JPH02149128A - 直線パルス符号変調および非直線パルス符号変調におけるテストパターンのルート切替方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 直線パルス符号変調および非直線側パルス符号変調の両
方式をサポートする音声信号処理方式におけるテストパ
ターンのルート切替方式に関し、非直線則テストパター
ン発生手段のみで直線テストパターン発生手段牽実現し
、直線パルス符号変調方式および非直線パルス符号変調
方式のいずれの方式とのインタフェースも可能にするル
ート切り替え方式の提供を目的とし、 直線−直線変換機能と非直線−直線変換機能をサポート
するＡ−Ｄ変換器とＤ−Ａ変換器を有し、前記のＡ−Ｄ
変換器の出力とＤ−Ａ変換器の入力を直線−非直線相互
変換回路を介して音声信号処理回路に接続した音声信号
処理系を構成するものにおいて、前記音声信号処理系を
構成する各々の回路を試験するための試験信号を発生す
る非直線則テストパターン発生手段と、該非直線則テス
トパターン発生手段の出力と、前記Ａ−Ｄ変換器よりの
出力をそれぞれ入力し、該２つの出力の中の一つを選択
して直線−非直線相互変換回路に出力する第１選択手段
と、前記Ａ−Ｄ変換器よりの出力と前記直線−非直線相
互変換回路よりの非直線−直線変換出力をそれぞれ入力
し、該２つの入力の中の一つを選択して前記音声信号処
理回路に出力する第２選択手段と、前記直線−非直線相
互変換回路より前記第２選択手段に入力する非直線−直
線変換出力を分岐して得られた出力と、前記直線−非直
線相互変換回路よりの直線−非直線変換出力と、前記音
声信号処理回路より直線−非直線相互変換回路に入力す
る出力を分岐して得られた出力と、前記非直線則テスト
パターン発生手段より前記第１選択手段に入力する出力
を分岐して得られた出力の４つの出力を入力し、該４つ
の出力の中の一つを選択してＤ−Ａ変換器に出力する第
３選択手段とを設けるように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、直線パルス符号変調および非直線則パルス符
号変調の両方式をサポートする音声信号処理方式におけ
るテストパターンのルート切替方式に関する。

通常、音声信号処理を用いて音声信号を瞬時圧縮して符
号化を行う場合、高音質を必要とするオーディオ信号の
ときには直線−直線側の変換機能を有したＡ−Ｄ変換器
とＤ−Ａ変換器を設け、また電話等の音声曹域を処理す
るときは直線−非直線側の変換機能を有するＡ−Ｄ変換
器とＤ−Ａ変換器を用いてデータ処理を行っている。

本発明は、非直線則テストパターン発生手段のみを用い
て、直線−直線側の変換機能および非直線−直線側の変
換機能のいずれのパルス符号変調方式の試験をも可能に
するルート切り替え方式の提供を図るものである。

〔従来の技術〕

第３図は従来の一実施例の構成を示す図である。

図中、１はアナログ信号のディジタル信号への変換を行
うＡ−Ｄ変換器であり、例えば高音質な必要とするオー
ディオ信号のときには直線−直線側の変換機能を有した
変換器を設け、また例えば電話等の音声曹域を処理する
ときには直線−非直線側である直線一対数変換の機能を
有する変ＦＩＡ器を設けたものである。２はＡ−Ｄ変換
器１とは反対にディジタル信号のアナログ信号への変換
を行うＤ−Ａ変換器であり、例えば高音質な必要とする
オーディオ信号のときには直線−直線側の変換機能を有
した変換器を設け、また電話等の音声曹域を処理すると
きには非直線−直線側である対数−直線変換の機能を有
する変換器を設けたものである。なおＡ−Ｄ変換器ｌと
Ｄ−Ａ変換器２の組み合わせは、直線−直線側の変換機
能と直線−直線側の変換機能、または非直線側の直線一
対数変換機能と対数−直線変換機能の一対により用いる
ものとする。

また３は、例えば対数符号を直線符号に変換する非直線
−直線側の対数−直線変換器３１および直線符号を対数
符号に変換する直線−非直線側の直線一対数変換器３２
よりなる直線−非直線相互変換回路であり、４は音声信
号処理回路、１３は非直線則の対数側テストパターン発
生回路、１４は直線則テストパターン発生回路である。

