JPH02147926A - ポリクロメータ - Google Patents
ポリクロメータInfo
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- JPH02147926A JPH02147926A JP1257205A JP25720589A JPH02147926A JP H02147926 A JPH02147926 A JP H02147926A JP 1257205 A JP1257205 A JP 1257205A JP 25720589 A JP25720589 A JP 25720589A JP H02147926 A JPH02147926 A JP H02147926A
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- polychromator
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- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 43
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
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- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 abstract 1
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 abstract 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/20—Rowland circle spectrometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/446—Photodiode
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/448—Array [CCD]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/04—Slit arrangements slit adjustment
- G01J2003/045—Sequential slits; Multiple slits
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1295—Plural entry slits, e.g. for different incidences
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、フォトダイオードアレイを用いて強度を測定
するためのバツシエンールンゲ・マウンティング形式の
ポリクロメータに関する。
するためのバツシエンールンゲ・マウンティング形式の
ポリクロメータに関する。
従来技術
パルス化された光源を利用する場合、または時間的に限
界状態で使用する場合、−船釣に、スペクトルは同時に
種々異なるスペクトル領域において検査される。このた
めに通常は、凹面格子を有するポリクロメータをパフシ
エンールンゲ・マウンティング形式で使用し、その際ポ
リクロメータ内には、マスク内に調節可能なスリットが
設けられており、スリットの個所の光度が光電検出器に
より測定される。これらの光電検出器はその都度に全体
の光度を測定する。
界状態で使用する場合、−船釣に、スペクトルは同時に
種々異なるスペクトル領域において検査される。このた
めに通常は、凹面格子を有するポリクロメータをパフシ
エンールンゲ・マウンティング形式で使用し、その際ポ
リクロメータ内には、マスク内に調節可能なスリットが
設けられており、スリットの個所の光度が光電検出器に
より測定される。これらの光電検出器はその都度に全体
の光度を測定する。
スリットにおけるスペクトル線の周囲のスペクトル分解
能に関する情報は失われる。
能に関する情報は失われる。
複雑なスベクtルの場合、選択されたスペクトル線は同
じ元素のまたは他の元素のスペクトル線によって著しく
障害を受ける可能性がありさらに連続光線が光線全体に
無視することのできない影響を与える可能性もある。こ
の場合スペクトル線周辺のスペクトル分解能を無視する
ことはできない。何故ならば選択されたスペクトル線の
正味のスペクトル線光度だけしか検出することができな
いからである。
じ元素のまたは他の元素のスペクトル線によって著しく
障害を受ける可能性がありさらに連続光線が光線全体に
