JPH02108203A - 記録媒体の欠陥検出方式および磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、記録媒体の欠陥検査技術および磁気ディスク
装置に関し、特に、磁気ディスク装置の記録媒体として
用いられる磁気ディスクの欠陥検査に適用して有効な技
術に関する。

〔従来の技術〕

たとえば、外部記憶装置の一種である磁気ディスク装置
に記録媒体として用いられる磁気ディスクは、通常、所
定の基板上に所定の物質からなる磁性膜を被着させて構
成されるが、この磁性膜の膜厚むらや異物の混入、さら
には傷などによって生じる欠陥領域を皆無にすることは
実際上困難である。

このため、検査によって予めこれらの欠陥領域の記録媒
体にふける位置を特定して登録しておき、実際の情報の
記録・再生に際してはこれらの欠陥領域を避けて他の正
常な領域を選択的に使用したり、所定のアルゴリズムに
よるエラー訂正符号によってエラーの発生を回避するこ
とが行われている。

ところで、従来、このような磁気ディスクに対する欠陥
検出技術としては、たとえば、特開昭６１−２００４５
９号公報に開示される技術が知られている。

すなわち、磁気ディスクからの読み出し信号に対して、
大小２つのスライスレベルを設け、読み出し信号が大き
い方を超え場合には欠陥なし、小さい方以下なら欠陥有
りとし、その中間の場合には欠陥検出操作を複数回行い
多数決で欠陥の有無を判定することにより、欠陥検査の
再現性や作業効率の向上を図ろうとするものである。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、上記の従来技術では、常に一定のスライスレ
ベルを基準として欠陥検出を行っているため、リード／
ライトマージンを大きくして記録媒体に格納される情報
に誤りを生じる割合（エラーレート）を減少させて記録
媒体の信頼性を向上させるなどの目的で、スライスレベ
ルを大きくして欠陥検出感度を上げて行くと、１トラツ
ク当たりの欠陥登録数が増加して修正可能な個数を超え
、いわゆるパッドトラックと見なされることとなる。

このパッドトラックへのアクセスは禁止され、通常、他
の代替トラックにより置き換えられるが、代替トラック
の数は実用上たとえば一台の装置当たり１５本以下など
と制限があるため、上述の様に単に一律にスライスレベ
ルを大きくしたのでは、パッドトラックが多発して代替
トラック数を超え、当該磁気ディスクが装着された磁気
ディスク装置全体が使用不能になるという問題がある。

また、パッドトラックの数が代替トラックより少ない場
合でも、パッドトラックに対するアクセスに際しては、
その都度、−旦ヘッドをパッドトラックに位置付け、当
該パッドトラックの先頭部などに記録される代替トラッ
クの位置情報に基づいて再位置付けを行うという無駄な
動作を行う必要があり、アクセスの所要時間が必要以上
に長くなるなどの問題もある。

このように、記録媒体に格納される情報の信頼性向上な
どのために欠陥検出感度を上げれば、比較的小さな欠陥
まで摘出できるが、欠陥個数が増加してパッドトラック
が多発し、現実に欠陥検出感度が上げられない問題があ
った。

そこで、本発明の目的は、所定数以上の欠陥の存在によ
って使用不能となる単位記録領域の数を増加させること
なく、記録媒体に格納される情報の信頼性を向上させる
ことが可能な欠陥検出技術を提供することにある。

本発明の他の目的は、パッドトラック数の増加による性
能低下を招くことなく、磁気ディスクに格納される情報
の信頼性を向上させた磁気ディスク装置を提供すること
にある。

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。

〔課題を解決するための手段〕

本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとふりである。

すなわち、本発明の記録媒体の欠陥検出方式は、記録媒
体における複数の単位記録領域の各々毎に、当該単位領
域において検出される欠陥の数が所定の設定値を超えな
いように欠陥検出感度を可変にしたものである。

