１２）これらをディスプレイ１６に表示させる。ま
た、レジスタ群３２の内容を読み込み、その各々をｋで
除して各位相点における測定電圧の平均値を求め、これ
らを測定電圧波形としてディスプレイＩ６に表示する。
（目４）さらに、電子ブザーＩ８を一定時間鳴らして使
用者に測定が終了したことを報知する。
用者に測定が終了したことを報知する。
なお、本発明には他にも種々の変形例が含まれる。
例えば、上記実施例では、電圧分解能設定器１２により
電圧分解能Ｍを設定し、求められた電圧分解ｆｌ！Ｍ、
がこの設定値Ｍ以下になった時にサンブリングを終了さ
せる場合を説明したが、電圧分解能Ｍｈをディスプレイ
＋６に表示させ、使用者がこれを見て適当な時点でスイ
ッチを操作することによりサンプリングを終了させる手
動モードをさらに設けてもよい。
電圧分解能Ｍを設定し、求められた電圧分解ｆｌ！Ｍ、
がこの設定値Ｍ以下になった時にサンブリングを終了さ
せる場合を説明したが、電圧分解能Ｍｈをディスプレイ
＋６に表示させ、使用者がこれを見て適当な時点でスイ
ッチを操作することによりサンプリングを終了させる手
動モードをさらに設けてもよい。
また、電圧分解能Ｍ、を求める演算回路は第３図に示す
ものに限られず、Ｍ、を求める途中の式の品種変形に対
応した各種演算回路が考えられる。
ものに限られず、Ｍ、を求める途中の式の品種変形に対
応した各種演算回路が考えられる。
さらに、本発明は等優待間サンプリング方式のサンプリ
ングオシロスコープに限定されず、実時間サンプリング
方式やランダムサンプリング方式等のあらゆるサンプリ
ングオシロスコープに適用可能である。
ングオシロスコープに限定されず、実時間サンプリング
方式やランダムサンプリング方式等のあらゆるサンプリ
ングオシロスコープに適用可能である。
［発明の効果〕
以上説明したように、本第１発明に係るサンプリングオ
ンロスコープによれば、電圧分解能が実時間で求められ
てディスプレイに表示されるので、使用者は適当な時点
でサンプリングを停止させることにより所望の電圧分解
能の測定電圧波形を得ることかでき、したがって、測定
時間が短すぎて必要な電圧分解能の測定電圧波形が得ら
れなかったり、測定時間が必要以上に長くなったりする
のを防止することができるという優れた効果を奏する。
ンロスコープによれば、電圧分解能が実時間で求められ
てディスプレイに表示されるので、使用者は適当な時点
でサンプリングを停止させることにより所望の電圧分解
能の測定電圧波形を得ることかでき、したがって、測定
時間が短すぎて必要な電圧分解能の測定電圧波形が得ら
れなかったり、測定時間が必要以上に長くなったりする
のを防止することができるという優れた効果を奏する。
また、本第２発明に係るサンプリングオシロスコープに
よれば、所望の電圧分解能の測定電圧波形が得られたと
きにサンプリングが自動的に停止するので、容易かつ確
実に所望の電圧分解能の測定電圧波形を得ることができ
るという優れた効果を奏する。
よれば、所望の電圧分解能の測定電圧波形が得られたと
きにサンプリングが自動的に停止するので、容易かつ確
実に所望の電圧分解能の測定電圧波形を得ることができ
るという優れた効果を奏する。
第１図は本第１発明の原理構成を示すブロック図、
第２図は本第２発明の原理構成を示すブロック図である
。 第３図乃至第６図は本発明の一実施例に係り、第３図は
サンプリングオシロスコープの要部構成を示すブロック
図、 第４図はマイクロコンピュータ１４の処理手順を示すフ
ローチャート、 第５Ａ図は測定電圧波形図、 第５Ｂ図はサンプリングパルス波形図、第６図は測定位
相点Ｘとこの点におけるに個の測定電圧Ｖｌｌｌ〜Ｖｋ
ｘの分散Ｂ。との関係を示４°図である。 ３２．４６はレジスタ群 ３４．５８はデジタル比較器 ３８．４８は除算器 ４０．４２．６０は乗算器 ５０は威算器 ５４．６４はレジスタ 図中、 １０は測定位相点数設定器 １２は電圧分解能設定器 １４はマイクロコンピュータ Ｉ６はディスプレイ １８は電子ブザー ２０はＲＳフリップフロップ ２２はアンドゲート ２４はサンプルホールド回路 ２６はＡ／Ｄ変換器 ２８．４４．５２．６２は加算器 ３０．３６はカウンタ 第２発明の原理構成図
。 第３図乃至第６図は本発明の一実施例に係り、第３図は
サンプリングオシロスコープの要部構成を示すブロック
図、 第４図はマイクロコンピュータ１４の処理手順を示すフ
ローチャート、 第５Ａ図は測定電圧波形図、 第５Ｂ図はサンプリングパルス波形図、第６図は測定位
相点Ｘとこの点におけるに個の測定電圧Ｖｌｌｌ〜Ｖｋ
