JPH02148712A - チップコンデンサの特性測定ユニット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は積層セラミックチップコンデンサ等、チップ状
電子部品の電気容量等の特性測定に用いられる測定ユニ
ットに関し、特にチップ状電子部品をインデックステー
ブル上に保持し、その間欠回転移動の途中で各種電気特
性の自動測定を行うのに適した特性測定用ユニットに関
する。

（従来技術） 従来、この種のチップコンデンサの容量測定方式として
は、いわゆる片側接触方式と、対向接触方式とがある。

第７図は片側接触方式の場合であって、載置台５上に横
置されたチップコンデンサ１の両端の外部電極２，２′
の上側面あるいは上側のコーナ部に、上方から丸棒ない
し角棒状の測定用電極端子（接触子）３の平坦な端面を
接触させて容量測定を行う。これに対して第８図（ａ）
、　（ｂ）は対向接触方式の例であって、互いに端面ど
おしが向き合うように測定用接触子３を配置し、その間
にチップコンデンサ１の両端をはさみ付けて容量測定を
行う。対向接触方式では、第８図（ａ）のように両側の
接触子３を可動にしたものと、第８図（ｂ）のように一
方の接触子３′を固定し、この固定側接触子３′の端面
にチップコンデンサｌを当てて位置決めし、他方の可動
側接触子３を直線ガイド４で案内しつつ往復直線動作さ
せるか、あるいは第８図（Ｃ）のように可動側接触子３
をアーム状に形成してその基部３ａを支点ビン６で軸支
し、そのまわりに揺動動作させる構造としている。なお
両側の接触子を可動形とした場合は両側とも第８図（ａ
）の如く直線ガイド４による直線動作のみであって、揺
動方式はとられていない。

（発明が解決しようとする課題） 対向接触方式によるチップ部品の特性測定は、前述の如
く一対の接触子を対向させ、その間にチップ部品を送り
込んでいくので、片側接触方式よりも測定のばらつきが
なく、高精度で微少容量の測定に適するが、従来の対向
接触方式のように測定用接触子を直線ガイドで拘束して
直線動作させる構造は揺動機構のものと比べて摺動抵抗
が大きく、大形かつ複雑な構造となり、高速動作の点で
も難しい欠点がある０両側可動形の対向接触方式で第９
図の如く支点ピン６による揺動構造を採用すると、接触
子基部の軸支部の径が大きいために支点間の距離りを接
近させることができず、接触子３先端はチップコンデン
サ１の電極面に対して斜めに揺動して接離することとな
り、測定精度、測定のばらつきの点で採用できない、接
触子を第８図（Ｃ）のように片側固定とし、可動側を揺
動形とした場合も、従来は揺動支点が軸回転支持構造と
なっているので、Ｌ形可動接触子３の軸支部と固定側接
触子３′　との間隔が大きくなり、チップコンデンサの
端面に垂直に当接せず、測定精度を上げるのに障害とな
っていた。また軸回転支持では揺動のストロークを微少
範囲に規制するのが難しく、軽敏で精緻な動作を行えな
い欠点があった。

（課題を解決するための手段） 本発明によるチップ部品の特性測定ユニットは、チップ
部品を保持するインデックステーブルの上方に配置され
該インデックステーブルに対して上下動するように軸支
された開閉部材駆動用カム板と、前記駆動用カム板の上
下駆動機構と、前記駆動用カム板と前記インデックステ
ーブルとの間に配置されかつ装置本体側に固定された開
閉部材支持板と、前記開閉部材支持板を貫通しかつその
中途部分が該支持板にナイフェツジ式に支持されかつ下
端に測定用接触子が設けられた一対の開閉部材と、前記
開閉部材のナイフェツジ支点より下方位置に配置され該
開閉部材をその下端が閉成する方向に付勢している一対
のばね手段と、前記開閉部材駆動用カム板の先端に設け
られ前記開閉部材の上端とテーパ係合するカム板とを有
し、前記開閉部材駆動用カム板の上下駆動機構は、前記
インデックステーブルの間欠回転動作と連動して該駆動
用カム板を上下動させるように構成され、前記駆動用カ
ム板の下降動作で前記開閉部材のナイフェツジ支点より
下側が開成するように構成されている。