また、本発明の磁気ディスク装置は、磁気ディスクを記
録媒体として用いる磁気ディスク装置であって、磁気デ
ィスクに設けられる複数のトラックの各々において検出
される欠陥の数が所定の設定値を超えないように欠陥検
出感度を可変にして磁気ディスクの欠陥検出を行うよう
にしたものである。

〔作用〕

上記した本発明の記録媒体の欠陥検出方式によれば、た
とえば、はじめに欠陥検出感度を高めに設定して欠陥検
出を行うことで大多数の単位記録領域の各々に見い出さ
れる欠陥の数を所定の許容数以下とし、さらに、欠陥数
が許容数を超えた単位記録領域に対してのみ欠陥検出感
度を下げて一再試行することにより、当該単位記録領域
から見い出される欠陥の数を許容数以下にして使用不能
となる単位記録領域の発生数を抑制することができると
ともに、このとき欠陥検出感度を下げて再試行した単位
記録領域においてはエラーレートは大きくなるが、記録
媒体全体からみればこのような単位記録領域が発生する
確率は小さいので、記録媒体全体では、使用不能となる
単位記録領域の増加を懸念することなく、欠陥検出感度
を上げることによって、記録される情報の信頼性を向上
させることができる。

また、上記した本発明の記録媒体の磁気ディスク装置に
よれば、たとえば、まず欠陥検出感度を高めに設定して
欠陥検出を行い、大多数のトラックの各々に見い出され
る欠陥の数を所定の許容数以下にし、さらに、欠陥数が
許容数を超えたトラックに対してのみ欠陥検出感度を下
げて再試行することにより、当該トラックから見い出さ
れる欠陥の数を許容数以下にしてパッドトラックとなら
ないようにすることで、パッドトラックの発生数を抑制
することができる。このとき、欠陥検出感度を下げて再
試行したトラックにおいては、リード／ライトマージン
が小さくなりエラーレートは増加するが、複数の磁気デ
ィスクを備えた磁気ディスク装置や、所定数の磁気ディ
スクを単位として構成されるボリューム全体としてみれ
ばこのようなトラックが発生する確率は小さい。

これにより、パッドトラックの増加によるアクセス時間
の増大などの性能低下を招くことなく、欠陥検出感度を
大きくすることによるエラーレートの低減が実現され、
磁気ディスクに格納される情報の信頼性を向上させるこ
とができる。

〔実施例〕

第１図および第２図は本発明の一実施例である記録媒体
の欠陥検出方式を概念的に示す線図であり、第３図は欠
陥検出感度の変化と見い出される欠陥数との関係を示す
線図、同じく、第４図は欠陥検出感度の変化とエラーレ
ートとの関係を示す線図である。

また、第５図は本発明の一実施例である記録媒体の欠陥
検出方式を実現するためのハードウェアの構成の一例を
示すブロック図である。

まず、第５図を参照しながら、本実施例におけるハード
ウェアの構成の概略を説明する。

回転する磁気ディスク２０の表面近傍には、当該磁気デ
ィスク２０の径方向に変位自在な磁気ヘッド３０が所定
の間隙をなして配置され、この磁気へラド３０は磁気デ
ィスク２０に同心円状に設けられた複数のトラックの任
意の一つにおける磁化の状態に応じて当該磁気ヘッド３
０に発生する読み取り信号を増幅して読み取り増幅器出
力信号１００として出力する増幅器１０に接続されてい
る。

さらに、増幅器１０は、平均振幅検出器（ＡＶＥ）　４
０オヨヒｆｆｌ数のコンパレータ６０．　　コンパレー
タ８０に接続されており、当該増幅器１０から出力され
る読み取り増幅器出力信号１００の一部は、平均振幅検
出器４０および複数のコンパレータ６０および８０の負
側および正側にそれぞれ入力されるように構成されてい
る。

