JP2592511B2 - Vertical semiconductor manufacturing system - Google Patents

Vertical semiconductor manufacturing system

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JP2592511B2
JP2592511B2 JP30516288A JP30516288A JP2592511B2 JP 2592511 B2 JP2592511 B2 JP 2592511B2 JP 30516288 A JP30516288 A JP 30516288A JP 30516288 A JP30516288 A JP 30516288A JP 2592511 B2 JP2592511 B2 JP 2592511B2
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process chamber
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幹夫 高木
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の製造に関し、特に、半導体装
置の製造等における種々の皮膜形成,エッチング処理を
同時に行うことのできる縦型半導体製造システムに関す
るものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of semiconductor devices, and more particularly to a vertical semiconductor manufacturing system capable of simultaneously performing various film formation and etching processes in the manufacture of semiconductor devices. It is about.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体装置の製造においては、種々の皮膜を形成する
必要があり、例えば、シリコン酸化膜、シリコン窒化
膜、ポリシリコンなどを気相成長させる。成長温度の低
温化のため、プラズマを利用することもある。いずれの
場合も、成長温度は異なり、用いるガスの種類も異なっ
ている。従って、専用の反応装置が必要であり、処理す
べきウェハーは、カセットに収容した状態で各専用の反
応装置まで運搬する必要があり、この間のウェハー保管
には汚染防止の手段をとらなければならない。
In the manufacture of a semiconductor device, it is necessary to form various films, for example, a silicon oxide film, a silicon nitride film, polysilicon and the like are grown by vapor phase. Plasma may be used to lower the growth temperature. In each case, the growth temperature is different and the type of gas used is also different. Therefore, a dedicated reaction apparatus is required, and the wafer to be processed must be transported to each dedicated reaction apparatus in a state of being housed in a cassette, and the storage of the wafer during this time must take measures to prevent contamination. .

気相成長の一例として、古典的なエピタキシャル成長
には、縦型反応管中にカーボンサセプターを配置し、塩
化シリコンガスを上方から供給するものであった。この
装置は、枚葉式であり、処理枚数の改善のため、ウェハ
ーを周囲に多数枚セットできるサセプタを備えた装置が
開発されてきた。
As an example of vapor phase growth, in classical epitaxial growth, a carbon susceptor was placed in a vertical reaction tube, and silicon chloride gas was supplied from above. This apparatus is of a single-wafer type, and in order to improve the number of processed wafers, an apparatus having a susceptor capable of setting a large number of wafers around has been developed.

シリコン酸化膜を始めとする上記の各種の皮膜の気相
成にあたっては、現状では、ホット・ウォール型のCVD
装置が主流であり、横型の反応管の中に、ウェハーを立
てて配置して、一度に処理できる枚数の改善が図られて
いる。
At present, hot-wall type CVD is used for the vapor phase formation of the above-mentioned various films including silicon oxide film.
The apparatus is mainly used, and wafers are arranged upright in a horizontal reaction tube to improve the number of wafers that can be processed at one time.

上述した縦型炉および横型炉において、さらに処理枚
数の改善を図るとすると、装置自体を複数配置する以外
に方策がなく、縦型炉にあっては、複数の炉を縦に配置
し、ウェハーカセットを供給するシステムが提案されて
いる。
In the vertical furnace and the horizontal furnace described above, if it is intended to further improve the number of processed wafers, there is no measure other than arranging a plurality of apparatuses themselves. Systems for supplying cassettes have been proposed.

また、横型炉では、拡散炉としては、古くから、炉芯
管を横に複数配置して、おのおのにウェハーカセットを
供給する装置を備えて、処理枚数の改善を図っている。
Further, in the horizontal furnace, as a diffusion furnace, an apparatus for supplying a wafer cassette to each of a plurality of furnace core tubes arranged side by side for a long time as a diffusion furnace is provided to improve the number of processed wafers.