（実施例） 次に、本発明を図面を参照して実施例につき説明する。

第１図は本発明の実施例に係る特性測定ユニットの全体
的な側面断面図であり、第２図は第１回におけるＡ部分
の拡大側面図である。また第３図は本発明の実施例の概
略的な全体平面図である。

間欠回転動作するインデックステーブル１０の外周部に
被測定部品のチップコンデンサが等間隔に保持されてお
り、このインデックステーブルｌＯの中心を貫通して測
定ユニットハウジング１１が該テーブルの上面を覆うよ
うに装置基台１４側に固定されている。ハウジング１１
の中心にボールスプライン軸１２を介して、後述する開
閉部材の駆動用カム板１３の円板状基部１３ａが上下動
可能に軸支されている。開閉部材駆動用カム板１３はそ
の円板状基部１３ａの外周から第３図に示す如く複数個
放射状に伸長している。装置基台１４の内部には装置駆
動用のカム群が配置され、この装置駆動用カムによりカ
ムフロアおよび伝達リンク１６、レバー１７等を介して
開閉部材駆動用カム板１３が上下動作されるが、前記カ
ム群はインデンステーブルｌＯの支持軸１日にも連結さ
れ、これによって開閉部材駆動用カム板１３どインデン
ステーブル１０とは連動した動作を行うようになってい
る。

第１図、第２図を参照すれば、前記開閉部材駆動用カム
板１３に対応して、開閉部材支持板１９がユニットハウ
ジング１１に放射状に複数個、かつインデックステーブ
ルＩＯ外周のチップコンデンサ１の上方位置までのびて
取り付けられている。

各開閉部材支持板１９には一対の同形の開閉部材２０が
貫通して支持されている。

第４図は開閉部材２０の斜視図であり、第５図は開閉部
材支持板１９における開閉部材２ｏのナイフェツジ支持
機構を示した第２図の矢視Ｂの拡大正面図、第６図（ａ
）は第５図のＤ−Ｄ線断面図であって開閉部材２０の一
方と支持板１９とのナイフェツジ支持部の構造を示して
いる。第６図（ｂ）は第６図（ａ）の矢印Ｅ方向からみ
た部分的な上面図である。各開閉部材２０にはその上端
にカムローラ２１が軸支され、また下端には薄板状の、
がっし形を成した測定用接触子２２が互いに相手方の開
閉部材の接触子と先端どおし向き合うように固着され、
さらにその略中途部分に、より具体的には中途位置より
上方へ寄った位置の両側部に、横鍔状の張出部２３が形
成され、これによって開閉部材両側部に凹状部２４が形
成されている。張出部２３の下面はナイフェツジ形にテ
ーパが付けられている。

開閉部材支持板１９は第５図および第６図（ｂ）に示す
ように開閉部材２０の支持箇所で垂直に貫通した孔１９
ａを有し、この貫通孔１９ａの両側部に一対の対向した
突出部２５が設けられ、開閉部材２０が貫通孔１９ａに
挿入された状態で前記突出部２５が開閉部材の凹状部２
４に挿入され、これによって開閉部材２０の張出部２３
の下縁即ちナイフェツジ部分が前記支持板１９の突出部
上面に線接触で支持されている。このようにして支持板
１９の突出部上面に開閉部材２０のナイフェツジ支点２
５ａが形成され、開閉部材２０はこのナイフェツジ支点
のみで支持され、第２図、第６図（ａ）の矢印Ｆ方向に
揺動動作、即ちこのナイフェツジ支点２５ａを中心とし
た開閉動作を行う、開閉部材２０の開閉動作に支障をき
たさないように前記突出部２５の下面２５ｂは第６図（
ａ）に示すように円弧形に形成され、これによって開閉
部材２０の開閉時に該開閉部材の凹状部２４の下面（第
４図、第６図（ａ）参照）が突出部２５の下面２５ｂに
無理な衝接を起さないようになっている。しかも開閉部
材２０の上方への抜は出しは突出部下面２５ｂと凹状部
２４の下面との当接で防止される。

製作上の理由から、実際には突出部２５を形成する部分
はナイフェツジ支点部材として支持部材１９とは別体に
製作され、この小片の部材（第６図（ｂ）参照）を支持
部材１９の貫通孔１９ａに組み付けられている。第６図
（ｂ）において開閉部材２０は明瞭化のために破線で示
しである。

