JPH02151000A - 故障診断装置及び故障診断システム - Google Patents
故障診断装置及び故障診断システムInfo
- Publication number
- JPH02151000A JPH02151000A JP63304013A JP30401388A JPH02151000A JP H02151000 A JPH02151000 A JP H02151000A JP 63304013 A JP63304013 A JP 63304013A JP 30401388 A JP30401388 A JP 30401388A JP H02151000 A JPH02151000 A JP H02151000A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- candidates
- failure
- fault
- candidate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 192
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 53
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 12
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 3
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 3
- 208000024891 symptom Diseases 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 230000001364 causal effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000013024 troubleshooting Methods 0.000 description 2
- 238000013101 initial test Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000013102 re-test Methods 0.000 description 1
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Alarm Systems (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、種々の装置や設備に故障が生じた場合に保守
員が行う保守作業を支援する故障診断装置に係り、特に
、保守対象候補(故障候補)が多岐に渡りその原因究明
が容易でない複雑な装置。
員が行う保守作業を支援する故障診断装置に係り、特に
、保守対象候補(故障候補)が多岐に渡りその原因究明
が容易でない複雑な装置。
設備等を対象とする保守作業を支援するのに好適な故障
診断装置及び故障診断システムに関する。
診断装置及び故障診断システムに関する。
[従来の技術]
従来の故障診断装置では、ある症状に対する最終的な故
障原因を特定するのに、例えば、特開昭62−4663
号公報に記載の様に、各症状とそれに対する原因の因果
関係を示す″知識″を故障木構造で示し、この故障木を
辿ることで、故障に対する原因究明を行っている。
障原因を特定するのに、例えば、特開昭62−4663
号公報に記載の様に、各症状とそれに対する原因の因果
関係を示す″知識″を故障木構造で示し、この故障木を
辿ることで、故障に対する原因究明を行っている。
また、文献「リーズニング フローム ファースト プ
リンシプル イン エレクトロニックトラブルシューテ
ィング」イントウ、ジェイ、マンマシン スタディーズ
19.403〜423ページ(1983) (Re
asoning from first princi
plesin el’?tronic trouble
shooting、 I nt、 J 、Man −M
achine 5tudies 19. pp403〜
423)記載の従来の故障診断装置では、診断対象の構
成要素の機能の情報を基に、その構成要素が正常である
としたときの挙動を推定し、これを実際の挙動と照合し
て、故障箇所を突き止めている。
リンシプル イン エレクトロニックトラブルシューテ
ィング」イントウ、ジェイ、マンマシン スタディーズ
19.403〜423ページ(1983) (Re
asoning from first princi
plesin el’?tronic trouble
shooting、 I nt、 J 、Man −M
achine 5tudies 19. pp403〜
423)記載の従来の故障診断装置では、診断対象の構
成要素の機能の情報を基に、その構成要素が正常である
としたときの挙動を推定し、これを実際の挙動と照合し
て、故障箇所を突き止めている。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来技術のうち、前者にあっては、診断対象の装置
、設備等が複雑で大規模なものになるほど、それに対応
して故障木も大きな末広がりとなり、原因究明のための
故障木の探索回数が極めて多くなってしまう。更に、故
障には種々のモードがあり、各モードに対しこの従来技
術で対応しようとすると、診断対象名構成要素の症状と
原因の経験的な因果関係のパ知識″が各モード毎に必要
となり、″゛知識″の量が膨大になってしまい、原因究
明の探索回数が更に多くなってしまうという問題がある
。
、設備等が複雑で大規模なものになるほど、それに対応
して故障木も大きな末広がりとなり、原因究明のための
故障木の探索回数が極めて多くなってしまう。更に、故
障には種々のモードがあり、各モードに対しこの従来技
術で対応しようとすると、診断対象名構成要素の症状と
原因の経験的な因果関係のパ知識″が各モード毎に必要
となり、″゛知識″の量が膨大になってしまい、原因究
明の探索回数が更に多くなってしまうという問題がある
。
一方、上記従来技術の後者にあっては、診断対象が論理
回路のような簡単なものであれば容易に対応可能である