無視することのできない影響を与える可能性もある。こ
の場合スペクトル線周辺のスペクトル分解能を無視する
ことはできない。何故ならば選択されたスペクトル線の
正味のスペクトル線光度だけしか検出することができな
いからである。
高いスペクトル分解能と時間分解能ならびに精確さを有
する1つのフォトダイオードアレイを用いることにより
、個々のスペクトル領域を同時に測定することができる
。しかし、別の各スペクトル領域に対しては、付加的な
フォトダイオードアレイが必要とされる。
する1つのフォトダイオードアレイを用いることにより
、個々のスペクトル領域を同時に測定することができる
。しかし、別の各スペクトル領域に対しては、付加的な
フォトダイオードアレイが必要とされる。
1つのフォトダイオードアレイには2048個までの7
オトダイオードが25μmの間隔で配置されている。こ
れらのダイオードはそれぞれ個々の個所における光度を
同時に測定する。
オトダイオードが25μmの間隔で配置されている。こ
れらのダイオードはそれぞれ個々の個所における光度を
同時に測定する。
このようにして、1つのスペクトル領域のスペクトル強
度分布が測定される。
度分布が測定される。
発明の解決すべき課題
したがって本発明の課題は、複数の種々異なるスペクト
ル領域のスペクトル強度分布を、1つのフォトダイオー
ドアレイによって同時に測定できるようにすることであ
る。
ル領域のスペクトル強度分布を、1つのフォトダイオー
ドアレイによって同時に測定できるようにすることであ
る。
課題を解決するための手段
この課題は、ローランド円上の少なくとも2つのスペク
トル領域のスペクトル強度分布を、イメージガイドを介
してフォトダイオードアレイに伝達し、そこで測定する
ようにしたことにより解決される。
トル領域のスペクトル強度分布を、イメージガイドを介
してフォトダイオードアレイに伝達し、そこで測定する
ようにしたことにより解決される。
発明の利点
本発明の装置により、種々の、しかも互いに遠く離れて
いるスペクトル領域のスペクトル強度分布も1つのフォ
トダイオードアレイを用いて測定することができる。
いるスペクトル領域のスペクトル強度分布も1つのフォ
トダイオードアレイを用いて測定することができる。
対象とする必ずしも全部のスペクトル領域をローランド
円からイメージガイドによりフォトダイオードアレイに
伝送できない場合はフォトダイオードアレイを、イメー
ジガイドの適さないローランド円のスペクトル領域に直
接配置しその際、対象とするその他のスペクトル領域の
スペクトル強度分布はイメージガイドを介してフォトダ
イオードアレイに伝送される。
円からイメージガイドによりフォトダイオードアレイに
伝送できない場合はフォトダイオードアレイを、イメー
ジガイドの適さないローランド円のスペクトル領域に直
接配置しその際、対象とするその他のスペクトル領域の
スペクトル強度分布はイメージガイドを介してフォトダ
イオードアレイに伝送される。
適用領域が変わる場合は即ち種々異なる各スペクトル領
域のスペクトル強度分布が次々と測定されて分析される
べき場合は、イメージガイドをローランド円上に可動的
に配置すると有利である。この場合これらのイメージガ
イドは、対象とするスペクトル領域の強度分布がフォト
ダイオードアレイ上に結像するように、それぞれ配置さ
れている。これらのイメージガイドは、手動によりまた
はマイクロプロセッサの制御による駆動により、それぞ
れ対象とするスペクトル領域に応じて配置される。
域のスペクトル強度分布が次々と測定されて分析される
べき場合は、イメージガイドをローランド円上に可動的
に配置すると有利である。この場合これらのイメージガ
イドは、対象とするスペクトル領域の強度分布がフォト
ダイオードアレイ上に結像するように、それぞれ配置さ
れている。これらのイメージガイドは、手動によりまた
はマイクロプロセッサの制御による駆動により、それぞ
れ対象とするスペクトル領域に応じて配置される。
ローランド円上の光度を最適に利用するために、イメー
ジガイドは有利には断面変換器として構成される。この
場合、個々のファイバはローランド円に矩形断面のマト
リクス状で配置されており、前記断面変換器の高さは、
ローランド円上のスリットの高さに相応している。フォ
トダイオードアレイに対向して、イメージガイドは、個
々のダイオードの断面に相応する矩形の断面を有してい
る。さらに光度を最適に伝送するために個々のファイバ
の数値装置が考慮されている。そのためイメージガイド
の全部の光がダイオードによってその受光角度内で受光
できる。
ジガイドは有利には断面変換器として構成される。この
場合、個々のファイバはローランド円に矩形断面のマト
リクス状で配置されており、前記断面変換器の高さは、
ローランド円上のスリットの高さに相応している。フォ