平均振幅検出器４０およびコンパレータ６０゜８０は、
それぞれＡ／Ｄコンバータ５０およびＯＲ回路９０を介
してマイクロプロセッサ１６０に接続されている。

前記平均振幅検出器４０は、増幅器１０から到来する読
み取り増幅器出力信号１００の任意の一つのトラックの
一周における振幅の平均値をアナログ状態の平均読出振
幅信号４１として出力し、Ａ　／　Ｄコンバータ５０は
当該平均振幅検出器４０から出力されるアナログ状態の
平均読出振幅信号４１を量子化し、ディジタルの平均読
出振幅信号４１ａとしてマイクロプロセッサ１６０に送
出している。

マイクロプロセッサ１６０は、Ａ／Ｄコンバータ５０か
ら到来するディジタルの平均読出振幅信号４１ａに所与
の値の係数Ａを乗じ、欠陥の有無を判定する基準となる
ディジタルのスライスレベル信号１４０として出力する
動作を行う。

このディジタルのスライスレベル信号１４０は、Ｄ／Ａ
コンバータ１７０を介してアナログ状態のスライスレベ
ル信号１５０として一方の前記コンパレータ８０の負側
に入力され、一部は、アナｒフグ反転増幅器７０を介し
て正負逆転信号７１として他方の前記コンパレータ６０
の正側に入力されている。

コンパレータ６０は、読み取り増幅器出力信号１００と
アナログのスライスレベル信号１５０の正負逆転信号７
１とを比較し、負の側で読み取り増幅器出力信号１００
が正負逆転信号７１を超えた時に後段のＯＲ回路９０に
対する出力信号６１を“１”レベルにする動作を行う。

またコンパレータ８０は、読み取り増幅器出力信号１０
０とアナログのスライスレベル信号１５０とを比較し、
正の側で読み取り増幅器出力信号１００がスライスレベ
ル信号１５０を超えた場合にＯＲ回路９０への出力信号
８Ｊを“１”レベルにする動作を行う。

コンパレータ６０および８０からの出力信号６１および
８１は、ＯＲ回路９０を介してパルス信号１３０として
マイクロプロセッサ１６０に人力されており、マイクロ
プロセッサ１６０は、パルス信号１３０の到来する周期
が、第１図に示されるように磁気ディスク２０に記録さ
れた磁化の反転間隔と当該磁気ディスク２０の回転速度
などによって決まる読み取り増幅器出力信号１００の周
期の半分（以下、磁化反転時間Ｔと記す）よりも大きい
場合に、読み出し信号の振幅が、磁気ディスク２０にお
ける平均続出振幅の１００ＸＡ（％）以下である欠陥部
が存在するものと判定するものである。

また、マイクロプロセッサ１６０には、磁気ディスク２
００１回転毎に発生するインデックス信号１２０が入力
されており、このインデックス信号１２０の間に発生す
る前記欠陥を数により、現在磁気ヘッド３０が位置付け
られているトラックの一周における欠陥の数が把握され
る。

以下、本実施例の作用について説明する。

まず、磁気ヘッド３０を、磁気ディスク２０に同心円状
に設けられる複数の図示しないトラックの一つの直上部
に位置付ける。

そして、磁気ヘッド３０により磁気デノスク２０から読
み出された信号は読み取り増幅器１０により増幅され、
読み取り増幅器出力信号１００となる。

この読み取り増幅器出力信号１００は、第１図に示され
るように、当該トラックに予め記録されている磁化反転
間隔と磁気ディスク２０の回転速度とによって決まる磁
化反転時間Ｔの２倍の周期を有する交流波形となる。

そして、読み取り増幅器出力信号１００の一部はコンパ
レータ６０および８０に人力され、一部はディスク−周
続出信号平均振幅検出器４０によりトラック−周分の平
均読出振幅信号４１とされ、さらにアナログの平均読出
振幅信号４１はＡ／Ｄコンバータ５０により量子化され
、ディジタルの平均読出振幅信号４１ａとしてマイクロ
プロセッサ１６０に入力される。

