JPH02152251A - Manufacturing system of vertical-type semiconductor - Google Patents
Manufacturing system of vertical-type semiconductorInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体装置の製造に関し、特に、半導体装置
の製造等における種々の皮膜形成、エツチング処理を同
時に行うことのできる継型半導体製造システムに関する
ものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to the manufacturing of semiconductor devices, and in particular to a joint semiconductor manufacturing system that can simultaneously perform various film formation and etching processes in the manufacturing of semiconductor devices, etc. It is related to.
半導体装置の製造においては、種々の皮膜を形成する必
要があり、例えば、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、
ポリシリコンなどを気相成長させる。成長温度の低温化
のため、プラズマを利用するこきもある。いずれの場合
も、成長温度は異なり、用いるガスの種類も異なってい
る。従って、専用の反応装置が必要であり、処理すべき
ウェハーは、カセットに収容した状態で各専用の反応装
置まで運搬する必要があり、この間のウェハー保管には
汚染防止の手段をとらなければならない。In the manufacture of semiconductor devices, it is necessary to form various films, such as silicon oxide films, silicon nitride films,
Polysilicon, etc., is grown in a vapor phase. Some researchers use plasma to lower the growth temperature. In either case, the growth temperature is different and the type of gas used is also different. Therefore, dedicated reaction equipment is required, and wafers to be processed must be transported to each dedicated reactor in cassettes, and measures must be taken to prevent contamination during wafer storage during this time. .
気相成長の一例として、古典的なエピタキシャル成長に
は、縦型反応管中にカーボンサセプターを配置し、塩化
シリコンガスを上方から供給するものであった。この装
置は、枚葉式であり、処理枚数の改善のため、ウェハー
を周囲に多数枚セットできるサセプタを備えた装置が開
発されてきたシリコン酸化膜を始めとする上記の各種の
皮膜の気相成長にあたっては、現状では、ホット・つ〔
従来の技術〕
オール型のCVD装置が主流であり、横型の反応管の中
に、ウェハーは立てて配置して、−度に処理できる枚数
の改善が図られている。As an example of vapor phase growth, classical epitaxial growth involves placing a carbon susceptor in a vertical reaction tube and supplying silicon chloride gas from above. This device is a single-wafer type, and in order to improve the number of wafers processed, devices equipped with a susceptor that can set a large number of wafers around it have been developed. In terms of growth, we are currently focusing on hot
BACKGROUND ART [0003] All-type CVD apparatuses are mainstream, and wafers are arranged vertically in a horizontal reaction tube to improve the number of wafers that can be processed at one time.
と述した縦型炉および横型炉において、さらに処理枚数
の改善を図るとすると、装置自体を複数配置する以外に
方策がなく、縦型炉にあっては、複数の炉を縦に配置し
、ウェハーカセットを供給するシステムが提案されてい
る。In order to further improve the number of sheets processed in the vertical and horizontal furnaces mentioned above, the only solution is to arrange multiple devices themselves. Systems for feeding wafer cassettes have been proposed.
また、横型炉では、拡散炉としては、古くから、炉芯管
を横に複数配置して、おのおのにウェハーカセットを供
給する2i置を備えて、処理枚数の改善を図っている。Further, in a horizontal furnace, a diffusion furnace has long been equipped with a plurality of furnace core tubes arranged horizontally and a 2i arrangement for supplying each wafer cassette to improve the number of wafers processed.
所で、半導体デバイスは益々小型化すると共に複雑な構
造をとるようになってきており、反応ガスの流れや温度
分布などの微妙な違いにより、ウェハー間分布、ウェハ
ー内分布の均一性が保てない場合が発生してきた。即ち
、上記のホット・ウオール型のCVD装置において、反
応ガスの人口側と出口側とでは、供給する反応ガス(2
種以−ヒの組み合わせ)の分圧変動が生じる。従って、
バンチ内で均一に調整することが難しい、特に、シリコ
ンオキシナイトライド形成時に、反応ガスはモノシラン
5アンモニア、−酸化窒素の3成分となり、ますますそ
の調整が難しくなる。By the way, semiconductor devices are becoming smaller and more complex, and due to subtle differences in the flow and temperature distribution of reactant gases, it is becoming difficult to maintain the uniformity of the distribution between wafers and within the wafer. There have been cases where this is not the case. That is, in the above-mentioned hot wall type CVD apparatus, the supplied reactant gas (2
partial pressure fluctuations occur. Therefore,
It is difficult to uniformly control the reaction gas within the bunch, especially when silicon oxynitride is formed, the reaction gas consists of three components: monosilane, 5 ammonia, and nitrogen oxide, making the control even more difficult.