ｘの分散Ｂ。との関係を示４°図である。 ３２．４６はレジスタ群 ３４．５８はデジタル比較器 ３８．４８は除算器 ４０．４２．６０は乗算器 ５０は威算器 ５４．６４はレジスタ 図中、 １０は測定位相点数設定器 １２は電圧分解能設定器 １４はマイクロコンピュータ Ｉ６はディスプレイ １８は電子ブザー ２０はＲＳフリップフロップ ２２はアンドゲート ２４はサンプルホールド回路 ２６はＡ／Ｄ変換器 ２８．４４．５２．６２は加算器 ３０．３６はカウンタ 第２発明の原理構成図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）、周期的に変化する被測定電圧を各位相点について
複数回サンプリングし、その測定電圧及び測定回数から
該測定電圧の平均値を求め、該平均値をディスプレイ（
６）に表示するサンプリングオシロスコープにおいて、 該測定電圧、該平均値及び該測定回数を用いて該各位相
点での該測定電圧の分散を算出する分散算出手段（４）
と、 該分散、該測定回数及び測定位相点数を用いて該測定電
圧の電圧分解能を算出する電圧分解能算出手段（５）と を有し、該電圧分解能を該ディスプレイ（６）に表示す
ることを特徴とするサンプリングオシロスコープ。 ２）、周期的に変化する被測定電圧を各位相点について
複数回サンプリングし、その測定電圧及び測定回数から
該測定電圧の平均値を求め、該平均値をディスプレイ（
６）に表示するサンプリングオシロスコープにおいて、 該測定電圧、該平均値及び該測定回数を用いて該各位相
点での該測定電圧の分散を算出する分散算出手段（４）
と、 該分散、該測定回数及び測定位相点数を用いて該測定電
圧の電圧分解能を算出する電圧分解能算出手段（５）と 電圧分解能を設定するための電圧分解能設定手段（７）
と、 算出された該電圧分解能と設定された該電圧分解能とを
比較し、該算出値が該設定値以下になった場合に該サン
プリングを停止させるサンプリング停止手段（８）と、 を有することを特徴とするサンプリングオシロスコープ
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31252988A JP2746622B2 (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | サンプリングオシロスコープ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31252988A JP2746622B2 (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | サンプリングオシロスコープ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02157662A true JPH02157662A (ja) | 1990-06-18 |
| JP2746622B2 JP2746622B2 (ja) | 1998-05-06 |
Family
ID=18030325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31252988A Expired - Lifetime JP2746622B2 (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | サンプリングオシロスコープ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2746622B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240285A (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-20 | Yokogawa Electric Corp | 波形検査装置 |
-
1988
- 1988-12-09 JP JP31252988A patent/JP2746622B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240285A (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-20 | Yokogawa Electric Corp | 波形検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2746622B2 (ja) | 1998-05-06 |
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