所で、半導体デバイスを益々小型化すると共に複雑な
構造をとるようになってきており、反応ガスの流れや温
度分布などの微妙な違いにより、ウェハー間分布,ウェ
ハー内分布の均一性が保てない場合が発生してきた。即
ち、上記のホット・ウォール型のCVD装置において、反
応ガスの入口側と出口側とでは、供給する反応ガス(2
種以上の組み合わせ)の分圧変動が生じる。従って、バ
ッチ内で均一に調整することが難しい。特に、シリコン
オキシナイトライド形成時に、反応ガスはモノシラン,
アンモニア,一酸化窒素の3成分となり、ますますその
調整が難しくなる。
At the same time, semiconductor devices are becoming smaller and more complicated in structure. Due to subtle differences in the flow of reactant gas and temperature distribution, uniformity of distribution between wafers and distribution within wafers can be maintained. There have been no cases. That is, in the above hot wall type CVD apparatus, the reactant gas (2
(Combination of two or more kinds). Therefore, it is difficult to adjust uniformly in a batch. In particular, when forming silicon oxynitride, the reaction gas is monosilane,
It becomes three components, ammonia and nitric oxide, and its adjustment becomes more and more difficult.

そこで、各ウェハーは、それぞれ精密に制御された雰
囲気の中に置き、再現性良く加工する枚葉式装置の必要
が出てきた。枚葉式装置では、ウェハーの大口径化にも
対応し易く、また、一台の装置で各種製造プロセスに柔
軟に対応できる利点があるが、一時に処理できる枚数が
限られている。これを改善するために、一台の装置に複
数のチャンバーを設けて同時に同じ処理を行うマルチチ
ャンバー方式が提案され、スパッタ装置,プラズマCVD
装置にて採用され始めている。
Therefore, a need has arisen for a single-wafer apparatus in which each wafer is placed in a precisely controlled atmosphere and processed with good reproducibility. The single-wafer apparatus has an advantage that it can easily cope with an increase in the diameter of a wafer and can flexibly cope with various manufacturing processes with one apparatus, but the number of sheets that can be processed at one time is limited. In order to improve this, a multi-chamber system has been proposed, in which multiple chambers are provided in one apparatus and the same processing is performed simultaneously.
It has begun to be adopted in equipment.

更に、最近の報告では、複数のチャンバーにて同じプ
ロセスではなく、各チャンバー毎に異なる種類のプロセ
スを実行できる機能を持たせたマルチプロセス装置が登
場してきている。例えば、第3図に示す様に、4つのプ
ロセスチャンバーを用意し、プラズマCVD、減圧CVD、プ
ラズマエッチ、スパッタエッチを行うことで、多層配線
の層間絶縁膜形成プロセスが一台の装置で均一且つ平坦
に自動形成できるとされている。
Further, in recent reports, a multi-process apparatus having a function capable of executing a different type of process in each chamber instead of the same process in a plurality of chambers has appeared. For example, as shown in FIG. 3, by preparing four process chambers and performing plasma CVD, reduced pressure CVD, plasma etching, and sputter etching, the interlayer insulating film forming process of the multilayer wiring can be performed uniformly and in one apparatus. It is said that it can be automatically formed flat.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

上記のマルチプロセス装置では、中央に多角形乃至円
形の真空室を設け、その周囲に独立した排気系の複数の
プロセスチャンバーを配した構造であり、設置できるチ
ャンバーの数に制限があり、規定以上の増設が不可能で
ある。更にチャンバーを増設しようとすると、同じ装置
系を併置する必要がある。装置全体は全て平面的な配置
となるため、床面積が多くなる欠点がある。
The above multi-process apparatus has a structure in which a polygonal or circular vacuum chamber is provided at the center, and a plurality of independent exhaust system process chambers are arranged around the vacuum chamber, and the number of chambers that can be installed is limited. It is not possible to add more. In order to further increase the number of chambers, the same system must be installed. Since the entire apparatus is arranged in a plane, there is a disadvantage that the floor area is increased.

又、多数のチャンバーに対して、ウェハーのチャンバ
ーへの出し入れのロボットが一台のため、同時にウェハ
ーをセットしたり、取り出したりすることはできない。
In addition, since there is only one robot for moving wafers into and out of the chambers for a large number of chambers, it is impossible to set or remove wafers at the same time.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記の問題点を解決するため、本発明では、上下方向
に、仕切られた空間の各段位置にプロセスチャンバー
(2)を設置し、当該複数の縦型配置されたプロセスチ
ャンバー(2)の前面側にはウェハーのロード・アンロ
ード機構を設けたことを特徴とする縦型半導体製造シス
テムとしている。
In order to solve the above-mentioned problems, in the present invention, the process chambers (2) are installed in each step position of the partitioned space in the vertical direction, and the front surfaces of the plurality of vertically arranged process chambers (2) are arranged. A vertical semiconductor manufacturing system is characterized in that a wafer load / unload mechanism is provided on the side.

