JPH02119156A - ウェーハ試験方法 - Google Patents

ウェーハ試験方法

Info

Publication number
JPH02119156A
JPH02119156A JP63272235A JP27223588A JPH02119156A JP H02119156 A JPH02119156 A JP H02119156A JP 63272235 A JP63272235 A JP 63272235A JP 27223588 A JP27223588 A JP 27223588A JP H02119156 A JPH02119156 A JP H02119156A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
wafer stage
probe card
stage
directions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63272235A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Sugawara
亮 菅原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Yamagata Ltd filed Critical NEC Yamagata Ltd
Priority to JP63272235A priority Critical patent/JPH02119156A/ja
Publication of JPH02119156A publication Critical patent/JPH02119156A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はウェーハ試験方法に関し、特にウェーハ段階に
てペレットの試験を行うウェーハ試験方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種のウェーハ試験方法では、第2図に示すプ
ローバ本体10.を用いプローブカード8を固定として
上面にウェーハ9を載置したウェーハステージ2を外部
から供給される駆動電力により回転するパルスモータ4
により、水平面に沿って横軸X方向と縦軸Y方向に移動
することにより、ウェーハ9上の全ペレットをプローブ
カード8の探針と接触させて試験を行っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のウェーハ試験方法では、プローブカード
が固定となっているので、ウェーハステージは最小限ウ
ェーハ外径分の動作範囲を必要とする。その為、ウェー
ハ外径が大きくなるにしたがってウェーハステージの動
作範囲を大きくする必要があり、その結果、装置寸法が
大きくなりクリーンルームへの設置スペースを広く取る
必要が生じるという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のウェーハ試験方法は、ウェーハ段階でペレット
の試験を行うプローバのウェーハステージを水平面に沿
って縦軸及び横軸方向に移動し、前記ウェーハステージ
の移動に同期してプローブカードを前記縦軸及び横軸方
向のそれぞれ逆方向に移動するように構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例に用いるプローバのブロック
図である。
第1図に示すように、プローバ本体10は10−ブカー
ド8を下面側に固定し水平面に沿って横軸X及び縦軸Y
方向と上下方向に移動できるプローブカードステージ1
と、上面に試験されるウェーハ9を載置して水平面に沿
って横軸X及び縦軸Y方向へ移動できるウェーハステー
ジ2と、プローブカードステージ1を移動させるパルス
モータ3と、ウェーハステージ2を移動させるパルスモ
ータ4とを備える。パルスモータ3及び4はそれぞれ図
示しないCPUから供給される移動量情報に基づき、同
期制御部7で作成されるそれぞれの移動量情報を受けて
、駆動電力を出力する駆動回路ら及び6により同一タイ
ミングで独立して駆動される。
CPUからの移動量情報により同期制御部7はプローブ
カードステージ1とウェーハステージ2の横軸X及び縦
軸Y方向の移動量について分配し、かつ、移動方向を指
定して各駆動回路5,6に信号を送る。パルスモータ3
,4はそれぞれプローブカードステージ1とウェーハス
テージ2に独立して存在し、同一のタイミングでそれぞ
れのステージを駆動する。
前述した第2図のプローバでの移動量(ウェーハステー
ジのみの移動量)をX=A、Y=Bとすると、ウェーハ
ステージ2がX=A/2゜Y=B/2でプローブカード
ステージ1がX=−A/2.Y=−B/2となり、半分
の移動量と互に反対方向への駆動により、従来方法の移
動量を満足することになり、ウェーハ外径が大きくなっ
てもプローバの外形を小型化できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、プローブカードをウェー
ハステージと同期させて水平面に沿って横軸及び縦軸方
向に互に反対方向に移動させることにより、ウェーハ外
径の大型化に伴いプローバ本体が大型化することを防止
でき、従って、クリーンルーム内の設置スペースを小さ
くできる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に用いるプローバのブロック
図、第2図は従来のウェーハ試験方法の一例に用いる1
0−バのブロック図である。 1・・・プローブカードステージ、2・・・ウェーハス
テージ、3,4・・・パルスモータ、5.6・・・駆動
回路、7・・・同期制御部、8・・・スロープカード、
9・・・ウェーハ、10.10.・・・プローバ本体、
11・・・制御部。 第7図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェーハ段階でペレットの試験を行うプローバのウェー
    ハステージを水平面に沿って縦軸及び横軸方向に移動し
    、前記ウェーハステージの移動に同期してプローブカー
    ドを前記縦軸及び横軸方向のそれぞれ逆方向に移動する
    ことを特徴とするウェーハ試験方法。
JP63272235A 1988-10-27 1988-10-27 ウェーハ試験方法 Pending JPH02119156A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63272235A JPH02119156A (ja) 1988-10-27 1988-10-27 ウェーハ試験方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63272235A JPH02119156A (ja) 1988-10-27 1988-10-27 ウェーハ試験方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02119156A true JPH02119156A (ja) 1990-05-07

Family

ID=17511006

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63272235A Pending JPH02119156A (ja) 1988-10-27 1988-10-27 ウェーハ試験方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02119156A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02210276A (ja) * 1989-02-10 1990-08-21 Tokyo Electron Ltd プローバ及びプロービング方法
JP2013201390A (ja) * 2012-03-26 2013-10-03 Tokyo Electron Ltd プローブ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02210276A (ja) * 1989-02-10 1990-08-21 Tokyo Electron Ltd プローバ及びプロービング方法
JP2013201390A (ja) * 2012-03-26 2013-10-03 Tokyo Electron Ltd プローブ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4772846A (en) Wafer alignment and positioning apparatus for chip testing by voltage contrast electron microscopy
KR100295376B1 (ko) 수직평면에유지도킹된집적회로내장웨이퍼용소형인터페이스를갖춘프로버및테스터
US5982132A (en) Rotary wafer positioning system and method
US5825180A (en) Magnetic disk test apparatus having heads moveable along substantially parallel axes
KR960000734A (ko) 다중 기판 전달 장치
JPH02119156A (ja) ウェーハ試験方法
JP3169232B2 (ja) フローティング接触表面を持った両側テストヘッド
JPH06151531A (ja) プローブ装置
JPH06124982A (ja) 半導体試験装置
US5664318A (en) Process and arrangement for determining reference positions for planar hybrid stepper motors
US6655898B1 (en) Front opening unified pod (FOUP) hoist jig
JPH08250558A (ja) ウェーハプローバ
JPH112904A (ja) 露光装置に図版を支持する装置
JP2735859B2 (ja) プローバ及びプロービング方法
JP3078562B2 (ja) 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法
JPH02111272A (ja) 回転試料台の給電方式
JPS6468635A (en) Gear testing device
JPH01216120A (ja) 検査装置
JPH03118616A (ja) 載置物の位置設定装置
JPS58142538A (ja) 半導体基板搭載台微動機構
JP2548703Y2 (ja) 回路基板検査装置
JPH04312940A (ja) 半導体集積回路検査装置
JPH06253528A (ja) 球状ロータを有する電動機
KR19990025032A (ko) 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치
JP2523740Y2 (ja) Ic基板の検査位置割り出し装置