JPH0210728A - 半導体ウエハのウエット処理装置 - Google Patents
半導体ウエハのウエット処理装置Info
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- JPH0210728A JPH0210728A JP16131388A JP16131388A JPH0210728A JP H0210728 A JPH0210728 A JP H0210728A JP 16131388 A JP16131388 A JP 16131388A JP 16131388 A JP16131388 A JP 16131388A JP H0210728 A JPH0210728 A JP H0210728A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、半導体ウェハに対してエツチング。
レジスト除去等の化学処理や洗浄を順次自動的に施すウ
ェット処理装置に関する。
ェット処理装置に関する。
〈従来の技術〉
第5図は従来のウェット処理装置の断面概略図、第6図
は同側断面概略図である。
は同側断面概略図である。
図で示す様に装置全体は、筐体l内に収納され、筐体l
の前板1aはメンテナンスを行う際に開閉し得る様に透
明引戸構造とされている。
の前板1aはメンテナンスを行う際に開閉し得る様に透
明引戸構造とされている。
そしてこのウェット処理装置には、ローダ部2と、処理
槽部3と、乾燥部4と、アンローダ部5とが配列される
とともに、これら各部2〜5の後方に、隔壁6で仕切っ
た状態で搬送ロボットである搬送装置7が設けられてい
る。更に天井部分には、送風ファンや1−IEPAフィ
ルタを内蔵したクリーンユニット8が設けられ、又上記
搬送装置7の下方には排気ダクト9が配設されている。
槽部3と、乾燥部4と、アンローダ部5とが配列される
とともに、これら各部2〜5の後方に、隔壁6で仕切っ
た状態で搬送ロボットである搬送装置7が設けられてい
る。更に天井部分には、送風ファンや1−IEPAフィ
ルタを内蔵したクリーンユニット8が設けられ、又上記
搬送装置7の下方には排気ダクト9が配設されている。
上記処理槽部3には、硫酸通水、塩酸過水。
フッ酸、リン酸、硝酸等の各種薬液及び洗浄用の純水を
貯留させた複数の処理槽lOが一列に並べられている。
貯留させた複数の処理槽lOが一列に並べられている。
上記隔壁6には、搬送装置7のアーム7aがローダ部2
とアンローダ部5間で横移動し得る様に、丘つ所定位置
て上下動し得る様に切欠き6aか設けられている。
とアンローダ部5間で横移動し得る様に、丘つ所定位置
て上下動し得る様に切欠き6aか設けられている。
1−記構成において、半導体ウェハを複数枚収納したウ
ェハキャリヤCは、ロータ部2に位置決めされた状態て
載置された後、搬送装置7のアーム7aの先端て把持さ
れて処理槽部3へ搬送され、アーム7aが横移動すると
ともに上下動することにより処理槽部3の各処理槽10
に対するウェハキャリヤCの投入、引上げが順次行われ
る。これにより、クエハキャリャC内の半導体ウェハに
対する各種薬液及び純水によるエツチング、レジスト除
去等の化学処理及び洗油が自動的に施される。
ェハキャリヤCは、ロータ部2に位置決めされた状態て
載置された後、搬送装置7のアーム7aの先端て把持さ
れて処理槽部3へ搬送され、アーム7aが横移動すると
ともに上下動することにより処理槽部3の各処理槽10
に対するウェハキャリヤCの投入、引上げが順次行われ
る。これにより、クエハキャリャC内の半導体ウェハに
対する各種薬液及び純水によるエツチング、レジスト除
去等の化学処理及び洗油が自動的に施される。
そしてウェハキャリヤCは、スピン乾燥機等を備えた乾
燥部4で乾燥された後、アンローダ部5から筐体l外へ
搬出される。
燥部4で乾燥された後、アンローダ部5から筐体l外へ
搬出される。
又り記クリーンユニット8からクリーンエアな送出する
とともに排気ダクト9から一定吸気する所謂ド方排気構
造とすることにより、塵埃等を除去するとともに、薬液
雰囲気つまり薬液からの発煙や蒸気を排気して処理槽部
3内を清浄な状態に保っている。
