JPH02119249A - 半導体装置用放熱部材の製造方法 - Google Patents

半導体装置用放熱部材の製造方法

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JPH02119249A
JPH02119249A JP63273965A JP27396588A JPH02119249A JP H02119249 A JPH02119249 A JP H02119249A JP 63273965 A JP63273965 A JP 63273965A JP 27396588 A JP27396588 A JP 27396588A JP H02119249 A JPH02119249 A JP H02119249A
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正澄 花田
Yoshinobu Takeda
義信 武田
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    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Powder Metallurgy (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、各種の半導体集積回路装置(IC)等に用
いられる:1′、導体装置用放熱部材に閃し、特に低熱
膨張性と高放熱性とをJ!!6iえたアルミニウム合金
からなる半導体装置用放熱部材に関するものである。
[従来の技術] ゛ト導体装置用基板を構成する材料は、熱応力による歪
を発生しないように、その熱膨張係数が十導体素子の熱
膨張係数とあまり変わらないことか要請される。そこで
、従来より、熱膨張係数差の小さい材料として、たとえ
ば、コバール(29重量%Ni−17重量96Co  
Fe)もしくは4270−(C42重量%N i −F
 e)などのNi合金、またはアルミナもしくはフォル
ステライトなどのセラミック材料が用いられてきている
しかしながら、最近の半導体技術の著しい進歩は、素子
の大型化および集積度の増加を招いており、それに伴な
って上述の熱膨張係数差の他に熱h’l散が問題となっ
ている。すなわち、素子の大型化および集積度の増大に
より、熱膨張係数差か小さいことのみならず、熱放散に
優れるものであることも要求されてきている。
このような状況のもとで、上記両特性を満足する材料と
して、ベリリアセラミックスおよびタングステン、ある
いはモリブデン等が従来より提案されている。
ところが、ベリリアセラミックスは毒性が強いため、安
全性および環境汚染の点から事実上使用不可能である。
他方、モリブデンおよびタングステンについては、資源
的に仔少であり、また局在しているものであるため、非
常に高価である。それゆえに、この種の金属材料を用い
ると、半導体装置のコストか高くつくという欠点がある
。それだけでなく、この種の金属は密度が比較的に高い
ため(タングステンでは19. 3 g/ c m’ 
、モリブデンでは10.2g/cm3) 、重く、また
機械加工が比較的困難であるという欠点もあった。
そのため、熱放散性および熱膨張係数差の双方において
要求される特性を満たすことができ、かつ軽量であり、
機械加工性にも優れた甲導体装置用基板材料が望まれて
いる。
そのような十尋体装置用基板材料としては、アルミニウ
ムにシリコンを30〜50重二%添加したアルミニウム
合金が特公昭63−16458号公報に開示されている
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記A悲−30〜50重jilk ?6
 S五合金は、半導体素子の熱膨張係数との差が小さい
熱膨張係数を示すが、通常のシリコン含有率の小さいア
ルミニウム合金に比べて熱放散性が低下する。従来は、
この程度の放熱性の低下がもたらされても、半導体装置
の発熱に対して対応することが可能であった。ところが
、近年、半導体素子の高集積化に伴なう高発熱に対して
は、上記Aσ−8i、A金を用いてhk熱部材を形成す
るだけでは、半導体素子の発熱を十分に放散することは
困難であるという問題点があった。
そこで、この発明の目的は、゛r−導体素子の発熱口の
増加に伴なって要求される熱放散性と熱膨張係数差の双
方の特性を満足することができるとともに、軽量で機械
加工性にも優れた゛r、導体装置用放熱部材を提0−す
ることである。
