JPH02111403A - 冷却トラップ装置 - Google Patents

冷却トラップ装置

Info

Publication number
JPH02111403A
JPH02111403A JP26434588A JP26434588A JPH02111403A JP H02111403 A JPH02111403 A JP H02111403A JP 26434588 A JP26434588 A JP 26434588A JP 26434588 A JP26434588 A JP 26434588A JP H02111403 A JPH02111403 A JP H02111403A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
inner cylinder
outer cylinder
cylinder
cooling
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26434588A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsunobu Miyagi
勝伸 宮城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Sagami Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Sagami Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Sagami Ltd filed Critical Tokyo Electron Sagami Ltd
Priority to JP26434588A priority Critical patent/JPH02111403A/ja
Publication of JPH02111403A publication Critical patent/JPH02111403A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Vaporization, Distillation, Condensation, Sublimation, And Cold Traps (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、冷却トラップ装置に関する。
(従来の技術) 一般に、処理室内に所定の反応ガスを流通させて被処理
物に処理を施す装置、例えばCVD膜の形成を行うCV
D装置では、反応処理前は勿論反応中処理済みガスの排
気を真空ポンプなどを用いて実行している。この際反応
ガスおよびこの反応ガスから生成されるパーティクルが
真空ポンプオイル中へ混入するのを防止、および外部へ
の漏洩を防止するため、排気系に冷却トラップ装置を備
えたものが多い。
このような冷却トラップ装置は、従来例えば数リットル
程度の容量を有する円筒状のトラップ容器と、このトラ
ップ容器を冷却する冷却機構等から構成されており、冷
却されたトラップ容器内を排気気体が通過する際に、こ
の排気気体を冷却してトラップ容器内に捕捉するもので
ある。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述のような従来の冷却トラップ装置を
例えば半導体製造装置等に用いた場合、捕捉能力が充分
でなく、例えば反応ガスおよびこの反応ガスから生成さ
れるパーティクルが真空ポンプオイル中へ混入し、オイ
ルを劣化させるため、頻繁にオイルを交換しなければな
らず、生産性を悪化させる等の問題が生じることがあっ
た。また、半導体製造装置では人体に有害な反応ガスを
使用する場合があり、漏洩防止のためにも冷却トラ・ツ
ブ装置の捕捉能力の向上が望まれていた。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、従来に較べて捕捉能力の向上を図ることのできる冷却
トラップ装置を提供しようとするものである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち本発明は、気体を冷却してこの気体中の物質を
捕捉する冷却トラップ装置において、容器状に形成され
た外筒と、この外筒内に配設された少なくとも 1つの
内筒と、前記外筒と前記内筒の少なくとも一方に設けら
れた冷却機構とを備え、前記気体が前記外筒と前記内筒
との間および前記内筒の内側を通過するように構成され
たことを特徴とする。
(作 用) 本発明の半導体製造装置では、容器状に形成された外筒
と、この外筒内に配設された少なくとも 1つの内筒と
、これらの外筒と内筒の少なくとも一方に設けられた冷
却機構とを備え、気体が外筒と内筒との間および内筒の
内側を通過するように構成されている。
したがって、気体の流路を長く設定することができ、効
率良く気体を冷却することができるので、従来に較べて
捕捉能力の向上を図ることができる。
(実施例) 以下本発明を縦型CVD装置に適用した実施例を図面を
参照して説明する。
外筒1は、材質例えばステンレス鋼からなり、円筒状の
側壁2と、この側壁2の上部および下部にそれぞれ設け
られた上板3および底板4によって高さ例えば400m
+11 s外径例えば160mn+の円筒容器状に形成
されている。また、この外筒1の側壁2上部には、直径
例えば80Illの気体導入口5が設けられており、上
板3中央部には、同じく直径例えば80■の気体導出口
6が設けられている。さらに、この外筒1の側壁2およ
び底板4は、中空構造とされており、内部に冷媒として
例えば冷却水を流通可能とする冷媒流路7.8が形成さ
れている。
上記底板4は、四隅に設けられた螺子9により、側壁2
下部に着脱自在に設けられている。また、側壁2と底板
4との間にはこれらの間を気密に閉塞する如く材質例え
ばパイトンのOリング10が設けられている。さらに、
底板4の上側には、支持脚11によって支持された内筒
12が設けられている。
上記内筒12は、材質例えばステンレス鋼から内径例え
ば80a111の円筒状に形成されており、外筒1と同
様に内部に冷媒として例えば冷却水を流通可能とする冷
媒流路13が形成された中空構造とされている。また、
この内筒12の上部および下部にはそれぞれ上部フラン
ジ12aおよびゞ下部フランジ12bが形成されている
。そして、下部フランジ12bは支持脚11に固着され