そこで、各ウェハーは、それぞれ#R密に制御された雰
囲気の中に置き、再現性良く加工する枚葉式装置の必要
が出てきた0枚葉式装置では、ウェハーの大口径化にも
対応し易く、また、−台の装置で各種製造プロセスに柔
軟に対応できる利点があるが、−時に処理できる枚数が
限られている。Therefore, each wafer is placed in a closely controlled atmosphere and a single-wafer system is needed to process the wafers with good reproducibility.The zero-single-wafer system is compatible with larger diameter wafers. Although it has the advantage of being easy to process and being able to flexibly respond to various manufacturing processes with just one device, the number of sheets that can be processed at a time is limited.
これを改善するために、−台の’AWに複数のチャンバ
ーを設けて同時に同じ処理を行うマルチチャンバ一方式
が提案され、スパッタ装置、プラズマCVD装置にて採
用され始めている。In order to improve this, a multi-chamber system has been proposed in which a plurality of chambers are provided in the 'AW' and the same processing is performed simultaneously, and this system is beginning to be adopted in sputtering equipment and plasma CVD equipment.
更に、最近の報告では、複数のチャンバーにて同しプロ
セスではなく、各チャンバー毎に異なる種類のプロセス
を実行できるa能を持たせたマルチプロセス装置が登場
してきている0例えば、第3図に示す様に、4つのプロ
セスチャンバーを用意し、プラズマCVD、減圧CVD
、プラズマエッチ、スパッタエッチを行うことで、多層
配線の眉間!?!縁膜形成プロセスが一台の装置で均−
且つ平坦に自動形成できるとされている。Furthermore, recent reports indicate that multi-process equipment has appeared that has the ability to perform different types of processes in each chamber rather than the same process in multiple chambers.For example, as shown in Figure 3, As shown, four process chambers are prepared, plasma CVD, low pressure CVD
By performing , plasma etching, and sputter etching, the eyebrows of multilayer wiring can be improved! ? ! The membrane formation process is uniform with one device.
It is said that it can be automatically formed flat.
上記のマルチプロセス装置では、中央に多角形乃至円形
の真空室を設け、その周囲に独立した排気系の複数のプ
ロセスチャンバーを配した構造であり、設置できるチャ
ンバーの数に制限があり、規定以上の増設が不可能であ
る。更にチャンバーを増設しようとすると、同じ装置系
を併置する必要がある。装置全体は全て平面的な配置と
なるため、床面積が多くなる欠点がある。The above multi-process equipment has a structure in which a polygonal or circular vacuum chamber is installed in the center, and multiple process chambers with independent exhaust systems are arranged around it, and the number of chambers that can be installed is limited. expansion is not possible. If you want to add more chambers, you will need to install the same equipment system in parallel. Since the entire device has a flat arrangement, it has the disadvantage of requiring a large amount of floor space.
又、多数のチャンバーに対して、ウェハーのチャンバー
への出し入れのロボットが一台のため、同時にウェハー
をセットしたり、取り出したりすることはできない。Further, since there is only one robot for taking wafers into and out of the chambers for a large number of chambers, it is not possible to set and take out wafers at the same time.
上記の問題点を解決するため、本発明では、上下方向に
、仕切られた空間の各段位置にプロセスチャンバー(2
)を設置し、当該複数の縦型配置されたプロセスチャン
バー(2)の前面側にはウェハーのロード・アンロード
機構を設けたことを特徴とする縦型半導体製造システム
としている。In order to solve the above problems, in the present invention, a process chamber (two
), and a wafer loading/unloading mechanism is provided on the front side of the plurality of vertically arranged process chambers (2).