[課題を解決するための手段] 上記[1的を達成するために本願発明名らが鋭意検討し
た結果、低熱膨張が要求される部分と高放熱性が要求さ
れる部分とを別々のアルミニウム合金から構成し、それ
ら・のアルミニウム合金を熱間力旧!−によって一体成
形すれば、熱膨張係数差および熱放散性の両特性におい
て満足することが可能な゛164体装置用放熱部材をP
jることかできることを見出した。
すなわち、この発明に従った戸1′導体装置用放))部
材は、第1のアルミニウム合金からなる部分と、第2の
アルミニウム合金からなる部分とが一体的に成形された
アルミニウム合金からなる。第1のアルミニウム合金は
、その平均熱膨張係数が17XIO−’/”C以下であ
る。第2のアルミニウム合金は、その熱伝導度が第1の
アルミニウム合金の熱伝導度よりも大きな値を示す。
好ましくは、第1のアルミニウム台金は、Siを30〜
60重二%含み、その残部がアルミニウムと不可避的不
純物とからなるものであればい。
Siの含有量を電量?6で30〜60%と限定したのは
、S1含自゛量が30重量%未満では所望の熱膨張係数
1直より大きくなるからであり、また60重量96を超
えると熱伝導性、粉末成形性および熱間加工性がと1し
く劣化するからである。
[作用] この発明においては、低熱膨張性を呈する第1のアルミ
ニウム合金と、高放熱性を呈する第2のアルミニウム合
金とが一体的に成形された部材であるため、従来のアル
ミニウム合金からなるh’l熱部材に比べて優れた高放
熱性と低熱膨張性とを兼備えることができる。
[実施例1 以下、この発明の一実施例について図を用いて説明する
第1A図、第1B図は、この発明に従った放熱部材の製
造方法の一例を示す部分断面図である。
まず、第1A図を参照して、発熱体3によって温度40
0℃に加熱されたダイ2と下パンチ5とから形成される
空隙に、たとえば、JIS呼称1100のアルミニウム
合金からなる高放熱アルミニウム合金12を押し入れる
。さらに、高放熱アルミニウム合金12の上に低熱膨張
アルミニウム合金11を構成する、たとえば、Am−4
0重量%Siの組成を有する急冷凝固粉末を投入する。
その後、第1B図に示されるように、矢印で示される方
向に上パンチ4と下パンチ5とによって加圧されると、
下パンチ5の上表面に形成されたスリット状の溝に高放
熱アルミニウム合金12が流れ込み、フィン状に成形さ
れる。それと同時に、低熱膨張アルミニウム合金11を
構成するAη〜40重量91) S 1の組成を有する
粉末は固化されながら、高放熱アルミニウム合金12と
の界面で拡散接合し、低熱膨張アルミニウム合金11と
高放熱アルミニウム合金12とは一体化する。
このようにして得られた低熱膨張アルミニウム合金11
と高放熱アルミニウノ、合金12とが一体化された放熱
部材10は第2図に示される。また、この放熱部材10
が用いられるICパッケージの一例は第9図に示されて
いる。第9図は、この発明に従った放熱部材10が組込
まれたICパッケージの一例を示す断面図である。第9
図を参照して、半導体素子13が、はんだ14を介して
銅−タングステン合金基板16に接合されている。この
タングステン合金基板16に一体的に放熱部材10か接
合されている。また、放熱部材10は、アルミナ等のセ
ラミックスからなる外囲材17の上面に装着されている
。なお、15は引出端子としてのコバールワイヤを示す
第3A図、第3B図、第3C図は、この発明に従った放
熱部材の製造方法のもう1つの例を示す部分断面図であ
る。第1A図、第1B図で示された製造方法と同+、1
に、発熱体′うによって加熱されたダイ2と、下パンチ
5、上バンチ4a、4bとから形成される空隙に、高J
Ik熱アルミニウム合金12および低熱膨張アルミニウ
ム合金11aが入れられる。その後、第3A図から第3
B図、第3C図までに示されるように、矢印で示される
方向に加圧成形されると、低熱膨張アルミニウム合金1
1aと高放熱アルミニウム合金12とが一体化した放熱
部材が得られる。
このようにして得られた放熱部材10aは第4図に示さ
れる。この放熱部材10aが用いられるICパッケージ
の一例は第10図にその断面図が示されている。この図
によれば、第9図に示されたICパッケージと異なり、
半導体素子13が、直接、Agペースト等の接合材料1
4aによって、放熱部材10aの成熱膨張アルミニウム
合金11a側の而に接合されている。それ以外の点につ
いては、第9図に示されたICパッケージと同様である
第5図は、この発明に従った放熱部材の製造方法の別の