〔作用〕[Action]

本発明では、従来のマルチプロセス装置が平面的な配
置構成を有し、チャンバーの増設が規定以上は不可能で
あり、また、各チャンバーに対するウェハーのロード・
アンロードを並列に行えない問題点を有していることに
鑑みて、床面積が少なくても枚様式のスループットを改
善でき、しかもチャンバーの増設が極めて簡単な装置と
すべく検討を重ねた結果、高価なクリーンルームを有効
活用するべく、各プロセスチャンバーを上下方向に積み
重ねていく縦型システムの概念に至った。即ち、本発明
の好適な実施例では、上下方向に、プロセスチャンバー
と排気ポンプとの対を積み重ねて固定させる。こうし
て、チャンバーの増設を容易としている。各チャンバー
は、プラズマCVD、スパッタリング、プラズマセルフク
リーニング付き熱CVD、ドライエッチングに適した内部
構造、例えば、平行平板型の電極(ガス供給)構造を持
ち、各々の処理に適した内部圧力とするために、この排
気ポンプを動作させる。プロセスチャンバーの排気ポン
プ側とは反対の前面側においては、ウェハーカセットの
入出を行うロード・アンロード機構を設けるが、この機
構としては、まず、プロセスチャンバーの前面側には各
チャンバーにまたがって共通するカセットエレベータを
設置する。また、前記各段のプロセスチャンバーの前面
側の他の位置にカセット収納室を設ける。
According to the present invention, the conventional multi-process apparatus has a planar arrangement configuration, it is impossible to add more chambers than specified, and the loading and loading of wafers into each chamber is not possible.
Considering that there is a problem that unloading cannot be performed in parallel, the results of repeated studies have been made to improve the throughput of a single sheet type even with a small floor area, and to make it extremely simple to add chambers. In order to make effective use of expensive clean rooms, the concept of a vertical system in which each process chamber is vertically stacked has been reached. That is, in a preferred embodiment of the present invention, a pair of a process chamber and an exhaust pump is stacked and fixed vertically. Thus, the expansion of the chamber is facilitated. Each chamber has an internal structure suitable for plasma CVD, sputtering, thermal CVD with plasma self-cleaning, and dry etching, for example, a parallel plate type electrode (gas supply) structure, so that the internal pressure is suitable for each process. Next, the exhaust pump is operated. A load / unload mechanism for loading and unloading wafer cassettes is provided on the front side of the process chamber opposite to the exhaust pump side. A cassette elevator to be installed. Further, a cassette storage chamber is provided at another position on the front side of the process chamber of each stage.

カセットエレベータは、各プロセスチャンバーに連接
して、上下方向にエレベータ動作を行い、カセットを任
意の位置段に運ぶ。
The cassette elevator is connected to each process chamber, performs an elevator operation in a vertical direction, and carries a cassette to an arbitrary position.

各プロセスチャンバーの前面位置には、各チャンバー
にウェハーを出し入れするウェハーロード・アンロード
機構を設ける。即ち、運ばれたウェハーカセットから、
一枚づつウェハーを抜き取ってプロセスチャンバーに送
り、所定のプロセスが終了したら、カセット収納室にあ
るカセットに処理済ウェハーを移し返すウェハー移送機
構(ロボット)が配置されている。この移送機構は、ウ
ェハーを平板棒の先端に乗せて水平方向に移動する形式
のものであってもよいし、伸縮自在のロボットでもよ
い。より好ましくは、チャンバーでの加熱時間を短縮す
るため、各プロセスチャンバーの前面位置には、ウェハ
ー載置台を設けておき、この台にヒーターを内蔵させ、
プリヒートをさせ、その後、上記のロード・アンロード
機構により、ウェハーをチャンバーに移すのがよい。
At the front position of each process chamber, a wafer loading / unloading mechanism for loading / unloading a wafer into / from each chamber is provided. That is, from the transported wafer cassette,
A wafer transfer mechanism (robot) is provided that takes out wafers one by one and sends them to a process chamber, and after a predetermined process is completed, transfers the processed wafers to a cassette in a cassette storage chamber. This transfer mechanism may be of a type in which the wafer is moved in the horizontal direction by placing the wafer on the tip of a flat bar, or may be a telescopic robot. More preferably, in order to reduce the heating time in the chamber, a wafer mounting table is provided at the front position of each process chamber, and a heater is built in this table,
It is preferable to perform preheating, and then transfer the wafer to the chamber by the above-described load / unload mechanism.