とともに排気ダクト9から一定吸気する所謂ド方排気構
造とすることにより、塵埃等を除去するとともに、薬液
雰囲気つまり薬液からの発煙や蒸気を排気して処理槽部
3内を清浄な状態に保っている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし上記構成のウェット処理装置では、一つの処理槽
lOからウェハキャリヤCを引上げた際、そのウェハキ
ャリヤCに付着した薬液から発散する薬液雰囲気がクリ
ーンユニット8からのクリーンエアによって拡散して、
他の処理槽10内の薬液や純水に悪影響を及ぼし、更に
は搬送装置7の金属部分を腐食させるといった問題かあ
った。
lOからウェハキャリヤCを引上げた際、そのウェハキ
ャリヤCに付着した薬液から発散する薬液雰囲気がクリ
ーンユニット8からのクリーンエアによって拡散して、
他の処理槽10内の薬液や純水に悪影響を及ぼし、更に
は搬送装置7の金属部分を腐食させるといった問題かあ
った。
(課題を解決するための手段〉
本発明は上記問題点を解決すべく提案された半導体ウェ
ハのウェット処理装置で、ノズルと雰囲気ダクトとを、
複数の処理槽を挟んで対向させた状態で設けることによ
り、該ノズルから雰囲気ダクトへ流れる気流を、搬送装
置により引上げられたウェハキャリヤに対応させて形成
したことを特徴とするものである。
ハのウェット処理装置で、ノズルと雰囲気ダクトとを、
複数の処理槽を挟んで対向させた状態で設けることによ
り、該ノズルから雰囲気ダクトへ流れる気流を、搬送装
置により引上げられたウェハキャリヤに対応させて形成
したことを特徴とするものである。
く作用〉
上記構成によれば、処理槽から引上げられたウェハキャ
リヤは、ノズルから雰囲気ダクトへ流れる気流中に置か
れた状態となり、よってウェハキャリヤに付着した薬液
から発散する薬液雰囲気は、L記気流と共に雰囲気ダク
トへ流入して排気される。
リヤは、ノズルから雰囲気ダクトへ流れる気流中に置か
れた状態となり、よってウェハキャリヤに付着した薬液
から発散する薬液雰囲気は、L記気流と共に雰囲気ダク
トへ流入して排気される。
〈実施例〉
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。
第1図は、本発明のウェット処理装置の要部斜視概略図
である。尚第1図において、第5図及び第6図で示した
従来例と相違ない構成要素については、同一の符号を付
して説明を省略する。
である。尚第1図において、第5図及び第6図で示した
従来例と相違ない構成要素については、同一の符号を付
して説明を省略する。
図で示す様に本発明のウェット処理装置では、ノズル1
1と角型の雰囲気ダクト12とが、処理槽部3の複数の
処理槽lOを挟んで対向した状態で設けられている。
1と角型の雰囲気ダクト12とが、処理槽部3の複数の
処理槽lOを挟んで対向した状態で設けられている。
ノズル11は、隔壁6に略水平に固設された給気配管1
3に、各処理槽IOに例えば四個ずつ対応させて設けら
れている。又ノズル11の高さ、つまり給気配管13を
設置する高さは、ウェハキャリヤCの−L昇位置、つま
り搬送装置7のアーム7aにより処理槽lOから引上げ
られて横移動されるウェハキャリヤCの高さとほぼ同じ
に設定されている。
3に、各処理槽IOに例えば四個ずつ対応させて設けら
れている。又ノズル11の高さ、つまり給気配管13を
設置する高さは、ウェハキャリヤCの−L昇位置、つま
り搬送装置7のアーム7aにより処理槽lOから引上げ
られて横移動されるウェハキャリヤCの高さとほぼ同じ
に設定されている。
そしてノズル11からは、処理槽lO内の薬液や純水に
悪影響を及ぼさない気体、例えば窒素ガスが前方へ向け
て噴射される。しかも各ノズル11に電磁弁(図示せず
)等を連結して開閉を制御することにより、後述の如く
ウェハキャリヤCを引上げた処理槽10に対応する四個
のノズル11からたけ窒素ガスが噴射される。
悪影響を及ぼさない気体、例えば窒素ガスが前方へ向け
て噴射される。しかも各ノズル11に電磁弁(図示せず
)等を連結して開閉を制御することにより、後述の如く
ウェハキャリヤCを引上げた処理槽10に対応する四個
