JPH1130638A - 広帯域電磁波試験用暗箱 - Google Patents
広帯域電磁波試験用暗箱Info
- Publication number
- JPH1130638A JPH1130638A JP22060397A JP22060397A JPH1130638A JP H1130638 A JPH1130638 A JP H1130638A JP 22060397 A JP22060397 A JP 22060397A JP 22060397 A JP22060397 A JP 22060397A JP H1130638 A JPH1130638 A JP H1130638A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wire
- electromagnetic wave
- conductor
- coaxial connector
- strip line
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】低周波から高周波までの電磁波をアンテナを取
り替えることなく固定の装置で発生、または受信できよ
うにする。 【解決手段】電波暗箱内部側面の筐体に近接して高周波
伝導用の導体を設けるとともに、ほぼ中央部に電波隔壁
を設けてある。低い周波数帯では電波暗箱は前記導体を
中心導体とし、対向する筐体と中央部の隔壁を外部導体
としたＴＥＭセルとして動作し測定領域に電磁波を発生
させる。高い周波数帯では前記導体と対向する筐体が間
隔の狭い二線式ストリップラインとして動作をし、発生
した広域の電磁波を測定領域に輻射する。このように低
域と広域で電波暗箱が異なった動作をするように構成
し、１０ＫＨｚ近辺から５ＧＨｚ以上の広域に亘って安
定かつ均一な電磁波の発生叉は受信を可能にしている。
り替えることなく固定の装置で発生、または受信できよ
うにする。 【解決手段】電波暗箱内部側面の筐体に近接して高周波
伝導用の導体を設けるとともに、ほぼ中央部に電波隔壁
を設けてある。低い周波数帯では電波暗箱は前記導体を
中心導体とし、対向する筐体と中央部の隔壁を外部導体
としたＴＥＭセルとして動作し測定領域に電磁波を発生
させる。高い周波数帯では前記導体と対向する筐体が間
隔の狭い二線式ストリップラインとして動作をし、発生
した広域の電磁波を測定領域に輻射する。このように低
域と広域で電波暗箱が異なった動作をするように構成
し、１０ＫＨｚ近辺から５ＧＨｚ以上の広域に亘って安
定かつ均一な電磁波の発生叉は受信を可能にしている。
Description
【発明の属する技術分野】この発明は各種無線機等の感
度測定、送信電力，スプリアス強度測定などに用いる広
帯域電波暗箱に関するものである。ＥＭＩ，ＥＭＣの分
野でも活用できる。
度測定、送信電力，スプリアス強度測定などに用いる広
帯域電波暗箱に関するものである。ＥＭＩ，ＥＭＣの分
野でも活用できる。
【従来の技術】従来の電波暗箱は、測定ごとに使用周波
数に応じたダイポールアンテナを設置し、ダイポールア
ンテナの設置してある同じ領域に供試機を入れて、感度
試験などの測定を行っていた。この方法は次の２点にお
いて使用上の難点があった。 使用周波数に応じて測定用ダイポールアンテナを取り
替える必要があり、周波数の異なる各種の供試機を効率
よく測定するには不便であった。 電波測定領域と供試機設置領域が同じであり、狭い暗
箱内では供試機の形状により電界の乱れが発生し、供試
機の設置場所を正確に一定しないと、測定データの再現
性に欠ける難点があった。
数に応じたダイポールアンテナを設置し、ダイポールア
ンテナの設置してある同じ領域に供試機を入れて、感度
試験などの測定を行っていた。この方法は次の２点にお
いて使用上の難点があった。 使用周波数に応じて測定用ダイポールアンテナを取り
替える必要があり、周波数の異なる各種の供試機を効率
よく測定するには不便であった。 電波測定領域と供試機設置領域が同じであり、狭い暗
箱内では供試機の形状により電界の乱れが発生し、供試
機の設置場所を正確に一定しないと、測定データの再現
性に欠ける難点があった。
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
