JPH02137338A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

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JPH02137338A
JPH02137338A JP63290134A JP29013488A JPH02137338A JP H02137338 A JPH02137338 A JP H02137338A JP 63290134 A JP63290134 A JP 63290134A JP 29013488 A JP29013488 A JP 29013488A JP H02137338 A JPH02137338 A JP H02137338A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
information
position information
view
bare chip
Prior art date
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Pending
Application number
JP63290134A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Mizuoka
靖司 水岡
Nobutaka Taira
平良 信孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP63290134A priority Critical patent/JPH02137338A/ja
Publication of JPH02137338A publication Critical patent/JPH02137338A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体装置製造におけるダイボンディング装
置の、ウェーハ上のペア(bare)チップの位置を検
出する位置検出装置に関する。
(従来の技術) 一般に、ダイボンディング装置のペアチップ位置の検1
illよ、ペアチップただ1個の検出を目的としており
、したがって、ダイボンディング装置のX−Yテーブル
のペアチップの認識対象範囲には、ペアチップがただ1
個が独立して、つまり欠けずに完全な姿(以下、完全姿
と略す)で存在していなければならない、しかし、ダイ
ボンディング装置のx−Yテーブルでウェーハを交換す
ると、交換したウェーへの位置が前の位置からずれ、し
たがってウェーハ上のペアチップはボンディング対象範
囲からずれることになる。
第3図はその位置ずれを、正常なペアチップ位置ととも
に例示したもので、図(a)はペアチップが正常位置に
ある場合で、認識対象範囲(以下、認識視野という)2
1内にはただ1個の完全姿のペアチップ22が認識され
る0図(b)はウェーハが左(右)にずれた場合、図(
c)は同じく上(下)にずれた場合1図(d)は斜にず
れた場合で、これら(b)ないしくd)の例は何れも完
全姿のペアチップは認められない。
上述のようにウェーハ交換によりペアチップは正しくダ
イボンディング装置のX−Yテーブルの認識視野内に位
置せず、したがってx−YテーブルをXまたはY方向に
移動させてペアチップの完全姿を認識視野に収めて、ダ
イボンディングすることになる。
第4図はX−Yテーブルが上述のようにずれたペアチッ
プを、認識視野内に捉えるための移動を説明するもので
、丸囲みの数字は認識視野の中心位置であり、上記ベア
チップの完全姿を捉えるために始めに中心位置が■にあ
った認識視野21を、その中心位置を■から■の順序で
視野の半分ずつ矢印23の方向に移動していた。
(発明が解決しようとする課題) そのため、上述の従来の方法ではペアチップが認識視野
に接する外周領域に存在しない時でも、ペアチップをX
−Yテーブルが探すことになり、また、第5図に示すよ
うに、ペアチップの一部だけがウェーハに載っている場
合、つまり不完全な姿(以下、不完全姿と略す)でペア
チップが視野にある場合でも、上記の同様な無駄なペア
チップの探し方をし、したがって、X−Yテーブルがペ
アチップの完全姿を視野に収めるまでに時間を要しダイ
ボンディングが遅くなる欠点がある。
本発明は上述した欠点を排除し、ウェーハの交換時等で
認識視野内に完全姿のペアチップが存在しない場合、速
みやかに完全姿のペアチップを認識視野内に収める位置
検出装置の提供を目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は」〕記の目的を、認識対象範囲に接する白また
は黒の領域の輪郭線を追跡する手段と、その追跡された
輪郭線の周囲長が最も長い領域に外接する矩形を求める
手段と、その外接矩形の認識対象範囲に接していないコ
ーナ情報から、認識対象範囲の中心に位置する位置検出
対象体の中心を検出する手段とを備えて達成する。
(作 用) 以上のように構成する本発明は、完全姿のペアチップを
認識視野に捉えない時は、そのとき認識視野が捉えてい
る不完全姿のペアチップの部分的な形状の情報から、完
全姿のペアチップが存在する位置を推測して、ペアチッ
プ位置の検出動作を行うからペアチップの位置検出が高
速で行われ。
したがってダイボンディング処理が速やかに可能になる
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図で1はペア
チップである。テレビカメラ2に入力したペアチップ1
の画像信号は、光電変換部3によって濃淡画像信号に変
換され、画像記憶部4に記憶される。この画像信号は制
御部5からの指令に基づき読み出され、パターン認識処
理部6に入り、画像の形状等の特徴による認識アルゴリ
ズムによって、認識視野内に完全姿のペアチップ1を検
出することができる。
いま、X−Yテーブル7上のウェーハ8が交換されると
、制御部5は、まず上述の手順により認識視野内の完全
姿のペアチップの有無を検出する。