なお１５は第１セレクタ、１６は第２セレクタである。

以下第３図の回路を用いた試験方法について説明する。

（１）Ａ−Ｄ変換器１およびＤ−Ａ変換器２を直線−直
線変換機能としたときの試験は、 ■　アナログ入力よりディジタル出力のルートについて
は、第１セレクタ１５に端子ｂ→端子ｅの通路をつくり
、また第２セレクタには端子ａ→端子Ｃの通路をつくり
、入力するアナログ信号よりディジタル信号に変換され
たＡ−Ｄ変換器１の出力は、（対数−直線変換器３１を
迂回）−第２セレクタ１６（ａ−ｃ）−音声信号処理回
路４−（直線一対数変換器３２を迂回）−第１セレクタ
１５（ｂ→ｅ）→Ｄ−Ａ変換器２のルートにより試験を
行う。

■　直線則テストパターン発生回路１４を用いるときは
、第１セレクタに端子ｄ→端子ｅの通路をつくり、また
第２セレクタには端子ａ→端子Ｃの通路をつくり、かつ
Ｄ−Ａ変換器２の出力端とＡ−〇変換器ｌの入力端を接
続するルートをつくり、直線テストパターン発生回路１
４の出力を、例えば第１セレクタ１５　（ｄ−＝ｅ）　
−Ｄ−Ａ変換器２　→Ａ−Ｄ変換器１（対数−直線変換
器３１を迂回）−第２セレクタ１６（ａ−ｈｃ）−音声
信号処理回路４−（直線一対数変換器３２を迂回）→第
１セレクタ１５の端子すに至るルートにより試験を行う
。

（２）Ａ−Ｄ変換器１を直線一対数変換機能とし、また
Ｄ−Ａ変換ｔｓ２を対数−直線変換機能としたときの試
験は、 ■　アナログ入力よりディジタル出力までのルートにつ
いては、第１セレクタに端子ａ→端子ｅの通路をつくり
、また第２セレクタには端子ｂ　−端子Ｃの通路をつ（
す、Ａ−Ｄ変換器１の出力は、対数−直線変換器３１−
第２セレクタ１６（ｂ−ｈｃ）→音声信号処理回路４−
直線一対数変換器３２−第１セレクタ（ａ→ｅ）→Ｄ−
Ａ変換器２のルートにより試験を行う。

■　対数側テストパターン発生回路１４を用いて試験を
行う時は、第１セレクタに端子Ｃ一端子ｅの通路をつく
り、また第２セレクタに端子ｂ→端子Ｃの通路をつ（す
、かつＤ−Ａ変換器２の出力端とＡ−Ｄ変換器１の入力
端を接続する信号路をつくり、対数側テストパターン発
生回路１３の出力を、第１セレクタ１５　（ｃ−＊ｅ）
　−＋Ｄ−Ａ変換器２−Ａ−Ｄ変換器１一対数−直線変
換器３１→第２セレクタ１６（ｂ−＝ｃ）−音声信号処
理回路４−直線一対数変換器３２→第１セレクタ１５の
端子ａのルートにより試験を行う。

〔発明が解決しようとする課題〕

従って直線−直線変換機能または対数−直線変換機能を
有するＡ−Ｄ変換器１とＤ−Ａ変換器２の両方式の試験
をサポートする場合、直線則テストパターン発生回路と
対数側テストパターン発生回路の２方式のテストパター
ン発生回路が必要となる。

本発明は、非直線則テストパターン発生手段のみで直線
テストパターン発生手段を実現し、直線パルス符号変調
方式および非直線パルス符号変調方式のいずれの方式と
のインタフェースも可能にするルート切り替え方式の提
供を目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理構成を示す図である。