した課題は次の２点である。 電界発生装置を広帯域化して、周波数に応じてアンテ
ナを取り替える非効率性を解消する。 供試機の形状による電界の乱れを極力少なくし、測定
データの再現性を確保する。
した課題は次の２点である。 電界発生装置を広帯域化して、周波数に応じてアンテ
ナを取り替える非効率性を解消する。 供試機の形状による電界の乱れを極力少なくし、測定
データの再現性を確保する。
【課題を解決するための手段】本発明では上記の課題を
解決するため、次の手段を用いている。 ダイポールアンテナの代わりに高周波信号伝導用の導
体を設置し、広帯域化を図るため、この導体を高域の周
波数帯に対しては２線間（１線は暗箱筐体を利用）の間
隔の狭いストリップラインとして動作させている。スト
リップラインが発生するＴＥＭ波（進行方向に電磁界成
分のない電磁波−広い空間を伝搬する電磁波と同じモー
ドの電磁波−）は２線間の間隔ｄが波長λに対しｄ≫λ
／２の条件にある間は非常に安定している。従って高い
周波数帯に亘って安定したＴＥＭ波を得るためにはｄを
極力小さくすればよい。このようにして発生した高い周
波数帯の電磁波はストリップラインから測定領域に放射
される。一方低い周波数帯では、ストリップラインと暗
箱内に設けた隔壁が前記導体を中心導体とするＴＥＭセ
ルとして動作し、安定した低い周波数帯の電磁波を測定
領域内に発生させ、結果として低い周波数帯から高い周
波数帯に亘って測定領域内に広帯域の電磁波を発生させ
ることが可能となる。電磁波発生装置（例えばアンテ
ナ）は、送受に対し可逆性を持っているので広帯域の電
磁波を発生する装置は、広帯域の電磁波の受信にも使用
できる。 狭い空間では供試機を置くことにより電界分布が乱れ
る。従って測定領域と設置領域が同じ空間にある従来方
式では、供試機の設置場所を厳密に一定にしないと、測
定データの再現性が悪くなる。本発明では暗箱を二つに
区切り測定領域と供試機設置領域を分離することによ
り、測定器の形状に関わらず測定領域の電界の乱れを少
なくしている。このため測定データの再現性の優れたも
のになっている。
解決するため、次の手段を用いている。 ダイポールアンテナの代わりに高周波信号伝導用の導
体を設置し、広帯域化を図るため、この導体を高域の周
波数帯に対しては２線間（１線は暗箱筐体を利用）の間
隔の狭いストリップラインとして動作させている。スト
リップラインが発生するＴＥＭ波（進行方向に電磁界成
分のない電磁波−広い空間を伝搬する電磁波と同じモー
ドの電磁波−）は２線間の間隔ｄが波長λに対しｄ≫λ
／２の条件にある間は非常に安定している。従って高い
周波数帯に亘って安定したＴＥＭ波を得るためにはｄを
極力小さくすればよい。このようにして発生した高い周
波数帯の電磁波はストリップラインから測定領域に放射
される。一方低い周波数帯では、ストリップラインと暗
箱内に設けた隔壁が前記導体を中心導体とするＴＥＭセ
ルとして動作し、安定した低い周波数帯の電磁波を測定
領域内に発生させ、結果として低い周波数帯から高い周
波数帯に亘って測定領域内に広帯域の電磁波を発生させ
ることが可能となる。電磁波発生装置（例えばアンテ
ナ）は、送受に対し可逆性を持っているので広帯域の電
磁波を発生する装置は、広帯域の電磁波の受信にも使用
できる。 狭い空間では供試機を置くことにより電界分布が乱れ
る。従って測定領域と設置領域が同じ空間にある従来方
式では、供試機の設置場所を厳密に一定にしないと、測
定データの再現性が悪くなる。本発明では暗箱を二つに
区切り測定領域と供試機設置領域を分離することによ
り、測定器の形状に関わらず測定領域の電界の乱れを少
なくしている。このため測定データの再現性の優れたも
のになっている。
【発明の実施の形態】図１は本発明の平面図、図２は平
面図の矢印方向からみた側面図である。図１，図２にお
いて、１４は試験用発信器、９は入力の同軸コネクタ、
１０は出力同軸コネクタ、８は２線式ストリップライン
の一線、１９はストリップラインの他の一線を形成して
いる暗箱の筐体である。１１は８の支持棒，６，７は電
波吸収体でありそれぞれ電波吸収能の異なるものを使い
分けている。１６は測定領域と供試機設置領域の間仕切
り、１８は供試機、１７は供試機のアンテナ、２０は同
