JPH05264620A - Ｔｅｍセル - Google Patents
ＴｅｍセルInfo
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- JPH05264620A JPH05264620A JP6494692A JP6494692A JPH05264620A JP H05264620 A JPH05264620 A JP H05264620A JP 6494692 A JP6494692 A JP 6494692A JP 6494692 A JP6494692 A JP 6494692A JP H05264620 A JPH05264620 A JP H05264620A
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- Japan
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- conductor
- trapezoid
- high frequency
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 小型で使い勝手の良い充分に高い周波数まで
使用可能なＴＥＭセル。 【構成】 外部導体３は、入力端側において、外部導体
３の両側面及び下側面が、高周波信号源を接続する同軸
コネクタ２の位置からテーパ状にＴＥＭセル１１の中心
部に向けて広がるように形成され、また、その中心部の
所定の長さを持つ部分が略矩形断面となるように、さら
に、終端側において、外部導体３の両側面部のみがテー
パ状に同軸負荷への接続部に向けて狭められて構成され
る。中心導体４は、前述のように構成される外部導体３
に囲まれて形成される空間内で、テーパ部が形成されて
いない外部導体の上側面を底辺とする略台形に形成さ
れ、その両端がそれぞれ、高周波信号源及び同軸負荷に
接続される。この台形の上底部は、前記底辺となる外部
導体との間の距離が、前記底辺となる外部導体と対向す
る外部導体の下側面との間の距離より小さくなる位置に
なるように配置されている。
使用可能なＴＥＭセル。 【構成】 外部導体３は、入力端側において、外部導体
３の両側面及び下側面が、高周波信号源を接続する同軸
コネクタ２の位置からテーパ状にＴＥＭセル１１の中心
部に向けて広がるように形成され、また、その中心部の
所定の長さを持つ部分が略矩形断面となるように、さら
に、終端側において、外部導体３の両側面部のみがテー
パ状に同軸負荷への接続部に向けて狭められて構成され
る。中心導体４は、前述のように構成される外部導体３
に囲まれて形成される空間内で、テーパ部が形成されて
いない外部導体の上側面を底辺とする略台形に形成さ
れ、その両端がそれぞれ、高周波信号源及び同軸負荷に
接続される。この台形の上底部は、前記底辺となる外部
導体との間の距離が、前記底辺となる外部導体と対向す
る外部導体の下側面との間の距離より小さくなる位置に
なるように配置されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＴＥＭセルに係り、特
に、電子機器等の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試
験、感度試験、電磁放射特性試験等を行うために用いて
好適なＴＥＭセルに関する。
に、電子機器等の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試
験、感度試験、電磁放射特性試験等を行うために用いて
好適なＴＥＭセルに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＴＥＭセルに関する従来技術として、米
国ＮＢＳ（Ｎational Ｂureau of Ｓtandards）におい
て、電界強度校正の目的で、既知のＴＥＭ波の電界を正
確に発生させるための装置として開発されたＴＥＭセル
（Ｔransvers Ｅlectromagnetic Ｃell）が知られてい
る。この装置は、電界強度校正の目的だけでなく、電子
装置、電子部品、受信機等のＥＭＩを除去し得る能力、
すなわち、電磁気感受性または電磁気保護レベルおよび
電磁妨害排除能力の試験用として広範囲に使用されてい
る。
国ＮＢＳ（Ｎational Ｂureau of Ｓtandards）におい
て、電界強度校正の目的で、既知のＴＥＭ波の電界を正
確に発生させるための装置として開発されたＴＥＭセル
（Ｔransvers Ｅlectromagnetic Ｃell）が知られてい
る。この装置は、電界強度校正の目的だけでなく、電子
装置、電子部品、受信機等のＥＭＩを除去し得る能力、