が、コンピュータの様な複雑な機能を含む装置等を診断
対象にすると、その機能を実際にモデル化するのが容易
でなく、適用が難しいという問題がある。
回路のような簡単なものであれば容易に対応可能である
が、コンピュータの様な複雑な機能を含む装置等を診断
対象にすると、その機能を実際にモデル化するのが容易
でなく、適用が難しいという問題がある。
本発明の目的は、複雑な機能を含む大規模な装置等を診
断対象とする場合でも、迅速且つ効率的に故障原因を追
及できる故障診断装置及び故障診断システムを提供する
ことにある。
断対象とする場合でも、迅速且つ効率的に故障原因を追
及できる故障診断装置及び故障診断システムを提供する
ことにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的は、故障事象に対応した故障候補の知識を記憶
装置に格納しておいて故障発生時にこの故障の原因と考
えられる故障候補の集合を求め、これとは別に、ある試
験あるいはaIり定(以下、試験という。)結果が出た
ときその試験結果がでる故障原因の候補の存在範囲に関
する情報を有する試験知識を各試験毎に記憶装置に格納
しておき、ある試験を実行したときに得られるこの故障
原因(故障候補)の存在範囲と故障候補の集合とから故
障候補を絞っていくことで、達成される。診断対象が階
層構造を有する場合、階層レベルの情報を上記各知識に
付加しておき1階層レベル毎に故障候補を絞っていくこ
とで、更に達成される。また、実際に試験を行う前に、
試験候補の試験知識のうち試験結果に対応する故障候補
の存在範囲と故障候補の集合とから事前にその試験が故
障候補を絞ることができる試験か否かを判定して試験候
補を絞ることで、更に達成される。また、故障診断シス
テムは、上記故障診断装置と診断対象とをデータ伝送ネ
ットワークで接続することで、得られる。
装置に格納しておいて故障発生時にこの故障の原因と考
えられる故障候補の集合を求め、これとは別に、ある試
験あるいはaIり定(以下、試験という。)結果が出た
ときその試験結果がでる故障原因の候補の存在範囲に関
する情報を有する試験知識を各試験毎に記憶装置に格納
しておき、ある試験を実行したときに得られるこの故障
原因(故障候補)の存在範囲と故障候補の集合とから故
障候補を絞っていくことで、達成される。診断対象が階
層構造を有する場合、階層レベルの情報を上記各知識に
付加しておき1階層レベル毎に故障候補を絞っていくこ
とで、更に達成される。また、実際に試験を行う前に、
試験候補の試験知識のうち試験結果に対応する故障候補
の存在範囲と故障候補の集合とから事前にその試験が故
障候補を絞ることができる試験か否かを判定して試験候
補を絞ることで、更に達成される。また、故障診断シス
テムは、上記故障診断装置と診断対象とをデータ伝送ネ
ットワークで接続することで、得られる。
[作用]
ある故障が発生したときこの故障の原因と考えられる故
障候補の集合を求め、ある試験を診断対象に施して試験
結果を得、この故障候補の集合の中からその試験結果が
得られる候補の集合を求めることで故障候補を絞り、最
終的に1の故障候補をもとめる。複雑な構成の診断対象
であっても、この手順を順次繰り返すことで、容易且つ
迅速に故障原因の追及が可能になる。また、試験を実行
する前に事前にその試験により故障候補が絞れるか否か
を評価しておくことで、無駄な試験の実行を回避でき、
故障診断のより迅速化を図ることができる。更に故障診
断装置と診断対象とを、データ伝送ネットワークで接続
することで、遠隔地の診断対象も迅速に診断可能となる
。
障候補の集合を求め、ある試験を診断対象に施して試験
結果を得、この故障候補の集合の中からその試験結果が
得られる候補の集合を求めることで故障候補を絞り、最
終的に1の故障候補をもとめる。複雑な構成の診断対象
であっても、この手順を順次繰り返すことで、容易且つ
迅速に故障原因の追及が可能になる。また、試験を実行
する前に事前にその試験により故障候補が絞れるか否か
を評価しておくことで、無駄な試験の実行を回避でき、
故障診断のより迅速化を図ることができる。更に故障診
断装置と診断対象とを、データ伝送ネットワークで接続
することで、遠隔地の診断対象も迅速に診断可能となる
。
尚、「故障候補の集合」とか、ある試験結果による「故
障候補の存在範囲」と表現したが、これらと関係を持つ
集合を使用して故障候補を絞ることができることはいう
までもなく、その場合も本発明の範囲に含まれることは
勿論である。例えば故障候補の集合から故障候補の存在
しない範囲を除いた集合を求めてもよいことは、いうま
でもない。
障候補の存在範囲」と表現したが、これらと関係を持つ
集合を使用して故障候補を絞ることができることはいう
までもなく、その場合も本発明の範囲に含まれることは
勿論である。例えば故障候補の集合から故障候補の存在
しない範囲を除いた集合を求めてもよいことは、いうま
でもない。
[実施例]
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例に係る故障診断装置の構成
図である。本故障診断装置は、電子計算機で成る診断装
置本体1と、記憶装置2.3と、キーボードやマウス等
の入力装置4と、表示装置等の出力装置5から成る。記
憶装置2には診断実行に必要な後述する故障候補の知識
と試験候補の知識とが格納されている。記憶装置3は中
間的な診断結果を一時的に記憶するものであり、故障箇
所の候補(故障候補)31と実行すべき試験の候補32
とが格納される。この故障診断装置の入力装置4から診
断に必要な情報を入力すると1診断装置本体1は、詳細
は後述する様に、故障箇所や試験の候補を絞り込みなが
ら故障原因を究明し、診断結果を出力袋@5に出力する
。
図である。本故障診断装置は、電子計算機で成る診断装
置本体1と、記憶装置2.3と、キーボードやマウス等
の入力装置4と、表示装置等の出力装置5から成る。記
憶装置2には診断実行に必要な後述する故障候補の知識
と試験候補の知識とが格納されている。記憶装置3は中
間的な診断結果を一時的に記憶するものであり、故障箇
所の候補(故障候補)31と実行すべき試験の候補32
とが格納される。この故障診断装置の入力装置4から診