軸負荷、５は暗箱の蓋の蝶番である。１６の間仕切りで
分離されたＡ領域が測定領域であり、Ｂ領域は供試機の
設置領域である。二線式ストリップラインの一線である
８の片側は９の入力同軸コネクタの中心接点に接続さ
れ、他の片側は１０の出力同軸コネクタの中心接点に接
続されている。９及び１０の同軸コネクタの外部接点は
当該電波暗箱の筐体に接続され、同軸負荷を通して８に
対向している筐体とともに二線式ストリップラインおよ
びＴＥＭセルを形成している。入力側の同軸コネクタは
供試機用の１４の試験信号発生装置の出力に接続され、
出力同軸コネクタ１０には、例えば特性インピーダンス
５０Ωの同軸負荷に接続される。入力同軸コネクタに試
験信号用高周波が入力されると、電波暗箱の測定領域は
ある特定の周波数（例えば８００ＭＨｚ）まではあたか
も８を中心導体としたＴＥＭセルと同じような動作をし
て安定なＴＥＭ波を発生し、特性インピーダンスは例え
ば約５０Ωの一定値となる。しかしながら入力周波数が
前記特定周波数（例えば８００ＭＨｚ）より高くなるに
従い、測定領域に対し８の中心導体から輻射が始まり測
定領域の形状に起因する共振が発生して安定均一な電磁
界が測定領域で得られなくなる。この対策として、測定
領域の筐体内部に電波吸収材を貼り、輻射した電波の共
振を押さえ、電磁波に対し大気中と同じ自由空間を形成
するようにしてある。つまり前記特定周波数（例えば８
００ＭＨｚ）以上になると、測定領域内の電磁波はＴＥ
Ｍセル動作の電磁波から、二線式ストリップラインで発
生しているＴＥＭ波の輻射領域に移行し、二線式ストリ
ップラインの二線間の間隔（本発明の場合は暗箱内に設
けた導体と対向している筐体との間隔）で決まるＴＥＭ
波の上限周波数まで、自由空間となっている測定領域に
安定した電磁界を輻射する。電磁波の可逆性から測定領
域に電電磁波の発生源を置けば、上記上限周波数までは
逆に入力同軸コネクタに発生源の強度に応じた端子電圧
が生じるので、発生源の強度を測定するセンサーとして
も、機能する。また測定領域と供試機本体の設置領域を
分離しているため、無線機の送信出力，受信感度などの
測定の場合はアンテナだけを測定領域に挿入できるの
で、従来の電波暗箱のように供試機本体の形状による測
定領域内の電界の擾乱も少なく、再現性のよい測定が可
能である。
面図の矢印方向からみた側面図である。図１，図２にお
いて、１４は試験用発信器、９は入力の同軸コネクタ、
１０は出力同軸コネクタ、８は２線式ストリップライン
の一線、１９はストリップラインの他の一線を形成して
いる暗箱の筐体である。１１は８の支持棒，６，７は電
波吸収体でありそれぞれ電波吸収能の異なるものを使い
分けている。１６は測定領域と供試機設置領域の間仕切
り、１８は供試機、１７は供試機のアンテナ、２０は同
軸負荷、５は暗箱の蓋の蝶番である。１６の間仕切りで
分離されたＡ領域が測定領域であり、Ｂ領域は供試機の
設置領域である。二線式ストリップラインの一線である
８の片側は９の入力同軸コネクタの中心接点に接続さ
れ、他の片側は１０の出力同軸コネクタの中心接点に接
続されている。９及び１０の同軸コネクタの外部接点は
当該電波暗箱の筐体に接続され、同軸負荷を通して８に
対向している筐体とともに二線式ストリップラインおよ
びＴＥＭセルを形成している。入力側の同軸コネクタは
供試機用の１４の試験信号発生装置の出力に接続され、
出力同軸コネクタ１０には、例えば特性インピーダンス
５０Ωの同軸負荷に接続される。入力同軸コネクタに試
験信号用高周波が入力されると、電波暗箱の測定領域は
ある特定の周波数（例えば８００ＭＨｚ）まではあたか
も８を中心導体としたＴＥＭセルと同じような動作をし
て安定なＴＥＭ波を発生し、特性インピーダンスは例え
ば約５０Ωの一定値となる。しかしながら入力周波数が
前記特定周波数（例えば８００ＭＨｚ）より高くなるに
従い、測定領域に対し８の中心導体から輻射が始まり測
定領域の形状に起因する共振が発生して安定均一な電磁
界が測定領域で得られなくなる。この対策として、測定
領域の筐体内部に電波吸収材を貼り、輻射した電波の共
振を押さえ、電磁波に対し大気中と同じ自由空間を形成
するようにしてある。つまり前記特定周波数（例えば８
００ＭＨｚ）以上になると、測定領域内の電磁波はＴＥ