カセット収納室は、プロセスチャンバーの前面側の他
の位置に設けられていて、処理済みウェハーを収納し、
この位置からカセット毎取り出す。
The cassette storage chamber is provided at another position on the front side of the process chamber, and stores processed wafers,
Take out each cassette from this position.

カセット収納室は、各段にて独立にしてもよいが、最
上段または最下段に集積できる機構とするのがよい。
The cassette storage chamber may be independent in each stage, but is preferably a mechanism that can be integrated in the uppermost stage or the lowermost stage.

カセットエレベータとウェハー移送機構(ロボット)
ならびにカセット収納室は前方外壁面が共通の面となる
様にすることができ、作業者はこの壁に向かってカセッ
トの出し入れを行う様にするのがよい。この様な方式
は、所謂スルーザウォール方式と称されている。
Cassette elevator and wafer transfer mechanism (robot)
In addition, the cassette storage chamber may have a common front outer wall surface, and it is preferable that the operator inserts and removes the cassette toward this wall. Such a system is called a so-called through-the-wall system.

プラズマ処理に対して高周波の発振電源が必要であ
り、また、処理のための反応ガス系も必要であり、これ
らは、前述の支柱を中心として対向配置し、バランスを
とって支柱にとりつけるのがよい。前述のチャンバー,
排気ポンプ,発振電源,ガス系は全て先の壁の一方にあ
り、補修作業,増設作業を容易ならしめている。ある場
合には、機械設備の集積化のため、チャンバーの側壁に
配管を設けて、いわゆる配管IC化を達することもでき
る。同様に、発振電源も小さくしてマッチングボックス
と一体化して、プロセスチャンバーの上部空間に設置す
ることもできる。更に、支柱の内部も中空として各位置
での排気管に接続し、パラレル排気の際に、支柱自体を
排気管として、排気効率の改善に寄与させることもでき
る。
A high-frequency oscillating power supply is required for plasma processing, and a reactive gas system for processing is also required. These are placed facing each other with the above-mentioned support as the center, and should be attached to the support in a balanced manner. Good. The aforementioned chamber,
The exhaust pump, oscillating power supply and gas system are all located on one side of the wall, making repair work and expansion work easier. In some cases, a pipe may be provided on the side wall of the chamber for the purpose of integrating mechanical equipment, so that a so-called pipe IC may be achieved. Similarly, the oscillation power supply can be made smaller, integrated with the matching box, and installed in the upper space of the process chamber. Further, the inside of the column may be hollow and connected to the exhaust pipe at each position, and in parallel exhaust, the column itself may be used as an exhaust pipe to contribute to improvement of exhaust efficiency.

実用的には、クリーンルームは3〜3.5mの高さがある
ので、旨く設計すれば6〜7チャンバーを連ねることも
可能である。
Practically, the clean room has a height of 3 to 3.5 m, and if designed well, it is possible to connect 6 to 7 chambers.

〔実施例〕〔Example〕

第1図および第2図を参照して、本発明の実施例にな
る縦型半導体製造システムを説明する。
A vertical semiconductor manufacturing system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

第1図は、本発明実施例の縦型システムの構成を示す
断面図であり、1は装置全体の支柱となるポールであ
り、このポールには、各プロセスチャンバー2とポンプ
3とがバランスをとって機械的に固定されている。ポン
プ3は通常の形式のポンプでよく、その排気側はダクト
4(第2図)を介して外気に導かれる。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing the configuration of a vertical system according to an embodiment of the present invention. Reference numeral 1 denotes a pole serving as a support of the entire apparatus. This pole has a balance between each process chamber 2 and a pump 3. It is mechanically fixed. The pump 3 may be a conventional type of pump, the exhaust side of which is led to the outside air via a duct 4 (FIG. 2).

