JPH02103002A - 耐摩耗性光学フィルタ - Google Patents
耐摩耗性光学フィルタInfo
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- JPH02103002A JPH02103002A JP25682588A JP25682588A JPH02103002A JP H02103002 A JPH02103002 A JP H02103002A JP 25682588 A JP25682588 A JP 25682588A JP 25682588 A JP25682588 A JP 25682588A JP H02103002 A JPH02103002 A JP H02103002A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 39
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 42
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 34
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 21
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 21
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 20
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 20
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims abstract description 18
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims abstract description 18
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 13
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 7
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N Trioxochromium Chemical compound O=[Cr](=O)=O WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
- 229910000423 chromium oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 claims description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 7
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N neodymium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Nd+3].[Nd+3] PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N oxomolybdenum Chemical compound [Mo]=O PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- MMKQUGHLEMYQSG-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);praseodymium(3+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Pr+3].[Pr+3] MMKQUGHLEMYQSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910003447 praseodymium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910021341 titanium silicide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 2
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 claims 1
- DFJQEGUNXWZVAH-UHFFFAOYSA-N bis($l^{2}-silanylidene)titanium Chemical compound [Si]=[Ti]=[Si] DFJQEGUNXWZVAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 11
- 229910021352 titanium disilicide Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 37
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 14