Ｍセル動作の電磁波から、二線式ストリップラインで発
生しているＴＥＭ波の輻射領域に移行し、二線式ストリ
ップラインの二線間の間隔（本発明の場合は暗箱内に設
けた導体と対向している筐体との間隔）で決まるＴＥＭ
波の上限周波数まで、自由空間となっている測定領域に
安定した電磁界を輻射する。電磁波の可逆性から測定領
域に電電磁波の発生源を置けば、上記上限周波数までは
逆に入力同軸コネクタに発生源の強度に応じた端子電圧
が生じるので、発生源の強度を測定するセンサーとして
も、機能する。また測定領域と供試機本体の設置領域を
分離しているため、無線機の送信出力，受信感度などの
測定の場合はアンテナだけを測定領域に挿入できるの
で、従来の電波暗箱のように供試機本体の形状による測
定領域内の電界の擾乱も少なく、再現性のよい測定が可
能である。
【発明の効果】 低い周波数から高い周波数まで（例えば１０ＫＨｚか
ら５ＧＨｚ以上）の電磁波の発生が可能で、測定用アン
テナを取り替えることなく各種無線機の特性測定，ＥＭ
Ｉ，ＥＭＣなどの測定が効率的に実施できる。 測定領域と供試機設置領域を分離できるので各種無線
機の特性試験の場合は、アンテナだけを測定領域に挿入
することにより、供試機本体の形状による測定領域の電
磁波の乱れを少なく押さえ、再現性のよい測定ができ
る。
ら５ＧＨｚ以上）の電磁波の発生が可能で、測定用アン
テナを取り替えることなく各種無線機の特性測定，ＥＭ
Ｉ，ＥＭＣなどの測定が効率的に実施できる。 測定領域と供試機設置領域を分離できるので各種無線
機の特性試験の場合は、アンテナだけを測定領域に挿入
することにより、供試機本体の形状による測定領域の電
磁波の乱れを少なく押さえ、再現性のよい測定ができ
る。
【図１】本発明の構成を示す平面図である。中心導体と
筐体間の距離ｄを小さくすることにより、二線式ストリ
ップラインとして動作する高域の周波数帯を広げること
ができる。中央の隔壁は低い周波数でＴＥＭセルとして
の動作をする場合の外部導体となる。また高い周波数に
対しては設置領域に対するシールド効果を持っている。
各種無線機の特性測定の場合は本体を設置領域に起き、
アンテナだけを測定領域に挿入する。
筐体間の距離ｄを小さくすることにより、二線式ストリ
ップラインとして動作する高域の周波数帯を広げること
ができる。中央の隔壁は低い周波数でＴＥＭセルとして
の動作をする場合の外部導体となる。また高い周波数に
対しては設置領域に対するシールド効果を持っている。
各種無線機の特性測定の場合は本体を設置領域に起き、
アンテナだけを測定領域に挿入する。
【図２】図１の平面図をＣ矢印の方向からみた図面であ
る。８の導体は高い周波数に対してはストリップライン
一線として動作し、低い周波数に対してはＴＥＭセルの
中心導体として機能する。図では平板上の導体を用いで
いるが、この形状は電磁界の均一性に関係がある。基本
的には入出力にテーパーをつけたものでも丸形の棒状の
ものでも良い。
る。８の導体は高い周波数に対してはストリップライン
一線として動作し、低い周波数に対してはＴＥＭセルの
中心導体として機能する。図では平板上の導体を用いで
いるが、この形状は電磁界の均一性に関係がある。基本
的には入出力にテーパーをつけたものでも丸形の棒状の
ものでも良い。
１電波暗箱筐体外壁 ２電波暗箱筐体内壁 ３電波暗箱筐体錠 ４供試機支持台 ５電波暗箱の蓋の蝶番 ６電波吸収材 ７電波吸収材 ８中心線用導体 ９入力用同軸コネクタ １０出力用同軸コネクタ １１中心線導体支持棒 １２中心線導体支持棒止めビス １３外部信号線用コネクタ板 １４試験用信号発生器 １５電界強度測定器 １６内部隔壁（内部電磁波電波シールド板） １７供試機アンテナ １８供試機本体（各種無線機器等） １９二線式ストリップラインの一線を形成する筐体 ２０同軸負荷（５０Ω） Ａ：測定領域 Ｂ：供試機設置領域
Claims (2)
- 【請求項１】電波暗箱内部に電磁波伝導用の導体を暗箱
筐体に近接して設置し、高い周波数−例えば８００ＭＨ
ｚ以上−に対しては、二線間の間隔の狭いストリップラ
インとして動作させ、一方低い周波数に対しては、請求
項２に記載した分離用隔壁を含め、中心導体の偏ったＴ
ＥＭセルとして動作させることにより、電波暗箱の中に
広帯域均一電磁界を発生させ、または供試機から放射す