トダイオードアレイに対向して、イメージガイドは、個
々のダイオードの断面に相応する矩形の断面を有してい
る。さらに光度を最適に伝送するために個々のファイバ
の数値装置が考慮されている。そのためイメージガイド
の全部の光がダイオードによってその受光角度内で受光
できる。
1つまたは複数個の個別のファイバから成るイメージガ
イドが、個々のファイバの太さのためにローランド円に
て十分には薄くできない場合は、あるいはフォトダイオ
ードアレイにおいてイメージガイドの断面が十分に小さ
くない場合は、光の伝送は中間結像により有利に最適化
される。ローランド円における中間結像が入射スリット
の像を、イメージガイドの断面に相応するように拡大し
、さらにフォトダイオードアレイにおけるイメージガイ
ドの断面を縮小する。そのためイメージガイドからの全
部の光がフォトダイオードアレイの唯1つのダイオード
により完全に検出される。さらに入射スリットを中間結
像させることにより、分解能をスペクトル領域毎に異な
るように選択することができるこのようにして、例えば
必要なフォトダイオードの個数を最適化することができ
る。
イドが、個々のファイバの太さのためにローランド円に
て十分には薄くできない場合は、あるいはフォトダイオ
ードアレイにおいてイメージガイドの断面が十分に小さ
くない場合は、光の伝送は中間結像により有利に最適化
される。ローランド円における中間結像が入射スリット
の像を、イメージガイドの断面に相応するように拡大し
、さらにフォトダイオードアレイにおけるイメージガイ
ドの断面を縮小する。そのためイメージガイドからの全
部の光がフォトダイオードアレイの唯1つのダイオード
により完全に検出される。さらに入射スリットを中間結
像させることにより、分解能をスペクトル領域毎に異な
るように選択することができるこのようにして、例えば
必要なフォトダイオードの個数を最適化することができ
る。
所望のスペクトル領域の個数および大きさにより、フォ
トダイオードアレイにおいて必要とされるダイオードの
個数は増加するため、場合により複数個のフォトダイオ
ードアレイが必要とされる。対象とする全部のスペクト
ル領域の同時の光度測定を保証するために、これら複数
個のフォトダイオードアレイは同時に制御する必要があ
る。
トダイオードアレイにおいて必要とされるダイオードの
個数は増加するため、場合により複数個のフォトダイオ
ードアレイが必要とされる。対象とする全部のスペクト
ル領域の同時の光度測定を保証するために、これら複数
個のフォトダイオードアレイは同時に制御する必要があ
る。
実施例の説明
図面において、lはローランド円2における入射スリッ
トであり、3は回折格子、4aから4eはそれぞれ対象
とするスペクトル領域のためのローランド円におけるス
リットである。5はフォトダイオードアレイであって、
図示する都合上2つに分けて示されている。フォトダイ
オードアレイ5はローランド円のスリット4aに直接設
けられている。スリット4bから4eのスペクトル領域
は、イメージガイド8を介して、フォトダイオードアレ
イ5において結像する。スリット4bに配属されたイメ
ージガイド8bには、中間結像のために光学装置6およ
び7が設けられている。何故ならばイメージガイド8b
の網目の値が100μmであるのに対して、フォトダイ
オードアレイにおけるダイオードの直径は25μmの値
を有するからである。
トであり、3は回折格子、4aから4eはそれぞれ対象
とするスペクトル領域のためのローランド円におけるス
リットである。5はフォトダイオードアレイであって、
図示する都合上2つに分けて示されている。フォトダイ
オードアレイ5はローランド円のスリット4aに直接設
けられている。スリット4bから4eのスペクトル領域
は、イメージガイド8を介して、フォトダイオードアレ
イ5において結像する。スリット4bに配属されたイメ
ージガイド8bには、中間結像のために光学装置6およ
び7が設けられている。何故ならばイメージガイド8b
の網目の値が100μmであるのに対して、フォトダイ
オードアレイにおけるダイオードの直径は25μmの値
を有するからである。
分析すべき光は入射スリットlにおいてポリクロメータ
内に入り、格子3において回折し、そのためスペクトル
がローランド円上に結像する。対象とするスペクトル領
域4aは直接フォトダイオードアレイ上に結像し、一方
スリット4bから4eまでのスペクトル領域は、イメー
ジガイド8を介してフォトダイオードアレイ上に結像す
る。
内に入り、格子3において回折し、そのためスペクトル
がローランド円上に結像する。対象とするスペクトル領
域4aは直接フォトダイオードアレイ上に結像し、一方
スリット4bから4eまでのスペクトル領域は、イメー