マイクロプロセッサ１６０は、この平均読出振幅信号４
１ａに係数Ａを乗じてディジタルのスライスレベル信号
１４０を算出する。

ここで、前記の係数Ａはスライスレベル信号１４０の値
を平均読出振幅信号４１ａの振幅の何％とするか、すな
わち、磁気ディスク２０において読み出し信号の振幅が
平均読出振幅信号４１ａの振幅の何％以下となる部位を
欠陥と判定するかを決めるものであり、通常ミッシング
エラーの場合６０〜９０％とすれば０，６〜０．９の値
をとる。

マイクロプロセッサ１６０において算出されたディジタ
ルのスライスレベル信号１４０は、Ｄ／Ａコンバータ１
７０を経てアナログのスライスレベル信号１５０にされ
、このスライスレベル信号１５０は、コンパレータ８０
の負側にそのまま人力されるとともに、コンパレータ６
０の正側に、アナログ反転増幅器７０を介して正負逆転
信号７１として入力される。

そして、コンパレータ６０および８０は増幅器１０から
到来する読み取り増幅器出力信号１００と、各々にマイ
クロプロセッサ１６０の側から人力されるスライスレベ
ル信号１５０およびそれの正負を反転させた正負逆転信
号７１とを、読み取り増幅器出力信号１００の正および
負の領域でそれぞれ比較し、読み取り増幅器出力信号１
００がスライスレベル信号１５０および正負逆転信号７
１を超えた時に出力信号６１および８１を“１”レベル
にし、後段のＯＲ回路は、この出力信号６１および８１
の論理和であるパルス信号１３０をマイクロプロセッサ
１６０に送出する。

ここで、トラックの正常な領域においては、このパルス
信号１３０の周期は、磁化の反転を反映して第１図に示
される磁化反転時間Ｔに等しくなり、一方、なんらかの
原因による欠陥部においてはパルス信号１３０の周期は
磁化反転時間Ｔよりも長くなる。

マイクロプロセッサ１６０は、インデックス信号１２０
から次のインデックス信号１２０が到来する間に、すな
わちトラック１周の間に、パルス信号１３００周期が磁
化反転時ＢＴよりも長くなった回数、すなわち欠陥の数
を計数する。

ここで、本実施例ではトラック１周に７力所以上欠陥が
あると当該トラックをパッドトラックとし、欠陥個数が
１周に６ケ以下の時はそのまま欠陥として扱い、また、
欠陥個数が７ケ以上となった時は、マイクロプロセッサ
１６０は先の係数へを変更し、ＡＸｏ、９６、即ち当初
のスライスレベル信号１４０よりもさらに４％小さい新
たなスライスレベル信号１４０ａを設定して、トラック
１周当たりに見い出される欠陥を計数する上記の動作を
再試行する。

すなわち欠陥検出感度を下げてトラック１周当たりに見
い出される欠陥を計数する上記の動作を再試行する。

これにより、当該トラックにあった当初の欠陥のうち読
み取り増幅器出力信号１００の振幅が、平均読出振幅信
号４１ａＸＡに近いものは欠陥として検出されなくなり
、欠陥個数を６ケ以下として当該トラックがパッドトラ
ックと見なされることを回避する。

なふ、最初の検出で摘出した欠陥からの読み取り増幅器
出力信号１００が平均読出振幅信号４１ＸＡよりかなり
低いレベルであれば、この程度の欠陥検出感度の変更で
欠陥個数が減らないことは自明である。

後述のように、一般に磁気ディスク上の欠陥数はスライ
スレベル信号１４０に変動によって指数関数的に変化し
、スライスレベル信号１４０を２％減するとほぼ１７２
程度となるため、磁気ディスクの大多数のトラックでパ
ッドトラックの発生を防止することが可能である。