断に必要な情報を入力すると1診断装置本体1は、詳細
は後述する様に、故障箇所や試験の候補を絞り込みなが
ら故障原因を究明し、診断結果を出力袋@5に出力する
。
第2図に、記憶装置2に格納されている知識の例を示す
。同図に示す様に、知識はフレーム形式で表現される。
。同図に示す様に、知識はフレーム形式で表現される。
そして、先ず同図(a)に示す様に。
診断対象に生じる各故障事象に対応した故障候補が知識
として格納される。これにより、各故障事象に対して最
初に考慮すべき種々の故障候補の集合を記憶装置2から
読み出すことができる。
として格納される。これにより、各故障事象に対して最
初に考慮すべき種々の故障候補の集合を記憶装置2から
読み出すことができる。
また、試験候補の知識として、第2図(b)に示す知識
が記憶装置2に格納されている。この知識は、ある故障
事象に対し考慮すべき故障候補として挙げられた故障候
補の集合の中から、所要の故障候補を切り分ける試験に
関する知識である。この知識は、試験の概要、試験方法
、試験結果の判定方法、及び判定された各結果に対する
故障候補の存在する範囲を示す情報、さらに試験を選択
するときの評価指標、たとえば試験実行の容易性や試験
実行後に診断対象の状態が試験前と比べて変わってしま
うかどうか、などの情報を試験名に付加している。ここ
で、上記試験結果の判定方法については、その方法を処
理手続きで記述しておく。
が記憶装置2に格納されている。この知識は、ある故障
事象に対し考慮すべき故障候補として挙げられた故障候
補の集合の中から、所要の故障候補を切り分ける試験に
関する知識である。この知識は、試験の概要、試験方法
、試験結果の判定方法、及び判定された各結果に対する
故障候補の存在する範囲を示す情報、さらに試験を選択
するときの評価指標、たとえば試験実行の容易性や試験
実行後に診断対象の状態が試験前と比べて変わってしま
うかどうか、などの情報を試験名に付加している。ここ
で、上記試験結果の判定方法については、その方法を処
理手続きで記述しておく。
これにより、診断処理の過程で、この試験結果の判定方
法が参照されると、記述されている処理手続きに従って
、試験の結果が予め考えられていた結果のどれに対応し
ているかが、判定される。
法が参照されると、記述されている処理手続きに従って
、試験の結果が予め考えられていた結果のどれに対応し
ているかが、判定される。
次に、診断装置1がこれらの知識を用いて実行する診断
処理を第3図に示すフローチャートを参照して説明する
。
処理を第3図に示すフローチャートを参照して説明する
。
診断対象に故障が発生したときその故障事象基がキーボ
ード4から入力されると(ステップ11)、記憶装置2
に記憶されている故障事象対故障候補の集合の知!(第
2図(a))の中から対応する故障事象の故障候補を検
索し、検索して得られた故障候補の集合を記憶部@3の
故障候補記憶部31に記憶する(ステップ12)。その
次のステップ13では、記憶装置2に記憶されている試
験に関する知識(第2図(b))の中から前ステップ1
2で得られた最初の故障候補集合を更に細かく切り分け
ることができる試験候補だけを後述のステップ19の処
理と同様にして選び、選んだ試験候補の集合を記憶装置
3の試験候補記憶部32に記憶する。このステップ13
の処理は、予めオフラインで処理しておき、処理結果、
即ち、故障事象と初期試験候補集合との対応情報を記憶
装置2又は3に記憶しておくこともできる。この場合、
ステップ13は、入力された事象に対応する試験候補を
検索するだけの処理となるため、処理時間を短縮できる
効果がある。
ード4から入力されると(ステップ11)、記憶装置2
に記憶されている故障事象対故障候補の集合の知!(第
2図(a))の中から対応する故障事象の故障候補を検
索し、検索して得られた故障候補の集合を記憶部@3の
故障候補記憶部31に記憶する(ステップ12)。その
次のステップ13では、記憶装置2に記憶されている試
験に関する知識(第2図(b))の中から前ステップ1
2で得られた最初の故障候補集合を更に細かく切り分け
ることができる試験候補だけを後述のステップ19の処
理と同様にして選び、選んだ試験候補の集合を記憶装置
3の試験候補記憶部32に記憶する。このステップ13
の処理は、予めオフラインで処理しておき、処理結果、
即ち、故障事象と初期試験候補集合との対応情報を記憶
装置2又は3に記憶しておくこともできる。この場合、
ステップ13は、入力された事象に対応する試験候補を
検索するだけの処理となるため、処理時間を短縮できる
効果がある。
次の処理ステップ14は、ステップ13で得られた試験
候補集合の中から実行すべき試験を選択する処理である
。例えば、第4図に示すような試験選択の評価基準を用
意しておき、この基準に従って、前述の試験に関する知
識(第2図(b))のうち試験選択に関する指標の情報
を基に優先度を評価し。
候補集合の中から実行すべき試験を選択する処理である
。例えば、第4図に示すような試験選択の評価基準を用
意しておき、この基準に従って、前述の試験に関する知
識(第2図(b))のうち試験選択に関する指標の情報
を基に優先度を評価し。
最も高い優先度を持つ試験候補を選択する。またこのと
き、試験実行の容易性や、試験後に診断対象の状態を変
化させる外乱がへるか否か等の評価基準も参考にする。
き、試験実行の容易性や、試験後に診断対象の状態を変
化させる外乱がへるか否か等の評価基準も参考にする。
このようにして選択した試験候補についての概要と試験
方法を表示装置5に表示する(ステップ15)。
方法を表示装置5に表示する(ステップ15)。
診断者つまり保守要因は、この表示を見ながら指示され
た試験手順に従って試験を実行する。そして、試験の結
果得られたデータを診断者が入力装置4から入力すると
(ステップ16)、あるいは試験結果のデータを自動的
に診断装置1が読み取れる場合にはこのステップ16で
そのデータ読み取りを実行し、次のステップ17に進む
。
た試験手順に従って試験を実行する。そして、試験の結
果得られたデータを診断者が入力装置4から入力すると
(ステップ16)、あるいは試験結果のデータを自動的
に診断装置1が読み取れる場合にはこのステップ16で
そのデータ読み取りを実行し、次のステップ17に進む
