JPH02148428A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ディスクや光磁気ディスクを用いて情報の
記録、再生等を行う光ピックアップ装置に関する。

従来の技術 従来の光ピックアップ装置を第８図に基づいて説明する
。電源回路１と接続された半導体レーザ２により出射さ
れたレーザ光はコリメータレンズ３により平行化され、
ビームスプリッタ４，５を透過して、対物レンズ６によ
り集光された後、反対側に配設された電磁石７により磁
場の与えられた光情報記録媒体としての光磁気ディスク
８の面に照射され、これにより記録が行われる。また。

この光磁気ディスク８により反射された反射光は、前記
ビームスプリッタ５により反射されて光情報検出光学系
９に導かれ、λ／２板１０によりその偏光面が４５°回
転された後、偏光ビームスプリッタ１１により反射され
た光は第１受光素子１２に照射され、その偏光ビームス
プリッタ１１を透過した光は第２受光素子１３に照射さ
れる。これにより、これら２つの受光素子１２．１３の
受光量の総和の変化量を求めることによって光磁気信号
を検出して情報の再生を行っている。

また、光磁気ディスク８からの反射光のうち、前記ビー
ムスプリッタ５を透過し前記ビームスプリッタ４により
反射された光は光情報検出光学系１４に導かれ１球面レ
ンズ１５、シリンドリカルレンズ１６を順次透過して第
３受光素子１７に照射される。これにより、フォーカス
エラー信号やトラックエラー信号が検出され、フォーカ
スサーボやトラッキングサーボが行われる。

発明が解決しようとする課題 上述したように従来の装置の場合、光情報検出光学系９
，１４において、フォーカスエラー信号。

トラックエラー信号、光磁気信号の検出を同時に行って
いる。一般に、フォーカスエラー信号の検出は非点収差
法やナイフェツジ法等によって行われ、トラックエラー
信号の検出はブシュプル法等によって行われるが、これ
ら検出方式の異なる信号を上述したような同一の光学系
で同時に検出しようとする場合、光路分離を行って検出
するか又は各種信号の検出毎に別の光学系と組合せて行
うことによって処理している。

そこで、そのような光路分離を行う場合には。

上述した従来例のように、ビームスプリンタ４゜５等や
受光素子１２，１３．１７の部品点数が増加してしまい
複雑な構成となり、その結果、生産コストがかかり、し
かも、装置全体が大型化するという問題がある。また、
別の光学系との組合せを行う場合には、その部品交換や
位置調整に手間がかかり作業効率が悪いという問題があ
る。

課題を解決するための手段 そこで、上述したような問題を解決するために、本発明
は、半導体レーザから出射されたレーザ光を光情報記録
媒体に照射して情報の記録を行うと共に、その反射光を
ビームスプリッタにより反射して光情報検出光学系に導
き、この光学系内の集光レンズにより集光して検出する
ことによって情報の再生やサーボ検出を行う光ピックア
ップ装置において、前記光情報検出光学系内に導かれ前
記集光レンズにより集光された前記反射光の光路上に、
一面に反射面を有する平行平板とその反射面と反対側の
偏光分離面にて接着された三角プリズムとよりなる偏光
ビームスプリッタを配設し、この偏光ビームスプリッタ
の前記偏光分離面及び前記反射面によりそれぞれ反射さ
れ２つの光に分離された光路上に１分割線により複数分
割された受光面を有する受光素子をその水平方向の分割
線が前記２つの光の光軸を結ぶ面に対して一定角度をな
すように配設した。

作用 これにより、光情報記録媒体により反射され光情報検出
光学系内に導かれた反射光は、集光レンズにより集光さ
れて偏光ビームスプリッタの三角プリズムに入射し、そ
の一部の光（Ｓ偏光成分波）は偏光分離面により反射さ
れ、その偏光分離面により反射されず透過した残りの光
（Ｐ偏光成分波）は平行平板の反射面により反射される
。そして、それら偏光分離面及び反射面によりそれぞれ
反射され２つに分離された光は、受光素子の４分割され
た受光面上に照射されることにより、フォーカスエラー
信号やトラックエラー信号、さらには、再生用信号を検
出することができる６ 実施例 本発明の一実施例を第１図ないし第５図（ａ）（ｂ）に
基づいて説明する。まず、その全体構成について述べる
。半導体レーザ１８から出射されたレーザ光は、カップ
リングレンズ１９により平行化され、ビーム整形プリズ
ム２０、ビームスプリッタ２１を順次透過した後、偏向
ミラー２２により反射され、紙面に垂直方向に配設され
た対物レンズ２３により集光され光情報記録媒体として
の光磁気ディスク２４に照射され、これにより記録が行
われる。また、この光磁気ディスク２４がらの反射光は
前記対物レンズ２３、前記偏向ミラー２２を順次介して
、前記ビームスプリッタ２１により反射され光情報検出
光学系２５内に導かれる。

