JPH02106980A - 完全密着型イメージセンサ - Google Patents

完全密着型イメージセンサ

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JPH02106980A
JPH02106980A JP63261021A JP26102188A JPH02106980A JP H02106980 A JPH02106980 A JP H02106980A JP 63261021 A JP63261021 A JP 63261021A JP 26102188 A JP26102188 A JP 26102188A JP H02106980 A JPH02106980 A JP H02106980A
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light
window
image sensor
common electrode
emitting element
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JP63261021A
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Yukio Kasuya
糟谷 行男
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、画像を原寸大で読取る完全密着型イメージセ
ンサ、特に結像用のロッドレンズを省略して光源と受光
素子とを一体化した完全密着型イメージセンサに関する
ものである。
(従来の技術) 従来、このような分野の技術としては、日経メカニカル
(1986−12−1>日経マグロウヒル社[光路が短
い密着型イメージセンサOA機器小型化の切り札にJ 
P、71−78に記載されるものがあった。以下、その
構成を図を用いて説明する。
第2図は従来の密着型イメージセンサの一構成例を示す
図である。
この密着型イメージセンサは、原稿1を照射するための
発光ダイオード(以下、LEDという)アレイ2、結像
用のロッドレンズアレイ3、及び光/電気変換用の受光
素子4より構成されているる。そして、LEDアレイ2
からの出射光で原稿1を照射すると、その原稿1の画像
がロッドレンズアレイ3を通して受光素子4に結像され
、その受光素子4で電気信号に変換されて読み出される
この種の密着型イメージセンサでは、ロッドレンズアレ
イ3を用いて原稿1の画像を原寸大で読取るので、縮小
光学系を用いたイメージセンサと比べて、光路が大幅に
短くなり、複写機やファクシミリ等の画像読取装置を小
型化できる。
ところが、ロッドレンズアレイ3を用いているので、小
型、軽量化の点で充分満足できるものではなかった。そ
こで、ロッドレンズアレイ3を省略した完全密着型イメ
ージセンサが提案されている。
第3図は従来の完全密着型イメージセンサの一構成例を
示す図である。
この完全密着型イメージセンサは、LEDアレイ10及
びセンサ本体20より構成されている。
センサ本体20は、ガラス基板21を有し、そのガラス
基板21の底面に、電極22、アモルファスシリコン(
以下、a−8iという)からなる受光素子23、透明電
極24、及び電極25が積層状態に形成されている。受
光素子23等の中央には光通過用の窓26が設けられ、
さらにそれらの受光素子23等が透明保護層27で覆わ
れている。
この透明保護層27の下には、原稿28が置かれる。そ
して、LEDアレイ10により、ガラス基板21、窓2
6及び透明保護層27を通して原稿28を照射すると、
その原稿28の画像が透明保護層27を通して受光素子
23で電気信号に変換される。
この完全密着型のイメージセンサでは、ロッドレンズア
レイを省略したので、小型、軽量化が図れると共に、ロ
ッドレンズアレイ内での光量損失がないので、受光素子
23の出力も大きくなり、信号対雑音比(S/N比)が
向上する。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、第3図の完全密着型イメージセンサでは
、光源であるLEDアレイ10と、受光素子23側のセ
ンサ本体20とが、個別に構成されているため、小型、
軽量化に限界があった。その上、ユニットとしてイメー
ジセンサを組立てる場合、LEDアレイ10とセンサ本
体20との取付は位置の調整を行わなければならず、そ
の調整が煩雑であり、しかも調整不十分なときには、受
光素子23への入射光量が少なくなって読取り精度が低
下し、それらを解決することが困難であった。
本発明は、前記従来技術が持っていた課題として、小型
、軽量化に限界がある点、及び光源とセンサ本体との取
付は位置の調整の煩雑さの点について解決した完全密着
型イメージセンサを提供するものである。
(課題を解決するための手段) 本発明は前記課題を解決するために、光を照射して画像
を原寸大で電気的に読取る完全密着型イメージセンサに
おいて、このイメージセンサを少なくとも、素子搭載用
の基板と、前記基板上に形成された膜状の発光素子と、
前記発光素子の出射光を通すための第1の窓を有し前記
発光素子を覆う遮光用の共通電極と、前記第1の窓上に
位置する第2の窓を有し前記共通電極上に形成された膜
状の受光素子と、前記発光素子、共通電極及び受光素子
上に被着された透光性の保護膜とで、構成したものであ
る。
(作用) 本発明によれば、以上のように完全密着型イメージセン
サを構成したので、同一基板上に形成された発光素子及
び受光素子は、一体化による小型、軽量化を向上させる
働きを有し、さらに両者間における配置関係を製造プロ
セスの段階において高精度に設定可能にさせ、組立て作
業時における位置調整を不要にさせる働きをする。従っ
て、前記課題を除去できるのである。
(実施例) 第1図(1)、(2)は本発明の一実施例を示すもので
、同図(1)は完全密着型イメージセンサの1ドツト分
の概略平面図、及び同図(2)はそのA−A線断面図で
ある。
この完全密着型イメージセンナは、ガラス板、樹脂板、
絶縁被覆された金属板等の絶縁性の基板30を有し、そ
の基板30上にはクロム等からなる発光素子用の個別電
極31が形成されている。
個別電極31上には、電気を光に変換するための膜状の