すなわち、電磁気感受性または電磁気保護レベルおよび
電磁妨害排除能力の試験用として広範囲に使用されてい
る。
【０００３】図３は前述の従来技術によるＴＥＭセルの
一例を示す斜視図である。図３において、１は高周波信
号源、２は同軸コネクタ、３は外部導体、４は中心導
体、５は中心導体支持棒、６は供試品収容扉、７は入出
力および電源用端子、８は供試品、９は供試品用絶縁
台、１０は同軸負荷、１１はＴＥＭセルである。
一例を示す斜視図である。図３において、１は高周波信
号源、２は同軸コネクタ、３は外部導体、４は中心導
体、５は中心導体支持棒、６は供試品収容扉、７は入出
力および電源用端子、８は供試品、９は供試品用絶縁
台、１０は同軸負荷、１１はＴＥＭセルである。
【０００４】図３に示す従来技術によるＴＥＭセル１１
は、外部導体３および中心導体４により構成される空間
内に均一な電磁界を発生させるもので、導体によつて囲
まれた略矩形状断面を有する中央部とその両端が四角錐
状となるように形成されたテーパ部とにより構成される
外部導体３と、外部導体３により形成される空間の中心
部に絶縁体である中心導体支持棒５により保持され、外
部導体３と絶縁された状態でその両端が外部導体３の四
角錐状部の頂点部まで延びている中心導体４とにより構
成されている。そして、ＴＥＭセル１１の両頂点部に
は、高周波信号源１および同軸負荷１０が接続されてい
る。
は、外部導体３および中心導体４により構成される空間
内に均一な電磁界を発生させるもので、導体によつて囲
まれた略矩形状断面を有する中央部とその両端が四角錐
状となるように形成されたテーパ部とにより構成される
外部導体３と、外部導体３により形成される空間の中心
部に絶縁体である中心導体支持棒５により保持され、外
部導体３と絶縁された状態でその両端が外部導体３の四
角錐状部の頂点部まで延びている中心導体４とにより構
成されている。そして、ＴＥＭセル１１の両頂点部に
は、高周波信号源１および同軸負荷１０が接続されてい
る。
【０００５】高周波信号源１と外部導体３および中心導
体４とは、同軸コネクタ２を介して接続されており、そ
の際、同軸ケーブルの外部導体と図示の外部導体３とが
接続され、同軸ケーブルの中心導体と図示の中心導体４
とが接続される。また、他の頂点に接続される同軸負荷
１０は、外部導体３と中心導体４との間に接続される。
体４とは、同軸コネクタ２を介して接続されており、そ
の際、同軸ケーブルの外部導体と図示の外部導体３とが
接続され、同軸ケーブルの中心導体と図示の中心導体４
とが接続される。また、他の頂点に接続される同軸負荷
１０は、外部導体３と中心導体４との間に接続される。
【０００６】外部導体３の側面には、供試品収容扉６、
入出力および電源用端子７が設けられており、試験すべ
き供試品８は、この供試品収容扉６から外部導体３と中
心導体４との間に構成される試験空間内に、該試験空間
内に設けられた供試品用絶縁台９上にセットされる。ま
た、この供試品８は、貫通コネクタで構成される入出力
および電源用端子７を介して、必要な信号の入出力と電
源の供給を受ける。
入出力および電源用端子７が設けられており、試験すべ
き供試品８は、この供試品収容扉６から外部導体３と中
心導体４との間に構成される試験空間内に、該試験空間
内に設けられた供試品用絶縁台９上にセットされる。ま
た、この供試品８は、貫通コネクタで構成される入出力
および電源用端子７を介して、必要な信号の入出力と電
源の供給を受ける。
【０００７】前述のように構成される従来技術におい
て、高周波信号源１から高周波信号が与えられれば、こ
の高周波信号は、外部導体３と中心導体４とによりこれ
らの間に構成される空間に均一な電磁界を発生させて伝
播し、同軸負荷１０に吸収される。
て、高周波信号源１から高周波信号が与えられれば、こ
の高周波信号は、外部導体３と中心導体４とによりこれ
らの間に構成される空間に均一な電磁界を発生させて伝
播し、同軸負荷１０に吸収される。
【０００８】従って、外部導体３と中心導体４との間に
構成される試験空間内にセットされる供試品８は、所定
の任意の大きさを持つ均一な電磁界に曝されることにな
り、この状態で供試品８を動作させれば、前記従来技術
は、供試品８に対する前述した各種試験を行うことがで
きる。
構成される試験空間内にセットされる供試品８は、所定
の任意の大きさを持つ均一な電磁界に曝されることにな
り、この状態で供試品８を動作させれば、前記従来技術
は、供試品８に対する前述した各種試験を行うことがで
きる。
【０００９】さらに、前記従来技術は、高周波信号源１
を妨害波強度測定器、スペクトルアナライザ等に置き換
えることにより、供試品８から発生する電磁界の強さ、