。
ステップ17では、試験の知識に付随する試験結果判定
方法の処理手続きに従って、入力された試験結果のデー
タを解析し、どの試験結果に対応するかを判定し、第2
図(b)に示す試験の知識から試験結果に対応する故障
箇所の存在範囲の情報を取り出す。
方法の処理手続きに従って、入力された試験結果のデー
タを解析し、どの試験結果に対応するかを判定し、第2
図(b)に示す試験の知識から試験結果に対応する故障
箇所の存在範囲の情報を取り出す。
ステップ17で故障箇所の存在範囲を示す情報を取り出
した後は、詳細は後述する様に、故障箇所存在範囲から
故障候補の絞り込みを行い(ステップ1与)1次に、こ
れも詳細は後述する様に、ステップ18で求めた新しい
故障候補の集合を更に細かく絞り込むことができる試験
候補を試験前の試験候補の集合の中から絞り込む(ステ
ップ19(詳細は第6図で説明する。))。そして、ス
テップ20で、故障候補が1つだけ残ったかあるいは試
験候補が無くなったかを判断して、故障候補が複数有り
または実行すべき試験候補が残っている場合にはステッ
プ14に戻る。このステップ14〜20を繰り返し、故
障候補が1つに絞り込めたとき、ステップ20からステ
ップ21に進んで、最終的に得られた故障候補を出力装
置5に出力し、本診断処理を終了する。
した後は、詳細は後述する様に、故障箇所存在範囲から
故障候補の絞り込みを行い(ステップ1与)1次に、こ
れも詳細は後述する様に、ステップ18で求めた新しい
故障候補の集合を更に細かく絞り込むことができる試験
候補を試験前の試験候補の集合の中から絞り込む(ステ
ップ19(詳細は第6図で説明する。))。そして、ス
テップ20で、故障候補が1つだけ残ったかあるいは試
験候補が無くなったかを判断して、故障候補が複数有り
または実行すべき試験候補が残っている場合にはステッ
プ14に戻る。このステップ14〜20を繰り返し、故
障候補が1つに絞り込めたとき、ステップ20からステ
ップ21に進んで、最終的に得られた故障候補を出力装
置5に出力し、本診断処理を終了する。
第5図は、第3図のステップ18における故障候補絞り
込み処理の詳細説明図である。試験Ti実行前の故障候
補集合をAとし、試験Tiを実行することで得られた故
障の存在する範囲(故障候補の集合)をBとしたとき、
この集合Aと集合Bとの共通集合AnB=Cを求め、こ
の集合Cを、試験Ti実行後の新たな故障候補の集合と
する。
込み処理の詳細説明図である。試験Ti実行前の故障候
補集合をAとし、試験Tiを実行することで得られた故
障の存在する範囲(故障候補の集合)をBとしたとき、
この集合Aと集合Bとの共通集合AnB=Cを求め、こ
の集合Cを、試験Ti実行後の新たな故障候補の集合と
する。
第6図は、第3図のステップ19における試験候補絞り
込み処理の詳細説明図である。試験Ti実行前の試験候
補の集合をDとし、その中の各試験をTm(m = 1
g 2 t・・・、k)として以下説明する。
込み処理の詳細説明図である。試験Ti実行前の試験候
補の集合をDとし、その中の各試験をTm(m = 1
g 2 t・・・、k)として以下説明する。
本実施例では、実際に試験を行う前に、各試験での評価
を以下の処理によりシミューションして。
を以下の処理によりシミューションして。
故障候補を絞ることができない無駄な試験を事前に排除
する。
する。
先ず、試験候補の中のある試験Tmについて評価する場
合、その試験候補Tmの知識(第2図(b))を参照し
、各試験結果jに対する故障候補の存在する範囲を取り
出す。そして、第5図の説明と同様に、試験Ti実行前
の故障候補の集合Cと、試験Tmを実行したとしその試
験結果がjとなったときの故障候補の存在範囲との共通
集合c jl を求める。そして、この集合Cとc j
l との間の関係に応じて、次の処理を行って試験候補
を絞り込む。
合、その試験候補Tmの知識(第2図(b))を参照し
、各試験結果jに対する故障候補の存在する範囲を取り
出す。そして、第5図の説明と同様に、試験Ti実行前
の故障候補の集合Cと、試験Tmを実行したとしその試
験結果がjとなったときの故障候補の存在範囲との共通
集合c jl を求める。そして、この集合Cとc j
l との間の関係に応じて、次の処理を行って試験候補
を絞り込む。
l)試験Tmの全ての試験結果jについての各集合c
jJ が空集合でなく、且つ、ある試験結果jについて
の集合c jlが集合Cの真の部分集合である場合; この場合には、この試験Tmは、集合Cを絞り込むこと
ができるから、この試験候補Tmを試験Ti実行後の新
たな試験候補集合Eのメンバーとする。
jJ が空集合でなく、且つ、ある試験結果jについて
の集合c jlが集合Cの真の部分集合である場合; この場合には、この試験Tmは、集合Cを絞り込むこと
ができるから、この試験候補Tmを試験Ti実行後の新
たな試験候補集合Eのメンバーとする。
2) ある試験結果jについて集合Cjl が空集合で
、且つ、別のある試験結果jについて集合c jJが集
合Cの真の部分集合である場合;この場合には、試験T
+sを集合Eのメンバーとする。ただし、処理がステッ
プ14に戻ったとき、この試験Tmが選択され、実際に
実行されたとき、その試験結果jによっては、得られる
集合Cj′が空集合となる可能性がある。実際に試験後
の集合c jj が空集合となったときには、故障候補
がなくなるので、いままでの診断結果と矛盾する結果と
なる。このときには、この試験結果を無視して診断を進
めるが、矛盾試験として、この試験Ta+を記録に残し
ておく。
、且つ、別のある試験結果jについて集合c jJが集
合Cの真の部分集合である場合;この場合には、試験T
+sを集合Eのメンバーとする。ただし、処理がステッ
プ14に戻ったとき、この試験Tmが選択され、実際に
実行されたとき、その試験結果jによっては、得られる
集合Cj′が空集合となる可能性がある。実際に試験後
の集合c jj が空集合となったときには、故障候補
がなくなるので、いままでの診断結果と矛盾する結果と
なる。このときには、この試験結果を無視して診断を進
めるが、矛盾試験として、この試験Ta+を記録に残し
ておく。
この試験候補Tmは、たとえば1診断終了時の診断結果