このプロセスチャンバー2とポンプ3との対は、第1
図の例では3組として例示されているが、これは所定の
プロセス数に応じて選択できる。また、プロセスチャン
バー2は、スパッタリング,プラズマCVD,熱CVD,ドライ
エッチングのいずれかの専用チャンバーとして備えつけ
ることができるが、マルチプロセスの観点から、異なる
プロセスの連続処理(例えば、平坦化プロセスでの各種
CVDとエッチバックプロセス)を実行できる様な内部構
造を持つようにしておくができ、図の例では、反応ガス
をシャワー状に噴射できる上部電極5と、ウェハーを所
定の温度に加熱できるヒーターを内蔵した下部電極6を
備えたチャンバーが各々のプロセスチャンバー内に設置
されている。
The pair of the process chamber 2 and the pump 3 is the first
Although three sets are illustrated in the example of the figure, this can be selected according to a predetermined number of processes. Further, the process chamber 2 can be provided as a dedicated chamber for any of sputtering, plasma CVD, thermal CVD, and dry etching. However, from the viewpoint of multi-process, continuous processing of different processes (for example, flattening process). Various
It is possible to have an internal structure that can execute CVD and etch-back processes. In the example shown in the figure, an upper electrode 5 that can spray a reactive gas in a shower and a heater that can heat a wafer to a predetermined temperature are provided. A chamber having a built-in lower electrode 6 is installed in each process chamber.

プロセスチャンバー2の上部には、マッチングボック
ス7が配置されており、このマッチングボックス7は、
発振電源8から発生された高周波(一般には13.75MHz)
を上部電極5に印加する際のインピーダンスマッチング
の機能を果たす。
At the top of the process chamber 2, a matching box 7 is arranged.
High frequency generated from oscillation power supply 8 (generally 13.75 MHz)
Performs a function of impedance matching when the voltage is applied to the upper electrode 5.

プロセスチャンバーに対する反応ガスの供給は、前述
の通り、上記電極5の内部を通してチャンバー内に導入
されるが、ガスの供給はこれに限定されるものではな
く、マッチングボックス7の左端側から導入することも
できる。
The supply of the reaction gas to the process chamber is introduced into the chamber through the inside of the electrode 5 as described above. However, the supply of the gas is not limited to this, and the supply of the gas is performed from the left end side of the matching box 7. Can also.

いずれにしても、反応ガスの供給にあたっては、その
ための配管が必要であり、その配管類9は一括して支柱
に取りつけるが、第2図に示した通り発振電源8の反対
側にバランスを取って機械的に固定する。第1図におい
ては、簡単のため、発振電源8とガス系9の対は図示を
省略してある。
In any case, piping for the supply of the reaction gas is necessary, and the piping 9 is mounted on the support column at a time. However, as shown in FIG. And fix it mechanically. In FIG. 1, the pair of the oscillation power supply 8 and the gas system 9 is omitted for simplicity.

次に、処理すべき半導体ウェハー10の搬送機構11につ
いて説明する。この実施例では、第2図の上面図を参照
して明らかな通り、プロセスチャンバー2の前面側に
は、カセットエレベータ機構があり、これは上下方向に
延びていて、各チャンバー位置までウェハーカセットを
搬送する。
Next, the transfer mechanism 11 of the semiconductor wafer 10 to be processed will be described. In this embodiment, as is apparent with reference to the top view of FIG. 2, a cassette elevator mechanism is provided on the front side of the process chamber 2 and extends in a vertical direction, and a wafer cassette is moved to each chamber position. Transport.

同じく前面側で、各プロセスチャンバー2の前面に
は、搬送されてきたカセットからウェハーを一枚づつ抜
き取り、ゲート12を通ってプロセスチャンバー内にウェ
ハー10をセットし、処理が終了したらプロセスチャンバ
ーからウェハーを取り出して、各段位置に備えられたカ
セット収納室13へウェハーを収納する動作を行うウェハ
ー移送機構(ロボット)14が設けられている。
Similarly, on the front side, on the front side of each process chamber 2, wafers are taken out one by one from the transported cassette, and the wafers 10 are set in the process chambers through the gates 12. A wafer transfer mechanism (robot) 14 for taking out the wafer and storing the wafer in a cassette storage chamber 13 provided at each stage position is provided.