第３１ｉＡにスライスレベル信号１４０　（１４０ａ）
と、磁気ディスクの１記録面当たりの欠陥個数の関係を
示す。同図に示されるように、スライスレベル信号１４
０　（１４０ａ）を大きくしていくと（欠陥検出感度を
大きくすると）、検出される欠陥の個数は指数関数的に
増加して行くことが知られる。これは磁気ディスクに存
在する欠陥における読み取り増幅器出力信号１００の振
幅分布の不均一性を示しており、例えば磁性膜の膜厚の
ばらつきや欠損等に起因する。即ち微小な欠陥部は読み
取り増幅器出力信号１００の振幅減少率は少ないが磁気
ディスク上に多数存在し、また大きな欠陥部では振幅減
少率は大きいが数は少ない。

第４図はスライスレベル信号１４０　　（１４０ａ）と
、欠陥部を回避してリードライトを行った時のエラーレ
ートとの関係を示すものである。

同図に示されるように、スライスレベル信号１４０　（
１４０ａ）を上げて欠陥検出感度を大きくして行くと、
前述のように、微小な欠陥を多数捕捉して登録すること
ができるためエラーレートは小さくなり、磁気ディスク
２０に格納される情報の信頼性は向上する。

また反対に、スライスレベル信号１４０　　（１４０ａ
）を下げ、欠陥検出感度を小さくして比較的大きな欠陥
でも欠陥部として登録しないと、たとえば読み出し信号
の余裕度が小さ（なり、正しくデータを再生することが
できず、エラーレートが大きくなる。

第４図の例では欠陥検出の基準となるスライスレベル信
号１４０を平均読出振幅信号４１の７５％に（Ａ＝０．
７５）設定した時エラーレートは１０−１　　であるが
、同７０％にした時には１０１まで増大する。

一方、第３図においてスライスレベル信号を７０％（Ａ
＝０．７）とした時、欠陥個数は記録回当たり２００ケ
、同７５％とした時は１０００ケと急激に増加する。こ
の様に回当たり欠陥個数が増大するに従い、１トラツク
内に欠陥が７ケないし８ケないしそれ以上となる確率は
増大する。

欠陥部回避の機能などの制約から１トラツク内に許容す
る欠陥数は、情報の記録容量に換算してトラック１周の
１〜１．５％とするのが一般的であり、たとえば７ケま
でとしているため、８ケ以上の場合はパッドトラックと
なり、当該トラックは使用不能となってしまう。

たとえば、このような特性の磁気ディスク２０を用いて
１記録面当たりトラック数１７００本、ディスク面数１
５枚の磁気ディスク装置を構成した時、スライスレベル
信号１４０を平均読出振幅信号４１の７０％に設定した
場合には、本発明者らの試算によれば、たとえば９．４
Ｘ１０−’本／台程度であり、一方、同７５パーセント
の場合には３６５本／台と大幅に変わる。

即ち７０％の時は、はぼ１０００台に１本だけパッドト
ラックが発生するのに対し、同７５％では磁気ディスク
装置の各々に毎に３６５本も発生し代替トラックの数を
超えて当該装置は使用不能となってしまう。

そこで、本実施例では、まず、スライスレベル信号１４
０を平均読出振幅信号４１の７５％にして大きな欠陥検
出感度にて欠陥検出を行い、大多数のトラックに対して
エラーレートを小さくして比較的大きなリード／ライト
マージンを持たせるとともに、発生した３６５本のパッ
ドトラックについては同７０％まで欠陥検出感度下げる
事により、エラーレートを犠牲にして当該トラックを救
済する。

これにより、磁気ディスク装置全体の２５５００トラツ
クの内、（（２５５００−３６５）／２５５００））Ｘ
１００＃９８．６％の領域では１０１０　のエラーレー
ト、当初のパッドトラックに相当する残りの１，４％の
エリアではこれより大きい１０−ｓのエラーレートとな
り、磁気ディスク装置全体としては、パッドトラックを
生じることなく実質的にｉ　ｏ−”　程度の小さなエラ
ーレートを確保することができる。