第２図に明示する如く、開閉部材支持板１９に一対のブ
ラケット２６が固着され、前記ナイフェツジ支点よりも
下方位置で該ブラケット２６と開閉部材２０との間に、
該開閉部材２０を閉成方向へ押圧する圧縮コイルばね２
７が装着されている。

また前記ナイフェツジ支点の上方位置で前記ブラケット
２６に、開閉部材２０と当接して下端閉成量ないし閉成
限界位置を規制するストッパ用調製ねじ２８が螺着され
ている。２９はＬ形薄板接触子２２のリード端子である
。

放射状にのびた開閉部材駆動用カム板１３の各々の外端
部は下方へ向ってフォーク状に分岐され、その内側の面
が先細テーパ状のカム面３０となっている。この駆動用
カム板１３が下降したとき、この一対のカム面３０が開
閉部材２ｏの上端のカムローラ２１に当接して該カムロ
ーラが内側へ押し込まれ、圧縮ばね２７のばね力に抗し
て開閉部材２０がナイフェツジ支点を中心に回動し、下
端のＬ形接触子２２が開成する。なお駆動用カム板１３
の一対の対向カム面３０およびカムローラ２１、開閉部
材２０、圧縮ばね２７その地下端のＬ形接触子２２等は
両開閉部材間の垂直中心線Ｃに対して対称形に配置され
、接触子２２の先端はインデックステーブル１０の外周
部に保持されたチップコンデンサ１をその両端方向から
はさみ付けるように配置されている。Ｌ形接触子の構造
については例えば実願昭６３−６５５７６号に特性測定
用電極として詳述されたものが有効に採用される。前述
したように開閉部材駆動用カム板１３はユニットハウジ
ング１１の中心から複数個放射状に所定の測定ステーシ
ョン位置へ伸長しており、これに対応してその下方に、
上述した開閉部材２０、ブラケット２６、圧縮ばね２７
、調製ねし２８等が一対づつ組となって開閉部材支持板
１９に保持されている。駆動用カム板１３の放射状伸長
部および前記支持板１９はボルト等によってそれぞれそ
の円板状の基部１３ａ、１９ａに対して着脱可能に取り
付けられる（第１図）。

再び第３図を参照すれば、チップコンデンサはチップフ
ィーダ３１から１１１１次インデックステーブル１０の
外周部に供給され、該テーブルに保持されてその間欠勤
作で該テーブルのまわりに位置するチップ検出ステーシ
ョン、各種特性測定ステーション、放電ステーション、
排出ステーション等へ間欠勤作で移動していく、第３図
で符号４０の部分は排出ステーションであり、空気圧で
チップコンデンサはテーブル外方へ排出される。なおチ
ップコンデンサの保持機構については例えば特願昭６３
−１８６２６７号に開示された特性測定用キャリアが有
効に採用される。このインデックステーブル１０の間欠
回転動作と連動して、装置駆動用カムにより開閉部材駆
動用カム板１３がインデックステーブルＩＯ、ユニット
ハウジングエ１、および開閉部材支持板１９、したがっ
て開閉部材２０に対して上下動し、その下降時に開閉部
材２０が開いてＬ形接触子２２が移動してきたチップコ
ンデンサ１に対峙し、上昇時に圧縮ばね２７の作用で接
触子２２が閉じてチップコンデンサｌの電極部に対向接
触しく測定）、次の下降時にチップコンデンサ１がイン
デックステーブルとともに、次のステーションへ移動す
る。このような動作を各測定ステーションで繰り返しつ
つチップコンデンサは順次途中の、あるいは最終の排出
ステーション４０から排出される。

本発明においては開閉部材がナイフェツジ支持されて開
閉動作するので高速動作が可能であるが、高速動作した
場合は慣性モーメントが大きいと小形のチップコンデン
サに大きな衝撃力がかかり、コンデンサの外部露出電極
がへこみ、外観不良となったり、特性の劣化をきたすこ
とになるので、慣性モーメントを小さくするため開閉部
材に第４図の如く孔３２を穿けである。なお上述の実施
例はインデックステーブルによってチップ部品を間欠回
転動作で移動させるようにし、インデックステーブルの
周囲に測定ユニットをテーブル中心から放射状に配列す
るようにしたが、回転するインデックステーブルのかわ
りに間欠勤作で直線移動する直動テーブルを用い、該直
動テーブルにチップ部品を保持し、直動テーブルに沿っ
て所定間隔で測定ユニットを配置するようにしてもよい
、このような形態も本発明に属し、いずれの場合も開閉
部材は、基部で連結した駆動用カム板によってその１つ
の動きで多数同時に開閉動作され、駆動系が非常に簡素
となる。

