JPH02112279A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

Info

Publication number
JPH02112279A
JPH02112279A JP63265309A JP26530988A JPH02112279A JP H02112279 A JPH02112279 A JP H02112279A JP 63265309 A JP63265309 A JP 63265309A JP 26530988 A JP26530988 A JP 26530988A JP H02112279 A JPH02112279 A JP H02112279A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate
channel region
wiring
semiconductor integrated
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63265309A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Manabu Shibata
学 柴田
Takashi Kuraishi
倉石 孝
Toru Komatsu
徹 小松
Masataka Sakamoto
昌隆 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63265309A priority Critical patent/JPH02112279A/en
Publication of JPH02112279A publication Critical patent/JPH02112279A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

PURPOSE:To increase the utility of a gate cell to a chip by constructing a semiconductor integrated circuit with, a region where a gate cell array and a wiring channel are formed, and a region over which the gate cell is laid. CONSTITUTION:A master chip portion 11 comprises a fixed channel region 12 and a free channel region 13. On the fixed channel region 12, many gate cells 14 corresponding to a basic transistor circuit are disposed into an array. Wiring channels 15 are disposed between the gate cells. On the free channel region 13, the gate cells 14 are laid over the entire surface thereof. Such a master chip is previously manufactured in a master process. In response to a user's request, in the fixed channel region 12, longitudinal and transversal wiring layers are formed in the wiring channel 15 to interconnect the gate cells 14. Further, in the free channel region 13, wiring is freely laid on the gate cells 14 to make available the fixed channel region 12 and the free channel region 13 as a logic circuit and a memory. Hereby, the utility of the fixed and free channel regions can be raised.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体集積回路に適用して有効な技術に関す
るもので、例えば、ゲートセルを有する半導体集積回路
に利用して有効な技術に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a technique that is effective when applied to a semiconductor integrated circuit, for example, a technique that is effective when applied to a semiconductor integrated circuit having a gate cell. be.

[従来の技術] 近年、ランダムロジックの分野で著しい進展を見せたも
のとしてゲートアレイ方式の半導体集積回路がある。こ
のグー1〜アレイ方式の半導体集積回路については、例
えば、昭和59年11月30日に株式会社オーム社から
発行され九r L S Iハンドブック」第1版第20
4頁〜第207頁に記載されている。
[Prior Art] Gate array type semiconductor integrated circuits have made remarkable progress in the field of random logic in recent years. Regarding the semiconductor integrated circuits of this Goo 1~array method, for example, please refer to the ``LSI Handbook'', 1st edition, No. 20, published by Ohmsha Co., Ltd. on November 30, 1980.
It is described on pages 4 to 207.

このゲートアレイ方式の半導体集積回路の一例を示した
のが第5図である。
FIG. 5 shows an example of this gate array type semiconductor integrated circuit.

同図において、符号1はチップを示しており、このチッ
プ]」二にはトランジスタ、抵抗、容量等に相当するゲ
ートセル2がアレイ状(列状)に配列されている。この
セル列の間には配線チャネル3がそれぞれ設けられてお
り、上記セル2同士は、この配線チャネル3に形成され
る縦横二層の配線層4により相互結線されている。これ
らゲートセル2及び配線層4により構成される内部ロジ
ック部の周囲には、外部インタフェイス部としてのI1
0セル5が多数配置されており、それらのさらに外方に
は外部との電気的接続を行なうポンディングパッド6が
多数配置されている。
In the figure, reference numeral 1 indicates a chip, and gate cells 2 corresponding to transistors, resistors, capacitors, etc. are arranged in an array (column) on this chip. Wiring channels 3 are provided between the cell rows, and the cells 2 are interconnected by two vertical and horizontal wiring layers 4 formed in the wiring channels 3. Around the internal logic section constituted by these gate cells 2 and wiring layer 4, there is an I1 as an external interface section.
A large number of 0 cells 5 are arranged, and a large number of bonding pads 6 for electrical connection with the outside are arranged further outside the cells.

このような半導体集積回路は、マスタスライス方式と称
される製造方法により得られる。
Such a semiconductor integrated circuit is obtained by a manufacturing method called a master slicing method.

