JPH02154476A - 半導体光学装置 - Google Patents
半導体光学装置Info
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- JPH02154476A JPH02154476A JP63309061A JP30906188A JPH02154476A JP H02154476 A JPH02154476 A JP H02154476A JP 63309061 A JP63309061 A JP 63309061A JP 30906188 A JP30906188 A JP 30906188A JP H02154476 A JPH02154476 A JP H02154476A
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- diffraction grating
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Links
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Landscapes
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概要1
特定の波長の光のみを取出して利用することのできる半
導体光学装置に関し、 選択波長帯域か狭く、かつ光阻止帯域の広い半導体光学
装置を提供することを目的とし、半導体基板上に、第1
の回折格子とλ/4シフトを有する第2の回折格子と、
第1の回折格子へ光を入射する入射導波路と、第1の回
折格子からの反射光を第2の回折格子へ入射する伝達導
波路とを有し、第2の回折格子から波長選択した光を取
出すように構成する。
導体光学装置に関し、 選択波長帯域か狭く、かつ光阻止帯域の広い半導体光学
装置を提供することを目的とし、半導体基板上に、第1
の回折格子とλ/4シフトを有する第2の回折格子と、
第1の回折格子へ光を入射する入射導波路と、第1の回
折格子からの反射光を第2の回折格子へ入射する伝達導
波路とを有し、第2の回折格子から波長選択した光を取
出すように構成する。
[産業上の利用分野]
本発明は半導体光学装置に関し、特に特定の波長の光の
みを取出して利用することのできる半導体光学装置に関
する。
みを取出して利用することのできる半導体光学装置に関
する。
近年、光フアイバー通信の大容量化等のため、波長多重
通信方式の実現が要求されている。このため、任意の特
定の波長の光だけ通過させる光波長フィルタ機能が、特
に受光装置側の機能として望まれている。
通信方式の実現が要求されている。このため、任意の特
定の波長の光だけ通過させる光波長フィルタ機能が、特
に受光装置側の機能として望まれている。
[従来の技術]
第2図に従来技術による波長選択機能を有する半導体光
学装置であるλ/4シフト型回折格子を示す。
学装置であるλ/4シフト型回折格子を示す。
導波層51の両側をバッファ層52.53か挾み、導波
層51の少なくとも片側の表面に(図では上面)に周期
的凹凸による回折格子が形成されている。回折格子はあ
る位置55において、光の波長大の1/4に相当する位
相シフト有する。
層51の少なくとも片側の表面に(図では上面)に周期
的凹凸による回折格子が形成されている。回折格子はあ
る位置55において、光の波長大の1/4に相当する位
相シフト有する。
このようなλ/4シフト型回折格子は第2図(A>に示
゛すような透過率の波長特性を示す。すなわち格子周期
と導波路の屈折率等で決まるブラッグ波長λ0に狭波長
帯域の透過帯57を有する。
゛すような透過率の波長特性を示す。すなわち格子周期
と導波路の屈折率等で決まるブラッグ波長λ0に狭波長
帯域の透過帯57を有する。
波長λ0の両側に阻止帯58a、58bか形成されるが
、波長がさらにλ0から離れると透過率は再び上昇して
いる。
、波長がさらにλ0から離れると透過率は再び上昇して