周波数分布等の電磁放射特性を測定することができる。
を妨害波強度測定器、スペクトルアナライザ等に置き換
えることにより、供試品８から発生する電磁界の強さ、
周波数分布等の電磁放射特性を測定することができる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】前記従来技術は、電子
機器等の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試験、感度試
験等を行うために用いて極めて有効なものであるが、中
心導体４が外部導体３の中心部に位置しているため、供
試品８をセットする試験空間が、外部導体３により構成
される空間の１／２しか無く、空間の利用効率が悪いと
いう問題点を有している。すなわち、前記従来技術は、
供試品８が小さい場合にも装置を小型化することができ
ず、また、供試品８が大きい場合には装置自体が極めて
大きなものとなってしまうという問題点を有している。
機器等の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試験、感度試
験等を行うために用いて極めて有効なものであるが、中
心導体４が外部導体３の中心部に位置しているため、供
試品８をセットする試験空間が、外部導体３により構成
される空間の１／２しか無く、空間の利用効率が悪いと
いう問題点を有している。すなわち、前記従来技術は、
供試品８が小さい場合にも装置を小型化することができ
ず、また、供試品８が大きい場合には装置自体が極めて
大きなものとなってしまうという問題点を有している。
【００１１】また、前記従来技術は、外部導体のテーパ
部内面から信号の反射があり、試験空間内で共振を生
じ、また、この共振がマルチモードの成長を助長して、
試験空間内の電磁界の均一性を損なわせ、充分に高い周
波数の電磁界を試験空間内に均一に発生させることがで
きず、充分に高い周波数による供試品８の試験を行うこ
とができないという問題点を有している。
部内面から信号の反射があり、試験空間内で共振を生
じ、また、この共振がマルチモードの成長を助長して、
試験空間内の電磁界の均一性を損なわせ、充分に高い周
波数の電磁界を試験空間内に均一に発生させることがで
きず、充分に高い周波数による供試品８の試験を行うこ
とができないという問題点を有している。
【００１２】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決し、小型で使い勝手が良く、充分に高い周波数まで
使用可能なＴＥＭセルを提供することにある。
解決し、小型で使い勝手が良く、充分に高い周波数まで
使用可能なＴＥＭセルを提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明によれば前記目的
は、外部導体を、その中央部を略矩形状断面とし、その
終端側の両側面を錐状となるようにテーパ部を持って形
成し、入力端側の両側面と上下面の一方とを錐状となる
ようにテーパ部を持って形成し、中心導体を、前記外部
導体のテーパ部を持たない面を底辺とする略台形に形成
し、この台形の上底部が前記外部導体の中央部に、前記
底部となる外部導体の面までの距離が、対向する外部導
体の面までの距離より短かくなるように位置させること
により達成される。
は、外部導体を、その中央部を略矩形状断面とし、その
終端側の両側面を錐状となるようにテーパ部を持って形
成し、入力端側の両側面と上下面の一方とを錐状となる
ようにテーパ部を持って形成し、中心導体を、前記外部
導体のテーパ部を持たない面を底辺とする略台形に形成
し、この台形の上底部が前記外部導体の中央部に、前記
底部となる外部導体の面までの距離が、対向する外部導
体の面までの距離より短かくなるように位置させること
により達成される。
【００１４】
【作用】前述の構成を備えることにより、台形に形成さ
れた中心導体の外側部と外部導体とにより囲まれる試験
空間を大きくすることができ、従来技術と同一の大きさ
の装置であれば、より大型の供試品の試験を行うことが
可能となり、また、従来技術と同一の大きさの供試品の
試験を行うのであれば、装置全体を小型に構成すること
ができる。
れた中心導体の外側部と外部導体とにより囲まれる試験
空間を大きくすることができ、従来技術と同一の大きさ
の装置であれば、より大型の供試品の試験を行うことが
可能となり、また、従来技術と同一の大きさの供試品の
試験を行うのであれば、装置全体を小型に構成すること
ができる。
【００１５】また、終端側の外部導体が、その側面だけ
がテーパ状とされているので、テーパ部内面からの反射
波を従来技術に比較して少なくすることができ、これに
より、試験空間内での共振の発生、マルチモードの発生