ゲート12は言うまでもなく搬送機構側とプロセスチャ
ンバー2の間にあって、両者を気密に分離することがて
き、また、ウェハーの導入・導出時にはゲートが開い
て、ウェハーの通過を可能とする。
Needless to say, the gate 12 is located between the transfer mechanism side and the process chamber 2 so that the two can be air-tightly separated, and the gate is opened when a wafer is introduced / exited, so that the wafer can pass through.

従って、第1図及び第2図の例では、カセットエレベ
ータ機構11が上下のプロセスチャンバーにまたがって垂
直の柱状となっており、各プロセスチャンバー位置にて
水平方向にウェハー移送機構(ロボット)とカセット収
納室を囲む仕切りがなされており、必要な空間を最少と
しており、排気に要する時間の節約を図っている。
Therefore, in the examples of FIGS. 1 and 2, the cassette elevator mechanism 11 has a vertical column shape extending over the upper and lower process chambers, and the wafer transfer mechanism (robot) and the cassette are horizontally arranged at each process chamber position. Partitions surround the storage room, minimizing the required space and saving time required for exhaust.

なお、図示していないが、カセットエレベータ11の最
下段にカセットのロードロック機構が備えられており、
このロードロック機構を用いてカセットを複数入れ、処
理済カセットは各カセット収納室から取り出す。
Although not shown, a cassette load lock mechanism is provided at the lowest stage of the cassette elevator 11,
A plurality of cassettes are inserted using this load lock mechanism, and the processed cassettes are taken out of each cassette storage chamber.

次に、本実施例装置の使用方法について説明する。 Next, a method of using the apparatus of this embodiment will be described.

カセットエレベータ11の最下段にあるロードロック機
構付きカセット収納室に複数のカセットを設置し、第1
図の最下段にて排気と記した箇所よりカセット搬送機構
部の排気を行う。各プロセスチャンバーは、各々のポン
プ3にて予め所定圧力まで排気しておく。カセット搬送
機構部での排気が完了したら、カセット収納ボックスか
らカセットを一つ取り出し、カセットエレベータ機構11
によって、例えば最上段の位置まで搬送し、その位置に
ロックしておく。次いで、搬送機構を最下段まで下降さ
せ、カセット収納ボックスから次のカセットを取り出
し、搬送機構にて、中間段位置まで搬送し、その位置に
てロックしておく。更に、搬送機構を最下段まで下降さ
せ、カセット収納ボックスから次のカセットを取り出
し、搬送機構にて、プロセスチャンバーの最下段位置ま
で搬送し、その位置にてロックしておく。
A plurality of cassettes are installed in the cassette storage room with a load lock mechanism at the bottom of the cassette elevator 11,
The cassette transport mechanism is evacuated from the location marked as evacuated at the bottom of the figure. Each process chamber is evacuated to a predetermined pressure by each pump 3 in advance. When the exhaust in the cassette transport mechanism is completed, remove one cassette from the cassette storage box and
Is transported to, for example, the uppermost position and locked at that position. Next, the transport mechanism is lowered to the lowest stage, the next cassette is taken out from the cassette storage box, transported to the intermediate stage position by the transport mechanism, and locked at that position. Further, the transport mechanism is lowered to the lowermost stage, the next cassette is taken out from the cassette storage box, transported to the lowermost position of the process chamber by the transport mechanism, and locked at that position.

各段位置のウェハー移送ロボット14は、当該位置にロ
ックしておかれたカセットからウェハーの一枚づつ取り
出し、前述の手順にて、プロセスチャンバー内の下部電
極6の上にウェハー10をセットし、所定のプロセスが完
了したら、そのウェハーを取り出してカセット収納室13
に収納する。この操作をウェハーの数だけ繰り返して
各、プロセスチャンバーでの処理を完了する。
The wafer transfer robot 14 at each stage position takes out the wafers one by one from the cassette locked at the position, and sets the wafer 10 on the lower electrode 6 in the process chamber by the above-described procedure. When the predetermined process is completed, the wafer is taken out and the cassette storage chamber 13 is removed.
To be stored. This operation is repeated by the number of wafers to complete the processing in each process chamber.