アナログ信号をディジタル信号に変換するための直線−
直線変換機能または非直線−直線変換機能のいずれかの
機能をもつＡ−Ｄ変換器ｌと、非直線−直線変換機能と
直線−非直線変換機能の両機能を有する直線−非直線相
互変換回路３と、音声信号処理回路４と、ディジタル信
号をアナログ信号に変換するための直線−直線変換機能
または直線−非直線変換機能のいずれかの機能をもち、
かつＡ−Ｄ変換器ｌと一対をなすＤ−Ａ変換器２とをそ
れぞれ具備するものに、 音声信号処理系を試験するための試験信号を発生するテ
ストパターン発生手段５、前記非直線則テストパターン
発生手段５の出力と前記Ａ−Ｄ変換器１よりの出力をそ
れぞれ入力し、該２つの出力の中の一つを選択して直線
−非直線相互変換回路３に出力する第１選択手段６と、
前記Ａ−Ｄ変換器１よりの出力と前記直線−非直線相互
変換回路３よりの非直線−直線変換出力をそれぞれ入力
し、該２つの出力の中の一つを選択して前記音声信号処
理回路４に出力する第２選択手段７と、前記直線−非直
線相互変換回路３より前記第２選択手段７に入力する非
直線−直線変換出力を分岐して得られた出力、前記直線
−非直線相互変換回路３よりの直線−非直線変換出力、
前記音声信号処理回路４より直線−非直線相互変換回路
３に入力する信号を分岐して得られた出力、前記非直線
側テストパターン発生回路５より前記第１選択手段６に
入力する信号を分岐して得られた出力、の４つの出力を
それぞれＤ−Ａ変換器２に入力して該４つの出力の中の
一つを選択して出力する第３選択手段８を設けた構成に
する。

〔作　用〕

本発明では第１図に示すように、第１選択手段６と第２
選択手段７と第３選択手段８を設け、Ａ−Ｄ変換器１．
直線−非直線相互変換回路３．音声信号処理回路４．Ｄ
−Ａ変換器２および非直線側テストパターン発生手段５
の出力を切り替え選択するようにしてテストパターンル
ートを形成している。

従って、非直線則テストパターン発住手段５のみで直線
−直線変換機能および非直線−直線変換機能のテストを
可能とする。

〔実　施　例〕

第２図は本発明の一実施例の構成を示す図である０図中
、１〜４および１３は従来通りの回路であり、１はＡ／
Ｄ変換器、２はＤ／Ａ変換器、３は対数−直線変換器３
１と直線一対数変換器３２よりなる直線−非直線相互変
換器回路、４は音声信号処理回路、１３は非直線側テス
トパターン発生手段５としての非直線則の対数剤テスト
パターン発生回路である。また１５は本発明のテストパ
ターンルートをつ（るために設けた第１選択手段６とし
ての第１セレクタであり、１６は第２選択手段７として
の第２セレクタ、また１７は第３選択手段８としての第
３セレクタである。更にＡ−Ｄ変換器１とＤ−Ａ変換器
２の直線−直線変換機能と直線−直線変換機能、または
直線一対数変換機能と対数−直線変換機能の組み合わせ
は従来通りである。以下第２図を用いた試験方法につい
て説明する。

（１）Ａ−Ｄ変換器１およびＤ−Ａ変換器２を直線−直
線変換機能としたときの試験は、 ■　アナログ入力よりディジタル出力までのルートにつ
いては、第１セレクタ１５を断とするようにしく例えば
端子す一端子Ｃを接続）、また第２セレクタ１６には端
子ａ→端子Ｃの通路をつくり、第３セレクタ１７に端子
Ｃ一端子ｅの通路をつ（す、入力するアナログ信号より
ディジタル信号に変換されたＡ−Ｄ変換器１の出力は、
（第１セレクタ１５と対数−直線変換器３１を迂回）→
第２セレクタ１６（ａ−Ｃ）→音声信号処理回路４−（
直線一対数変換器３２を迂回）−第３セレクタ１７の端
子Ｃ−４Ｄ−Ａ変換器２のルートにより試験を行う。

■　対数剤テストパターン発生回路１３を用いる時は、
第１セレクタ１５には端子ｂ→端子Ｃの通路つくり、第
２セレクタ１６には端子ｂ→端子Ｃの通路をつくり、ま
た第３セレクタ１７には端子す一端子ｅの通路をつくり
、かつＤ−Ａ変換器２の出力端とＡ−Ｄ変換器１の入力
端を接続するルートをつ（す、対数剤テストパターン発
生回路１３の出力を、例えば第１セレクタ１５（ｂ→Ｃ
）→対数−直線変換Ｘｉ　３１−第２セレク１６（ｂ−
ｃ）−音声信号処理回路４−直線一対数変換器３２−第
３セレクタ１７　（ｂ−ｅ）　−〇−Ａ変換器２−Ａ−
Ｄ変換器１−第１セレクタ１５の端子ａに至るルートに
より試験を行う。