本発明では、従来のマルチプロセス装置が平面的な配置
構成を有し、チャンバーの増設が規定以上は不可能であ
り、また、各チャンバーに対するウェハーのロード・ア
ンロードを並列に行えない問題点を有していることに鑑
みて、床面積が少なくても枚様式のスループットを改善
でき、しかもチャンバーの増設が極めて簡単な装置とす
べく検討を重ねた結果、高価なりリーンルームを有効活
用するべく、各プロセスチャンバーを上下方向に積み重
ねていく縦型システムの概念に至った。即ち、本発明の
好適な実施例では、上下方向に、プロセスチャンバーと
排気ポンプとの対を積み重ねて固定させる。こうして、
チャンバーの増設を容易としている。各チャンバーは、
プラズマCVD、スパッタリング、プラズマセルフクリ
ーニング付き熱CVD、ドライエツチングに適した内部
構造、例えば、平行平板型の電極(ガス供給)構造を持
ち、各々の処理に適した内部圧力とするために、この排
気ポンプを動作させる。プロセスチャンバーの排気ポン
プ側とは反対の前面側においては、ウェハーカセットの
人出を行うロード・アンロード機構を設けるが、この機
構としては、まず、プロセスチャンバーの前面側には各
チャンバーにまたがって共通するカセットエレベータを
設置する。また、前記各段のプロセスチャンバーの前面
側の他の位置にカセット収納室を設ける。The present invention solves the problem that conventional multi-process equipment has a planar arrangement, making it impossible to add more chambers than specified, and also making it impossible to load and unload wafers to and from each chamber in parallel. As a result of repeated studies to create a device that can improve the throughput of sheet format even if the floor space is small, and which makes it extremely easy to add more chambers, we decided to create a device that would make efficient use of the lean room, even though it is expensive. , they came up with the concept of a vertical system in which each process chamber is stacked vertically. That is, in a preferred embodiment of the present invention, pairs of process chambers and exhaust pumps are stacked and fixed in the vertical direction. thus,
This makes it easy to add more chambers. Each chamber is
It has an internal structure suitable for plasma CVD, sputtering, thermal CVD with plasma self-cleaning, and dry etching, such as a parallel plate electrode (gas supply) structure. Operate the pump. On the front side of the process chamber opposite to the exhaust pump side, there is a loading/unloading mechanism for loading and unloading wafer cassettes. Install a common cassette elevator. Further, a cassette storage chamber is provided at another position on the front side of the process chamber of each stage.
カセットエレベータは、各プロセスチャンバーに連接し
て、上下方向にエレベータ動作を行い、カセットを任意
の位置段に運ぶ。The cassette elevator is connected to each process chamber, performs elevator operation in the vertical direction, and transports the cassette to a desired position.
各プロセスチャンバーの前面位置には、各チャンバーに
ウェハーを出し入れするウェハーロード・アンロード機
構を設ける。即ち、運ばれたウェハーカセットから、−
枚づづウェハーを抜き取ってプロセスチャンバーに送り
、所定のプロセスが終了したら、カセット収納室にある
カセットに処理済ウェハーを移し返すウェハー移送機構
(ロボット)が配置されている。この移送機構は、ウェ
ハーを平板棒の先端に乗せて水平方向に移動する形式の
ものであってもよいし、伸縮自在のロボットでもよい、
より好ましくは、チャンバーでの加熱時間を短縮するた
め、各プロセスチャンバーの前面位置には、ウヱハーi
ff台を設けておき、この台にヒーターを内蔵させ、プ
リヒートをさせ、その後、上記のロード・アンロード機
構により、ウェハーをチャンバーに移すのがよい。A wafer load/unload mechanism for loading and unloading wafers into and out of each chamber is provided at the front of each process chamber. That is, from the transported wafer cassette, −
A wafer transfer mechanism (robot) is installed that extracts wafers one by one and sends them to the process chamber, and when a predetermined process is completed, transfers the processed wafers back to the cassette in the cassette storage chamber. This transfer mechanism may be of a type in which the wafer is placed on the tip of a flat rod and moved in the horizontal direction, or may be a telescopic robot.
More preferably, a wafer i is installed at the front of each process chamber to shorten the heating time in the chamber.
It is preferable to provide a ff stand, have a built-in heater in this stand, perform preheating, and then transfer the wafer to the chamber using the load/unload mechanism described above.
