JPH02149102A - Tem伝送路の無反射終端 - Google Patents

Tem伝送路の無反射終端

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JPH02149102A
JPH02149102A JP1263808A JP26380889A JPH02149102A JP H02149102 A JPH02149102 A JP H02149102A JP 1263808 A JP1263808 A JP 1263808A JP 26380889 A JP26380889 A JP 26380889A JP H02149102 A JPH02149102 A JP H02149102A
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transmission line
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tem
reflection
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    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0807Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
    • G01R29/0814Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
    • G01R29/0821Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning rooms and test sites therefor, e.g. anechoic chambers, open field sites or TEM cells
    • G01R29/0828TEM-cells
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はTEM伝送路の無反射終端に関し、この伝送路
では、TEM波が内部導体及び外部導体中を伝送されて
、該TBM伝送路の一端部で、場のエネルギーを吸収す
るRF吸収体と、TEM波の、伝送路内を案内されたエ
ネルギーを吸収するオームライン終端とによって吸収さ
れる。
(従来技術とその問題点) EMI試験電子設備用の装置が特許比Ill C)I 
−2026/86−9により公知となっている。他の試
験設備と較べると、これはEMI (EMI=電磁干渉
)試験設備に大きな長所を示す。特に、これは、広い周
波数範囲にわたって明確な場の分布を作り出すと共に、
広帯域放射測定に使用することができる。
しかし、波の場に有害な、局所的で周波数依存性の異質
性が生じることが分かった。これには、ライン終端が充
分に無反射性でないという事実が伴っている。
TEM伝送路用のライン終端が、例えば、西独公開公報
り已−3130487A1により知られている。特に、
この場合、内部導体には、等電位ライン上に位置する、
即ち波の場の伝播方向を横切る様に位置する終端抵抗器
が設けられる。この構成による測定から、これは100
Mttz以上の周波数には不適当であることが分かった
(発明の概要) 従って、本発明の目的は、最初に述べた種類のTEM伝
送路の新規な無反射終端を提供することである。
本発明による解決策は、TEM伝送路用のかかるライン
終端において、 a)該ライン終端を内部導体により決まる平面内に、且
つ波の方向に位置させ、 b)内部導体において漸進的、且つ連続的な減衰を生じ
させるオーム抵抗として該ライン終端を構成し、 c)RF吸収体により該ライン終端に付加された容量負
荷を局所的に補償することから成る。
場のエネルギーは、該オーム端子と平行に設けられた吸
収体区域で吸収される。
好ましくは、該ライン終端は、同時に、TEM波の伝播
方向を横切る電流分布と整合する抵抗輪郭を示す。
RF点吸収体を持った場整合・球形キャップ状RF吸収
体により終端するピラミッド状に広がるTEM伝送路か
ら成るEMI試験電子設備用の装置に本発明のライン終
端を使うと特に有益である。
そのようにすれば、その電子設備は単に輻射について信
較性をもって試験され得るのみならず、その放射も正確
に測定することができる。
本発明の他の有益な実施例は、特許請求の範囲の欄の従
属請求項において定義されている。
次に、図面を参照して本発明を更に詳しく説明する。
(実施例) 第1図はEMI試験電子設備用の装置の基本的部分を示
す。これは、外部導体l、不平衡内部導体4、給電ウェ
ッジ2及びRF吸収体5を持ったTEM伝送路から成る
。同軸ケーブル3は、例えば、パルス状又は正弦波形の
無線周波数(RF)を給電ウェッジ2に供給し、該給電
ウェッジはTEM波(T E M −transver
se electromagnetic)を生成し、こ
れをTEM伝送路内に接続する。
TEM伝送路は一点からピラミッド状に広がっている。
RF吸収体5はTEM伝送路の広がった端部に位置し、
球形キャップの形を有する。これにはRF点吸収体6が
設けられており、TEM伝送路内を伝播する所要の波の
場に調和している。
即ち、これはTEM波のエネルギーの場の伝播を吸収す
る。
該TEM伝送路自体はスイス特許出願C)I−2026
/86−9に詳しく記載されており、その内容を本明細
書に含めるものとする。
内部導体1は板状であり、TEM伝送路1の広い端部に