を防止して極めて高い周波数まで使用可能とすることが
できる。また、電波吸収材を外部導体の内面に適宜設け
ることにより、さらに高い周波数まで使用可能とするこ
とができる。
がテーパ状とされているので、テーパ部内面からの反射
波を従来技術に比較して少なくすることができ、これに
より、試験空間内での共振の発生、マルチモードの発生
を防止して極めて高い周波数まで使用可能とすることが
できる。また、電波吸収材を外部導体の内面に適宜設け
ることにより、さらに高い周波数まで使用可能とするこ
とができる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明によるＴＥＭセルの一実施例を
図面により詳細に説明する。
図面により詳細に説明する。
【００１７】図１は本発明の一実施例の構成を示す側面
図、図２は本発明の一実施例の構成を示す平面図であ
る。図１、図２において、１２は電波吸収材であり、他
の符号は図３の場合と同一である。
図、図２は本発明の一実施例の構成を示す平面図であ
る。図１、図２において、１２は電波吸収材であり、他
の符号は図３の場合と同一である。
【００１８】図１、図２に示す本発明の一実施例におい
て、外部導体３と中心導体４とを高周波信号源１に接続
する構成、外部導体３と中心導体４とを同軸負荷１０に
接続する構成、及び、外部導体の側面に設けた供試品収
容扉６を含む周辺部の構成は、図３により説明した従来
技術の場合と同様である。
て、外部導体３と中心導体４とを高周波信号源１に接続
する構成、外部導体３と中心導体４とを同軸負荷１０に
接続する構成、及び、外部導体の側面に設けた供試品収
容扉６を含む周辺部の構成は、図３により説明した従来
技術の場合と同様である。
【００１９】そして、本発明の一実施例による外部導体
３は、外部導体３と中心導体４とを高周波信号源１に接
続する入力端側において、外部導体３の両側面及び下側
面の一方の面が、高周波信号源１を接続する同軸コネク
タ２の位置からテーパ状にＴＥＭセル１１の中心部に向
けて広がるように形成され、また、ＴＥＭセル１１の中
心部の所定の長さを持つ部分が略矩形断面を有するよう
に構成される。
３は、外部導体３と中心導体４とを高周波信号源１に接
続する入力端側において、外部導体３の両側面及び下側
面の一方の面が、高周波信号源１を接続する同軸コネク
タ２の位置からテーパ状にＴＥＭセル１１の中心部に向
けて広がるように形成され、また、ＴＥＭセル１１の中
心部の所定の長さを持つ部分が略矩形断面を有するよう
に構成される。
【００２０】さらに、外部導体３は、外部導体３と中心
導体４とを同軸負荷１０に接続する終端側において、外
部導体３の両側面のみがテーパ状に同軸負荷１０の接続
部に向けて狭められて構成される。
導体４とを同軸負荷１０に接続する終端側において、外
部導体３の両側面のみがテーパ状に同軸負荷１０の接続
部に向けて狭められて構成される。
【００２１】中心導体４は、前述のように構成される外
部導体３に囲まれて形成される空間内で、テーパ部が形
成されていない外部導体の面、この例では図１に示す上
側面を底辺とする略台形に形成され、その両端がそれぞ
れ、高周波信号源１及び同軸負荷１０に接続される。こ
の台形の上底部は、前記底辺となる外部導体との間の距
離が、前記底辺となる外部導体と対向する外部導体の
面、この例では、図１に示す下側面との間の距離より小
さくなる位置となるように、外部導体３に囲まれて構成
される空間内に配置されている。また、この中心導体４
は、外部導体３の上側面との間に備えられるテフロン、
ジュラコン等の絶縁体による中心導体支持棒５により支
持されている。
部導体３に囲まれて形成される空間内で、テーパ部が形
成されていない外部導体の面、この例では図１に示す上
側面を底辺とする略台形に形成され、その両端がそれぞ
れ、高周波信号源１及び同軸負荷１０に接続される。こ
の台形の上底部は、前記底辺となる外部導体との間の距
離が、前記底辺となる外部導体と対向する外部導体の
面、この例では、図１に示す下側面との間の距離より小
さくなる位置となるように、外部導体３に囲まれて構成
される空間内に配置されている。また、この中心導体４
は、外部導体３の上側面との間に備えられるテフロン、
ジュラコン等の絶縁体による中心導体支持棒５により支
持されている。
【００２２】なお、外部導体３の上面との間に備えられ
る絶縁体による中心導体支持棒５は、外部導体３の下面
との間に備えられるようにして、中心導体４を支持して
もよく、また、これらの外部導体３及び中心導体４は、
例えば、アルミ、銅等により構成されればよい。
る絶縁体による中心導体支持棒５は、外部導体３の下面
との間に備えられるようにして、中心導体４を支持して