このマスタスライス方式とは、全ての品種に対して共通
に上記ゲートセル2及び配線チャネルコ3を予め製造し
ておくマスター工程を行なった後、ユーザーの要求によ
って配線層4を形成してケトセル2間を相互結線するス
ライス工程を行なって上記ゲートアレイ方式の半導体集
積回路を得る方式であり、マスター工程までが共通化さ
れているために短期間の製造が可能であり、しかもレイ
アウトが行列状に簡素化されているために配線の自動レ
イアウトが容易であるという長所を持っている。
This master slicing method is a master process in which the gate cells 2 and wiring channel layers 3 are manufactured in advance for all types of products, and then a wiring layer 4 is formed according to the user's request to separate the gate cells 2. This method performs a slicing process to interconnect interconnections to obtain the gate array type semiconductor integrated circuit, and since the master process is shared, manufacturing can be completed in a short period of time, and the layout is simplified into a matrix. It has the advantage of being easy to automatically lay out wiring.

このような配線チャネル3が固定されている所謂固定チ
ャネルタイプの半導体集積回路は、比較的ゲートセル数
の少ない場合に特に有効である。
A so-called fixed channel type semiconductor integrated circuit in which the wiring channel 3 is fixed is particularly effective when the number of gate cells is relatively small.

すなわち、ゲートセル数が少ない場合には配線チャネル
3の幅も比較的小さくて済むので、チップ]に対するゲ
ートセル2の使用効率は高くなるが、ゲートセル数が多
くなってくると、それに応じて配線チャネル3の幅をか
なり大きく取らねばならなくなり、チップ1に対するゲ
ートセル2の使用効率が低くなってしまうからである。
In other words, when the number of gate cells is small, the width of the wiring channel 3 can be relatively small, so the usage efficiency of the gate cell 2 with respect to the chip is high, but as the number of gate cells increases, the width of the wiring channel 3 can be reduced accordingly. This is because the width of the gate cell 2 has to be made considerably large, and the usage efficiency of the gate cell 2 with respect to the chip 1 becomes low.

[発明が解決しようとする課題] ところで、このようなゲートアレイ方式の半導体集積回
路に、最近、高度な機能を備えさせる要求が強くなって
きた。すなわちROM、RAM等のメモリー機能を持た
せるという要求である。
[Problems to be Solved by the Invention] Recently, there has been a strong demand for such gate array type semiconductor integrated circuits to be equipped with advanced functions. That is, there is a demand for memory functions such as ROM and RAM.

そこで従来は、上記グー1〜アレイ方式の半導体集積回
路のゲートセル2を用いて、例えば、フリップフロップ
等を構成してメモリーの機能を持たせ、上記要求に対処
していた。
Conventionally, the gate cells 2 of the semiconductor integrated circuits of the array type have been used to form, for example, flip-flops and the like to have a memory function to meet the above requirements.

しかしながら、」1記メモリーを搭載したゲートアレイ
方式の半導体集積回路においては次のような問題点があ
る。
However, the gate array type semiconductor integrated circuit equipped with the memory described in 1 above has the following problems.

すなわち、フリップフロップ等によりメモリを構成する
方式においては、配線チャネル3が固定されているため
に配線長がどうしても長くなってしまい、メモリーの特
性を充分に発揮できないという問題である。この傾向は
ゲートセル数が多くなればなるほど顕著になる。何故な
ら、ゲートセル数が多くなると、上述の如く、それに応
じて配線チャネル3の幅を大きく取らねばならなくなり
、配線長が長くなってしまうからである。
That is, in a system in which a memory is configured using flip-flops or the like, the wiring channel 3 is fixed, so the wiring length inevitably becomes long, and the characteristics of the memory cannot be fully demonstrated. This tendency becomes more pronounced as the number of gate cells increases. This is because, as the number of gate cells increases, as described above, the width of the wiring channel 3 must be increased accordingly, resulting in an increase in the length of the wiring.

ここで、ゲートセル2をチップ1の全面に敷き詰め上記
問題点に対処するようにしたシーオブゲイト(Sea 
Of Gate)方式が知られている。
Here, the Sea of Gate (Sea of Gate) is designed to solve the above problem by spreading the gate cells 2 over the entire surface of the chip 1.
Of Gate) method is known.

