KR19990025032A - 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치 Download PDF

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KR19990025032A
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윤영수
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구자홍
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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널(이하 PDP라 한다.)의 제조공정에서 구동용 회로 및 주변 회로가 부착되기 전에 제품의 제조 상태를 검사하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치에 관한 것으로서, PDP 셀의 패드에 대응하도록 접촉되어 신호를 입력시키기 위한 신호 입력부와, 상기 신호 입력부에 와이어(wire)를 통해 연결되어 구동신호를 입력시켜 PDP 셀의 유효 표시영역에 기준 패턴이 출력되도록 하는 패턴 발생부와, 상기 신호 입력부 및 패턴 발생부에 제어신호를 출력하여 시스템의 동작을 결정하는 동시에 상기 패턴 발생부로 기준 패턴에 대응하는 검사신호를 출력하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치( defect inspection system for PDP cell )에 관한 것으로서 특히, 플라즈마 디스플레이 패널의 제조공정에서 구동용 회로 및 주변 회로가 부착되기 전에 제품의 제조 상태를 검사하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치에 관한 것이다.
일반적인 PDP 셀의 구조는 도 1에 도시된 바와 같이, 상판 글래스(10) 및 하판 글래스(20)가 서로 합착되어 이루어지는데 주변 가장자리에 구동신호를 입력하는 패드(PAD)(30)가 배치되어 있다.
상기와 같은 PDP 셀은 주변회로가 부착되지 않은 상태이기 때문에 그 자체로는 유효 표시영역(40)에 어떤 데이터도 표시할 수 없다. 따라서, 셀의 제조공정에서는 검사용 패턴신호를 입력하여 제품이 정확하게 제작되었는지 또는 각 화소가 정상적으로 동작하는지를 검사할 수 없기 때문에 주변회로가 조립된 뒷공정에서 검사를 실시하게 되어 불량품이 후 공정으로 유입되는 문제점이 발생한다.
도 2는 종래 기술에 의한 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치를 나타내는 도면이다.
도 2를 참조하면, 주변회로가 부착된 PDP(110)에 전원 공급기(power supply) (120) 및 패턴 발생기(130)를 연결하여 구동신호를 입력시킴으로서 제품의 양호/불량을 판정한다.
이때, 상기 전원 공급기(120)는 PDP(110)의 주변회로에 구동전원을 공급하고, 상기 패턴 발생기(120)는 상기 주변회로에 기준 패턴 발생에 대한 구동신호를 출력시킴으로서 PDP 셀의 유효 표시영역(도 1의 40 참조) 상에 원하는 패턴이 표시되는지에 따라 제품의 양호/불량을 판정할 수 있도록 한다.
그러나, 상기와 같은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치에서는 주변회로가 부착된 완제품의 PDP(110)를 사용하여 셀 검사 동작을 수행하기 때문에 셀 제조단계 후 불량품이 주변회로 부착단계로 유입되어 제조비용을 상승시키는 동시에 수율을 저하시키는 문제점이 발생한다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은 PDP 셀의 패드부에 미세한 핀프로브(pin probe)를 다수 접촉시켜 검사신호를 입력시킴으로서 구동용 회로 및 주변 회로가 부착되기 전에 제품의 제조 상태를 검사할 수 있도록 하는 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치를 제공하는데 있다.
도 1은 PDP 셀을 나타내는 평면도,
도 2는 종래 기술에 의한 PDP 결함 검사 동작을 설명하기 위한 도면,
도 3은 본 발명에 의한 PDP 셀(cell)의 결함 검사장치의 구성을 나타내는 도면,
도 4는 본 발명에 사용되는 핀프로브의 패드 접촉 상태를 나타내는 도면.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
210 : 신호 입력부 211 : 고정 지그
212 : 핀프로브(pin probe) 213 : 프로브 헤드
214 : 에어 실린더(air cylinder) 215 : 솔레노이드(solenoid)
220 : 패턴 발생부 230 : 컴퓨터
240 : 버퍼
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제1 특징에 따르면, 플라즈마 디스플레이 패널(이하 PDP라 한다.) 셀의 패드에 대응하도록 접촉되어 신호를 입력시키기 위한 신호 입력부와, 상기 신호 입력부에 와이어(wire)를 통해 연결되어 구동신호를 입력시켜 PDP 셀의 유효 표시영역에 기준 패턴이 출력되도록 하는 패턴 발생부와, 상기 신호 입력부 및 패턴 발생부에 제어신호를 출력하여 시스템의 동작을 결정하는 동시에 상기 패턴 발생부로 기준 패턴에 대응하는 검사신호를 출력하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치를 제공한다.
또한, 본 발명의 제2 특징에 따르면, 상기 신호 입력부는 PDP 셀을 고정시키는 고정 지그와, PDP 셀의 패드에 대응하여 접촉되는 다수의 핀프로브(pin probe)와, 상기 다수의 핀프로브를 동시에 지지하는 프로브 헤드와, 상기 프로브 헤드를 지지하는 동시에 상하 이동시켜 핀프로브와 패드의 접촉상태를 결정하는 에어 실린더(air cylinder)와, 상기 컴퓨터의 제어신호에 따라 상기 에어 실린더의 상하 동작을 결정하는 솔레노이드(solenoid)를 포함한다.
또한, 본 발명의 제3 특징에 따르면, 상기 컴퓨터와 패턴 발생부의 사이에 연결되어 검사 패턴의 발생을 위하여 구동신호를 증폭하는 버퍼를 포함하는 것이 바람직하다.
이하, 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 구성을 나타내는 도면이고, 도 4는 본 발명에서 패드 부분에 핀프로브가 접촉되는 상태를 나타내는 도면이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널(이하 PDP라 한다.) 셀(A)의 패드에 대응하도록 접촉되어 신호를 입력시키기 위한 신호 입력부(210)와, 상기 신호 입력부(210)에 와이어(wire)를 통해 연결되어 구동신호를 입력시켜 PDP 셀(A)의 유효 표시영역에 기준 패턴이 출력되도록 하는 패턴 발생부(220)와, 상기 신호 입력부(210) 및 패턴 발생부(220)에 제어신호를 출력하여 시스템의 동작을 결정하는 동시에 상기 패턴 발생부(220)로 기준 패턴에 대응하는 검사신호를 출력하는 컴퓨터(230)와, 상기 컴퓨터(230)와 패턴 발생부(220)의 사이에 연결되어 검사신호를 증폭하는 버퍼(240)를 포함한다.
이때, 상기 신호 입력부(210)는 PDP 셀(A)을 고정시키는 고정 지그(211)와, PDP 셀(A)의 패드에 대응하여 접촉되는 다수의 핀프로브(pin probe)(212)와, 상기 다수의 핀프로브(212)를 동시에 지지하는 프로브 헤드(213)와, 상기 프로브 헤드(213)를 지지하는 동시에 상하 이동시켜 핀프로브(212)와 패드의 접촉상태를 결정하는 에어 실린더(air cylinder)(214)와, 상기 컴퓨터(230)의 제어신호에 따라 상기 에어 실린더(214)의 상하 동작을 결정하는 솔레노이드(solenoid)(215)를 포함한다.
상기와 같이 구성된 본 발명은, 소정의 이송수단(미도시)에 의해 주변회로가 부착되지 않은 PDP 셀(A)이 공급되어 상기 고정지그(211)에 의해 고정되면 상기 컴퓨터(230)는 상기 솔레노이드(215)로 동작신호를 보낸다. 이때, 상기 솔레노이드(215)는 에어 실린더(214) 및 프로브 헤드(213)를 하강시킴으로써 다수의 핀프로브(212)가 PDP 셀(A)의 패드(PAD) 부분에 접촉되도록 한다.
그후, 상기 컴퓨터(230)에서 패턴 발생부(220)로 검사신호를 출력하면, 상기 패턴 발생부(220)는 상기 신호 입력부(210)에 와이어(wire)를 통해 구동신호를 입력시켜 PDP 셀(A)의 유효 표시영역에 기준 패턴이 출력되도록 한다.
이때, 작업자는 상기 PDP 셀(A)에 표시된 각종 검사패턴을 보고 제품의 양호/불량을 판단한 후 상기 고정 지그(211)에서 PDP 셀(A)을 취출한다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치는 주변회로가 부착되기 전에 셀의 검사를 실시하기 때문에 후 공정으로 불량품이 유입되는 것을 방지할 수 있어서 제조단가를 낮출 수 있는 동시에 수율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (3)

