JPH02149943A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、情報記録担体に記録された情報を光学的に
再生する光ピックアップ、特に光源である半導体レーザ
の放射光を分割する回折格子の構造に関するものである
。

［従来の技術］ 従来の光ピックアップ装置を第２図（ａ）、（ｂ）およ
び第３図に基づいて説明する。

図において、（１）は光源である半導体レーザ、（２）
は半導体レーザ（１）の放射光を分割するための回折格
子、（３）は放射光を情報記録担体の方向へ反射させる
とともに情報記録担体からの反射光を透過させる光束分
離器、（４）は半導体レーザ（１）よりの放射光、（５
）は放射光（４）を集光して情報記録担体上に微少スポ
ットを形成する対物レンズ、（６）は情報記録担体から
の反射光の強弱を検出するための光検出器、（７）は螺
旋上トラックとして情報を記録した情報記録担体、（８
）は情報記録担体（７）上の情報トラック、（９）は情
報トラック（８）上に照射された放射光（４）による集
光スポット、（１０）は情報記録担体（７）からの反射
光、（１１）及び（１２）は回折格子（２）により分割
された＋１次光および一１次光による集光スポット、（
１３）は集光スポット（９）と情報トラック（８）のず
れを検出するトラッキングエラー信号である。

次に上記光ピックアップ装置の動作について説明する。

半導体（１）よりの放射光（４）は、回折格子（２）に
よって３つに分割され、光束分離機（３）に反射されて
対物レンズ（５）に入射し、情報記録担体（７）上に刻
まれた情報トラック（８）上に３つの微少スポット、即
ち第３図（ａ）に示すごとく集光スポット（９）及び＋
１次光スポツト（１１）及び−１次光スポツト（１２）
を形成する。このとき、＋１次光スポツト（１１）と−
１次光スポツト（１２）は情報トラック（８）を挟む形
で、情報記録担体上に位置する。

集光スポット（９）として集光された放射光（４）は、
情報トラック（８）に記録された情報により変調された
反射光（１０）として反射され、対物レンズ（５）をへ
た後、光束分離器（３）を透過し、光検知器（６）に入
射される。光検知器（６）は変調された光信号を電気信
号に変換する。

そしてこの出力信号はここには図示しない回路によって
、デジタルデータ、オーディオ信号などとして利用され
る。

集光スポット（９）は情報トラック（８）上を走査して
おり、情報トラック（８）と集光スポット（９）の相対
的位置は絶えず変動している。このため、＋１次光スポ
ツト（１１）と−１次光スポツト（１２）の反射光を集
光スポット（９）の場合と同様に光検出器で受け、この
強度の差を第３図（ｂ）に示すようなトラッキングエラ
ー信号（１３）として検出し、ここに図示しないサーボ
機構によって、集光スポット（９）と情報トラック（８
）のずれを補正している。

また、情報記録担体（７）と、集光スポット（９）を形
成する放射光（４）との光軸方向の位置関係も絶えず変
動しており、集光スポット（９）のスポット径が最適と
なる光軸方向位置からずれた状態、即ち合焦ずれの状態
で集光スポット（９）が情報記録担体上に形成されるこ
とがままある。

この様な合焦ずれは、一般的に光検出機（６）に照射さ
れた反射スポットの形状変化を検出し、ここに図示しな
いサーボ機構によって対物レンズ（５）を光軸方向に移
動させて補正する。

［発明が解決しようとする課題］ 従来の課題 従来の光ピックアップ装置は以上のように構成されてい
るが、この装置に光源として用いられる半導体レーザの
出射光は一般的に非点収差をもっている。

第４図は非点収差がある場合と無い場合のトラッキング
エラー信号の合焦ずれ特性の計算結果である。図におい
て（１４）は非点収差がないときのトラッキングエラー
信号、（１５）は非点収差が著しいときのトラッキング
エラー信号の各々合焦ずれ特性である。