一例を示す部分断面図である。第5図を参照して、第1
図に示された製造方法と同様に発熱体3によって加熱さ
れたダイ2と下パンチ5とから形成される空隙に、たと
えば、JIS呼称1100のアルミニウム合金からなる
中孔を有する金属板を高放熱アルミニウム合金22とし
て押し入れる。その中孔には、AQ  40 i Q 
Pa Siの組成をHするアルミニウム合金からなる急
冷凝固粉末が低熱膨張アルミニウム合金21として投入
される。その後、上バンチ4と下バンチ5とを用いて矢
印で示される方向に加圧されることによって加圧成形が
行なわれる。このようにして得られたアルミニウム合金
からなる成形物は、機械加工によって、その外周部かフ
、fン状に成形される。
得られた放熱部材20は第6図に示されている。
第6図に示される放熱部材20についてもICパッケー
ジに組込むことが可能である。
第7図はこの発明に従った放熱部材の製造方法のさらに
別の一例を示す部分断面図である。第7図を参照して、
発熱体3によって加熱されたダイ2と下パンチ5a、5
bとから形成される空隙に、たとえば、JIS呼称11
00のアルミニウム合金枠を高放熱アルミニウム合金3
2として押し入れる。さらに、下パンチ5aと上バンチ
4とから形成された空隙に、A140重量%Siの組成
を有する急冷凝固粉末を低熱膨張アルミニウム合金31
として投入する。その後、矢印で示される方向に、上パ
ンチ4と下バンチ5a、5bとを用いて加圧成形すると
、低熱膨張アルミニウム合金31と高放熱アルミニウム
合金32とが拡散接合によって一体化された箱が形成さ
れる。このようにして形成された箱形の放熱部材30は
第8図に示されている。このような放熱部材30は人工
衛星や航空機等の分野に使用されるマイクロ波集積回路
装置用パッケージ、すなイ〕ち、メタルパッケージのケ
ースに使用される。
第11図は第8図に示された箱形の放熱部材30を用い
て構成されるメタルパッケージ50の構成を示す断面図
である。第11図を参照して、低熱膨張アルミニウム合
金31と高放熱アルミニウム合金32とが接合された箱
形の放熱部材30の内側の底面上には、すなわら、低8
%膨張アルミニウム合金31からなる部分の表面上には
、マイクロ波集積回路装置用のアルミナ回路LL阪41
がAu−9口はんだ44を介して接合されている。この
放熱部材30の開口部は、たとえば、JIS呼称の高放
熱アルミニウム合金からなる蓋部材33かレーザ溶接を
用いて放熱部材30に接合されることによって塞がれて
いる。
上記実施例においては、低熱膨張アルミニウム合金とし
て、A14(1重量%Siの組成を自°するアルミニウ
ム合金を用いているが、これに限定されるものではない
。たとえば、低熱膨張アルミニウム合金としてはTS1
表に示されるt(1成のAη−8口合金を挙げることが
できる。また、上記実施例においては、高放熱アルミニ
ウム合金としてJIS呼弥1100のアルミニウム合金
を用いているが、これに限定されるものではない。高放
熱アルミニウム合金としては、たとえば、第2表に示さ
れるアルミニウム合金を挙げることができる。
さらに、上記実施例では、高放熱アルミニウム合金とし
てアルミニウム合金板を用いているが、同組成の粉末か
ら成形してもよい。
なお、この発明の実施例においては低熱膨張アルミニウ
ム合金としてA(1−3口合金を挙げているが、アルミ
ニウムにカーボンを添加することによって熱膨張係数を
低下させたアルミニウム合金を低熱膨張アルミニウム合
金として用いてもよい。
高hL1.熱アルミニウム合金として第2表に挙げられ
るアルミニウム合金を用いることによって、機械加工が
必要な場合においても、これらのアルミニウム合金は波
間性に優れているため、加工コストの低減を図るこ己が
可能になるとともに、放熱部材を複HEな形状に成形す
ることも可能になる。
第 つ 表 部 表 [発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば低熱膨張性と高
放熱性とを兼備えたアルミニウム合金からなる半導体装
置用放熱部材が提(gされiする。そのため、この放熱
部材を発熱量が高く、信頼性の要求される半導体装置に
用いると効果的である。
さらに、この発明に従った半導体装置用放熱部材はアル
ミニウム合金からなるので、軽量化を容易に図ることが
iil能である。
【図面の簡単な説明】
第1A図、第1B図はこの発明に従った半導体装置用放
熱部Hの製造方法の一例を示す部分断面図である。 第2図は、第1A図および第1B図に示される製造方法