すなわち、パッドトラックに起因する前述のようなアク
セス所要時間の増大による性能低下を回避しつつ、エラ
ーレートの低減によって磁気ディスクに格納される情報
の信頼性を向上させることができる。

また、１トラツク当たりに許容される欠陥の数をｎ個と
した時、個々のトラック毎に、ｎ個の欠陥が見い出され
るまで可能な限りスライスレベル信号１４０　（１４０
ａ）を大きくし、より大きな欠陥検出感度で検査を行う
ことにより、当該磁気ディスクにおけるエラーレートが
最小となるようにして、信頼性を最良にすることもでき
る。

さらに、欠陥検出感度を適宜調整して、見い出される欠
陥の大きさをエラー訂正符号にて訂正可能なビット数以
下の大きさに制御することで、欠陥回避操作が必要な欠
陥を実質的に皆無にすれば、欠陥部位の回避のために個
々のトラックに設けられている冗長記録領域を実際の情
報の記録領域として使用することが可能となり、ｌトラ
ック当たりの記録容量をより大きくすることができる。

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。

たとえば、上記の実施例中では１トラツク当たりに許容
される欠陥の数を７個以下とした場合の例を示したが、
これに限らず、他の整数値でも良い。

また、上記の実施例では、対象となる欠陥として、読み
取り増幅器出力信号が平均読出振幅信号を下回るいわゆ
るミッシングエラーについて述べたが、逆のエキストラ
エラーについても同様の手法で、パッドトラック多発の
抑止と欠陥検出感度の向上による信頼性の向上とを両立
させることができるのはいうまでもない。

〔発明の効果〕

本願にふいて開示される発明のうち、代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、以下のとおりで
ある。

すなわち、本発明の記録媒体の欠陥検出方式によれば、
記録媒体における複数の単位記録領域の各々毎に、当該
単位領域において検出される欠陥の数が所定の設定値を
超えないように欠陥検出感度を可変にするため、たとえ
ば、はじめに欠陥検出感度を高めに設定して欠陥検出を
行うことで、大多数の単位記録領域の各々に見い出され
る欠陥の数を所定の許容数以下とし、さらに、欠陥数が
許容数を超えた単位記録領域に対してのみ欠陥検出感度
を下げて再試行する事により、当該単位記録領域から見
い出される欠陥の数を許容数以下にして使用不能となる
単位記録領域の発生数を抑制することができるとともに
、このとき欠陥検出感度を下げて再試行した単位記録領
域においてはエラーレートは大きくなるが、記録媒体全
体からみればこのような単位記録領域が発生する確率は
小さいので、記録媒体全体では、使用不能となる単位記
録領域の増加を懸念することなく、欠陥検出感度を上げ
ることによって、記録される情報の信頼性を向上させる
ことができる。

また、本発明の磁気ディスク装置によれば、たとえば、
まず欠陥検出感度を高めに設定して欠陥検出を行い、大
多数のトラックの各々に見い出される欠陥の数を所定の
許容数以下とし、さらに、欠陥数が許容数を超えたトラ
ックに対してのみ欠陥検出感度を下げて再試行する事に
より、当該トラックから見い出される欠陥の数を許容数
以下にしてパッドトラックとならないようにすることで
、パッドトラックの発生数を抑制すにとができる。

このとき、欠陥検出感度を下げて再試行したトラックに
おいては、リード／ライトマージンが小さくなりエラー
レートは増加するが、複数の磁気ディスクを備えた磁気
ディスク装置や、所定数の磁気ディスクを単位として構
成されるボＩＪ　５−ム全体としてみればこのようなト
ラックが発生する確率は小さい。