この光情報検出光学系２５では、反射光はλ／２板２６
によりその偏光面を略４５＠傾けられ、集光レンズ２７
により集光されて本発明に係る偏光ビームスプリッタ２
８に導かれる。

この偏光ビームスプリッタ２８は、一面に反射面αを有
する平行平板としてのガラス板２９と、その反射面αと
反対側の偏光分離面βにて接着固定された三角プリズム
３０とよりなっている。なお、前記反射面αはＡＱ等の
コーティングによる鏡面よりなっているが、このような
コーティングは集光レンズ２７の焦点ｆ及びガラス板２
９の屈折率との関係から全反射が行える場合には不要と
なる。これにより、その偏光ビームスプリッタ２８に入
射した光は、前記偏光分離面βにより反射されるＳ偏光
成分波Ｋｓと、その偏光分離面βを透過して前記反射面
αにより反射されるＰ偏光成分波ＫＰとの２つの光に分
離される。そして、これら２つの光の光路上には、４分
割された受光面ａ、ｂ、ｃ、ｄを有する受光素子３１が
配設されている。この時、受光面ａ、ｂとｃ、ｄとを分
割する水平方向の分割線りは、前記偏光ビームスプリッ
タ２８により反射された２つの光Ｋｓ、Ｋｐの光軸を結
ぶ面りに対して一定角度θをなすように配設されている
。

このような構成において、三角プリズム３ｏとガラス板
２９とを一体化してなる偏光ビームスプリッタ２８及び
水平方向に対してθだけ傾斜して配設された受光素子３
１の働きについて説明する。

光磁気ディスク２４より反射され光情報検出光学系２５
内で集光レンズ２７により集光されて偏光ビームスプリ
ッタ２８に導かれた光のうち、三角プリズム３０を透過
して偏光分離面βにより反射されたＳ偏光成分波Ｋｓは
受光素子３１の受光面ａ、ｄ側に導かれ、また、偏光分
離面βを透過しガラス板２９の反射面αにより反射され
たＰ偏光成分波ＫＰは受光索子３１の受光面す、ｃ側に
導かれる。

この場合、光磁気ディスク２４が合焦位置にある時に、
第３図（ａ）（ｂ）に示すように、ｓ、ｐ偏光成分波Ｋ
ｓ、ＫＰのビーム径が両方とも等しくなるように、しか
も、受光ｔがａ＝ｃ、ｂ＝ｄとなるように調整する。こ
のような状態で、第４図（ａ）（ｂ）に示すように、デ
フォーカスが生じてピントが後方にズしたような場合に
は、Ｓ偏光成分波Ｋｓのビーム径は大きくなりＰ偏光成
分波Ｋｐのビーム径は小さくなるため、受光量は受光面
ａ。

ｂ側では減少し受光面ｃ、ｄ側では増加することになり
、これによりａ　＋　ｂ　（ｃ　＋　ｄの関係が得られ
る。これとは逆に、第５図（ａ）（ｂ）に示すように、
ピントが前方にズしたような場合には、受光量は受光面
ａ、ｂ側では増加し受光面ｃ、ｄ側では減少するため、
これによりａ　＋　ｂ　＞　ｃ　＋　ｄの関係が得られ
る。従って、（ａ十ｂ）−（ｃ＋ｄ）の値を調べること
によってフォーカスエラー信号を検出することができる
。

また、光磁気ディスク２４に照射される光ビームがトラ
ック位置からズしているような場合には。

受光面ａ、ｃの受光量が増加（又は、減少）し、受光面
す、ｄの受光量が減少（又は、増加）する関係にあるこ
とから、（ａ＋ｃ）−ｋ（ｂ＋ｄ）＝０となるような定
数にの値を合トラック時に与えることによってそのオフ
セットを容易にとることができる。従って、（ａ＋ｃ）
−（ｂ＋ｄ）の値を調べることによってトラックエラー
信号を検出することができる。

さらに、Ｗｌｏ等の反射率の変化によって信号を記録す
るディスクのような場合には、全光量（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ
）の値によってその信号状態を知ることができることか
ら、（ａ　＋　ｄ　）−（ｂ　＋　ｃ）の値を調べるこ
とにより光磁気信号を検出することができる。