いる。
第2図(B)は、入射光がブラック波長λ0付近の狭波
長帯域にいくつかのピークを持つ場合を示す。ブラック
波長λ0のピークは透過し、それ以外のピークは阻止帯
58a、58bで阻止され透過しない。このようにして
1つの波長ピークのみを選択できる。
長帯域にいくつかのピークを持つ場合を示す。ブラック
波長λ0のピークは透過し、それ以外のピークは阻止帯
58a、58bで阻止され透過しない。このようにして
1つの波長ピークのみを選択できる。
ところが入射光のピークか広い波長帯域に分布すると、
λ/4シフト型回折格子のみでは有効に波長選択ができ
なくなる。
λ/4シフト型回折格子のみでは有効に波長選択ができ
なくなる。
第2図(C)に広波長帯域の入射光の場合の動作を示す
。ブラック波長λ0よりある程度以上能れた波長の光は
λ/4シフト型回折格子の阻止帯5’8’a、58bを
越してその外側の透過帯59a、59bに入ってしまう
。従って、λ/4シフト型回折格子を通しても阻止され
ないで出てきてしまう。
。ブラック波長λ0よりある程度以上能れた波長の光は
λ/4シフト型回折格子の阻止帯5’8’a、58bを
越してその外側の透過帯59a、59bに入ってしまう
。従って、λ/4シフト型回折格子を通しても阻止され
ないで出てきてしまう。
[発明か解決しようとする課題]
このように、従来技術の波長選択によれば、狭い波長帯
域で単一ピークを選択しようとするとその周囲で阻止で
きる阻止帯の波長帯域幅が狭かつた。
域で単一ピークを選択しようとするとその周囲で阻止で
きる阻止帯の波長帯域幅が狭かつた。
従って、最大波長多重度が制限されるという欠点を生じ
ていた。
ていた。
本発明の目的は、選択する波長帯域か狭く、かつ光阻止
帯域の広い半導体光学装置を提供することである。
帯域の広い半導体光学装置を提供することである。
本発明の他の目的は、光阻止帯域が広く、かつ選択波長
を可変できる、波長多重度の高い光通信システムに適し
た半導体光学装置を提供することである。
を可変できる、波長多重度の高い光通信システムに適し
た半導体光学装置を提供することである。
[課題を解決するための手段]
第1図(A)〜(E)は本発明の原理説明図である。第
1図(A)に基本構成と構成要素の特性を示す。
1図(A)に基本構成と構成要素の特性を示す。
入射光1は入射導波路5を通ってブラッグ波長λOを中
心とした所定波長帯Q元金回折(ブラック波長)する回
折格子2に入射する。回折格子2で回折(反射)された
回折光は、伝達導波路7を通ってλ/4シフト型回折格
子3に入射する。λ/4シフト型回折格子3は、回折格
子2の反射波長帯域内で狭い波長帯域幅の光透過帯域を
有する。。
心とした所定波長帯Q元金回折(ブラック波長)する回
折格子2に入射する。回折格子2で回折(反射)された
回折光は、伝達導波路7を通ってλ/4シフト型回折格
子3に入射する。λ/4シフト型回折格子3は、回折格
子2の反射波長帯域内で狭い波長帯域幅の光透過帯域を
有する。。
このλ/4シフト型回折格子3から波長選択した光4を
取出す。
取出す。
回折格子2、λ/4シフト型回折格子3はそれぞれ第1
図(A>に示すような波長依存の透過率特性を有する。
図(A>に示すような波長依存の透過率特性を有する。
第1図(・B)は入射光のスペクトルの例である。
信号波長λ4を中心と−する7本の波長ピークがあると
する。ブラッグ波長λ0がこの信号波長λ4に対応する
ようにする。この時、回折格子2の透過光は第1図(E
)のようなスペクトルをもつ。
する。ブラッグ波長λ0がこの信号波長λ4に対応する
ようにする。この時、回折格子2の透過光は第1図(E
)のようなスペクトルをもつ。
回折格子2からの回折(反射)光は、透過光の残りの成
分で第1図の(D)のよ−うなスペクトルを持つ。λ/
4シフト型回折格子3の透過出力光4は第1図(C)の
ようなスペクトルを持つ。
分で第1図の(D)のよ−うなスペクトルを持つ。λ/
4シフト型回折格子3の透過出力光4は第1図(C)の