  1. 플라즈마 디스플레이 패널(이하 PDP라 한다.) 셀의 패드에 대응하도록 접촉되어 신호를 입력시키기 위한 신호 입력부와, 상기 신호 입력부에 와이어(wire)를 통해 연결되어 구동신호를 입력시켜 PDP 셀의 유효 표시영역에 기준 패턴이 출력되도록 하는 패턴 발생부와, 상기 신호 입력부 및 패턴 발생부에 제어신호를 출력하여 시스템의 동작을 결정하는 동시에 상기 패턴 발생부로 기준 패턴에 대응하는 검사신호를 출력하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호 입력부는 PDP 셀을 고정시키는 고정 지그와, PDP 셀의 패드에 대응하여 접촉되는 다수의 핀프로브(pin probe)와, 상기 다수의 핀프로브를 동시에 지지하는 프로브 헤드와, 상기 프로브 헤드를 지지하는 동시에 상하 이동시켜 핀프로브와 패드의 접촉상태를 결정하는 에어 실린더(air cylinder)와, 상기 컴퓨터의 제어신호에 따라 상기 에어 실린더의 상하 동작을 결정하는 솔레노이드(solenoid)를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치,
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 컴퓨터와 패턴 발생부의 사이에 연결되어 검사 패턴의 발생을 위하여 구동신호를 증폭하는 버퍼를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치.
KR1019970046472A 1997-09-10 1997-09-10 플라즈마 디스플레이 패널용 셀의 결함 검사장치 KR19990025032A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100553743B1 (ko) * 2002-09-03 2006-02-20 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널의 소재특성평가용 장치와 이를이용한 측정방법

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KR100553743B1 (ko) * 2002-09-03 2006-02-20 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널의 소재특성평가용 장치와 이를이용한 측정방법

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