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 5
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 102000020897 Formins Human genes 0.000 description 1
- 108091022623 Formins Proteins 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910001618 alkaline earth metal fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- VKYKSIONXSXAKP-UHFFFAOYSA-N hexamethylenetetramine Chemical compound C1N(C2)CN3CN1CN2C3 VKYKSIONXSXAKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N praseodymium atom Chemical compound [Pr] PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
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- Optical Filters (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は特定の波長範囲の光線だけを選択的に透過、も
しくは反射させる光学フィルタに関するものであって、
複写機の内部等で用いられる光学部品への応用のみなら
ず、建物や自動車の窓へ応用できる耐摩耗性に優れた光
学フィルタに関する。
しくは反射させる光学フィルタに関するものであって、
複写機の内部等で用いられる光学部品への応用のみなら
ず、建物や自動車の窓へ応用できる耐摩耗性に優れた光
学フィルタに関する。
高屈折率物質と低屈折率物質の薄膜を交互に積層して、
それら各層の膜厚を適当に選択して光線の干渉作用によ
り、ある特定の波長の光を強めたり弱めたりして、様々
な用途のフィルタを作ることは、広く行なわれている。
それら各層の膜厚を適当に選択して光線の干渉作用によ
り、ある特定の波長の光を強めたり弱めたりして、様々
な用途のフィルタを作ることは、広く行なわれている。
代表的な光学部品としては、バンドパスフィルタ、エツ
ジフィルタ、ダイクロイックフィルタ、コールドミラー
などがあげられる。これらの光学部品のうち、可視光の
領域で用いられるものに対して使用される高屈折率材料
は、各種金属酸化物や硫化物であり、低屈折率材料は二
酸化珪素や幾つかのアルカリ金属、アルカリ土類金属の
フッ化物である。しかし、化学的耐久性の点では、酸化
物の方が優れており特に高屈折率物質は金属酸化物が好
んでよく用いられている。その場合、組みあわされる低
屈折率物質は、膜に発生する応力を抑えるために、二酸
化珪素が選ばれることが多い。
ジフィルタ、ダイクロイックフィルタ、コールドミラー
などがあげられる。これらの光学部品のうち、可視光の
領域で用いられるものに対して使用される高屈折率材料
は、各種金属酸化物や硫化物であり、低屈折率材料は二
酸化珪素や幾つかのアルカリ金属、アルカリ土類金属の
フッ化物である。しかし、化学的耐久性の点では、酸化
物の方が優れており特に高屈折率物質は金属酸化物が好
んでよく用いられている。その場合、組みあわされる低
屈折率物質は、膜に発生する応力を抑えるために、二酸
化珪素が選ばれることが多い。
また、これ等の材料の薄膜は、その膜厚をきわめて厳密
に制御しなければ優れた光学特性が得られないので、主
として真空蒸着法やイオンブレーティング法、あるいは
スパッタリング法など真空中での被覆法によって作製さ
れることが多い。建築用や自動車用の熱線反射膜といっ
た大きな面積のフィルタを作製する場合は装置上の問題
や、膜厚分布をよくする観点からスパッタリング法が用
いられる。その場合、低屈折率物質として、フッ化物を
スパッタリング法で被覆するのは、極めて困難であるの
で事実上、低屈折率材料としては二酸化珪素に限られて
しまう。
に制御しなければ優れた光学特性が得られないので、主
として真空蒸着法やイオンブレーティング法、あるいは
スパッタリング法など真空中での被覆法によって作製さ
れることが多い。建築用や自動車用の熱線反射膜といっ
た大きな面積のフィルタを作製する場合は装置上の問題
や、膜厚分布をよくする観点からスパッタリング法が用
いられる。その場合、低屈折率物質として、フッ化物を
スパッタリング法で被覆するのは、極めて困難であるの
で事実上、低屈折率材料としては二酸化珪素に限られて
しまう。
このように、従来の技術で最も一般的な光学フィルタは
高屈折率物質として金属酸化物を、低屈折率物質として
二酸化珪素が用いられている。
高屈折率物質として金属酸化物を、低屈折率物質として
二酸化珪素が用いられている。
しかしながら、上記従来の光学フィルタにおいては、薄
膜の各層の界面での付着力が不十分という重大な問題点
があった。この欠点を克服するために、特開昭59−1
27001あるいは特開昭59−136706に開示さ
れているように、特定の中間層を設けることが考えられ
る。それらの発明の中では高屈折率物質としてのTiO