カセット収納室は、プロセスチャンバーの前面側の他の
位置に設けられていて、処理済みウェハーを収納し、こ
の位置からカセット毎取り出す。A cassette storage chamber is provided at another position on the front side of the process chamber, stores processed wafers, and takes out each cassette from this position.
カセット収納室は、各段にて独立にしてもよいが、最上
段または最下段に集積できる機構とするのがよい。Although the cassette storage chambers may be made independent in each stage, it is preferable to have a mechanism in which the cassette storage chambers can be integrated at the top or bottom stage.
カセットエレベータとウェハー移送機構(ロボット)な
らびにカセット収納室は前方外壁面が共遡の面となる様
にすることができ、作業者はこの壁に向かってカセット
の出し入れを行う様にするのがよい、この様な方式は、
所謂スルーザラオール方式と称されている。The cassette elevator, wafer transfer mechanism (robot), and cassette storage chamber can be configured so that the front outer wall surfaces are the same facing surfaces, and workers should face this wall to put in and take out cassettes. , such a method is
This is called the so-called through-the-raor method.
プラズマ処理に対して高周波の発振電源が必要であり、
また、処理のための反応ガス系も必要であり、これらは
、前述の支柱を中心として対向配置し、バランスをとっ
て支柱にとりつけるのがよい、前述のチャンバー、排気
ポンプ、発振電源。A high frequency oscillation power source is required for plasma processing,
In addition, a reaction gas system for processing is also required, and these should be arranged facing each other around the above-mentioned pillar, and attached to the pillar in a balanced manner.
ガス系は全て先の壁の一方にあり、補修作業2増設作業
を容易ならしめている。ある場合には、機械設備の集積
化のため、チャンバーの側壁に配管を設けて、いわゆる
配管IC化を達することもできる。同様に、発振電源も
小さくしてマツチングボックスと一体化して、プロセス
チャンバーの上部空間に設置することもできる。更に、
支柱の内部も中空として各位置での排気管に接続し、パ
ラレル排気の際に、支柱自体を排気管として、排気効率
の改善に寄与させることもできる。All gas systems are located on one side of the front wall, making repair work and expansion work easier. In some cases, in order to integrate mechanical equipment, piping may be provided on the side wall of the chamber to achieve so-called piping IC. Similarly, the oscillation power source can also be made smaller, integrated with the matching box, and installed in the upper space of the process chamber. Furthermore,
The inside of the strut can also be made hollow and connected to an exhaust pipe at each position, so that the strut itself can be used as an exhaust pipe during parallel exhaust to contribute to improving exhaust efficiency.
実用的には、クリーンルームは3〜3.5m(7)iさ
があるので、旨く設計すれば6〜7チヤンバーを連ねる
ことも可能である。Practically speaking, a clean room has a length of 3 to 3.5 m (7) i, so if well designed, it is possible to connect 6 to 7 chambers.
第1図および第2図を参照して、本発明の実施例になる
縦型半導体製造システムを説明する。A vertical semiconductor manufacturing system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2.
第1図は、本発明実施例の縦型システムの構成を示す断
面図であり、1は装置全体の支柱となるポールであり、
このポールには、各プロセスチャンバー2とポンプ3と
がバランスをとって機械的に固定されている。ポンプ3
は通常の形式のポンプでよく、その排気側はダクト4(
第2図)を介して外気に導かれる。FIG. 1 is a sectional view showing the configuration of a vertical system according to an embodiment of the present invention, and 1 is a pole that serves as a support for the entire device;
Each process chamber 2 and pump 3 are mechanically fixed to this pole in a balanced manner. pump 3
may be a normal type pump, and its exhaust side is connected to duct 4 (
(Fig. 2) to the outside air.