、螺子7により底板4を側壁2に締付けることにより、
上部フランジ12aに設けられた材質例えばパイトンの
Oリング14が上板3に押圧されて、上部フランジ12
aと上板3との間が気密に閉塞される如く構成されてい
る。
また、上記内筒12外側には、軸方向に沿って長板状の
じゃま板15が複数例えば8枚設けられている。さらに
、内筒12外側の軸方向中央付近には、外筒1と内筒1
2との間の気体導入口5側半部のみを閉塞する如く半円
環状のじゃま板16が設けられている。すなわち、図示
矢印の如く気体導入口5から外筒1と内筒12との間に
導入された気体は、長板状のじゃま板15に衝突しなが
ら半円環状のじゃま板16のない部位まで内筒12の周
囲を回り込み、ここで下降した後、内筒12内側を上昇
して気体導出口6から導出される。
そして、この間に気体が、冷媒流路7.8.13を流通
する冷媒例えば冷却水と熱交換して冷却されるよう冷却
トラップ装置20が構成されている。
上記構成のこの実施例の冷却トラップ装置20は、例え
ば第3図に示す如く縦型CVD装置の排気系に設けられ
る。
すなわち、例えば石英等から円筒状に構成された反応管
(プロセスチューブ)41は、はぼ垂直に配設されてお
り、この反応管41を囲繞する如く筒状ヒータ42およ
び図示しない均熱管、断熱材等が設けられている。また
、この反応管41上部および下部には、それぞれ所定の
反応ガスを導入・排気するための反応ガス導入管43お
よび排気管44が接続されており、この排気管44には
、冷却トラップ装置20および真空ポンプ45が介挿さ
れている。さらに、反応管41の下方には、搬送機構と
して上下動可能とされたボートエレベータ46が配設さ
れている。このボートエレベータ46上には、保温筒4
7が設けられており、この保温筒47は、多数の半導体
ウェハ48が間隔を設けて積層される如く載置されたウ
ェハボート49を支持可能に構成されている。そして、
このボートエレベータ46により、ウェハボート49に
載置された半導体ウェハ48を反応管41の下部開口か
ら反応管41内にロード・アンロードするよう構成され
ている。
上記構成の縦型熱処理装置では、ヒータ42により反応
管41内を予め所定温度例えば数百度程度に加熱してお
き、ボートエレベータ46を上昇させてウェハボート4
9に載置された半導体ウェハ48を反応管41内壁に非
接触で反応管41内にロードする。そして、反応ガス導
入管43から反応管41内に所定の反応ガス、例えばN
H3と5iH2Cβ2を導入し、真空ポンプ45によっ
て排気管44から排気することにより、反応管41内に
上記ガスを流通させ、例えばS i 3 N 4膜等の
成膜を行う。また、この時、冷却トラップ装置20の冷
媒流路7.8.13に冷却水等の冷媒を循環させて冷却
を行う。
したがって、排気管44から冷却トラップ装置20内に
流入した反応ガスおよびこの反応ガスから生成したS 
i 3 N 4パーテイクル等は、前述のように長板状
のじゃま板15に衝突しながら半円環状のじゃま板16
のない部位まで外筒1と内筒12との間を回り込み、こ
こで下降した後、内筒12内側を上昇して気体導出口6
から導出される。
そして、この間に外筒1、内筒12、長板状のじゃま板
15、底板4等と接触して冷却され、これらの部位に付
希する如く例えばS i 3 N4が効率良く捕捉され
る。このため、反応ガスおよびこの反応ガスから生成さ
れるパーティクルが真空ポンプオイル中へ混入すること
を防することができるとともに、これらの外部への漏洩
も防止することができる。なお、冷却トラップ装置20
内に溜った捕捉物は、螺子9を緩め、底板4とともに内
筒12を外筒1内から抜き取ることによって容品に洗浄
除去することができる。
なお、上記実施例では本発明を縦型CVD装置に適用し
た実施例について説明したが、本発明はかかる実施例に
限定されるものではなく、例えばスパッタ、イオン注入
そうち、エツチング装置、アッシング装置、分子線エピ
タキシャル装置、酸化装置、拡散装置等ガスを用いるあ
らゆる装置に適用することができることはもちろんであ
る。また、上記実施例では内筒12を一つ設けた二重管
構造としたが、複数の内筒を設けた多重管構造としても
よい。
[発明の効果] 上述のように、本発明の冷却トラップ装置によれば、従
来に較べて捕捉能力の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の冷却トラップ装置の要部構
成を示す縦断面図、第2図は第1図の冷却トラップ装置
の横断面図、第3図は第1図の冷却トラップ装置を用い
た縦型CVD装置を示す(R成因である。 1・・・・・・外筒、2・・・・・・側壁、3・・・・
・・上板、4・・・・・・底板、5・・・・・・気体導
入口、6・・・・・・気体導出口、7゜8.13・・・
・・・冷媒流路、9・・・・・・螺子、10.14・・
・・・・0リング、11・・・・・・支持脚、12・・
・・・・内筒、15・・・・・・長板状のじゃま仮、1
6・・・・・・半円環状のじゃま板、20・・・用冷却
トラップ装置。 出願人      チル相模株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)気体を冷却してこの気体中の物質を捕捉する冷却
    トラップ装置において、 容器状に形成された外筒と、この外筒内に配設された少
    なくとも1つの内筒と、前記外筒と前記内筒の少なくと
    も一方に設けられた冷却機構とを備え、前記気体が前記
    外筒と前記内筒との間および前記内筒の内側を通過する
    ように構成されたことを特徴とする冷却トラップ装置。
JP26434588A 1988-10-20 1988-10-20 冷却トラップ装置 Pending JPH02111403A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26434588A JPH02111403A (ja) 1988-10-20 1988-10-20 冷却トラップ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26434588A JPH02111403A (ja) 1988-10-20 1988-10-20 冷却トラップ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02111403A true JPH02111403A (ja) 1990-04-24