□と、低屈折率物質としてのSiO□の界面に、中間層
として酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化ジル
コニウム、酸化カルシウム等を形成するというもので、
これらの酸化物は、酸化チタンと酸化珪素の両者に比較
的親和性が高いという理由から選ばれている。しかしな
がら、このような中間層として酸化物を介在させても、
まだその耐摩耗性は十分でないために、特開昭59−1
2’1OO1でiよその中間層の中に界面から徐々に減
少するような濃度の酸化チタンもしくは一酸化珪素を含
有させるという工夫が施されている。
膜の各層の界面での付着力が不十分という重大な問題点
があった。この欠点を克服するために、特開昭59−1
27001あるいは特開昭59−136706に開示さ
れているように、特定の中間層を設けることが考えられ
る。それらの発明の中では高屈折率物質としてのTiO
□と、低屈折率物質としてのSiO□の界面に、中間層
として酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化ジル
コニウム、酸化カルシウム等を形成するというもので、
これらの酸化物は、酸化チタンと酸化珪素の両者に比較
的親和性が高いという理由から選ばれている。しかしな
がら、このような中間層として酸化物を介在させても、
まだその耐摩耗性は十分でないために、特開昭59−1
2’1OO1でiよその中間層の中に界面から徐々に減
少するような濃度の酸化チタンもしくは一酸化珪素を含
有させるという工夫が施されている。
特開昭59−136706ではさらに耐摩耗性を向上さ
せるために、中間層を形成した後に加熱処理を施し、界
面層で材料の相互拡散を起こさせるという手段を講じて
いる。しかしながら、このような手段を講じてもまだ、
光学特性の安定性に乏しいという重大な問題点が残って
いる。中間層の中で二酸化チタンや二酸化珪素の含有量
を徐々に変化させるという処理は、厳密に屈折率を制御
する必要があるフィルタの作製方法としては、安定性、
再現性にかけるという欠点を有する。また、加熱処理に
よって界面層を形成するという方法も、同様の欠点を有
している。さらに加熱処理法は十分な材料成分の拡散が
起こる温度で、基体や膜材料が十分な耐久性を有してい
なければならないという問題がある。
せるために、中間層を形成した後に加熱処理を施し、界
面層で材料の相互拡散を起こさせるという手段を講じて
いる。しかしながら、このような手段を講じてもまだ、
光学特性の安定性に乏しいという重大な問題点が残って
いる。中間層の中で二酸化チタンや二酸化珪素の含有量
を徐々に変化させるという処理は、厳密に屈折率を制御
する必要があるフィルタの作製方法としては、安定性、
再現性にかけるという欠点を有する。また、加熱処理に
よって界面層を形成するという方法も、同様の欠点を有
している。さらに加熱処理法は十分な材料成分の拡散が
起こる温度で、基体や膜材料が十分な耐久性を有してい
なければならないという問題がある。
上記従来の問題点を解決するために、本発明は高屈折率
材料と低屈折率材料の薄膜を交互にMi層してなる光学
干渉型フィルタにおいて、低屈折率材料として二酸化珪
素を、高屈折率材料として金属酸化物を用い、かつそれ
らの界面に、該金属酸化物を形成する該金属のシリサイ
ドの酸化物を形成したことを特徴とする光学フィルタで
ある。
材料と低屈折率材料の薄膜を交互にMi層してなる光学
干渉型フィルタにおいて、低屈折率材料として二酸化珪
素を、高屈折率材料として金属酸化物を用い、かつそれ
らの界面に、該金属酸化物を形成する該金属のシリサイ
ドの酸化物を形成したことを特徴とする光学フィルタで
ある。
該高屈折率材料としての金属酸化物としては、酸化チタ
ン、酸化クロム、酸化ジルコニウム、酸化タンタル、酸
化タングステン、酸化モリブデン、酸化亜鉛、酸化錫、
酸化ネオジウム、酸化プラセオジウム、酸化インジウム
、酸化セリウム、酸化ビスマスが考えられるので界面層
としては、それぞれチタン、クロム、ジルコニウム、タ
ンタル、タングステン、モリブデン、亜鉛、錫、ネオジ
ウム、プラセオジウム、インジウム、セリウム、ビスマ
スのシリサイドの酸化物が形成される。特に、最も一般
的に用いられている二酸化チタンと二酸化珪素からなる
フィルタの場合は、チタンシリサイドの酸化物を界面層
として形成する。
ン、酸化クロム、酸化ジルコニウム、酸化タンタル、酸
化タングステン、酸化モリブデン、酸化亜鉛、酸化錫、
酸化ネオジウム、酸化プラセオジウム、酸化インジウム
、酸化セリウム、酸化ビスマスが考えられるので界面層
としては、それぞれチタン、クロム、ジルコニウム、タ
ンタル、タングステン、モリブデン、亜鉛、錫、ネオジ
ウム、プラセオジウム、インジウム、セリウム、ビスマ
スのシリサイドの酸化物が形成される。特に、最も一般
的に用いられている二酸化チタンと二酸化珪素からなる
フィルタの場合は、チタンシリサイドの酸化物を界面層
として形成する。
本発明は、二酸化珪素の薄膜層と、高屈折率材料として
の金属酸化物の薄膜層の界面において、付着力が不十分
で膜の界面剥離−や摩耗による損傷を防ぐために、界面
に二酸化珪素と該金属酸化物の両方の層に対して十分な
付着力を有するものとして、該金属酸化物を構成する該
金属のシリサイドの酸化物層を形成するのを特徴とする
。
の金属酸化物の薄膜層の界面において、付着力が不十分