ライン終端7を備えている0本発明においては、このラ
イン終端7は、TEM波のエネルギーの、伝送路に案内
される部分が吸収されるように構成されている。このラ
イン終端は、干渉を生じることがなく、同時に、他の理
由から生じた干渉モードは減衰させられる。以下の記述
において、所望の効果を得るのに不可決の点について説
明をする。
最初に、ライン終端7は、その位置に関して、内部導体
4により決定される平面内に配置されなければならない
。従って、該ライン終端は内部導体4の、波の場の方向
の、同じ高さの延長部分となる。(Zで示した矢は、第
1図における波の場の方向を示す。)そこで、内部導体
4内を流れる電流は、不連続を伴わずに除去される。波
の方向の電流伝播を乱されないので、有害なモードは生
じない。
第2に、ライン終端7は、内部導体4上で漸進的で、且
つ連続的な減衰を生じさせるオーム抵抗として構成され
なければならない。これについて第2図及び第3図を参
照して説明をする。
第2図は、従来技術において内部導体4が如何にして終
端されるかを示す。(第2図及び第3図は、内部導体4
を上から見た図である。)生成された波の場は、RF吸
収体5の厚みで与えられる端部領域Tで減衰させられる
。この端部領域で、内部導体4の輪郭は歯の形状を成し
て、RF点吸収体6が互いに衝合する点で終端している
。該両点は、ワイヤによりRF吸収体5の密着した部分
を通過して、その背後のオーム抵抗Rで終端している。
第3図は、本発明のライン終端7が内部導体4をどの様
に終端させるかを示す。RF吸収体5及びRF点吸収体
6は第2図と同様に示されている。
ライン終端7は端部領域Tの全体を覆っている。
従って、該ライン終端もRF吸収体5の密着部分を通過
する。それは、波の場の伝播方向に抵抗輪郭dR/dz
を有する区域として構成されており、これは、RF吸収
体5がライン終端7に付加した容量負荷を局所的に補償
する。斯くしてTEM波は全ての点において局所的に整
合した特性インピーダンスに「遭遇する」。
一般的な場合には、抵抗輪郭dR/dzは、内部導体と
ライン終端との移行部で小さな値から上昇して最大値と
なり、次に再び端部領域の端部に向かって小さな値へと
下降する。
本発明の好適な実施例においては、ライン終端は同時に
TEM波の伝播方向を横切る電流分布と整合する抵抗輪
郭を示す。これにより、内部導体の横のエツジでの大き
な電流成分がTEM波の伝播方向を横切って分散される
ことが防止される。
これに対応して、該抵抗輪郭は波の場の方向を横切って
、即ちライン終端の中心から側部へ向かって、減少する
。量的に見ると、該抵抗輪郭はライン終端の縁において
最小値を有する。
最後に、ライン終端7は、RF吸収体5及びRF点吸収
体6が内部導体4に付加した容量負荷が局所的に補償さ
れるように構成されている。
本発明のライン終端7は、好ましくは、例えば合板など
の支持板に、例えば、場所に依存する適当な厚みを持っ
たグラファイト被膜を設けて具体化することが出来るも
のである。電流が干渉無しに内部導体4から該抵抗被膜
へ伝導されるように、金属の歯状移行領域を該支持板上
に設けることができる。
第4図は他の実施例を示す。この実施例では、ライン終
端におけるオーム連続減衰は、別々の抵抗器のネットワ
ークにより実現される。
支持板としては、繊維強化プラスチック板が適当である
。この板は、適当な抵抗層で被覆され、或は、材料によ
っては板目体が抵抗として直接使用される。
本発明は、以下に記載した代表的実施例に限定されるも
のではない。特に、本発明は、外部導体の一つの端部又
、は数個の端部が開いている開放型又は半開放型TEM
伝送路にも適している。
(効 果) 以下に、本発明の別の特徴及び利点をキーワードとして
列記する。
1、 本発明は、試験体積及び周波数範囲の全域に亙っ
て場の均一性を明確に向上させる。
2、従って、遥かに大きくて高品質の試験チャンバ(例
えばシステム及び車両用の)を作ることが可能となる。
3、広帯域セルの終端区域の製造コストを減少させる。
4、従来技術における別々の抵抗器と較べると、成る区
域に分散させられた終端抵抗の冷却が良好に且つ簡単に
行なわれる。従って、試験チャンバを大電磁場強度に使
用することができる。
同様に、これによって、より大きな構造高さが可能とな
る。
5、高電圧強度が大きくなる。
6、場の質が高いので、標準化された自由電磁場放射値
との精密な相関が可能となる。
7、本発明は、開放型伝送路構成にも使用することので
きるものである。
8、最後に、本発明に従って、広帯域、大出力、耐高電
圧終端負荷(いわゆるダミーロード)を作ることができ
る。
結論として、本発明は、大電力を消費しなければならな
い場合に有利に使うことのできる広帯域無反射ライン終
端を創造したと言うことができる。
明らかに、以上の記述内容から本発明を色々に修正、変
形することができる。従って、特許請求の範囲の欄の記
載内容の範囲内で、本発明を、本書に詳しく記載した態
様以外の態様で実施することができるということが理解
されなければならない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、EMI試験電子設備用の装置を示す。 第2図は、従来技術のライン終端を示す。 第3図は、本発明のライン終端を示す。 第4図は、別々の抵抗のネットワークの形のライン終端
を示す。 図中符号:  1  外部導体 2  給電ウェッジ 3  同軸ケーブル 4  内部導体 5   RF吸収体 e   RF点吸収体 7  ライン終端 dR/dt  抵抗輪郭 T  移行領域 FIo、1 FIG、2 FIG、3 FIG、4