このシーオブゲイト方式とは、」1記ゲートアレイ方式
の半導体集積回路の特徴であり欠点ともなっている配線
チャネル3をなくし、ゲートセルを全面に敷き詰め、後
にゲートセル2間の配線を自由に行なってメモリーを構
成する方式であり、自由に配線を行なえるためにフリー
チャネルタイプとも呼ばれている。このフリーチャネル
タイプの半導体集積回路は、上述の如く、チップ1の全
面にゲートセル2を敷き詰め、該ゲートセル2」ユを利
用して自由にゲートセル2間の配線を行なえるために配
線する領域を最小限にでき、特にメモリとして利用する
場合にはその配線長を短くできるので、メモリー特性を
充分に発揮できるという利点がある。
This sea-of-gate method eliminates the wiring channel 3, which is a feature and drawback of the semiconductor integrated circuit of the gate array method described in 1. Gate cells are spread over the entire surface, and later wiring between the gate cells 2 is freely performed to form a memory. It is also called the free channel type because it allows for free wiring. As mentioned above, in this free channel type semiconductor integrated circuit, the gate cells 2 are spread over the entire surface of the chip 1, and the wiring area is minimized in order to freely conduct wiring between the gate cells 2 using the gate cells 2''. In particular, when used as a memory, the wiring length can be shortened, which has the advantage of fully demonstrating the memory characteristics.

しかしながら、このフリーチャネルタイプの半導体集積
回路を用いて論理回路を組む場合には、配線に必要な領
域としてゲートセル列を1〜2段必要とし、チップ1に
対するゲートセル2の使用効率が著しく低下してしまう
ので、論理回路を組む場合には適当ではない。
However, when constructing a logic circuit using this free channel type semiconductor integrated circuit, one or two stages of gate cell rows are required as an area necessary for wiring, and the usage efficiency of gate cells 2 with respect to chip 1 is significantly reduced. Therefore, it is not suitable for building logic circuits.

なお、上記ゲートアレイ方式の半導体集積回路に、RO
M、RAM等のメモリーの専用領域を設けるものもある
が、メモリーの専用領域がそのシステムにしか使用でき
なくなるので、設計上柔軟性がないものになってしまう
Note that the gate array type semiconductor integrated circuit described above has an RO
Some systems provide a dedicated memory area such as M, RAM, etc., but the dedicated memory area can only be used by that system, resulting in an inflexible design.

本発明は係る問題点に鑑みなされたものであって、メモ
リー及び論理回路を搭載する場合に、チップに対するゲ
ートセルの使用効率を高めることができ、しかもメモリ
ーの特性を充分に発揮し得る半導体集積回路を提供する
ことを主たる目的としている。
The present invention has been made in view of the above problems, and is a semiconductor integrated circuit that can increase the usage efficiency of gate cells with respect to chips when mounting memory and logic circuits, and can also fully demonstrate the characteristics of memory. The main purpose is to provide.

この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴に
ついては1本明細書の記述および添附図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.

[課題を解決するための手段] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、下記のとおりである。
[Means for Solving the Problems] Representative inventions disclosed in this application will be summarized as follows.

すなわち、半導体集積回路をゲートセル列と配線チャネ
ルとが形成される領域と、ゲートセル列全面に敷き詰め
られる領域とで構成するようにしたものである。
That is, the semiconductor integrated circuit is constructed of a region where a gate cell row and a wiring channel are formed, and a region that covers the entire surface of the gate cell row.

[作用] 本発明によれば、半導体集積回路をゲートセル列と配線
チャネルとが形成される領域(固定チャネル領域)と、
ゲートセルが全面に敷き詰められる領域(フリーチャネ
ル領域)とで構成するようにしたので、論理回路及びメ
モリーを混載する場合に、固定チャネル領域に論理回路
を構成し、方、フリーチャネル領域にメモリーを構成す
ることができるという作用によって、両領域の使用効率
を高めるという上記目的が達成されることになる。
[Function] According to the present invention, a semiconductor integrated circuit is divided into a region (fixed channel region) where a gate cell row and a wiring channel are formed;
Since it is configured with an area where gate cells are spread over the entire surface (free channel area), when logic circuits and memory are mounted together, it is possible to configure the logic circuit in the fixed channel area and the memory in the free channel area. Due to the effect of being able to do this, the above-mentioned objective of increasing the usage efficiency of both areas is achieved.

また、ゲートセルが近接するフリーチャネル領域しこメ
モリーを構成すれば、メモリー相互間の配線長が短くな
るという作用により、メモリーの特性を充分に発揮させ
るという上記目的が達成されることになる。
Further, if a memory is constructed in a free channel region in which gate cells are close to each other, the wiring length between the memories is shortened, thereby achieving the above-mentioned objective of fully exhibiting the characteristics of the memory.