これにより、パッドトラックの増加によるアクセス時間
の増大などの性能低下を招くことなく、欠陥検出感度を
大きくすることによるエラーレートの低減が実現され、
磁気ディスクに格納される情報の信頼性を向上させるこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である記録媒体の欠陥検出方
式を概念的に示す線図、 第２図は同じく本発明の一実施例である記録媒体の欠陥
検出方式を概念的に示す線図、第３図は欠陥検出感度と
見い出される欠陥数との関係を示す線図、 第４図は欠陥検出感度の変化とエラーレートとの関係を
示す線図、 第５図は本発明の一実施例である記録媒体の欠陥検出方
式を実現するためのハードウェアの構成の一例を示すブ
ロック図である。 １０・・・読み取り増幅器、２０・・・磁気ディスク、
３０・・・磁気ヘッド、４０・・・続出信号平均振幅検
出器、４１・・・アナログの平均読出振幅信号、４１ａ
・・・ディジタルの平均読出振幅信号、５０・・・Ａ／
Ｄコンバータ、６０゜８０・・・コンパレータ、７０・
・・アナロク反転増幅器、７１・・・正負逆転信号、６
１．８１・・・コンパレータからの出力信号、１３０・
・・パルス信号、９０・・・ＯＲ回路、１００・・・読
み取り増幅器出力信号、１２０・・・インデクス信号、
１３０・・・パルス信号、１４０．１４０ａ・・・ディ
ジタルのスライスレベル信号、１５０・・・アナログの
スライスレベル信号、１６０・・・マイクロプロセッサ
、１７０・・・Ｄ／Ａコンバータ。 代理人　弁理士　　筒　井　大　和 に対する百分率：　ＡＸｌｏｏ、１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、記録媒体における複数の単位記録領域の各々毎に、
   当該単位領域において検出される欠陥の数が所定の設定
   値を超えないように欠陥検出感度を可変にしたことを特
   徴とする記録媒体の欠陥検出方式。 ２、複数の前記単位記録領域の各々において検出される
   前記欠陥の数が所定の前記設定値を超えた時、当該単位
   記録領域のみ欠陥検出感度を下げて再試行し、個々の前
   記単位記録領域から検出される前記欠陥の数が前記設定
   値以下となるようにしたことを特徴とする請求項１記載
   の記録媒体の欠陥検出方式。 ３、個々の前記単位記録領域から検出される欠陥の数が
   所定の設定値となるまで欠陥検出感度を変化させるよう
   にしたことを特徴とする請求項１記載の記録媒体の欠陥
   検出方式。 ４、磁気ディスクを記録媒体として用いる磁気ディスク
   装置であって、前記磁気ディスクに設けられる複数のト
   ラックの各々において検出される欠陥の数が所定の設定
   値を超えないように欠陥検出感度を可変にして前記磁気
   ディスクの欠陥検出を行うようにしたことを特徴とする
   磁気ディスク装置。 ５、任意のトラックから検出される前記欠陥の数が前記
   設定値を超えた時、当該トラックのみ欠陥検出感度を下
   げて再試行し、当該トラックから検出される前記欠陥の
   数が前記設定値以下になるようにして、当該トラックが
   使用不能となることを回避するようにした請求項４記載
   の磁気ディスク装置。 ６、個々の前記トラックの各々において当該トラックに
   見い出される前記欠陥の数が所定の前記設定値となるま
   で前記欠陥検出感度を可能な限り大きくすることにより
   、当該磁気ディスク装置に装着される磁気ディスクに格
   納される情報のエラーレートが最小になるようにしたこ
   とを特徴とする請求項４記載の磁気ディスク装置。 ７、前記欠陥検出感度を可変にして、エラー訂正符号に
   て訂正可能なビット数以下となるまで前記欠陥の長さを
   変化させることにより、装着される前記磁気ディスクに
   おける前記欠陥が実質的に皆無と見なせるようにした請
   求項４記載の磁気ディスク装置。