（２）Ａ−Ｄ変換器１の直線一対数変換機能とし、また
Ｄ−Ａ変換器２を対数−直線変換機能としたときの試験
は、 ■　アナログ入力よりディジタル出力までのループにつ
いては、第１セレクタ１５を断とするため端子ｂ→端子
Ｃを接続し、第２セレクタ１６に端子ａ−一端子の通路
をつくり、また第３セレクタ１７に端子Ｃ→端子ｅの通
路をつくり、Ａ−Ｄ変換器ｌの出力は、（第１セレクタ
１５と対数−直線変換器３１を迂回）→第２セレクタ１
６（ａ−４ｃ）→音声信号処理回路４−（直線一対数変
換器３２を迂回）→第３セレクタ１７　（ｃ−＊ｅ）　
−Ｄ−Ａ変換器２のルートにより試験を行う。

■　対数側テストパターン発生回路１３を用いて試験を
行うときは、第１セレクタ１５に端子ａ→端子Ｃの通路
をつくり、第２セレクタ１６に端子ｂ→端子Ｃの通路を
つくり、また第３セレクタ１７に端子ｄ一端子ｅの通路
をつくり、かつＤ−Ａ変換器２の出力端とＡ−Ｄ変換器
１の入力端を接続する信号路をつくり、対数側テストパ
ターン発生回路１３の出力を、第３セレクタ１７　（ｄ
−４ｅ）　→Ｄ−Ａ変換器２−Ａ−Ｄ変換器１−第１セ
レクタ１５（ａ→Ｃ）一対数一直線変換器３１−第２セ
レクタ１６（ｂ→Ｃ）→音声信号処理回路４→直線一対
数変換器３２のルートにより試験を行う。

なお上記した以外に、第１セレクタ１５、第２セレクタ
１６、第３セレクタ１７をもちいての直線−直線変換機
能と対数−直線変換機能を有するＡ−Ｄ変換器１および
Ｄ−Ａ変換器２の信号系を切り替えての試験方法につい
ての他のルートも考えられるが、ここでは説明を省略す
るものとする。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように本発明によれば、直線符
号変調方式および非直線符号変調方式の試験が非直線符
号変調方式のテストパターン回路のみで実現可能となる
。

従って音声信号処理方式の試験回路の回路規模の縮小に
効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成を示す図、 第２図は本発明の一実施例の回路構成を示す図、第３図
は従来の一実施例の回路構成を示す図、である。 図において、 １はＡ−Ｄ変換器、 ２はＤ−Ａ変換器、 ３は直線−非直線相互変換回路、 ４は音声信号処理回路、 ５は非直線則テストパターン発生手段、６は第１選択手
段、 ７は第２選択手段、 ８は第３選択手段、 を示す。 ＋べ Ｎ ミ１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 直線−直線変換機能と非直線−直線変換機能をサポート
   するＡ−Ｄ変換器（１）とＤ−Ａ変換器（２）を有し、
   前記のＡ−Ｄ変換器（１）の出力とＤ−Ａ変換器（２）
   の入力を直線−非直線相互変換回路（３）を介して音声
   信号処理回路（４）に接続した音声信号処理系において
   、 前記音声信号処理系を構成する各々の回路を試験するた
   めの試験信号を発生する非直線則テストパターン発生手
   段（５）と、 該非直線則テストパターン発生手段（５）の出力と、前
   記Ａ−Ｄ変換器（１）よりの出力をそれぞれ入力し、該
   ２つの出力の中の一つを選択して直線−非直線相互変換
   回路（３）に出力する第１選択手段（６）と、 前記Ａ−Ｄ変換器（１）よりの出力と前記直線−非直線
   相互変換回路（３）よりの非直線−直線変換出力をそれ
   ぞれ入力し、該２つの入力の中の一つを選択して前記音
   声信号処理回路（４）に出力する第２選択手段（７）と
   、 前記直線−非直線相互変換回路（３）より前記第２選択
   手段（７）に入力する非直線−直線変換出力を分岐して
   得られた出力と、前記直線−非直線相互変換回路（３）
   よりの直線−非直線変換出力と、前記音声信号処理回路
   （４）より直線−非直線相互変換回路（３）に入力する
   出力を分岐して得られた出力と、前記非直線則テストパ
   ターン発生手段（５）より前記第１選択手段（６）に入
   力する出力を分岐して得られた出力の４つの出力を入力
   し、該４つの出力の中の一つを選択してＤ−Ａ変換器（
   ２）に出力する第３選択手段（８）とを設けたことを特
   徴とする直線パルス符号変調および非直線パルス符号変
   調におけるテストパターンのルート切替方式。