（発明の効果） 以上説明したように本発明によれば、ナイフェツジ支点
による揺動動作で開閉部材が開閉するので、動作が非常
に軽便で高速化され、またその支点間隔ｌ（第２図）を
捲少間隔例えば数ミリ程度まで接近させることができ、
これによって下端の測定用接触子は直線（水平）に近い
動作を行い、チップ部品の両端面に対して垂直に接離し
、片当りとか傾斜接触がなく、高精度の測定がなされる
。

従来の直線ガイドあるいは軸回転支持と異なり摺動部分
がなく、しかも必要なステーションに対応して容易に着
脱できる。なお対象となるチンプ部品のサイズにより、
調整ねじの操作で接触子（測定子）の閉成位置、開閉量
を容易に設定できる。

接触圧（測定圧）は圧縮ばねのばね力でもたらされるの
で一定となり、またばねの取り替えでこの接触圧を容易
に変更できるなど、従来のものに比し多大の効果がもた
らされる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例に係る特性測定ユニットの全体
的な側面断面図、第２図は第１図のＡ部分の拡大側面図
、第３図は本発明の実施例の概略的な全体平面図、第４
図は本発明に用いられる開閉部材の斜視図、第５図は開
閉部材のナイフェツジ支持機構の正面図、第６図（ａ）
は第５図のＤ−Ｄ線に沿った断面図、第６図（ｂ）は第
６図（ａ）の矢視Ｅ方向からみた上面図、第７図は従来
の片側接触方式によるチップコンデンサの容量測定状態
を示した概略図、第８図（ａ）、　（ｂ）、　（Ｃ）は
従来の対向接触方式による測定用接触子の概略図、第９
図は従来の支点ピンによる軸支構造をもつ対向接触方式
〇接触子の概略図である。 １・・・チップコンデンサ、 １０・・・インデックステーブル、 １１・・・ユニットハウジング、 １２・・・ボールスプライン軸、 １３・・・開閉部材駆動用カム板、 １９・・・開閉部材支持板、２０・・・開閉部材、２２
・・・測定用接触子、２８・・・調整ねじ、３０・・・
カム面。 代理人　弁理士　染　川　利　吉 第 図 第 図 第 図 第 図 第６図 Ｃｏ） 第６図（ｂ） ２５焚を旬 １ｊ」匹）ヒ 第 図（ｃ） 第 図 第 図（ａ） 第 図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）．被測定物を保持する間欠移動テーブルの上方に
   配置され該テーブルに対して上下動するように軸支され
   た開閉部材駆動用カム板と、前記駆動用カム板の上下駆
   動機構と、前記駆動用カム板と前記間欠移動テーブルと
   の間に配置されかつ装置本体側に固定された開閉部材支
   持板と、前記開閉部材支持板を貫通しかつその中途部分
   が該支持板にナイフエッジ式に支持されかつ下端に測定
   用接触子が設けられた一対の開閉部材と、前記開閉部材
   のナイフエッジ支点より下方位置に配置され該開閉部材
   をその下端が閉成する方向に付勢している一対のばね手
   段と、前記開閉部材駆動用カム板の先端に設けられ前記
   開閉部材の上端とテーパ係合するカム部とを有し、前記
   駆動用カム板の上下駆動機構は、前記間欠移動テーブル
   の間欠送り動作と連動して該駆動用カム板を上下動させ
   るように構成され、該駆動用カム板の下降動作で前記開
   閉部材のナイフエッジ支点より下側が開成することを特
   徴とするチップコンデンサの特性測定ユニット。
2. （２）．前記ナイフエッジ支点より上方位置で前記開閉
   部材支持板に、前記開閉部材の閉成回動量を規制する調
   製可能なストッパ部材が設けられることを特徴とする請
   求項第１項記載のチップコンデンサの特性測定ユニット
   。