このプロセスチャンバー2とポンプ3との対は、第1図
の例では3組として例示されているが、これは所定のプ
ロセス数に応じて選択できる。また、プロセスチャンバ
ー2は、スパッタリング、プラズマCVD、熱CVD、
ドライエツチングのいずれかの専用チャンバーとし
て備えつけることができるが、マルチプロセスの観点か
ら、異なるプロセスの連続処理(例えば、平坦化プロセ
スでの各!IIcVDとエッチバックプロセス)を実行
できる様な内部構造を持つようにしておくができ、図の
例では、反応ガスをシャワー状に噴射できる上部電極5
と、ウェハーを所定の温度に加熱できるヒーターを内蔵
した下部電極6を備えたチャンバーが各々のプロセスチ
ャンバー内に設置されている。Although three pairs of process chambers 2 and pumps 3 are illustrated in the example of FIG. 1, these can be selected depending on the predetermined number of processes. In addition, the process chamber 2 can perform sputtering, plasma CVD, thermal CVD,
It can be equipped as a dedicated chamber for either dry etching, but from a multi-processing point of view, the internal structure is such that it is possible to carry out consecutive processing of different processes (for example, each !IIcVD in the planarization process and the etchback process). In the example shown in the figure, there is an upper electrode 5 that can inject the reaction gas in the form of a shower.
A chamber equipped with a lower electrode 6 containing a built-in heater capable of heating the wafer to a predetermined temperature is installed in each process chamber.
プロセスチャンバー2の上部には、マツチングボックス
7が配置されており、このマツチングボックス7は、発
振電源8から発生された高周波(−aには13.75
MHz)を上部電極5に印加する際のインピーダンスマ
ツチングの機能を果たす。A matching box 7 is arranged in the upper part of the process chamber 2, and this matching box 7 receives a high frequency signal (13.75 for -a) generated from an oscillation power source 8.
MHz) is applied to the upper electrode 5.
プロセスチャンバーに対する反応ガスの供給は、前述の
通り、上部電極5の内部を通してチャンバー内に導入さ
れるが、ガスの供給はこれに限定されるものではなく、
マツチングボックス7の左端側から導入することもでき
る。As described above, the reaction gas is supplied to the process chamber through the inside of the upper electrode 5, but the gas supply is not limited to this.
It can also be introduced from the left end side of the matching box 7.
いずれにしても、反応ガスの供給にあたっては、そのた
めの配管が必要であり、その配管類9は一括して支柱に
取りつけるが、第2図に示した通り発振電源8の反対側
にバランスを取って機械的に固定する。第1因において
は、簡単のため、発振電源Bとガス系9の対は図示を省
略しである。In any case, piping is required for supplying the reaction gas, and the piping 9 is attached to the support all at once, but as shown in Figure 2, the piping is installed on the opposite side of the oscillation power source 8. and mechanically fix it. Regarding the first factor, for the sake of simplicity, the pair of oscillation power source B and gas system 9 is not shown.
次に、処理すべき半導体ウェハー10の搬送機構11に
ついて説明する。この実施例では、第2図のト面図を参
照して明らかな通り、プロセスチャンバー2の前面側に
は、カセットエレベータ機構があり、これは上下方向に
延びていて、各チャンバー位置までウェハーカセットを
搬送する。Next, the transport mechanism 11 for the semiconductor wafer 10 to be processed will be explained. In this embodiment, as is clear with reference to the top view of FIG. 2, there is a cassette elevator mechanism on the front side of the process chamber 2, which extends vertically and lifts the wafer cassettes to each chamber position. transport.
同しく前面側で、各プロセスチャンバー2の前面には、
搬送されてきたカセットからウェハーを一枚づつ抜き取
り、ゲート12を通ってプロセスチャンバー内にウェハ
ー10をセントし、処理が終了したらプロセスチャンバ
ーからウェハーを取り出して、各段位置に備えられたカ
セット収納室13ヘウエハーを収納する動作を行うウェ
ハー移送機構(ロボット)14が設けられている。Similarly, on the front side of each process chamber 2,
The wafers are taken out one by one from the transported cassette, and the wafers 10 are placed into the process chamber through the gate 12. When the processing is completed, the wafers are taken out from the process chamber and stored in the cassette storage chamber provided at each stage. A wafer transfer mechanism (robot) 14 is provided for storing wafers in the wafer 13.
ゲート12は言うまでもなく搬送機構側とプロセスチャ
ンバー2の間にあって、両者を気密に分離することがで
き、また、ウェハーの導入・導出時にはゲートが開いて
、ウェハーの通過を可能とする。Needless to say, the gate 12 is located between the transfer mechanism side and the process chamber 2, and can airtightly separate the two, and when a wafer is introduced or taken out, the gate opens to allow the wafer to pass through.