もよく、また、これらの外部導体３及び中心導体４は、
例えば、アルミ、銅等により構成されればよい。
【００２３】このような本発明の一実施例は、台形に形
成される中心導体４の下方と外部導体３の下面及び側面
とによつて大きな試験空間を形成することが可能とな
り、この空間に電磁界を発生させ、供試品８をセットす
ることにより、供試品８の耐ノイズ特性試験、電界強度
校正試験、感度試験、あるいは、供試品８からの電磁放
射特性試験等を行うことができる。
成される中心導体４の下方と外部導体３の下面及び側面
とによつて大きな試験空間を形成することが可能とな
り、この空間に電磁界を発生させ、供試品８をセットす
ることにより、供試品８の耐ノイズ特性試験、電界強度
校正試験、感度試験、あるいは、供試品８からの電磁放
射特性試験等を行うことができる。
【００２４】前述した本発明の実施例において、外部導
体３の中央部における断面寸法を幅６００mm×高さ４０
０mm、試験空間の内部高さ３００mmとした場合に、試験
空間内に１０００ＭＨｚまでの電磁界を均一に分布させ
ることができた。
体３の中央部における断面寸法を幅６００mm×高さ４０
０mm、試験空間の内部高さ３００mmとした場合に、試験
空間内に１０００ＭＨｚまでの電磁界を均一に分布させ
ることができた。
【００２５】本発明の実施例によれば、供試品８をセッ
トする試験空間内における、電磁界強度分布を均一にす
ることができ、供試品８に対する再現性の高い、精密な
各種試験を行うことができる。
トする試験空間内における、電磁界強度分布を均一にす
ることができ、供試品８に対する再現性の高い、精密な
各種試験を行うことができる。
【００２６】図１、図２に示す本発明の一実施例は、前
述した電磁界強度分布をさらに均一にするために、ま
た、使用可能な周波数を充分に高い周波数まで拡げるた
めに、外部導体３の底部の両側の少なくとも一方、すな
わち、外部導体３の略矩形状断面を有する部分とテーパ
状に形成される部分との結合部近傍、外部導体の上側面
及び下側面、終端側のテーパ部、外部導体３の側面と中
心導体４との間に適宜電波吸収材１２を設けて構成され
ている。
述した電磁界強度分布をさらに均一にするために、ま
た、使用可能な周波数を充分に高い周波数まで拡げるた
めに、外部導体３の底部の両側の少なくとも一方、すな
わち、外部導体３の略矩形状断面を有する部分とテーパ
状に形成される部分との結合部近傍、外部導体の上側面
及び下側面、終端側のテーパ部、外部導体３の側面と中
心導体４との間に適宜電波吸収材１２を設けて構成され
ている。
【００２７】この電波吸収体１２は、例えば、カーボン
系電波吸収体等により板状あるいはブロック状に形成さ
れたものであり、その大きさ等は、入力される信号の周
波数、強度等により適宜選定される。
系電波吸収体等により板状あるいはブロック状に形成さ
れたものであり、その大きさ等は、入力される信号の周
波数、強度等により適宜選定される。
【００２８】本発明の実施例は、これにより、供試品８
をセットする試験空間内における、電磁界強度分布をよ
り一層均一にすることができ、供試品８に対する極めて
再現性の高い、精密な各種試験を行うことができる。
をセットする試験空間内における、電磁界強度分布をよ
り一層均一にすることができ、供試品８に対する極めて
再現性の高い、精密な各種試験を行うことができる。
【００２９】前述した本発明の一実施例は、高周波信号
源１を接続して、試験空間内に高周波電磁界を発生させ
るとして説明したが、本発明は、高周波信号源１の代り
に、妨害波強度測定器、スペクトルアナライザ等を接続
することにより、試験空間内に置かれた供試品の電磁放
射特性を測定するために使用することもできる。
源１を接続して、試験空間内に高周波電磁界を発生させ
るとして説明したが、本発明は、高周波信号源１の代り
に、妨害波強度測定器、スペクトルアナライザ等を接続
することにより、試験空間内に置かれた供試品の電磁放
射特性を測定するために使用することもできる。
【００３０】なお、前述した本発明の一実施例は、外部
導体のテーパ部が形成されていない面を上側面として使
用するとしたが、本発明は、この面を下側面として使用
することもできる。
導体のテーパ部が形成されていない面を上側面として使
用するとしたが、本発明は、この面を下側面として使用
することもできる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、小
型で有効空間の大きなＴＥＭセルを提供することがで
き、電子機器等の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試
験、感度試験、電磁放射特性試験等を、高い再現性を持