ようなスペクトルを持つ。
[作用]
屈折率による回折格子は、屈折率変化の振幅と回折格子
の長さ等に依存した反射特性を有する6すなわち、結合
係数か屈折率変化の振幅に比例し、屈折率変化の振幅は
講が深くなるにつれて大きくなるので、結合係数は清の
深さに依存する。反射帯域の幅を狭くするには、講の深
さを浅く 講の数を多くすればよい。
の長さ等に依存した反射特性を有する6すなわち、結合
係数か屈折率変化の振幅に比例し、屈折率変化の振幅は
講が深くなるにつれて大きくなるので、結合係数は清の
深さに依存する。反射帯域の幅を狭くするには、講の深
さを浅く 講の数を多くすればよい。
このようにして、λ/4シフト型回折格子3の入力光の
波長帯域を回折格子2によってλ/′4シフト型回折格
子3の阻止帯域より狭くしておけば、λ/4シフト型回
折格子3て波長選択を行った時、意に反する波長光か漏
れることがなくなる。
波長帯域を回折格子2によってλ/′4シフト型回折格
子3の阻止帯域より狭くしておけば、λ/4シフト型回
折格子3て波長選択を行った時、意に反する波長光か漏
れることがなくなる。
すなわち、第1図(B)の例えば7本のピークを持つ入
力光に対し、回折格子2て反射させることで、ます波長
帯域幅を比較的狭くする。回折格子2の回折光は、第1
図(D)に示すように中央のピークλ4を中心として数
少ないピークλ3、λ4、λ5のみを含むものとなる。
力光に対し、回折格子2て反射させることで、ます波長
帯域幅を比較的狭くする。回折格子2の回折光は、第1
図(D)に示すように中央のピークλ4を中心として数
少ないピークλ3、λ4、λ5のみを含むものとなる。
残りの成分は回折格子2の透過光として右方へ出射する
。このように狭帯域化された第1図(D)の回折光の波
長帯域は、λ/4シフト型回折格子3の阻止帯域内に入
る。従って、ブラック波長と合う光を透過させるλ/4
シフト型回折格子3の出力光4は、第1図(C)に示す
ような単一のピーりλ4のみを含むものとなる。
。このように狭帯域化された第1図(D)の回折光の波
長帯域は、λ/4シフト型回折格子3の阻止帯域内に入
る。従って、ブラック波長と合う光を透過させるλ/4
シフト型回折格子3の出力光4は、第1図(C)に示す
ような単一のピーりλ4のみを含むものとなる。
回折格子2で反射された光のうちλ/4シフト型回折格
子3でも反射された光は多重反射するか、λ/4ジフト
型回折格子3の結合係数×回折格子長を回折格子2のそ
れに対し十分大きくしておけはほとんどの光か回折格子
2の透過光として出射される。
子3でも反射された光は多重反射するか、λ/4ジフト
型回折格子3の結合係数×回折格子長を回折格子2のそ
れに対し十分大きくしておけはほとんどの光か回折格子
2の透過光として出射される。
[実施例1
第3図(A)、(B)、(C)に本発明の実施例による
半導体光学装置を概略的に示す。
半導体光学装置を概略的に示す。
第3図(A)は平面図である6人射光は反射防止膜11
を設けたチップ13の1側壁から第1導波路15に入射
する。第1導波路15は第3導波路17とy字形に合流
して第2導波路19に連続する。ずなわち導波路15.
17.19がy字形分岐20を形成している。y字形分
岐は、例えは西原他著「光集積回路」 (オーム社、1
.985 )に説明されているように、足の1本の導波
路から入った光は両方の分岐手に分配され、1本の分岐
手から入った光は足の部分に伝達される光導波機能素子
である。第2導波路1つは回折格子2からなるD B
R(distributed Bragg refle
ctor分布ブラック反射分布ブラフフッ射鏡3の他の
側壁に到達する。側壁上には反射防止膜2】が形成され
ている。第3導波路17はy分岐から途中にλ/4シフ
ト型回折格子3を形成して入射面と同じ基板13の1側
壁に到達する。
を設けたチップ13の1側壁から第1導波路15に入射
する。第1導波路15は第3導波路17とy字形に合流
して第2導波路19に連続する。ずなわち導波路15.