さらに、フリーチャネル領域をそのまま論理回路として
使用することも、メモリーとして使用することも、さら
に論理回路およびメモリーに分割して使用できるという
作用により、ROM、RAM等のメモリーの専用領域を
設ける場合に比べて設計上の柔軟性が高められ、設計工
数および製造原価の低減が図れることになる。
Furthermore, the free channel area can be used as it is as a logic circuit, or as a memory, or can be further divided into logic circuits and memory. In comparison, design flexibility is increased, and design man-hours and manufacturing costs can be reduced.

[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図には本発明の実施例が示されている。その概要を
説明すれば次のとおりである。
An embodiment of the invention is shown in FIG. The outline is as follows.

同図において、符号11はマスターチップの一部を示し
ており、上記部位11は、固定チャネル領域12とフリ
ーチャネル領域13とで構成されている。固定チャネル
領域]2には、例えば、モストランジスタ或いはバイポ
ーラ1〜ランジスタ等の基本トランジスタ回路に相当す
るゲートセル14がアレイ状に多数配列されており、こ
のセル列の間には配線チャネル15がそれぞれ設けられ
ている。一方、フリーチャネル領域13には、1−記と
同様なゲートセル14が全面に敷き詰められている。
In the figure, reference numeral 11 indicates a part of the master chip, and the portion 11 is composed of a fixed channel region 12 and a free channel region 13. In the fixed channel region] 2, a large number of gate cells 14 corresponding to basic transistor circuits such as MOS transistors or bipolar transistors 1 to transistors are arranged in an array, and wiring channels 15 are provided between the cell rows. It is being On the other hand, in the free channel region 13, gate cells 14 similar to those in 1- are spread over the entire surface.

そして、このようなマスタチップ11をマスク工程時に
予め製造しておき、ユーザーの要求に応じて、固定チャ
ネル領域12においては配線チャネル15に、例えば、
縦横二層の配線層を形成してゲートセル14間を相互結
線し、一方、フリチャネル領域13においてはゲートセ
ル14上に自由に配線を行ない相互結線することにより
、」二記固定チャネル領域12とフリーチャネル領域1
3とを自由に論理回路かつ/またはメモリーとして利用
できるようにしている。
Then, such a master chip 11 is manufactured in advance during the mask process, and according to the user's request, the wiring channels 15 in the fixed channel region 12 are formed, for example, in the wiring channel 15.
Two vertical and horizontal wiring layers are formed to interconnect the gate cells 14, and on the other hand, in the free channel region 13, wiring is freely performed on the gate cells 14 and interconnected, thereby connecting the fixed channel region 12 and the free channel region 12. Channel area 1
3 can be freely used as a logic circuit and/or memory.

従って、ROM、RAM等のメモリーを多く搭載しよう
とする場合には、第2図に示されるようにフリーチャネ
ル領域]3全体紛メ干り−とし、固定チャネル領域12
全体を論理回路としてそれぞれ構成すれば良い。
Therefore, when installing a large amount of memory such as ROM, RAM, etc., as shown in FIG.
The whole may be configured as a logic circuit.

また、メモリーを比較的少なく搭載する場合においては
、第3図に示されるように、フリーチャネル領域13の
一部13aをメモリーしこ、残部13bを論理回路にし
、固定チャネル領域12全体を論理回路としてそれぞれ
構成すわば良い。
In addition, in the case where a relatively small amount of memory is installed, as shown in FIG. You can configure each as follows.

また、メモリーを搭載しない場合においては、第4図に
示されるようしこ、フリーチャネル領域13及び固定チ
ャネル領域12を論理回路としてそれぞれ構成し、マス
タ−チップ11全体を論理回路として構成すれば良い。
If no memory is installed, the free channel area 13 and the fixed channel area 12 may each be configured as a logic circuit, as shown in FIG. 4, and the entire master chip 11 may be configured as a logic circuit. .

このようしこ、」−起生導体集積回路においては、多少
仕様の違うシステムに対しても設計変更等することなく
対応し得るようになっている。
In this way, the conductor integrated circuit can be adapted to systems with slightly different specifications without any design changes.

なお、」−記においてメモリーを含む半導体集積回路を
構成する場合には、メモリーをフリーチャネル領域側に
形成すれば、セル間を結ぶ配線長を短くすることができ
る。
In addition, when configuring a semiconductor integrated circuit including a memory in "-", if the memory is formed on the free channel region side, the length of the wiring connecting the cells can be shortened.

また、上記各実施例において論理回路かつ/またはメモ
リーとして利用されるフリーチャネル領域13と論理回
路として利用される固定チャネル領域12との比率は、
予定されるユーザー仕様に応じて適宜変更可能である。
Furthermore, in each of the above embodiments, the ratio of the free channel area 13 used as a logic circuit and/or memory to the fixed channel area 12 used as a logic circuit is as follows:
It can be changed as appropriate depending on the expected user specifications.