って精密に行うことができる。
型で有効空間の大きなＴＥＭセルを提供することがで
き、電子機器等の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試
験、感度試験、電磁放射特性試験等を、高い再現性を持
って精密に行うことができる。
【図１】本発明の一実施例の構成を示す側面図である。
【図２】本発明の一実施例の構成を示す平面図である。
【図３】従来技術によるＴＥＭセルの構成を示す斜視図
である。
である。
１ 高周波信号源 ２ 同軸コネクタ ３ 外部導体 ４ 中心導体 ５ 中心導体支持棒 ６ 供試品収容扉 ７ 入出力および電源用端子 ８ 供試品 ９ 供試品用絶縁台 １０ 同軸負荷 １１ ＴＥＭセル １２ 電波吸収体
Claims (3)
- 【請求項１】 外部導体と、該外部導体により形成され
る空間内に配置される中心導体とを備えて構成されるＴ
ＥＭセルにおいて、前記外部導体は、中央部が略矩形状
断面を有し、その終端側の両側面が錐状となるようにテ
ーパ部を持って形成され、入力端側の両側面と上下面の
一方とが錐状となるようにテーパ部を持って形成されて
おり、前記中心導体は、前記外部導体のテーパ部を持た
ない面を底辺とする略台形に形成され、この台形の上底
部が前記外部導体の中央部に、前記底部となる外部導体
の面までの距離が、対向する外部導体の面までの距離よ
り短い位置に配置されることを特徴とするＴＥＭセル。 - 【請求項２】 前記外部導体を構成する上下面の内側に
電波吸収材を備えることを特徴とする請求項１記載のＴ
ＥＭセル。 - 【請求項３】 前記外部導体の中央部とテーパ部との境
界近傍の少なくとも一方に、外部導体の底部より上方に
延びる電波吸収体を備えることを特徴とする請求項１ま
たは２記載のＴＥＭセル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6494692A JPH05264620A (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | Ｔｅｍセル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6494692A JPH05264620A (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | Ｔｅｍセル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05264620A true JPH05264620A (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=13272717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6494692A Pending JPH05264620A (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | Ｔｅｍセル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05264620A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100367089B1 (ko) * | 2000-12-23 | 2003-01-09 | 한국전자통신연구원 | 와이 티이엠 셀을 이용한 전력 패턴 및 총복사 전력 측정시스템 및 그 방법 |
| CN108140456A (zh) * | 2015-08-11 | 2018-06-08 | 是德科技股份有限公司 | 用于同轴传输线的、包含锥形部和薄电阻层的电连接器 |
| US10418761B2 (en) | 2017-10-09 | 2019-09-17 | Keysight Technologies, Inc. | Hybrid coaxial cable fabrication |
-
1992
- 1992-03-23 JP JP6494692A patent/JPH05264620A/ja active Pending
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|---|---|---|---|---|
| KR100367089B1 (ko) * | 2000-12-23 | 2003-01-09 | 한국전자통신연구원 | 와이 티이엠 셀을 이용한 전력 패턴 및 총복사 전력 측정시스템 및 그 방법 |
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