のノズル11からたけ窒素ガスが噴射される。
一方雰囲気ダクト12は、第1図と、第2図の断面概略
図、及び第3図の第2図におけるA−A線矢視断面概略
図で示す様に、処理槽lOと筐体lの前板1a間に略水
平に配設された角型のトンネルダクト14の上面に横移
動可能に取付けられている。即ちトンネルダクト14の
上面は、このトンネルダクト14内の両端に設けられた
二つのローラ15、16に巻掛けられたベルト17で構
成されており、雰囲気ダクト12はこのベルト17に、
トンネルタクト14と連通した状態で固定されている。
図、及び第3図の第2図におけるA−A線矢視断面概略
図で示す様に、処理槽lOと筐体lの前板1a間に略水
平に配設された角型のトンネルダクト14の上面に横移
動可能に取付けられている。即ちトンネルダクト14の
上面は、このトンネルダクト14内の両端に設けられた
二つのローラ15、16に巻掛けられたベルト17で構
成されており、雰囲気ダクト12はこのベルト17に、
トンネルタクト14と連通した状態で固定されている。
そして一方のローラ16に連結された駆動源18を作動
させることにより、ベルト17か走行して、雰囲気ダク
ト12は処理槽lOの設置された全範囲で横移動し得る
。しかも駆動源18を制御することにより、後述の如く
搬送装置7によるウェハキャリヤCの移動に伴ってその
ウェハキャリヤCと常に同一位置にある様に移動される
。
させることにより、ベルト17か走行して、雰囲気ダク
ト12は処理槽lOの設置された全範囲で横移動し得る
。しかも駆動源18を制御することにより、後述の如く
搬送装置7によるウェハキャリヤCの移動に伴ってその
ウェハキャリヤCと常に同一位置にある様に移動される
。
上記トンネルダクト14は、その一端が後方へ延長され
て、固設された排気ダクト9に取外し可能に連結されて
いる。従って雰囲気ダクト12から一定吸気が為される
とともに、メンテナンスを行う際には、雰囲気ダクト1
2と共にトンネルダクト14を取外すことかできる。
て、固設された排気ダクト9に取外し可能に連結されて
いる。従って雰囲気ダクト12から一定吸気が為される
とともに、メンテナンスを行う際には、雰囲気ダクト1
2と共にトンネルダクト14を取外すことかできる。
第4図の概略図で示す様に、上記雰囲気ダクト12の開
口部12aには、ブラインド19が取付けられ、雰囲気
ダクト12の側部に設けられたツマミ20を回転させる
ことにより開口部12aの開口面積を変えることかでき
る。しかもこのブラインド19の隙間19aを、開口部
12aの下端で最も狭く、上部はど広くなる様に調整す
れば、開口部12aの全域から均一な流量て吸気させる
ことがてきる。これは、トンネルタクト14に近い開口
部12aの下部はど吸気流量か多い為である。
口部12aには、ブラインド19が取付けられ、雰囲気
ダクト12の側部に設けられたツマミ20を回転させる
ことにより開口部12aの開口面積を変えることかでき
る。しかもこのブラインド19の隙間19aを、開口部
12aの下端で最も狭く、上部はど広くなる様に調整す
れば、開口部12aの全域から均一な流量て吸気させる
ことがてきる。これは、トンネルタクト14に近い開口
部12aの下部はど吸気流量か多い為である。
又上記雰囲気ダクト12の大きさと配置は、開口部12
aの幅が一つの処理槽10の幅とほぼ同一、開口部12
aの下端が処理槽lOの上縁とほぼ同一、開口部12a
の上端か上昇位置にあるウェハキャリヤCの上方的10
cmとなる様に設定されている。
aの幅が一つの処理槽10の幅とほぼ同一、開口部12
aの下端が処理槽lOの上縁とほぼ同一、開口部12a
の上端か上昇位置にあるウェハキャリヤCの上方的10
cmとなる様に設定されている。
更に上記雰囲気ダクト12.トンネルダクト14゜ベル
ト17の材質は、高温処理の行われる処理槽10に近接
することから耐熱性を考慮するとともに、耐摩耗性を考
慮して選定される。例えば、雰囲気ダクト12は厚さ3
mmの耐熱性ポリ塩化ビニールで形成され、又トンネル
ダクト14は5〜10mm厚の耐熱性ポリ塩化ビニール
で、ベルト17は5■厚のフッ素樹脂で夫々形成される
。