が正しくなかった場合などに、再試験の対象として、表
示する。
が正しくなかった場合などに、再試験の対象として、表
示する。
3)すべての試験結果jについて、各集合Cj jがC
j’ =Cとなる場合; この場合には、試験候補Tmは、この試験Tm実行後に
故障候補集合Cを切り分けることができないから、集合
Eのメンバーとはしない。
j’ =Cとなる場合; この場合には、試験候補Tmは、この試験Tm実行後に
故障候補集合Cを切り分けることができないから、集合
Eのメンバーとはしない。
4)すべての試験結果jについて、各集合Cj′がCj
″=空集合となる場合; 即ち、この試験Tmはいままでの試験結果と完全に矛盾
することになる。この場合、試験候補Tmを集合Eのメ
ンバーとしない。ただし、矛盾する試験としてTmを記
録に残す。
″=空集合となる場合; 即ち、この試験Tmはいままでの試験結果と完全に矛盾
することになる。この場合、試験候補Tmを集合Eのメ
ンバーとしない。ただし、矛盾する試験としてTmを記
録に残す。
5)すべての試験結果jについて、各集合Cj′がCj
′=空集合又は、Cとなる場合;この場合には、試験T
mを集合Eのメンバーとしない。ただし、試験候補Tm
は部分的に矛盾する試験なので、試験候補Tmを記録に
残す。
′=空集合又は、Cとなる場合;この場合には、試験T
mを集合Eのメンバーとしない。ただし、試験候補Tm
は部分的に矛盾する試験なので、試験候補Tmを記録に
残す。
以上のように、知識情報と処理手順によって、故障候補
の絞り込みと同時に1次に実行すべき試験候補も故障候
補に応じて逐”次絞り込むので、無用な試験の実行を回
避できると同時に、実行する試験の知識も限定できるの
で、適切な診断が効率的に行えることになる。
の絞り込みと同時に1次に実行すべき試験候補も故障候
補に応じて逐”次絞り込むので、無用な試験の実行を回
避できると同時に、実行する試験の知識も限定できるの
で、適切な診断が効率的に行えることになる。
第3図のフローチャートのステップ14における試験候
補の選択処理では、試験候補の優先度に従って実行する
試験を選択したが1本発明はこの選択方法に限定される
ものではない。第7図に、試験候補選択処理の別実施例
を示す。この実施例では、試験の選択基準を種々用意し
ておき1診断者が適当な選択基準を選択するものである
。
補の選択処理では、試験候補の優先度に従って実行する
試験を選択したが1本発明はこの選択方法に限定される
ものではない。第7図に、試験候補選択処理の別実施例
を示す。この実施例では、試験の選択基準を種々用意し
ておき1診断者が適当な選択基準を選択するものである
。
この処理手順に従う場合、先ずステップ101で、試験
候補の選択を自動にするか戒るいは手動にするのかの選
択枝と、自動選択を選んだときの各種選択基準の選択枝
とを、表示装置(第1図の出力袋W15の1つ)に表示
する。この表示を見ながら、診断者は入力装置4を用い
て選択枝を選択する(ステップ102)。この選択で、
「自動jを選択したときは、同時に、適用する選択基準
も選択する。
候補の選択を自動にするか戒るいは手動にするのかの選
択枝と、自動選択を選んだときの各種選択基準の選択枝
とを、表示装置(第1図の出力袋W15の1つ)に表示
する。この表示を見ながら、診断者は入力装置4を用い
て選択枝を選択する(ステップ102)。この選択で、
「自動jを選択したときは、同時に、適用する選択基準
も選択する。
次のステップ103では、ステップ102で診断者が「
自動」を選択したか否かを判定し、その判定結果が否定
つまり診断者が「手動Jを選択した場合にはステップ1
04に進む。このステップ104では、第3図のステッ
プ13戒るいはステップ19で求めた試験候補集合の各
試験名とその試験概要とが表示装置に表示される。この
表示を見ながら、診断者は試験候補の中から適当な試験
を入力装置4で指定する(ステップ105)。
自動」を選択したか否かを判定し、その判定結果が否定
つまり診断者が「手動Jを選択した場合にはステップ1
04に進む。このステップ104では、第3図のステッ
プ13戒るいはステップ19で求めた試験候補集合の各
試験名とその試験概要とが表示装置に表示される。この
表示を見ながら、診断者は試験候補の中から適当な試験
を入力装置4で指定する(ステップ105)。
次のステップ106では、指定した試験を仮に実行した
ときに故障候補がどうなるかを、第6図の説明と同様に
して求め、これを当該試験の各試験結果毎に表示する。
ときに故障候補がどうなるかを、第6図の説明と同様に
して求め、これを当該試験の各試験結果毎に表示する。
このシミュレーションによる試験の評価は、第3図のス
テップ13戒るいはステップ19ですでに評価されてい
るので、この評価結果を記憶装置から読み出して表示し
てもよい。
テップ13戒るいはステップ19ですでに評価されてい
るので、この評価結果を記憶装置から読み出して表示し
てもよい。
ステップ103での判定結果が肯定、つまりステップ1
02で「自動jが選択された場合には、次にステップ1
07に進む。ステップ107では試験候補の中から最優
先の試験候補を、第8図の関係から選択し、選択した試
験候補を表示する。第8図には、各試験候補を、第2図
(b)で説明した各指標を座標とする空間の点として表
してあり、原点に一番近い試験を最優先の試験として選
択する。尚、この実施例では、原点に近付くほど優先度
を高くしているが、逆に、原点から遠いほど優先度を高
くするように座標を決めることができることはいうまで
もない。また、第8図は1選択した指標がn個なら、こ
れに対応して座標軸もn個で張る空間を意味する。指標
としては、試験の容易性、故障確率など種々のものを用
意しておくことができるが、これらの指標の値(座標値
)は、予め試験の知識や各故障候補に付加しておく。第
7図のステップ107で、最優先の試験候補を表示した
後、その試験候補が一つならばステップ106に進むが
。
02で「自動jが選択された場合には、次にステップ1
07に進む。ステップ107では試験候補の中から最優
先の試験候補を、第8図の関係から選択し、選択した試
験候補を表示する。第8図には、各試験候補を、第2図
(b)で説明した各指標を座標とする空間の点として表