17.19がy字形分岐20を形成している。y字形分
岐は、例えは西原他著「光集積回路」 (オーム社、1
.985 )に説明されているように、足の1本の導波
路から入った光は両方の分岐手に分配され、1本の分岐
手から入った光は足の部分に伝達される光導波機能素子
である。第2導波路1つは回折格子2からなるD B
R(distributed Bragg refle
ctor分布ブラック反射分布ブラフフッ射鏡3の他の
側壁に到達する。側壁上には反射防止膜2】が形成され
ている。第3導波路17はy分岐から途中にλ/4シフ
ト型回折格子3を形成して入射面と同じ基板13の1側
壁に到達する。
入射光1は、第1導波路15に入射し、y字形分岐20
の1分岐から入って回折格子2に向かう第2導波路19
に進む。回折格子2で1部は透過して透過光を形成し、
他は反射して回折光となる。
の1分岐から入って回折格子2に向かう第2導波路19
に進む。回折格子2で1部は透過して透過光を形成し、
他は反射して回折光となる。
この反射回折光はy字形分岐20で入射側分岐15にも
1部戻るが、別の分岐である第3導波路17に進む。第
3導波路17を進む光はλ/4シフト型回折格子3に入
射し1部は反射され、他は透過して波長選択された出力
光4を形成する。
1部戻るが、別の分岐である第3導波路17に進む。第
3導波路17を進む光はλ/4シフト型回折格子3に入
射し1部は反射され、他は透過して波長選択された出力
光4を形成する。
第3図(B)は回折格子(DBR)2からλ/4シフト
型回折格子3に向かう光路に沿った縦断面図を示す。ま
た、第3図(C)は第3図(A)の線CC’に沿う横断
面図を示す。
型回折格子3に向かう光路に沿った縦断面図を示す。ま
た、第3図(C)は第3図(A)の線CC’に沿う横断
面図を示す。
n形1nPの基板25上に通信信号波長に対応した周期
を持つDBR用溝27とλ/4シフト型回折格子用消2
つとか形成され、その上にノンドブTnGaAsPの導
波層31、p型1nPの上側クラッド層33、p+型1
nGaAsPのコンタクト層35がエピタキシャルに形
成されている6溝27.29の上に成長した導波層31
は厚さの変化を有し、回折格子(DBR)2、λ/4シ
フト型回折格子3を形成する。
を持つDBR用溝27とλ/4シフト型回折格子用消2
つとか形成され、その上にノンドブTnGaAsPの導
波層31、p型1nPの上側クラッド層33、p+型1
nGaAsPのコンタクト層35がエピタキシャルに形
成されている6溝27.29の上に成長した導波層31
は厚さの変化を有し、回折格子(DBR)2、λ/4シ
フト型回折格子3を形成する。
第3図(A)、(C)に示すように、導波路を形成する
部分はエツチングによってストライプ状に整形され、第
3図(C)に示すように側壁をFeドープ高抵抗1nP
の埋込層37で埋め込まれている。この埋込構造により
、横方向にも光閉じ込め構造が形成されている。
部分はエツチングによってストライプ状に整形され、第
3図(C)に示すように側壁をFeドープ高抵抗1nP
の埋込層37で埋め込まれている。この埋込構造により
、横方向にも光閉じ込め構造が形成されている。
第3図(B)に戻って、p+型1nGaAsPのコンタ
クト層35は、DBR2上の部分とλ/4シフト型回折
格子3上の部分とを残すようにパターン化され、その上
にAu/ 2n/ Au等から形成されたp側電極3つ
、41が設けられている。また「】型InPの基板25
上にはAu/ Sn/八Uへのn側電極43か形成され
ている。左右の側壁上には反射防止膜11.21が形成
されている。
クト層35は、DBR2上の部分とλ/4シフト型回折
格子3上の部分とを残すようにパターン化され、その上
にAu/ 2n/ Au等から形成されたp側電極3つ
、41が設けられている。また「】型InPの基板25
上にはAu/ Sn/八Uへのn側電極43か形成され
ている。左右の側壁上には反射防止膜11.21が形成
されている。
以下、1具体的構成例に沿ってより詳しく説明する。な
お、これらは同等制限的意味を有しないことは自明であ
ろう。
お、これらは同等制限的意味を有しないことは自明であ
ろう。
第3図(A)において、反射防止膜11.21の形成し
である側辺の長さは、例えば1000μmであり、DB
R2の長さは約1000u、m、λ/4シフト型回折格
子3の長さは約800μm、y字型分岐点からDBR2
までの導波路長か約1000μm、y字形分岐点からλ
/4シフト型回折格子3まての導波路長か約2000μ
mである。
である側辺の長さは、例えば1000μmであり、DB
R2の長さは約1000u、m、λ/4シフト型回折格
子3の長さは約800μm、y字型分岐点からDBR2