る電磁波を広帯域に亘って受信可能にするための広帯域
電磁波試験用暗箱。 - 【請求項２】電波暗箱内に電波用の隔壁を設け、低い周
波数帯におけるＴＥＭセル動作時の外部導体としての役
割を持たせていること、および暗箱内部を電波測定領域
と供試機設置領域に分けることにより、供試機本体の形
状による測定領域の電界の乱れを少なくするとともに、
供試機設置領域には、電波吸収材を貼り漏洩電界による
共振を避け、測定データの再現性の向上を図っている事
項。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22060397A JPH1130638A (ja) | 1997-07-13 | 1997-07-13 | 広帯域電磁波試験用暗箱 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22060397A JPH1130638A (ja) | 1997-07-13 | 1997-07-13 | 広帯域電磁波試験用暗箱 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1130638A true JPH1130638A (ja) | 1999-02-02 |
Family
ID=16753572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22060397A Pending JPH1130638A (ja) | 1997-07-13 | 1997-07-13 | 広帯域電磁波試験用暗箱 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1130638A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007097087A1 (ja) * | 2006-02-27 | 2007-08-30 | Nippon Light Metal Company, Ltd. | 電子機器用試験装置および電子機器試験方法 |
| JP2009194926A (ja) * | 2009-04-27 | 2009-08-27 | Yazaki Corp | 車載用アンテナの配置方法 |
| CN105954619A (zh) * | 2016-05-18 | 2016-09-21 | 中国人民解放军军械工程学院 | 场敏感型电磁脉冲防护材料性能测试装置 |
| CN108318758A (zh) * | 2018-01-23 | 2018-07-24 | 南京航空航天大学 | 超表面混响室 |
-
1997
- 1997-07-13 JP JP22060397A patent/JPH1130638A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007097087A1 (ja) * | 2006-02-27 | 2007-08-30 | Nippon Light Metal Company, Ltd. | 電子機器用試験装置および電子機器試験方法 |
| JP2007225567A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-06 | Nippon Light Metal Co Ltd | 電子機器用試験装置および電子機器試験方法 |
| JP2009194926A (ja) * | 2009-04-27 | 2009-08-27 | Yazaki Corp | 車載用アンテナの配置方法 |
| CN105954619A (zh) * | 2016-05-18 | 2016-09-21 | 中国人民解放军军械工程学院 | 场敏感型电磁脉冲防护材料性能测试装置 |
| CN105954619B (zh) * | 2016-05-18 | 2018-08-21 | 中国人民解放军陆军工程大学 | 场敏感型电磁脉冲防护材料性能测试装置 |
| CN108318758A (zh) * | 2018-01-23 | 2018-07-24 | 南京航空航天大学 | 超表面混响室 |
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