完全姿のペアチップが存しない前出の第2図のような場
合、制御部5の指令に基づき画像記憶部4から、現在の
認識視野内の画像情報が読み出され、それは2値化回路
9により2値化される。この2値化された画像情報によ
り輪郭線追跡部10は認識視野に接する白(あるいは黒
)の領域の輪郭線を追跡し、その輪郭線の位置情報を最
大外接矩形検出部11に送出する。この最大外接矩形検
出部11は輪郭線の位置情報から、周vR長の最も長い
領域の外接矩形を求め、そのコーナ位置情報を中心位置
情報部12に送出する。ここでは認識視野の外枠に接し
ていない上記外接矩形のコーナ位置情報から、ペアチッ
プ1の中心位置を算出し推?1+11し、制御部5に送
る。その中心位置情報によって制御部5はX−Yテーブ
ル7を駆動し、第2図のようにペアチップ22(第1図
で1)が認識視野の中心に来るようにする。
本発明は以」−のように、認識視野に接する白(あるい
は黒)の領域の輪郭線を追跡し、その輪郭線から周囲長
の最も長い領域の外接矩形を求め。
そのコーナ位置情報から認識視野の中心位置を推定し、
次ぎの認識視野位置を検出するものである。
なお1本発明は認識視野に接する領域の輪郭線の周囲長
に等しいものが複数あった場合は、任意に選択する領域
の次ぎの認識視野が検出可能になる。
(発明の効果) 以」−1説明して明らかなように本発明は、認識対象範
囲に接する内または黒の領域の輪郭線を追跡する手段と
、その追跡された輪郭線の周囲長が最も長い領域に外接
する矩形を求める手段と、その外接矩形の認識対象範囲
に接していないコーナ情報から、認識対象範囲の中心に
位置する位置検出対象体の中心を検出する手段とを備え
てペアチップの中心位置を求めるもので、従来の認識視
野を機械的に定距離、定方向に移動して位置を検出する
場合に比べ、最短移動距離で高速に完全姿のペアチップ
を認識視野内に捉えることができ、また外接矩形を用い
たからペアチップの不良マークが認識視野外の外枠に接
して輪郭線が認識視野から離間する場合も、認識視野に
接しないコーナ情報を安定して求めて、ペアチップの位
置検出ができ、さらに認識視野に接するペアチップの位
置も求められるから、認識視野内およびその視野周辺領
域にペアチップが存しない場合も、広いペアチップ検出
範囲を利用してペアチップの位置を高速に検出すること
が可能で、ダイボンディング装置に実施して大きな効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の掃成のブロック図、第2図
は位置検出の一例を示す認識視野の図、第3図はペアチ
ップの位置を説明する図、第4図は従来装置による認識
視野の移動方向を示す図、第5図は認識視野の位置検出
を説明する図である。 1 ・・・ペアチップ、 2 ・・・テレビカメラ、3
・・・光電変換部、 4・・・画像記憶部、5 ・・・
制御部、 6 ・・・パターン認識処理部、 7・・・
X−Yテーブル、 8・・・ウェーハ、 9・・・2値
化回路、lo・・・輪郭線追跡部、11・・・最大外接
矩形検出部、12・・・中心位置情報部。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第 2B!! 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 認識対象範囲に接する白または黒の領域の輪郭線を追跡
    する手段と、その追跡された輪郭線の周囲長が最も長い
    領域に外接する矩形を求める手段と、その外接矩形の認
    識対象範囲に接していないコーナ情報から、認識対象範
    囲の中心に位置する位置検出対象体の中心を検出する手
    段とを備えていることを特徴とする位置検出装置。
JP63290134A 1988-11-18 1988-11-18 位置検出装置 Pending JPH02137338A (ja)

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JP63290134A JPH02137338A (ja) 1988-11-18 1988-11-18 位置検出装置

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JP63290134A JPH02137338A (ja) 1988-11-18 1988-11-18 位置検出装置

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JPH02137338A true JPH02137338A (ja) 1990-05-25

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ID=17752233

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04123497A (ja) * 1990-09-14 1992-04-23 Hitachi Ltd 基板の位置検出方法および基板への部品搭載装置
JP2003031601A (ja) * 2001-07-19 2003-01-31 Sony Corp 電子部品実装装置
DE102005044866A1 (de) * 2005-09-20 2007-04-19 Siemens Ag Vorrichtung zur Positionsvermessung von elektrischen Bauelementen
DE102006027663A1 (de) * 2006-06-14 2008-01-03 Siemens Ag Optisches Inspektionssystem zur Vermessung von elektronischen Bauelementen
CN107256835A (zh) * 2017-06-05 2017-10-17 中芯长电半导体(江阴)有限公司 一种凸块缺陷检测方法

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