してあり、原点に一番近い試験を最優先の試験として選
択する。尚、この実施例では、原点に近付くほど優先度
を高くしているが、逆に、原点から遠いほど優先度を高
くするように座標を決めることができることはいうまで
もない。また、第8図は1選択した指標がn個なら、こ
れに対応して座標軸もn個で張る空間を意味する。指標
としては、試験の容易性、故障確率など種々のものを用
意しておくことができるが、これらの指標の値(座標値
)は、予め試験の知識や各故障候補に付加しておく。第
7図のステップ107で、最優先の試験候補を表示した
後、その試験候補が一つならばステップ106に進むが
。
複数あればステップ105に進んで、手動で適当な試験
候補を選択する。もちろん、表示する順序で自動的にき
めてしまうこともできる。
候補を選択する。もちろん、表示する順序で自動的にき
めてしまうこともできる。
この実施例によれば、次に実行すべき試験を診断者の考
えで選択でき、しかも、その試験を実行したら故障候補
がどうなるかも事前にわかるので、診断手順の融通性が
増すと同時に、診断者が中心となって診断を進めること
ができるようになる。
えで選択でき、しかも、その試験を実行したら故障候補
がどうなるかも事前にわかるので、診断手順の融通性が
増すと同時に、診断者が中心となって診断を進めること
ができるようになる。
第9図は、診断対象の構成要素を階層化した知識を併用
して、第3図に示した診断を段階的に実行する手順を示
すフローチャートである。第10図に、診断対象の階層
化を示す。
して、第3図に示した診断を段階的に実行する手順を示
すフローチャートである。第10図に、診断対象の階層
化を示す。
第9図に基づく診断では、第1θ図の階層に従って、上
位レベルから各レベルの故障候補と試験候補を絞り込む
。このために、第11図に示す知識を使用する。第11
図(a)及び(b)は、それぞれ、第2図(a)、 (
b)に示す故障事象対故障候補の知識及び試験の知識に
診断レベルの情報を付加したものである。第11図(c
)は、診断対象の階層構成に関する知識で、第1O図に
示す診断対象の各構成要素に下位レベルの構成要素と下
位レベルのすべての構成要素(故障候補)に関する試験
項目の集合の知識を付加したものである。これらの知識
を用いると、第9図に示すステップ201からステップ
205までの処理は、同一診断レベルの知識だけを用い
て、診断処理を進めるだけで、全く、第3図に示す処理
手順(ステップ11〜20)と同様である。第3図に示
す処理手順と異なるのは、診断レベルを下げる処理であ
る。ステップ205で、現在の診断レベルで絞り込まれ
た故障候補と試験候補がこれ以上絞れなくなったと判定
したときにステップ206に進み、現在の診断レベルが
最下位かどうかを判定する。このステップ206での判
定結果がもし「最下位」だった場合は、ステップ209
に進んで結果を表示し、本処理手順を終了する。
位レベルから各レベルの故障候補と試験候補を絞り込む
。このために、第11図に示す知識を使用する。第11
図(a)及び(b)は、それぞれ、第2図(a)、 (
b)に示す故障事象対故障候補の知識及び試験の知識に
診断レベルの情報を付加したものである。第11図(c
)は、診断対象の階層構成に関する知識で、第1O図に
示す診断対象の各構成要素に下位レベルの構成要素と下
位レベルのすべての構成要素(故障候補)に関する試験
項目の集合の知識を付加したものである。これらの知識
を用いると、第9図に示すステップ201からステップ
205までの処理は、同一診断レベルの知識だけを用い
て、診断処理を進めるだけで、全く、第3図に示す処理
手順(ステップ11〜20)と同様である。第3図に示
す処理手順と異なるのは、診断レベルを下げる処理であ
る。ステップ205で、現在の診断レベルで絞り込まれ
た故障候補と試験候補がこれ以上絞れなくなったと判定
したときにステップ206に進み、現在の診断レベルが
最下位かどうかを判定する。このステップ206での判
定結果がもし「最下位」だった場合は、ステップ209
に進んで結果を表示し、本処理手順を終了する。
「最下位」でない場合は診断レベルを下げるステップ2
07に進む。ステップ207では、第11図(e)に示
す知識を参照して下位の故障候補を生成し、次のステッ
プ208で同様に下位の試験候補を生成してステップ2
04に戻り、このレベルの診断を開始する。
07に進む。ステップ207では、第11図(e)に示
す知識を参照して下位の故障候補を生成し、次のステッ
プ208で同様に下位の試験候補を生成してステップ2
04に戻り、このレベルの診断を開始する。
この実施例によれば、まず、大まかな故障箇所から次第
に詳細な故障箇所へと故障箇所を特定することができ、
しかも使用する知識も診断レベルごとに限定されるため
、特に、診断対象が大規模な場合に効率的な診断を可能
とする。
に詳細な故障箇所へと故障箇所を特定することができ、
しかも使用する知識も診断レベルごとに限定されるため
、特に、診断対象が大規模な場合に効率的な診断を可能
とする。
第12図は、第1図に示す診断装置をデータ伝送。
ネットワークを介して診断対象装置に接続した実施例の
構成図である。同図において1から5は、夫々第1図の
同一符号を付した装置と同じ装置であり、6はデータ伝
送ネットワーク、71から7゜は診断対象装置である。
構成図である。同図において1から5は、夫々第1図の
同一符号を付した装置と同じ装置であり、6はデータ伝
送ネットワーク、71から7゜は診断対象装置である。
このネットワークを組むことで1診断装置は診断対象装
置から試験データを自動的に収集することができる。し
たがって、このデータ伝送ネットワークを介した自動デ
ータ収集と第1図に示す入力装置からの対話的なデータ
収集とを組合せると、より効率的な診断が行える。
置から試験データを自動的に収集することができる。し
たがって、このデータ伝送ネットワークを介した自動デ
ータ収集と第1図に示す入力装置からの対話的なデータ
収集とを組合せると、より効率的な診断が行える。
尚、上述した実施例では、シミュレーションを行い試験
前に試験候補を絞り込んでいるが、シミュレーションを
行わず実際の試験を行ってもよいことはいうまでもない
。