上述したように、偏光ビームスプリッタ２８の偏光分離
面βと反射面αとにより反射されたＳ。

Ｐ偏光成分波Ｋｓ、Ｋｐのビーム状態を調べることによ
って、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号、光
磁気信号を検出することができ、これにより、光情報検
出光学系２５内の部品点数を従来に比べ大幅に削減する
ことができるため小型。

軽量な装置を得ることができる。

次に、前述した実施例の変形例を第６図及び第７図につ
いて説明する。第６図における例は、ビーム整形プリズ
ム２０と、ビームスプリッタ２１と、偏向ミラー２２と
、λ／２板２６と、集光レンズ２７とを一体化すること
によりスペースの省略化を一層図ったものである。また
、第７図の例の場合にも同様にして一体化して構成した
ものであるが、この場合にはその配設方向が変えられ受
光素子３１は紙面に垂直方向に配設されたものになって
いる。これら２つの例かられかるように、部品を一体化
して構成したことによって一段とスペースを省略化する
ことができるため、より一層安価で、小型、軽量な装置
を得ることができる。

発明の効果 本発明は、光情報記録媒体により反射され集光レンズに
より集光された反射光の光路上に、一面に反射面を有す
る平行平板とその反射面と反対側の偏光分離面にて接着
された三角プリズムとよりなる偏光ビームスプリッタを
配設し、この偏光ビームスプリッタの前記偏光分離面及
び前記反射面によりそれぞれ反射され２つの光に分離さ
れた光路上に、分割線により複数分割された受光面を有
する受光素子をその水平方向の分割線が前記２つの光の
光軸を結ぶ面に対して一定角度をなすように配設したの
で、偏光ビームスプリッタに入射した光を偏光分離面と
反射面とによりそれぞれ反射して２つの光（Ｓ、Ｐ偏光
成分波）に分離して４分割された受光面上に照射し、こ
れにより、フォーカスエラー信号、トラックエラー信号
、さらには、再生用信号を同一の光学系にて容易に検出
することができる。

従って、光情報検出光学系内の部品点数を大幅に削減す
ることができるため安価で、小型、軽量な装置を得るこ
とが可能となり、また、部品を一体化して構成すること
によりスペースのより一層の省略化を図ることができる
ため、−段とコンパクトな装置を得ることができるもの
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す平面図、第２図（ａ）
は偏光ビームスプリッタの側面図、第２図（ｂ）は４分
割された受光素子の正面図、第３図（ａ）（ｂ）ないし
第５図（ａ）（ｂ）はフォーカス及びデフォーカス時に
おける各種ビーム形状の様子を示す説明図、第６図及び
第７図は第１図の変形例を示す平面図、第８図は従来の
光ピックアップ装置の全体構成を示す説明図である。 １８・・・半導体レーザ、１９・・・カップリングレン
ズ、２１・・・ビームスプリッタ、２４・・・光情報記
録媒体、２５・・・光情報検出光学系、２７・・・集光
レンズ、２８・・・偏光ビームスプリッタ、２９・・・
平行平板、３０・・・三角プリズム、３１・・・受光素
子、α・・・反射面、β・・・偏光分離面、ａ、ｂ、Ｑ
、ｄ・・・受光面、Ｋｓ、Ｋｐ・・・２つの光、Ｌ・・
・水平方向の分割線、Ｄ・・・２つの光の光軸を結ぶ面
、θ・・・一定角度一第７１　　図： （ａ） （ｂ） 出　願　人　　　　株式会社　リ　コ 図 ７図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　半導体レーザから出射されたレーザ光をカップリング
   レンズにより平行化した後ビームスプリッタを介して光
   情報記録媒体に照射して情報の記録を行い、この光情報
   記録媒体からの反射光を前記ビームスプリッタにより反
   射して光情報検出光学系に導き、この光情報検出光学系
   に導かれた反射光を集光レンズにより集光して検出する
   ことによつて情報の再生やサーボ検出を行う光ピックア
   ップ装置において、前記光情報検出光学系内に導かれ前
   記集光レンズにより集光された前記反射光の光路上に、
   一面に反射面を有する平行平板とその反射面と反対側の
   偏光分離面にて接着された三角プリズムとよりなる偏光
   ビームスプリッタを配設し、この偏光ビームスプリッタ
   の前記偏光分離面及び前記反射面によりそれぞれ反射さ
   れ２つの光に分離された光路上に、分割線により複数分
   割された受光面を有する受光素子をその水平方向の分割
   線が前記２つの光の光軸を結ぶ面に対して一定角度をな
   すように配設したことを特徴とする光ピックアップ装置
   。