従って、第1図及び第2図の例では、カセットエレベー
タ機構11が上下のプロセスチャンバーにまたがって垂
直の柱状となっており、各プロセスチャンバー位置にて
水平方向にウェハー移送機構(ロボット)とカセット収
納室を囲む仕切りがなされており、必要な空間を最少と
しており、排気に要する時間の節約を図っている。Therefore, in the examples shown in FIGS. 1 and 2, the cassette elevator mechanism 11 is in the form of a vertical column spanning the upper and lower process chambers, and the wafer transfer mechanism (robot) and cassette are connected horizontally at each process chamber position. A partition surrounds the storage room, minimizing the amount of space required and saving time for exhaust.
なお、図示していないが、カセットエレベータ11の最
下段にカセットのロードロック機構が備えられており、
このロードロック機構を用いてカセットを複数入れ、処
理済カセットは各カセット収納室から取り出す。Although not shown, a cassette load lock mechanism is provided at the lowest stage of the cassette elevator 11.
A plurality of cassettes are loaded using this load lock mechanism, and processed cassettes are taken out from each cassette storage chamber.
次に、本実施例装置の使用方法について説明する。Next, how to use the device of this embodiment will be explained.
カセットエレベータ11の最下段にあるロードロツタ機
構付きカセット収納室に複数のカセットを設置し、第1
図の最下段にて排気と記した箇所よりカセットa送機構
部の排気を行う。各プロセスチャンバーは、各々のポン
プ3にてtめ所定圧力まで排気しておく、カセット搬送
機構部での排気が完了したら、カセット収納ボックスか
らカセットを一つ取り出し、カセットエレベータ機構1
1によって、例えば最上段の位置まで搬送し、その位;
ηにロックしておく0次いで、搬送機構を最下段まで下
降させ、カセット収納ボックスから次のカセットを取り
出し、搬送機構にて、中間段位置まで搬送し、その位置
にてロックしておく。更に、搬送機構を最下段まで下降
させ、カセット収納ボックスから次のカセットを取り出
し、搬送機構にて、プロセスチャンバーの最下段位置ま
で搬送し、その位置にてロックしておく。A plurality of cassettes are installed in the cassette storage room with a load rotor mechanism at the bottom of the cassette elevator 11, and the first
The cassette a feeding mechanism section is evacuated from the location marked as exhaust at the bottom of the figure. Each process chamber is evacuated to a predetermined pressure by each pump 3. When the cassette transport mechanism section has completed exhaustion, one cassette is taken out from the cassette storage box, and the cassette elevator mechanism 1
1, for example, to the top position;
Lock it at η0 Next, lower the transport mechanism to the lowest stage, take out the next cassette from the cassette storage box, transport it to the intermediate stage position by the transport mechanism, and lock it at that position. Furthermore, the transport mechanism is lowered to the lowest stage, the next cassette is taken out from the cassette storage box, the transport mechanism transports it to the lowest position of the process chamber, and it is locked at that position.
各段位置のウェハー移送ロボット14は、当該位置にロ
ックしておかれたカセットからウェハーを一枚づつ取り
出し、前述の手順にて、プロセスチャンバー内の下部電
極6のヒにウェハーlOをセットし、所定のプロセスが
完了したら、そのウェハーを取り出してカセット収納室
13に収納する。The wafer transfer robot 14 at each stage position takes out the wafers one by one from the cassette locked at that position, sets the wafer lO on the lower electrode 6 in the process chamber in accordance with the above-mentioned procedure, and When the predetermined process is completed, the wafer is taken out and stored in the cassette storage chamber 13.
この操作をウェハーの数だけ繰り返して各、プロセスチ
ャンバーでの処理を完了する。This operation is repeated for the number of wafers to complete the processing in each process chamber.
上記の実施例においては、各カセットのウエノ1−に対
して、同一または異なるプロセスを実行するものであっ
たが、異なるプロセスを1頌次実行できる様にカセット
エレベータを駆使することができる。In the above embodiment, the same or different processes are executed on each cassette, but a cassette elevator can be used to perform different processes at once.