前に試験候補を絞り込んでいるが、シミュレーションを
行わず実際の試験を行ってもよいことはいうまでもない
。
[発明の効果]
本発明によれば、無駄な試験をシミュレーションにより
排除して適切な試験のみを選択してその試験データを得
、故障候補を絞り込むことができるので、複雑な構成の
診断対象装置でも迅速且つ効率的に故障原因を追及する
ことが可能となる。
排除して適切な試験のみを選択してその試験データを得
、故障候補を絞り込むことができるので、複雑な構成の
診断対象装置でも迅速且つ効率的に故障原因を追及する
ことが可能となる。
第1図は本発明の一実施例に係る故障診断装置のブロッ
ク構成図、第2図(a)は故障事象対故障候補の知識説
明図、同図(b)は試験候補の知識説明図、第3図は故
障診断処理手順を示すフローチャート、第4図は試験選
択の評価基準説明図、第5図は故障候補絞り込み説明図
、第6図は試験候補絞り込み説明図、第7図は試験選択
処理の別実施例に係るフローチャート、第8図は第7図
の試験選択処理で使用する試験評価座標説明図、第9図
は診断処理を階層的に実行する実施例における処理手順
を示すフローチャート、第10図は診断対象の階層構成
図、第11図(a)、 (b)、 (c)は階層的に診
断処理を行う場合の知識説明図、第12図は故障診断装
置と診断対象装置とをデータ伝送ネットワークで接続し
たシステムの構成図である。 ■・・・診断装置、2,3・・・記憶装置、4・・・入
力装置、5・・・出力装置、6・・・データ伝送ネット
ワーク。 7・・・故障診断対象装置。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第1図 第2図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 書式」通む0この伏込う5也 第 10図 診釘灯友 第 図 (a) 第 図 第 図
ク構成図、第2図(a)は故障事象対故障候補の知識説
明図、同図(b)は試験候補の知識説明図、第3図は故
障診断処理手順を示すフローチャート、第4図は試験選
択の評価基準説明図、第5図は故障候補絞り込み説明図
、第6図は試験候補絞り込み説明図、第7図は試験選択
処理の別実施例に係るフローチャート、第8図は第7図
の試験選択処理で使用する試験評価座標説明図、第9図
は診断処理を階層的に実行する実施例における処理手順
を示すフローチャート、第10図は診断対象の階層構成
図、第11図(a)、 (b)、 (c)は階層的に診
断処理を行う場合の知識説明図、第12図は故障診断装
置と診断対象装置とをデータ伝送ネットワークで接続し
たシステムの構成図である。 ■・・・診断装置、2,3・・・記憶装置、4・・・入
力装置、5・・・出力装置、6・・・データ伝送ネット
ワーク。 7・・・故障診断対象装置。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第1図 第2図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 書式」通む0この伏込う5也 第 10図 診釘灯友 第 図 (a) 第 図 第 図
Claims (6)
- 1. 故障事象に対応付けた故障候補に関する知識と試
験結果に対応した故障候補の存在範囲に関する情報及び
評価基準を有する試験候補の知識とを格納した記憶手段
と、故障発生時に故障事象に対応した故障候補の集合を
求める手段と、試験候補の中から指定した評価基準を満
たす試験を選択する手段と、選択した試験を実行して得
られる試験結果を取得する手段と、該試験結果に対応す
る故障候補の存在範囲を前記記憶手段から取り出す手段
と、該故障候補の存在範囲と故障候補の集合との共通集
合を求めて故障候補を絞り込む手段とを備えることを特
徴とする故障診断装置。 - 2. 故障事象に対応付けられ且つ診断対象の階層構造
に応じた階層レベル情報を有する故障候補に関する知識
と試験結果に対応した故障候補の存在範囲に関する情報
及び評価基準並びに診断対象の階層構造に応じた階層レ
ベル情報とを有する試験候補の知識とを格納した記憶手
段と、故障発生時に故障事象に対応したある階層レベル
の故障候補の集合を求める手段と、試験候補の中から指
定した評価基準を満たすある階層レベルの試験を選択す
る手段と、選択した試験を実行して得られる試験結果を
取得する手段と、該試験結果に対応する故障候補の存在
範囲を前記記憶手段から取り出す手段と、該故障候補の
存在範囲と故障候補の集合との共通集合を求めてその階
層レベルでの故障候補を絞り込む手段と、この手段で絞
り込んだ故障候補が一つになったとき戒るいは実行する
試験候補がなくなったときに前記階層レベルを下げて同
様の手順を繰り返し更に詳細な階層レベルまでの故障候
補を絞り込む手段とを備えることを特徴とする故障診断
装置。 - 3. 請求項1または請求項2において、試験候補の各
試験を実際に実行する前に、各試験の試験結果対応の故
障候補の存在範囲に関する情報を記憶手段から取り出し
、故障候補の存在範囲と故障候補の集合とから故障候補
を絞り込むことのできない試験候補を排除して試験候補
を絞り込む手段を備えることを特徴とする故障診断装置
。 - 4. 請求項1または請求項2において、指定した評価
基準を満たす試験の選択を自動的に行う手段を備えるこ
とを特徴とする故障診断装置。 - 5. 請求項3において、試験候補のメニューを表示装
置に表示する手段と、該メニューの中からある試験候補
を操作者が指定して選択する手段と、選択した試験候補
を仮に実行したとして絞り込まれる故障候補を試験結果
毎に表示する手段とを備えることを特徴とする故障診断
装置。 - 6. 請求項1乃至請求項5のいずれかの故障診断装置
と診断対象とをデータ伝送ネットワークを介して接続し