発光素子32が形成されている。発光素子32は、ジン
クサルファイド・マンガン(ZnS:Mn)等からなる
発光層32aを絶縁膜32b。
32cではさんだ構造をなし、例えば個別電極31の形
成後に、その絶縁膜32b、発光層32a及び絶縁膜3
2cが連続または別々に、プラズマCVD (化学的気
相成長)、蒸着、スパッタ等で形成される。
発光素子32上には、それを覆う遮光用の共通電極33
が形成され、さらにその上に、光を電気に変換するため
の水素化アモルファスシリコン(a−8i:H)等から
なる膜状の受光素子34がプラズマCVD、エレクトロ
ン・サイクロトロン・レゾナンス(以下、ECRという
)CVD、光CVD等で形成されている。共通電極33
は、発光素子32及び受光素子34の両方の共通電極と
なるもので、その共通電極33には発光素子32からの
出射光を通すための第1の窓33aが開けられ、それに
対向して第2の窓34aが受光素子34にも形成されて
いる。
受光素子34上には、酸化インジウムスズ等からなる透
光性の受光素子用個別電極35が形成されている。この
個別電極35には、第2の窓34aと対向する位置に第
3の窓35aが形成されている。個別電極35を受光素
子34の一部と接触させる時には、第3の窓35aを形
成しなくてもよい。発光素子32、受光素子34、及び
個別電極35等の上には、それらを保護するためのポリ
イミド樹脂等からなる透光性の絶縁性保護膜36が被着
されている。第1.第2.第3の窓33a、34a、3
5aがあるため、保護[36の中央に凹部が形成される
が、この四部をなくした形状にしてもよい。この保護膜
36と対向して原稿37がセットされる。
次に、動作を説明する。
先ず、共通電極33は発光素子32と受光素子34に対
して兼用に使うためにグラウンドに接続し、発光素子用
個別電極31に正の電圧を、受光素子用個別電極35に
負の電圧をそれぞれ印加する。すると、発光素子32が
発光し、その出射光が第1図(2)の矢印で示すように
、第1.第2゜第3の窓33a、34a、35aを通っ
て原稿37を照射する。原稿37の画像は、保護膜36
を通して受光素子34で電気信号に変換され、読み出さ
れる。
本実施例では、次のような利点を有している。
(a)  基板30上に発光素子32及び受光素子34
を一体形成しているので、センサユニット全体の小型、
軽量化を著しく向上できる。
(b)  発光素子32と受光素子34とが同一基板3
0上に形成されているため、製造プロセス時において発
光素子32と受光素子34を的確な配置位置で精度良く
形成できる。従って、従来のような光源と受光素子との
組立て作業時における位置調整という煩雑な作業が省略
でき、製造工程を簡素化できると共に、光軸合致精度の
向上により、信頼性を高めることができる。
(C)  発光素子32と原稿37との距離が短くなる
ので、原稿37への入射光が強くなり、S/N比が著し
く向上する。その上、発光素子32が共通電極33で覆
われ、その共通電極33の第1の窓33aを通して光が
出射される構造であるため、光量損失が少なくて光の出
射効率が高く、低消費電力化も期待できる。
(d)  共通電極33は、発光素子32及び受光素子
34に兼用されているため、電極本数を削減できる。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
(i)  発光素子32及び受光素子34は、図示以外
の種々の材料で形成できる。例えば、発光素子32は、
アモルファス・シリコン・カーバイド(a−8iC)か
らなる3層のp−1−n接合、あるいはn−1−p接合
で構成し、それらをプラズマCVD、ECR−CVD、
光CVD、蒸着、スパッタ等で基板30上に形成しても
よい。
(iii )  個別電極31.35及び共通電極33
は、発光素子32及び受光素子34の配置状態や形状等
の変更に応じて、種々の配置や形状に変形できる。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、基板上に
発光素子及び受光素子を一体形成した構成であるため、
全体の小型、軽量化を著しく向上できると共に、発光素
子と受光素子を的確な配置位置で精度良く形成でき、そ
れによって製造工程の簡素化と信顆性の向上が図れる。
発光素子と原稿との距離が短くなるので、S/N比が著
しく向上し、その上、共通電極の第1の窓を通して発光
素子の光が出射される構成であるため、出射効率が高く
、低消費電力化も期待できる。さらに、共通電極は発光
素子及び受光素子に兼用されているため、電極本数の削
減という効果も期待できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(1)、(2)は本発明の実施例を示すもので、
同図(1)は完全密着型イメージセンサの概略の平面図
、及び同図(2)は同図(1)のA−A線断面図、第2
図は従来の密着型イメージセンサの構成図、第3図は従
来の完全密着型イメージセンサの構成図である。 30・・・・・・基板、31.35・・・・・・個別電
極、32・・・・・・発光素子、33・・・・・・共通
電極、33a。 34a、35a・・・・・・第1.第2.第3の窓、3
4・・・・・・受光素子、36・・・・・・保護膜、3
7・・・・・・原稿。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光を照射して画像を原寸大で電気的に読取る完全密着型
    イメージセンサにおいて、 素子搭載用の基板と、 前記基板上に形成された電気/光変換用の膜状の発光素
    子と、 前記発光素子の出射光を通すための第1の窓を有し前記
    発光素子を覆う遮光用の共通電極と、前記第1の窓上に
    位置する第2の窓を有し前記共通電極上に形成された光
    /電気変換用の膜状の受光素子と、 前記発光素子、共通電極及び受光素子上に被着された透
    光性の保護膜とを、 備えたことを特徴とする完全密着型イメージセンサ。
JP26102188A 1988-10-17 1988-10-17 完全密着型イメージセンサ Expired - Lifetime JPH0758766B2 (ja)

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