上記の実施例においては、各カセットのウェハーに対
して、同一または異なるプロセスを実行するものであっ
たが、異なるプロセスを順次実行できる様にカセットエ
レベータを駆使することができる。
In the above embodiment, the same or different processes are executed for the wafers in each cassette. However, a cassette elevator can be used so that different processes can be sequentially executed.

なお、上記の実施例では、ポールを設けて各チャンバ
ーを固定した構造としたが、棚を上下方向に設けてお
き、この各棚の中にチャンバー他を設置していくことも
可能である。また、各チャンバーは異なる処理ができる
様に独立排気としているが、全てのチャンバーにて同一
条件での処理を行う場合には、ポンプは一台でよい。
In the above-described embodiment, the poles are provided to fix the respective chambers. However, it is also possible to arrange the shelves in the vertical direction, and to install the chambers and the like in the respective shelves. In addition, each chamber is independently exhausted so that different processing can be performed. However, when processing is performed under the same conditions in all chambers, only one pump may be used.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上の通り、本発明では、マルチプロセスチャンバー
を縦積みとしてシステムを構成したので、床面積の縮小
化が実現できる。また、ポールまたは棚に対してプロセ
スチャンバーを取り付けていく縦型のシステムであるの
で、増設が容易であり、また、いずれかのチャンバーの
補修をしている間も他のチャンバーにてプロセスを実行
できるし、装置全体の補修も簡便となし得る利点があ
る。
As described above, in the present invention, since the system is configured by vertically stacking the multi-process chambers, the floor area can be reduced. In addition, because it is a vertical system that attaches a process chamber to a pole or a shelf, expansion is easy, and while one of the chambers is being repaired, the process can be performed in another chamber There is an advantage that the repair of the entire apparatus can be simplified.

勿論、カセットを搬送機構内部で移送している限り
は、ウェハー上への塵埃の付着はない。所謂、スルーザ
ウォールの方式であれば、カセット収納室13からカセッ
トを取り出し、再度カセット収納ボックスにセットとし
て、次のプロセスを実行する場合では、塵埃の付着は左
程問題にはならない。
Of course, as long as the cassette is transferred inside the transfer mechanism, there is no adhesion of dust on the wafer. In the case of the so-called through-the-wall method, when the cassette is removed from the cassette storage chamber 13 and set in the cassette storage box again and the next process is executed, the adhesion of dust does not become a problem as far to the left.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の本実施例になる縦型システムの構成を
示す断面図であり、第2図は、第1図のシステムの上面
図、第3図は従来提案されているマルチプロセスシステ
ムの上面図である。 図中、1は装置全体の支柱となるポール、2はプロセス
チャンバー2、3はポンプ3、5は上部電極、6は下部
電極6、7はマッチングボックス、8は発振電源、9は
ガス系、10は半導体ウェハー、11はカセットエレベー
タ、12はゲート、13はカセット収納室、14はウェハー移
送ロボットである。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing the configuration of a vertical system according to this embodiment of the present invention. FIG. 2 is a top view of the system of FIG. 1, and FIG. 3 is a conventionally proposed multi-process system. FIG. In the figure, 1 is a pole serving as a support of the entire apparatus, 2 is a process chamber 2, 3 is a pump 3, 5 is an upper electrode, 6 is a lower electrode 6, 7 is a matching box, 8 is an oscillation power supply, 9 is a gas system, Reference numeral 10 denotes a semiconductor wafer, 11 denotes a cassette elevator, 12 denotes a gate, 13 denotes a cassette storage room, and 14 denotes a wafer transfer robot.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】上下方向に、仕切られた空間の各段位置に
プロセスチャンバー(2)を配置し、当該複数の縦型配
置されたプロセスチャンバー(2)の前面側にウェハー
のロード・アンロード機構を設けたことを特徴とする縦
型半導体製造システム。
1. A process chamber (2) is vertically arranged at each step position of a partitioned space, and a wafer is loaded and unloaded on the front side of the plurality of vertically arranged process chambers (2). A vertical semiconductor manufacturing system comprising a mechanism.
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