までの導波路長か約1000μm、y字形分岐点からλ
/4シフト型回折格子3まての導波路長か約2000μ
mである。
導波路の幅は約2μmである。y字形分岐の分岐間の半
角θは約2度である。
角θは約2度である。
第3図において、導波層31のInGaAsPはギヤツ
ブ波長的1.1μmであり、導波層31の厚さは約0,
2μmである。上側クラッド層33のp形1nPは約5
×10170IB−3のCdをドープしである。
ブ波長的1.1μmであり、導波層31の厚さは約0,
2μmである。上側クラッド層33のp形1nPは約5
×10170IB−3のCdをドープしである。
上側クラッド層33の厚さは約2μmである。コンタク
ト層35のp+型1nGaAsPは約1.5μmのギャ
ップ波長を持ち、2×1019CrR−3の2nをドブ
しである。
ト層35のp+型1nGaAsPは約1.5μmのギャ
ップ波長を持ち、2×1019CrR−3の2nをドブ
しである。
中心波長1.54μmを対象とする場合、DBR2はピ
ッチ2400人、溝の深さ約0.02μmである。λ/
4シフI〜型回折格子3は、同様にピッチ2400人、
清の深さ0.02μmであるが、中央に位相シフトを有
している。
ッチ2400人、溝の深さ約0.02μmである。λ/
4シフI〜型回折格子3は、同様にピッチ2400人、
清の深さ0.02μmであるが、中央に位相シフトを有
している。
このようにして作成したDBR2の反射特性を第4図(
A)に示す。結合係数に一50CI−’、長さ1000
μm、吸収係数a = 2 c+n−’の場合である。
A)に示す。結合係数に一50CI−’、長さ1000
μm、吸収係数a = 2 c+n−’の場合である。
1.54μmを中心波長として約0.001μm強の波
長帯域の強い反射帯を有し、その両側に約0.004μ
mの幅で次第に減少する弱い反射領域を示している。あ
る程度(例えば0.005μm)以上中心波長から外れ
た光はほとんど反射されない。入射光1がDBR2で反
射されると入射光のスペクトルと第4図(A)のスペク
I−ルとの積が反射回折光となって戻ってくる。
長帯域の強い反射帯を有し、その両側に約0.004μ
mの幅で次第に減少する弱い反射領域を示している。あ
る程度(例えば0.005μm)以上中心波長から外れ
た光はほとんど反射されない。入射光1がDBR2で反
射されると入射光のスペクトルと第4図(A)のスペク
I−ルとの積が反射回折光となって戻ってくる。
DBR2で反射された光か入射するλ/4シフト型回折
格子3は、第4図(B)に示すような透過特性を示す。
格子3は、第4図(B)に示すような透過特性を示す。
に−50CI11−1、長さ800 μm、α−2cm
−’、中央に位相シフトを有する場合である。中心波長
1.54μmに鋭い透過領域を有し、その両側に阻止帯
を有する。しかし、中心波長からo、ootμm4J離
れる前に透過率は再び上がっている。入射光が直接この
λ/4シフト型回折格子3に入射する場合は、この透過
率の上がった波長領域に光が存在するとそれは阻止でき
す、光雑音となってしまう。
−’、中央に位相シフトを有する場合である。中心波長
1.54μmに鋭い透過領域を有し、その両側に阻止帯
を有する。しかし、中心波長からo、ootμm4J離
れる前に透過率は再び上がっている。入射光が直接この
λ/4シフト型回折格子3に入射する場合は、この透過
率の上がった波長領域に光が存在するとそれは阻止でき
す、光雑音となってしまう。
本実施例では、λ/4シフト型回折格子3の入射光は既
にDBR2で選択的に反射された光なので、合成透過率
は第4図(C)のようになる。すなわち、図示の少なく
とも1.55μmの広い波長領域で、中心波長1,54
μmの波長帯域にのみ鋭い半値幅0.0002μmの透
過率ピークを有する。透過率のピーク以外では透過率は
低く、透過波長帯域を外れると透過率はほぼ零である。
にDBR2で選択的に反射された光なので、合成透過率
は第4図(C)のようになる。すなわち、図示の少なく
とも1.55μmの広い波長領域で、中心波長1,54
μmの波長帯域にのみ鋭い半値幅0.0002μmの透
過率ピークを有する。透過率のピーク以外では透過率は
低く、透過波長帯域を外れると透過率はほぼ零である。
中心波長から大きく離れた波長領域でも合成透過率はほ
とんど零に抑えられている。
とんど零に抑えられている。
第3図(B)、(C)を参照すると、D BR,2、λ
/4シフ)〜型回折格子3の部分はpinタイオド構造
となっている。これらのタイオードに電極39.4]、
、43を介してバイアス電圧を印加すると導波層31の
屈折率か変化して中心波長が変化する。
/4シフ)〜型回折格子3の部分はpinタイオド構造