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)TEM伝送路の無反射終端であって、TEM波が
    内部導体(4)及び外部導体(1)中を伝導されて、該
    TEM伝送路の一端部で、場のエネルギーを吸収するR
    F吸収体(5)と、TEM波の、伝送路内を案内された
    エネルギーを吸収するオームライン終端(7)とによっ
    て吸収されるように成っており、 a)該ライン終端(7)を内部導体(4)により決まる
    平面内に且つ波の方向に位置させ、b)内部導体(4)
    において漸進的、且つ連続的な減衰を生じさせるオーム
    抵抗として該ライン終端(7)を構成し、 c)RF吸収体(5)により該ライン終端(7)に付加
    された容量負荷を局所的に補償することを特徴とするT
    EM伝送路の無反射終端。
  2. (2)該TEM伝送路は閉鎖型TEM伝送路であること
    を特徴とする請求項1に記載のTEM伝送路の無反射終
    端。
  3. (3)該TEM伝送路は開放型TEM伝送路であること
    を特徴とする請求項1に記載のTEM伝送路の無反射終
    端。
  4. (4)該ライン終端(7)は、抵抗層を持った支持板か
    ら成ることを特徴とする請求項1に記載のTEM伝送路
    の無反射終端。
  5. (5)該ライン終端は別々の抵抗器のネットワークから
    成ることを特徴とする請求項1に記載のTEM伝送路の
    無反射終端。
  6. (6)該抵抗層はグラファイトから成り、場所に依存す
    る厚みを呈することを特徴とする請求項4に記載のTE
    M伝送路の無反射終端。
  7. (7)該支持板は繊維強化プラスチック板であることを
    特徴とする請求項4に記載のTEM伝送路の無反射終端
  8. (8)該ライン終端は繊維強化プラスチック板から成る
    ことを特徴とする請求項1に記載のTEM伝送路の無反
    射終端。
  9. (9)該ライン終端は、同時に、TEM波の伝播方向を
    横切る電流分布と整合する抵抗輪郭を示すことを特徴と
    する請求項1に記載のTEM伝送路の無反射終端。
  10. (10)RF点吸収体(6)を持った場整合・球形キャ
    ップ状RF吸収体(5)で終端し、ライン終端(7)を
    持った板状内部導体(4)を有する、ピラミッド状に広
    がるTEM伝送路によるEMI試験電子設備用の装置で
    あって、 a)該ライン終端(7)を内部導体(4)により決まる
    平面内に且つ波の方向に位置させ、b)内部導体(4)
    において漸進的、且つ連続的な減衰を生じさせるオーム
    抵抗として該ライン終端(7)を構成し、 c)RF吸収体(5)により該ライン終端(7)に付加
    された容量負荷を局所的に補償することを特徴とする装
    置。
JP1263808A 1988-10-14 1989-10-09 Tem伝送路の無反射終端 Expired - Lifetime JPH088443B2 (ja)

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CH3853/88-8 1988-10-14
CH385388 1988-10-14

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JPH02149102A true JPH02149102A (ja) 1990-06-07
JPH088443B2 JPH088443B2 (ja) 1996-01-29

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EP (1) EP0363831B1 (ja)
JP (1) JPH088443B2 (ja)
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