Family

ID=17401872

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26434588A Pending JPH02111403A (ja) 1988-10-20 1988-10-20 冷却トラップ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02111403A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5422081A (en) * 1992-11-25 1995-06-06 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Trap device for vapor phase reaction apparatus
JP2000334235A (ja) * 1999-06-01 2000-12-05 Nippon Edowards Kk トラップ装置
US6197119B1 (en) 1999-02-18 2001-03-06 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for controlling polymerized teos build-up in vacuum pump lines
US6238514B1 (en) 1999-02-18 2001-05-29 Mks Instruments, Inc. Apparatus and method for removing condensable aluminum vapor from aluminum etch effluent
US6488745B2 (en) 2001-03-23 2002-12-03 Mks Instruments, Inc. Trap apparatus and method for condensable by-products of deposition reactions
JP2021028069A (ja) * 2019-08-12 2021-02-25 ブース−エスエムエス−カンツラー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 材料の熱処理のための装置、特に、材料中に含まれている材料成分の熱分離のための装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5016156B1 (ja) * 1968-12-26 1975-06-11
JPS57122904A (en) * 1981-01-23 1982-07-31 Toshiba Corp Removal of accumulated substance in cold trap apparatus

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5016156B1 (ja) * 1968-12-26 1975-06-11
JPS57122904A (en) * 1981-01-23 1982-07-31 Toshiba Corp Removal of accumulated substance in cold trap apparatus

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5422081A (en) * 1992-11-25 1995-06-06 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Trap device for vapor phase reaction apparatus
US6197119B1 (en) 1999-02-18 2001-03-06 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for controlling polymerized teos build-up in vacuum pump lines
US6238514B1 (en) 1999-02-18 2001-05-29 Mks Instruments, Inc. Apparatus and method for removing condensable aluminum vapor from aluminum etch effluent
JP2000334235A (ja) * 1999-06-01 2000-12-05 Nippon Edowards Kk トラップ装置
US6488745B2 (en) 2001-03-23 2002-12-03 Mks Instruments, Inc. Trap apparatus and method for condensable by-products of deposition reactions
JP2021028069A (ja) * 2019-08-12 2021-02-25 ブース−エスエムエス−カンツラー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 材料の熱処理のための装置、特に、材料中に含まれている材料成分の熱分離のための装置
US11241637B2 (en) 2019-08-12 2022-02-08 Buss-Sms-Canzler Gmbh Device for the thermal treatment of material, in particular for the thermal separation of material components contained in the material

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100292617B1 (ko) 기상반응장치용트랩장치
JP2006310857A (ja) 炉のドアプレート
US11306971B2 (en) Heat exchanger with multistaged cooling
US9702285B2 (en) Exhaust system
JP2003347198A (ja) 基板ベーク装置、基板ベーク方法及び塗布膜形成装置
JPH02111403A (ja) 冷却トラップ装置
JPH0259002A (ja) トラップ装置
JPH06224144A (ja) 処理装置
JPH06267876A (ja) 熱処理炉
JPH04150903A (ja) トラップ装置
US6538237B1 (en) Apparatus for holding a quartz furnace
KR102047894B1 (ko) 버퍼 유닛 및 이를 가지는 기판 처리 장치
JP4025146B2 (ja) 処理液用タンク及び処理装置
JP2668020B2 (ja) 半導体製造装置
CA1277442C (en) Gas scavenger
JP4003206B2 (ja) 熱処理装置および熱処理方法
JP2668019B2 (ja) 縦型熱処理装置
KR102303066B1 (ko) 챔버 내부의 유동을 확산시키는 것에 의한 더 낮은 입자 수 및 더 양호한 웨이퍼 품질을 위한 효과적이고 새로운 설계
JP2628264B2 (ja) 熱処理装置
US5509967A (en) Heat treatment apparatus
JPH08186104A (ja) 熱処理装置及びそのフランジ押え緩衝体の製造方法
JP2000262841A (ja) トラップ装置及び半導体製造装置
JPS63137416A (ja) 真空断熱加熱炉
JPH02138733A (ja) 縦型熱処理装置
JP3076369B2 (ja) 熱処理装置