なお、上記の実施例では、ポールを設けて各チャンバー
を固定した構造としたが、棚を上下方向に設けておき、
この各欄の中にチャンバー他を設置していくことも可能
である。また、各チャンバーは異なる処理ができる様に
独立排気としているが、全てのチャンバーにて同一条件
での処理を行う場合には、ポンプは一台でよい。In addition, in the above embodiment, each chamber was fixed by providing a pole, but by providing shelves in the vertical direction,
It is also possible to install chambers and the like in each column. Furthermore, each chamber is independently evacuated so that different treatments can be performed, but if all chambers are to be treated under the same conditions, only one pump is required.
以上の通り、本発明では、マルチプロセスチャンバーを
縦積みとしてシステムを構成したので、床面積の縮小化
が実現できる。また、ポールまたは棚に対してプロセス
チャンバーを取りつけていく縦型のシステムであるので
、増設が容易であり、また、いずれかのチャンバーの補
修をしている間も他のチャンバーにてプロセスを実行で
きるし、装置全体の補修も簡便となし得る利点がある。As described above, in the present invention, the system is constructed by stacking multi-process chambers vertically, so that the floor space can be reduced. In addition, since it is a vertical system in which process chambers are attached to poles or shelves, expansion is easy, and while one chamber is being repaired, processes can be performed in other chambers. This has the advantage that the entire device can be easily repaired.
勿論、カセットを搬送機構内部で移送している限りは、
ウェハー上への塵埃の付着はない。所謂、スルーザラオ
ールの方式であれば、カセット収納室13からカセット
を取り出し、再度カセット収納ボックスにセットとして
、次のプロセスを実行する場合では、塵埃の付着は左程
問題にはならない。Of course, as long as the cassette is being transported inside the transport mechanism,
No dust adheres to the wafer. In the so-called through-the-rall system, dust adhesion is not as much of a problem when the cassette is taken out from the cassette storage chamber 13 and set in the cassette storage box again to execute the next process.
第1図は本発明の本実施例になる縦型システムの構成を
示す断面図であり、第2図は、第1図のシステムの上面
図、第3図は従来提案されているマルチプロセスシステ
ムの上面図である。
図中、lは装置全体の支柱となるポール、2はプロセス
チャンバー2.3はポンプ3.5は上部電極、6は下部
電極6.7はマツチングボックス、8は発振電源、9は
ガス系、10は半導体ウェハ、11はカセットエレベー
タ、12はゲート、13番よりセット収納室、14はウ
エノ1−移送ロボットである。
木茫男す3ヒ鐸11のt毛x5又テム。断血図子1 図
オqを唱失n4列システムー1命ロ
従来ン入テムのと面図
午3 ZFIG. 1 is a sectional view showing the configuration of a vertical system according to this embodiment of the present invention, FIG. 2 is a top view of the system shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a conventionally proposed multi-process system. FIG. In the figure, l is the pole that supports the entire device, 2 is the process chamber 2.3 is the pump 3.5 is the upper electrode, 6 is the lower electrode 6.7 is the matching box, 8 is the oscillation power supply, and 9 is the gas system. , 10 is a semiconductor wafer, 11 is a cassette elevator, 12 is a gate, 13 is a set storage room, and 14 is a wafer 1-transfer robot. Kisame man 3 Hitaku 11 T hair x 5 Matatam. Blood Cut Diagram 1 Diagram Oq Lost n 4 Row System - 1 Life Loon Conventional Entem's and Face Diagram 3 Z
Claims (1)
ンバー(2)を設置し、当該複数の縦型配置されたプロ
セスチャンバー(2)の前面側にウェハーのロード・ア
ンロード機構を設けたことを特徴とする縦型半導体製造
システム。Process chambers (2) are installed at each level of the partitioned space in the vertical direction, and a wafer loading/unloading mechanism is provided on the front side of the plurality of vertically arranged process chambers (2). A vertical semiconductor manufacturing system featuring:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30516288A JP2592511B2 (en) | 1988-12-03 | 1988-12-03 | Vertical semiconductor manufacturing system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP30516288A JP2592511B2 (en) | 1988-12-03 | 1988-12-03 | Vertical semiconductor manufacturing system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH02152251A true JPH02152251A (en) | 1990-06-12 |
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Family
ID=17941812
Family Applications (1)
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Country | Link |
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