によって得られる半導体装置用hk熱部材の1つの実施
例を示す斜視図である。 第3A図、第3B図、第3C図はこの発明に従った半導
体装置用放熱部材の製造方法のもう1つの例を示す部分
断面図である。 第4図は、第3A図〜第3C図に示される製造方法によ
って11られる半導体装置用放熱部材の1つの実施例を
示す斜視図である。 第5図はこの発明に従った崖導体装置用放熱部材の製造
方法のもう1つの例を示す部分断面図である。 第6図は第5図に示された製造方法を用いて得られる半
導体装置用放熱部Hの別の実施例を示す斜視図である。 第7図はこの発明に従った半導体装置用放熱部材の製造
方法のさらにもう1つの例を示す部分断面図である。 第8図は第7図に示された製造方法を用いてiすられる
半導体装置用放熱部材のさらに別の実施例を示す斜視図
である。 第9図は第2図に示された半導体装置用放熱部材が組込
まれるICパッケージの一例を示す断面図である。 第10図は第4図に示された半導体装置用放熱部材が組
込まれるICパッケージの一例を示す断面図である。 第11図は第8図に示された半導体装置用放熱部材が組
込まれるメタルパッケージの一例を示す断面図である。 図において、10.10a、20.30は放熱部材、1
1.lla、21. 31は「(熱膨張アルミニウム合
金 12,22.32は高hk熱アルミニウム合金であ
る。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 10:了り四部社 第8図 30−賛皇〕υ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)その平均熱膨張係数が17×10^−^6/℃以
    下である第1のアルミニウム合金からなる部分と、その
    熱伝導度が前記第1のアルミニウム合金の熱伝導度より
    も大きな値を示す第2のアルミニウム合金からなる部分
    とが、接合され、一体的に成形されたアルミニウム合金
    からなる半導体装置用放熱部材。
  2. (2)前記第1のアルミニウム合金は、Siを30〜6
    0重量%含み、その残部がアルミニウムと不可避的不純
    物とからなるアルミニウム合金を含む、請求項1に記載
    の半導体装置用放熱部材。
JP63273965A 1988-10-28 1988-10-28 半導体装置用放熱部材の製造方法 Expired - Lifetime JPH0639606B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02246141A (ja) * 1989-03-17 1990-10-01 Fujitsu Ltd 半導体装置
EP0713250A2 (en) 1994-11-15 1996-05-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Material for semiconductor substrate, process for producing the same, and semiconductor device with such substrate

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS621535A (ja) * 1985-06-27 1987-01-07 住友電気工業株式会社 複合放熱構造体およびその製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS621535A (ja) * 1985-06-27 1987-01-07 住友電気工業株式会社 複合放熱構造体およびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02246141A (ja) * 1989-03-17 1990-10-01 Fujitsu Ltd 半導体装置
EP0713250A2 (en) 1994-11-15 1996-05-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Material for semiconductor substrate, process for producing the same, and semiconductor device with such substrate

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