因に、上記ゲートの形成されている領域の周囲には図示
はされていないが第5図に示されるのと同様な外部イン
タフェイス部としてのI10セルが、それらのさらに外
方には外部との電気的接続を行なうポンディングパッド
がそれぞれ多数配置されている。
Incidentally, although not shown in the figure, around the region where the gate is formed, there is an I10 cell serving as an external interface section similar to that shown in FIG. A large number of bonding pads are arranged for electrical connection.

このように構成される半導体集積回路によれば次のよう
な効果を得ることができる。
According to the semiconductor integrated circuit configured in this manner, the following effects can be obtained.

すなわち、上記半導体集積回路によれば、固定チャネル
領域12と、フリーチャネル領域13とにより半導体集
積回路を構成するようにしたので、論理回路及びメモリ
ーを混載する場合に、固定チャネル領域12に論理回路
を、一方、フリーチャネル領域13にメモリーをそれぞ
れ構成することができるという作用によって、周領域の
使用効率を高めることが可能となる。
That is, according to the semiconductor integrated circuit described above, since the semiconductor integrated circuit is configured by the fixed channel region 12 and the free channel region 13, when a logic circuit and a memory are mounted together, the logic circuit is placed in the fixed channel region 12. On the other hand, the effect of configuring memories in the free channel area 13 makes it possible to increase the usage efficiency of the peripheral area.

また、ゲートセル14が近接するフリーチャネル領域1
3にメモリーを構成すれば、メモリー相互間の配線長が
短くなるという作用により、メモリーの特性を充分に発
揮することが可能となる。
In addition, the free channel region 1 adjacent to the gate cell 14
By configuring the memory in 3, the wiring length between the memories becomes short, so that the characteristics of the memory can be fully exhibited.

さらに、フリーチャネル領域13をそのまま論理回路と
して使用することも、メモリーとして使用することも、
さらに論理回路およびメモリーに分割して使用できると
いう作用により、ROM。
Furthermore, the free channel area 13 can be used as a logic circuit or as a memory.
Furthermore, ROM can be used by dividing it into logic circuits and memory.

RAM等のメモリーの専用領域を設ける場合に比べて設
計上の柔軟性が高められ、設計工数および製造原価の低
減が図れることになる。
Compared to the case where a dedicated memory area such as RAM is provided, design flexibility is increased, and design man-hours and manufacturing costs can be reduced.

因に、上記半導体集積回路はゲートセル数が多くなると
フリーチャネルタイプの方が使用効率が良くなり、固定
チャネル領域12を設ける意義が喪失してしまうので、
上記実施例におけるゲートセル数は全体として1000
0個以下が望ましい。
Incidentally, when the number of gate cells in the semiconductor integrated circuit increases, the free channel type becomes more efficient in use, and the purpose of providing the fixed channel region 12 is lost.
The total number of gate cells in the above example is 1000.
It is desirable that the number is 0 or less.

なお、本発明者らが、ゲートセル数の使用効率に12一 ついて検討した結果、最も望ましいゲートセル数は、5
000個以下であることがわかった。
In addition, as a result of the present inventors' study on the utilization efficiency of the number of gate cells, the most desirable number of gate cells is 5.
It was found that there were less than 000 pieces.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.

例えば、フリーチャネル領域13だけでは不足する場合
には固定チャネル領域12の一部にもメモリーを構成す
るようにしても良い。
For example, if the free channel area 13 alone is insufficient, memory may also be configured in part of the fixed channel area 12.

[発明の効果] 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
[Effects of the Invention] The effects obtained by typical inventions disclosed in this application are briefly explained below.

すなわち、半導体集積回路をゲートセル列と配線チャネ
ルとが形成される領域(固定チャネル領域)と、ゲート
セルが全面に敷き詰められる領域(フリーチャネル領域
)とで構成するようにしたので、論理回路及びメモリー
を混載する場合に、固定チャネル領域に論理回路を構成
し、一方、フリーチャネル領域にメモリーを構成するこ
とができる。その結果、周領域の使用効率を高めること
が可能となる。
In other words, since the semiconductor integrated circuit is configured with a region where gate cell rows and wiring channels are formed (fixed channel region) and a region where gate cells are spread over the entire surface (free channel region), the logic circuit and memory can be In the case of mixed mounting, a logic circuit can be configured in a fixed channel area, while a memory can be configured in a free channel area. As a result, it becomes possible to increase the usage efficiency of the peripheral area.