ト17の材質は、高温処理の行われる処理槽10に近接
することから耐熱性を考慮するとともに、耐摩耗性を考
慮して選定される。例えば、雰囲気ダクト12は厚さ3
mmの耐熱性ポリ塩化ビニールで形成され、又トンネル
ダクト14は5〜10mm厚の耐熱性ポリ塩化ビニール
で、ベルト17は5■厚のフッ素樹脂で夫々形成される
。
上記構成のウェット処理装置において、複数の半導体ウ
ェハWを収納したウェハキャリヤCは、二個−緒に搬送
装置7のアーム7aで把持されて横移動され、各処理槽
lOへ順次搬送される。モして上下動により各処理槽l
Oに対して投入、引上げが行われ、ウェハキャリヤC内
の半導体ウェハWに対する各種薬液及び純水によるエツ
チング、レジスト除去等の化学処理及び洗浄が自動的に
施される。この動作においてアーム7aは、一つの処理
槽lOからウェハキャリヤCを引上げると、上昇位置で
一秒程度停止する。
ェハWを収納したウェハキャリヤCは、二個−緒に搬送
装置7のアーム7aで把持されて横移動され、各処理槽
lOへ順次搬送される。モして上下動により各処理槽l
Oに対して投入、引上げが行われ、ウェハキャリヤC内
の半導体ウェハWに対する各種薬液及び純水によるエツ
チング、レジスト除去等の化学処理及び洗浄が自動的に
施される。この動作においてアーム7aは、一つの処理
槽lOからウェハキャリヤCを引上げると、上昇位置で
一秒程度停止する。
ウェハキャリヤCが移動した位置には雰囲気ダクト12
が移動しており、そのウェハキャリヤCが上昇位置で停
止した際に、対応する四個のノズル11から窒素ガスが
噴射されることにより、雰囲気ダクト12への気流21
が形成される。即ちこの気流21は、処理槽lOから引
上げられたウェハキャリヤCに対応して形成されること
になり、ウェハキャリヤCはこの気流21中に置かれた
状態となる。
が移動しており、そのウェハキャリヤCが上昇位置で停
止した際に、対応する四個のノズル11から窒素ガスが
噴射されることにより、雰囲気ダクト12への気流21
が形成される。即ちこの気流21は、処理槽lOから引
上げられたウェハキャリヤCに対応して形成されること
になり、ウェハキャリヤCはこの気流21中に置かれた
状態となる。
従ってウェハキャリヤCに付着した薬液から発散する薬
液雰囲気は、上記気流21と共に雰囲気ダクト12へ流
入して排気される為、ウェット処理装置内に拡散するこ
とはない。しかも引上げられたウェハキャリヤCに対応
させて狭い範囲にのみ気流21を形成させる為、処理槽
部3内に流れる既存のクリーンエアな乱すことがない。
液雰囲気は、上記気流21と共に雰囲気ダクト12へ流
入して排気される為、ウェット処理装置内に拡散するこ
とはない。しかも引上げられたウェハキャリヤCに対応
させて狭い範囲にのみ気流21を形成させる為、処理槽
部3内に流れる既存のクリーンエアな乱すことがない。
又トンネルダクト14とベルト17との摩擦により粉塵
が発生したとしても、トンネルダクト14内へ吸引され
て排気される為、ウェット処理装置内に拡散することは
ない。
が発生したとしても、トンネルダクト14内へ吸引され
て排気される為、ウェット処理装置内に拡散することは
ない。
(発明の効果〉
以上述べた様に本発明によれば、ウェハキャリヤに付着
した薬液から発散する薬液雰囲気が他の処理槽内の薬液
や純水に悪影響を及ぼしたり、搬送装置の金属部分を腐
食させるといったことが防止され、よって信頼性の高い
ウェット処理装置が実現される。
した薬液から発散する薬液雰囲気が他の処理槽内の薬液
や純水に悪影響を及ぼしたり、搬送装置の金属部分を腐
食させるといったことが防止され、よって信頼性の高い
ウェット処理装置が実現される。
第1図は、本発明のウェット処理装置の要部斜視概略図
、 第2図は、雰囲気ダクトの取付は状態を示す断面概略図
、 第3図は、第2図のA−A線矢視断面概略図。 第4図は、雰囲気ダクトの開口部を示す概略図。 第5図は、従来例を示す断面概略図、 第6図は、同側断面概略図である。 7・・・搬送装置、 10・・・処理槽、11・・・
ノズル。 12・・・雰囲気ダクト、21川気流。 C・・・ウェハキャリヤ、W・・・半導体ウェハ。 特許出願人 沖電気工業株式会社 代理人 弁理士 船 橘 國 則第6図