てなることを特徴とする故障診断システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30401388A JPH0658716B2 (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 故障診断装置及び故障診断システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30401388A JPH0658716B2 (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 故障診断装置及び故障診断システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02151000A true JPH02151000A (ja) | 1990-06-11 |
JPH0658716B2 JPH0658716B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=17928015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30401388A Expired - Lifetime JPH0658716B2 (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 故障診断装置及び故障診断システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0658716B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04324056A (ja) * | 1991-04-22 | 1992-11-13 | Takagi Ind Co Ltd | 給湯機故障診断システム |
JPH04335443A (ja) * | 1990-12-28 | 1992-11-24 | General Electric Co <Ge> | システム内の不良部品を隔離する方法と装置 |
JP2005309078A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Fuji Xerox Co Ltd | 故障診断方法および故障診断装置、画像形成装置、並びにプログラムおよび記憶媒体 |
CN116124218A (zh) * | 2023-02-13 | 2023-05-16 | 正泰电气股份有限公司 | 变压器故障的诊断方法、装置、存储介质以及电子设备 |
-
1988
- 1988-12-02 JP JP30401388A patent/JPH0658716B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04335443A (ja) * | 1990-12-28 | 1992-11-24 | General Electric Co <Ge> | システム内の不良部品を隔離する方法と装置 |
JPH04324056A (ja) * | 1991-04-22 | 1992-11-13 | Takagi Ind Co Ltd | 給湯機故障診断システム |
JP2005309078A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Fuji Xerox Co Ltd | 故障診断方法および故障診断装置、画像形成装置、並びにプログラムおよび記憶媒体 |
JP4538845B2 (ja) * | 2004-04-21 | 2010-09-08 | 富士ゼロックス株式会社 | 故障診断方法および故障診断装置、画像形成装置、並びにプログラムおよび記憶媒体 |
CN116124218A (zh) * | 2023-02-13 | 2023-05-16 | 正泰电气股份有限公司 | 变压器故障的诊断方法、装置、存储介质以及电子设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0658716B2 (ja) | 1994-08-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2021179574A1 (zh) | 根因定位方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
JP4726288B2 (ja) | 学習能力のある故障診断システム、故障診断方法および故障診断トレーニング方法 | |
CN102664748B (zh) | 基于交互式电子技术手册的联机故障诊断方法 | |
CN112084375A (zh) | 一种车辆的故障诊断方法、装置、终端设备及存储介质 | |
EP3805927B1 (en) | Maintenance operation assistance system | |
CN114385877B (zh) | 测试过程的可视化处理方法及系统、计算机可读介质 | |
JPH10124477A (ja) | 故障診断方法 | |
CN111353304B (zh) | 一种众包测试报告聚合和摘要的方法 | |
JPH0855029A (ja) | 原因の推論装置 | |
JPH02151000A (ja) | 故障診断装置及び故障診断システム | |
JPH06307897A (ja) | プラント分散階層システムの診断装置 | |
CN112256576B (zh) | 人机对话语料测试方法、装置、设备及存储介质 | |
JP3372102B2 (ja) | 故障診断装置 | |
JPH0713617A (ja) | 不具合事象の原因推定方法 | |
JP2525867B2 (ja) | プラント分散制御システムの故障診断装置 | |
JPH01278866A (ja) | 車両の故障診断装置 | |
JPH0229866A (ja) | 臨床検査システムの異常検体表示方法 | |
JP3455276B2 (ja) | 故障診断装置 | |
JPH0830458A (ja) | 問題解決支援システム | |
JP3196840B2 (ja) | 故障診断支援システム | |
JPS63313208A (ja) | プラント診断方法 | |
JPH1165651A (ja) | 予防保全装置 | |
CN117130850A (zh) | 故障诊断方法、装置、设备及存储介质 | |
CN117992341A (zh) | 测试报告的缺陷补充方法、设备及存储介质 | |
JPH02201295A (ja) | プラント機器故障診断作業支援装置 |