となっている。これらのタイオードに電極39.4]、
、43を介してバイアス電圧を印加すると導波層31の
屈折率か変化して中心波長が変化する。
逆バイアスを印加すると、電気光学効果およびフランツ
・ゲルデイツシュ効果によって屈折率が変化する。
・ゲルデイツシュ効果によって屈折率が変化する。
より大きく屈折率を変えるには順バイアスを印加する。
ダイオードに順方向電流か流れて、導波層31にキャリ
アか注入され、グラスマ効果によって屈折率が低下する
。
アか注入され、グラスマ効果によって屈折率が低下する
。
このようにして、両ダイオードに制御したバイアスを印
加することにより同調受光が可能となる。
加することにより同調受光が可能となる。
もちろん、同調機能を必要としない時は、電極39.4
1.43は必要ないので省略でき、p型、】 4 n型の導電性付与も省略することかてきる。
1.43は必要ないので省略でき、p型、】 4 n型の導電性付与も省略することかてきる。
なお、λ/4シフト型回折格子3の出力側に、さらにデ
ィテクタ等を集積化してもよいことは自明であろう。
ィテクタ等を集積化してもよいことは自明であろう。
以上、実施例に沿って説明したが、これらは同等制限的
なものではなく、種々の変更、組合わせ等を行うことが
できることも自明てあろう。
なものではなく、種々の変更、組合わせ等を行うことが
できることも自明てあろう。
[発明の効果コ
以上説明したように、本発明によれは、広い波長帯域の
入射光に対しても狭い選択波長帯域幅を有する半導体光
学装置が得られる。
入射光に対しても狭い選択波長帯域幅を有する半導体光
学装置が得られる。
また、DBR3λ/4シフ1〜型回折格子に適当なバイ
アスを印加することにより、波長可変の波長選択を行う
ことができる。
アスを印加することにより、波長可変の波長選択を行う
ことができる。
くかを示す図、
第2図(A )、(B)、(C)は従来技術のλ/4シ
フl−型回折格子を説明する図で、(A>か構成と特性
を示す図、(B)か狭波長帯域の入射光に対する応答を
示す図、(C)が広波長帯域の入射光に対する応答を示
す図、 第3図(A)、(B)、(C)は本発明の実施例を示し
、(A)が平面図、(B)が縦断面図、(C)が横断面
図、 第4図(A)、(B)、(C)は第3図(A)、(B)
、(C)に示す構成の1例のスペクトル特性を示し、(
A)かDBRの反射特性のグラフ、(B)がλ/4シフ
1〜型回折格子の透過特性のグラフ、(C)か合成フィ
ルタ特性のグラフである。
フl−型回折格子を説明する図で、(A>か構成と特性
を示す図、(B)か狭波長帯域の入射光に対する応答を
示す図、(C)が広波長帯域の入射光に対する応答を示
す図、 第3図(A)、(B)、(C)は本発明の実施例を示し
、(A)が平面図、(B)が縦断面図、(C)が横断面
図、 第4図(A)、(B)、(C)は第3図(A)、(B)
、(C)に示す構成の1例のスペクトル特性を示し、(
A)かDBRの反射特性のグラフ、(B)がλ/4シフ
1〜型回折格子の透過特性のグラフ、(C)か合成フィ
ルタ特性のグラフである。
第1図(A)〜(E)は本発明の原理説明図てあり、(
A>は構成と特性とを示す図、(B)〜(E)は入射光
のスペクトルか如何に変化してい入射光 回折格子(D B ’R) λ/4シフ1へ型回折格子 波長選択された光 5、7 15、17、 3 つ、 41 導波路 チップ 9導波路 y字形分岐 基板(n型) 導波層 上側クラッド層(p型) コンタクト層 埋込層 n側電極 n側電極 (A、 )平面図 (B)縦断面図 (C)横断面図 本発明の実施例 第3図 波長(μm) (A)DBHの反射特性 1.53 1.54 1.55 波長(μTrL) (B) 気シフト型101析格rの透過特性 スベク(・ル特性 第4図 特 許 庁 長 官 殿 1、事件の表示 2、発明の名称 昭和63年特許願第309061号 半導体光学装置 3、補正をする者 事件との関係 郵便番号 住 所 (522)名 称 4、代理人郵便番号
A>は構成と特性とを示す図、(B)〜(E)は入射光
のスペクトルか如何に変化してい入射光 回折格子(D B ’R) λ/4シフ1へ型回折格子 波長選択された光 5、7 15、17、 3 つ、 41 導波路 チップ 9導波路 y字形分岐 基板(n型) 導波層 上側クラッド層(p型) コンタクト層 埋込層 n側電極 n側電極 (A、 )平面図 (B)縦断面図 (C)横断面図 本発明の実施例 第3図 波長(μm) (A)DBHの反射特性 1.53 1.54 1.55 波長(μTrL) (B) 気シフト型101析格rの透過特性 スベク(・ル特性 第4図 特 許 庁 長 官 殿 1、事件の表示 2、発明の名称 昭和63年特許願第309061号 半導体光学装置 3、補正をする者 事件との関係 郵便番号 住 所 (522)名 称 4、代理人郵便番号