、 第2図は、雰囲気ダクトの取付は状態を示す断面概略図
、 第3図は、第2図のA−A線矢視断面概略図。 第4図は、雰囲気ダクトの開口部を示す概略図。 第5図は、従来例を示す断面概略図、 第6図は、同側断面概略図である。 7・・・搬送装置、 10・・・処理槽、11・・・
ノズル。 12・・・雰囲気ダクト、21川気流。 C・・・ウェハキャリヤ、W・・・半導体ウェハ。 特許出願人 沖電気工業株式会社 代理人 弁理士 船 橘 國 則第6図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 薬液を貯留した複数の処理槽と、搬送装置とを備え、該
搬送装置により半導体ウェハ入りのウェハキャリヤを前
記複数の処理槽へ順次搬送して投入、引上げを行い、前
記半導体ウェハに化学処理を施すウェット処理装置にお
いて、 ノズルと雰囲気ダクトとを、前記複数の処理槽を挟んで
対向させた状態で設けることにより、該ノズルから雰囲
気ダクトへ流れる気流を、前記搬送装置により引上げら
れたウェハキャリヤに対応させて形成することを特徴と
する半導体ウェハのウェット処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16131388A JPH0210728A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 半導体ウエハのウエット処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16131388A JPH0210728A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 半導体ウエハのウエット処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0210728A true JPH0210728A (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=15732725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16131388A Pending JPH0210728A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 半導体ウエハのウエット処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0210728A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0492635U (ja) * | 1990-12-28 | 1992-08-12 | ||
JPH0541369A (ja) * | 1991-01-28 | 1993-02-19 | Toshiba Corp | 半導体ウエハの洗浄方法及び洗浄装置 |
JP2010182735A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置、処理方法、コンピュータプログラムおよび記憶媒体 |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP16131388A patent/JPH0210728A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0492635U (ja) * | 1990-12-28 | 1992-08-12 | ||
JPH0541369A (ja) * | 1991-01-28 | 1993-02-19 | Toshiba Corp | 半導体ウエハの洗浄方法及び洗浄装置 |
JP2010182735A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置、処理方法、コンピュータプログラムおよび記憶媒体 |
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