ジガイド8を介してフォトダイオードアレイ上に結像す
る。
発明の効果
本発明による装置により、複数個の種々異なる、しかも
互いに離れているスペクトル領域のスペクトル強度分布
を、1つのフォトダイオードアレイを用いて同時に測定
することができる
互いに離れているスペクトル領域のスペクトル強度分布
を、1つのフォトダイオードアレイを用いて同時に測定
することができる
第1図に、本発明による実施例が図示されている。
■・・・入射スリット、2・・・ローランド円、3・・
・回折格子、4a〜4e・・・スリット、5・・・フォ
トダイオードアレイ、6.7・・・光学装置、8・・・
イメージガイド
・回折格子、4a〜4e・・・スリット、5・・・フォ
トダイオードアレイ、6.7・・・光学装置、8・・・
イメージガイド
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、フォトダイオードアレイを用いて強度を測定するた
めのパッシェン−ルンゲ・マウンティング形式のポリク
ロメータにおいて、ローランド円上の少なくとも2つの
スペクトル領域のスペクトル強度分布が、イメージガイ
ドを介してフォトダイオードアレイに伝送されて、ここ
で測定されることを特徴とするポリクロメータ。 2、一方ではダイオードの受光断面が他方ではローラン
ド円におけるスリットの高さが完全に利用されるように
、イメージガイドが断面変換器として構成されている請
求項1記載のポリクロメータ。 3、ローランド円におけるスリットが、中間結像部を介
して、イメージガイドに結像される、請求項1または2
記載のポリクロメータ。 4、イメージガイドの断面が、中間結像部を介して、ダ
イオードの断面上に結像される請求項1から3のいずれ
か1項記載のポリクロメータ。 5、フォトダイオードアレイを用いて強度を測定するた
めのパッシェン−ルンゲ・マウンティング形式のポリク
ロメータにおいて、ローランド円上の少なくとも1つの
スペクトル領域のスペクトル強度分布が、フォトダイオ
ードアレイの一部分により直接測定されるようにし、他
方、少なくとも1つの別のスペクトル領域のスペクトル
強度分布が、イメージガイドを介して同じフォトダイオ
ードアレイの別の部分に伝送されて、ここで測定される
ことを特徴とするポリクロメータ。 6、一方ではダイオードの受光断面が他方ではローラン
ド円におけるスリットの高さが完全に利用されるように
、イメージガイドが断面変換器として構成されている請
求項5記載のポリクロメータ。 7、ローランド円におけるスリットが、中間結像部を介
してイメージガイドに結像される、請求項5または6記
載のポリクロメータ。 8、イメージガイドの断面が、中間結像部を介してダイ
オードの断面上に結像される請求項5から7までのいず
れか1項記載のポリクロメータ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3833602A DE3833602A1 (de) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | Spektrometer zur gleichzeitigen intensitaetsmessung in verschiedenen spektralbereichen |
DE3833602.2 | 1988-10-03 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02147926A true JPH02147926A (ja) | 1990-06-06 |
Family
ID=6364286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1257205A Pending JPH02147926A (ja) | 1988-10-03 | 1989-10-03 | ポリクロメータ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4993834A (ja) |
EP (1) | EP0362562B1 (ja) |
JP (1) | JPH02147926A (ja) |
CA (1) | CA1329019C (ja) |
DE (1) | DE3833602A1 (ja) |
ES (1) | ES2047076T3 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2985323B2 (ja) * | 1991-03-04 | 1999-11-29 | 株式会社日立製作所 | パターン検査方法及びその装置 |
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