Claims (2)
- (1)、半導体基板上に第1の回折格子(2)とλ/4
シフトを有する第2の回折格子(3)と、第1の回折格
子へ光を入射する入射導波路(5)と、第1の回折格子
からの反射光を第2の回折格子へ入射する伝達導波路(
7)とを有し、第2の回折格子(3)から波長選択した
光を取出すことを特徴とする半導体光学装置。 - (2)、請求項1記載の半導体光学装置であつて、第1
の回折格子(2)と第2の回折格子(3)とがそれぞれ
導波路の近傍内にpn接合を有し、これらpn接合にバ
イアスを印加するための電極を備えていることを特徴と
する半導体光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63309061A JPH02154476A (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 半導体光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63309061A JPH02154476A (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 半導体光学装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02154476A true JPH02154476A (ja) | 1990-06-13 |
Family
ID=17988408
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63309061A Pending JPH02154476A (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 半導体光学装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02154476A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015079974A1 (ja) * | 2013-11-27 | 2015-06-04 | 日本碍子株式会社 | グレーティング素子および外部共振器型発光装置 |
JP2015115457A (ja) * | 2013-12-11 | 2015-06-22 | 日本碍子株式会社 | 外部共振器型発光装置 |
WO2015107960A1 (ja) * | 2014-01-14 | 2015-07-23 | 日本碍子株式会社 | 外部共振器型発光装置 |
WO2015190385A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 日本碍子株式会社 | 外部共振器型発光装置 |
-
1988
- 1988-12-06 JP JP63309061A patent/JPH02154476A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015079974A1 (ja) * | 2013-11-27 | 2015-06-04 | 日本碍子株式会社 | グレーティング素子および外部共振器型発光装置 |
JP5936777B2 (ja) * | 2013-11-27 | 2016-06-22 | 日本碍子株式会社 | グレーティング素子および外部共振器型発光装置 |
US9859684B2 (en) | 2013-11-27 | 2018-01-02 | Ngk Insulators, Ltd. | Grating element and external-resonator-type light emitting device |
JP2015115457A (ja) * | 2013-12-11 | 2015-06-22 | 日本碍子株式会社 | 外部共振器型発光装置 |
WO2015107960A1 (ja) * | 2014-01-14 | 2015-07-23 | 日本碍子株式会社 | 外部共振器型発光装置 |
CN105900298A (zh) * | 2014-01-14 | 2016-08-24 | 日本碍子株式会社 | 外部谐振器型发光装置 |
WO2015190385A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 日本碍子株式会社 | 外部共振器型発光装置 |
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