図から分かるように、従来の光ピックアップ装置では、
半導体レーザに非点収差があるため、トラッキングエラ
ー信号のゲインが小さく、また、合焦ずれに対してゲイ
ン変動が大きいため、安定したサーボ特性が得られない
という課題があった。

発明の目的 この発明は係る課題を解決するために成されたもので、
トラッキングエラー信号の合焦ずれによるゲイン変動を
押さえ、十分に高いトラッキングエラー信号のゲインを
確保でき、もつと安定したトラッキングサーボ特性が実
現できる光ピックアップ装置を得ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ この発明に係る光ピックアップ装置は、光源として半導
体レーザを用いたものにおいて、情報記録担体へ放射す
る放射光を分割するための回折格子の格子間隔を不等間
隔にしたものである。

［作用］ この発明における光ピックアップ装置は、回折格子の格
子間隔が不等分であるため、この回折格子を経た光には
非点収差が発生し、この非点収差が半導体レーザの放射
光自身が持つ非点収差と打ち消し合い、＋１次光及び−
１次光の非点収差が除去される。よってトラッキングエ
ラー信号のゲインが高くなり、また合焦ずれに対するゲ
イン変動が小さくなり、安定したトラッキングサーボ特
性が実現する。

〔実施例〕

以下、この発明の実施例を第１図に基づいて説明する。

第１図は、実施例の光学系を示す図であり、半導体レー
ザ（１）、回折格子（２）、光束分離器（３）、対物レ
ンズ（５）、光検出器（６）、情報記録担体（７）等、
前述の第２図で示した従来装置と基本構成は全く同じで
ある。

本実施例の構成上の特徴は、回折格子（２）にある。即
ち、回折格子（２）は従来では第２図（ｂ）に示すよう
に格子間隔ｄが一定（等分）であるのに対し、本実施例
の回折格子（２）は、第１図（ｂ）に示すように格子間
隔ｄが不均一（不等分）となっている。

次に本実施例の動作について説明する。

半導体レーザ（１）からの放射光（４）は、回折格子（
２）によって３つに分割される。この時、回折格子（２
）の間隔ｄが不均一であるため、＋１次光および一１次
光の回折角度が放射光（４）の入射位置によって異なり
、非点収差が生じる。

このため＋１次光及び−１次光においては、半導体レー
ザ（１）の放射光（４）の非点収差が補正される。従っ
て、第３図において説明したようにトラッキングエラー
信号の合焦ずれ特性は十分にゲインの高いものとなり、
合焦ずれに対して変動の小さい安定したトラッキングエ
ラー信号（１３）が得られる。

［発明の効果］ 本発明は以上説明した通り、回折格子を不等間隔にした
ので、半導体レーザの放射光における非点収差を補正す
ることができ、安定したトラッキングサーボ特性が得ら
れる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例による先ピックアップ装置を示
すもので第１図（ａ）は装置の全体の配置図、第１図（
ｂ）は回折格子の正面図、第２図は従来の光ピックアッ
プ装置を示すもので、第２図（ａ）は装置全体の配置図
、第２図（ｂ）は回折格子の正面図、第３図はトラッキ
ング状態を示すもので、第３図（ａ）は情報トラックと
集光スポットの位置関係を示す図、第３図（ｂ）はトラ
ッキングエラー信号の波形図、第４図はトラッキングエ
ラー信号の合焦ずれ特性図である。 図中、（１）は半導体レーザ、（２）は回折格子、（４
）は放射光、（５）は対物レンズ、（６）は光検出器、
（７）は情報記録担体、（８）は情報トラック。 なお、図中、同一符号は同一または相当部材を示す。 代理人　弁理士　大　岩　増　雄 （外２名） （ａ） （ｂ） ３：光束／ｉｒ紐器 ９、ｌ光ズボッＦ 第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 半導体レーザと、情報が記録された情報記録担体上に前
   記半導体レーザの放射光を集光させる対物レンズと、前
   記放射光の光路中に配され前記半導体レーザの放射光を
   分割する回折格子とを備え、前記回折格子の格子間隔は
   不等間隔であることを特徴とする光ピックアップ装置。