また、ゲートセルが近接するフリーチャネル領域にメモ
リーを構成すれば、メモリー相互間の配線長が短くなる
ので、メモリーの特性を充分に発揮させることができる
Further, if the memory is configured in a free channel region where gate cells are close to each other, the wiring length between the memories can be shortened, so that the characteristics of the memory can be fully exhibited.

さらに、フリーチャネル領域をそのまま論理回路として
使用することも、メモリーとして使用することも、さら
には論理回路およびメモリーに分割して使用できるので
、ROM、RAM等のメモリーの専用領域を設ける場合
に比べて設計上の柔軟性が高められることになる。
Furthermore, the free channel area can be used as it is as a logic circuit, used as a memory, or even divided into a logic circuit and memory, compared to the case where a dedicated area for memory such as ROM or RAM is provided. This will increase design flexibility.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す半導体集積回路の上面
図、 第2図は同上装置のフリーチャネル領域をメモリーとし
て構成した場合の概念図、 第3図は同上フリーチャネル領域をメモリーと論理回路
とで構成した場合の概念図。 第4図は同上フリーチャネル領域を論理回路で構成した
場合の概念図 第5図は従来技術を示す半導体集積回路の上面図である
。 12・・・・固定チャネル領域、13・・・・フリーチ
ャネル領域、14・・・・ゲートセル、15・・・・配
線チャネル、 第 図
Fig. 1 is a top view of a semiconductor integrated circuit showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a conceptual diagram of the free channel region of the above device configured as a memory, and Fig. 3 is a conceptual diagram of the free channel region of the above device configured as a memory. A conceptual diagram when configured with a logic circuit. FIG. 4 is a conceptual diagram of the case where the free channel region is constructed of logic circuits. FIG. 5 is a top view of a semiconductor integrated circuit showing the prior art. 12...Fixed channel region, 13...Free channel region, 14...Gate cell, 15...Wiring channel, Fig.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、多数のゲートセルが形成された領域を有する半導体
集積回路において、前記領域をゲートセル列と配線チャ
ネルとが形成される領域と、ゲートセルが全面に敷き詰
められる領域とで構成したことを特徴とする半導体集積
回路。 2、前記ゲートセルが全面に敷き詰められる領域は、メ
モリー領域として利用されることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の半導体集積回路。 3、前記ゲートセル数は、全体で5000個以下である
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記
載の半導体集積回路。
[Claims] 1. In a semiconductor integrated circuit having a region in which a large number of gate cells are formed, the region is composed of a region in which gate cell rows and wiring channels are formed, and a region in which gate cells are spread over the entire surface. A semiconductor integrated circuit characterized by: 2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the area over which the gate cells are spread is used as a memory area. 3. The semiconductor integrated circuit according to claim 1 or 2, wherein the total number of gate cells is 5000 or less.
JP63265309A 1988-10-21 1988-10-21 Semiconductor integrated circuit Pending JPH02112279A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63265309A JPH02112279A (en) 1988-10-21 1988-10-21 Semiconductor integrated circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63265309A JPH02112279A (en) 1988-10-21 1988-10-21 Semiconductor integrated circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02112279A true JPH02112279A (en) 1990-04-24

Family

ID=17415408

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63265309A Pending JPH02112279A (en) 1988-10-21 1988-10-21 Semiconductor integrated circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02112279A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3179800B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
JPS643057B2 (en)
JPH0480538B2 (en)
JPS62238645A (en) Integrated circuit device
JP4518289B2 (en) Semiconductor integrated circuit and wiring layout method for semiconductor integrated circuit
JPH02112279A (en) Semiconductor integrated circuit
JP3289999B2 (en) Semiconductor integrated circuit
US4737836A (en) VLSI integrated circuit having parallel bonding areas
JPS63228641A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH0645565A (en) Integrated circuit device
JP2693920B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH023279A (en) Standard cell of complementary mis master slice lsi
JPH02144936A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH07130972A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH0475665B2 (en)
JP2656263B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2702155B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH01274450A (en) Semiconductor integrated circuit
JPS63275140A (en) Integrated circuit device and manufacture of the same
JPS58200570A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2001068653A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH06163693A (en) Method for wiring and designing semiconductor integrated circuit device
JPS62266850A (en) Master slice lsi
JPS6135536A (en) Semiconductor device
JPH03255665A (en) Semiconductor integrated circuit device