で膜の界面剥離−や摩耗による損傷を防ぐために、界面
に二酸化珪素と該金属酸化物の両方の層に対して十分な
付着力を有するものとして、該金属酸化物を構成する該
金属のシリサイドの酸化物層を形成するのを特徴とする
。
この金属シリサイドの厚みとしては、2rv〜40nm
が好ましく、さらに5nm〜20nmが最も好ましい。
が好ましく、さらに5nm〜20nmが最も好ましい。
金属シリサイドの酸化物の厚みが2nmより薄いと膜の
耐久性を確保するうえで不十分となり、40nmより厚
くなると光学特性に許容できない変化を生じてしまう。
耐久性を確保するうえで不十分となり、40nmより厚
くなると光学特性に許容できない変化を生じてしまう。
本発明の光学フィルタの金属酸化物層と二酸化珪素層と
の間に設けられる金属シリサイドの酸化物の層は、金属
シリサイドをターゲットとするスパッタリング法により
製造されるため、基体の面積が大きくても膜の被覆が均
一におこなわれる。
の間に設けられる金属シリサイドの酸化物の層は、金属
シリサイドをターゲットとするスパッタリング法により
製造されるため、基体の面積が大きくても膜の被覆が均
一におこなわれる。
したがって本発明の光学フィルタは、面積が大きい場合
でも光学特性はムラがないとう特徴を有する。また金属
シリサイドの酸化物の膜組成が再現性良く得られるので
、光学フィルタの光学特性が安定しているという特徴を
有する。さらに、本発明の光学フィルタは高屈折率材料
の膜と低屈折率材料の膜の界面の付着力を増強させるた
めに、従来の技術がおこなっていた膜の被覆後の熱処理
を必要としないので、光学特性が安定している。
でも光学特性はムラがないとう特徴を有する。また金属
シリサイドの酸化物の膜組成が再現性良く得られるので
、光学フィルタの光学特性が安定しているという特徴を
有する。さらに、本発明の光学フィルタは高屈折率材料
の膜と低屈折率材料の膜の界面の付着力を増強させるた
めに、従来の技術がおこなっていた膜の被覆後の熱処理
を必要としないので、光学特性が安定している。
本発明の高耐摩耗性フィルタに用いられる基体としては
、耐久性の点でガラスがもっとも好ましいが、もちろん
それに限定されるわけではなく、プラスチック板等を用
いることもできる。
、耐久性の点でガラスがもっとも好ましいが、もちろん
それに限定されるわけではなく、プラスチック板等を用
いることもできる。
本発明の高屈折率材料の金属酸化物層と、低屈折率材料
の二酸化珪素層の界面に設けられる、該金属酸化物を形
成する該金属シリサイドの酸化物からなる膜は、光学特
性を劣化させることなく、前記2つの膜の付着力を増す
作用を有する。また本発明の金属シリサイドのターゲッ
トから該金属シリサイドの酸化物の膜を被覆するに際し
ては、スパッタリングガスに用いる酸素ガスは金属のシ
リサイドの酸化物を再現性よく形成する作用を有する。
の二酸化珪素層の界面に設けられる、該金属酸化物を形
成する該金属シリサイドの酸化物からなる膜は、光学特
性を劣化させることなく、前記2つの膜の付着力を増す
作用を有する。また本発明の金属シリサイドのターゲッ
トから該金属シリサイドの酸化物の膜を被覆するに際し
ては、スパッタリングガスに用いる酸素ガスは金属のシ
リサイドの酸化物を再現性よく形成する作用を有する。
以下に、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する
。
。
第1図は、本発明の1実施形態であって、4mm厚の透
明ガラス基体10上に、第1層としてlllnmの二酸
化チタンの層11が、第3層として187nmの二酸化
珪素の層13が、第5層として1105nの二酸化チタ
ンの層15が、第7層として91nmの二酸化珪素の層
17が形成されており、それぞれの層の界面、すなわち
、第2層12、第4層14、第6層16として、それぞ
れ2nmの二珪化チタンの酸化物の層が形成された毛屑
の膜からなる高い可視光′!!fAiL過率と低い赤外
線透過率を有するフィルタである。この上層1漠を、゛
第8図に示す三つのプレーナーマグネトロンカソードを
有するインライン型スパッタリング装置を用いて形成し
た。基体への膜の被覆は、スパッタリングを行なってい
るカソードの上を基体が通過する間におこない、カソー
ドに投入する電力量もしくはカソードの上を通過する基
体の速度を変えることによって、得られる膜の厚みを調
整した。
明ガラス基体10上に、第1層としてlllnmの二酸
化チタンの層11が、第3層として187nmの二酸化
珪素の層13が、第5層として1105nの二酸化チタ
ンの層15が、第7層として91nmの二酸化珪素の層
17が形成されており、それぞれの層の界面、すなわち
、第2層12、第4層14、第6層16として、それぞ
れ2nmの二珪化チタンの酸化物の層が形成された毛屑
の膜からなる高い可視光′!!fAiL過率と低い赤外
線透過率を有するフィルタである。この上層1漠を、゛
第8図に示す三つのプレーナーマグネトロンカソードを
有するインライン型スパッタリング装置を用いて形成し
た。基体への膜の被覆は、スパッタリングを行なってい
るカソードの上を基体が通過する間におこない、カソー
ドに投入する電力量もしくはカソードの上を通過する基
体の速度を変えることによって、得られる膜の厚みを調
整した。
第8図の81は真空槽(排気ポンプは図示されていない
) 、82.86は取入室、取出室であり、83゜84
、85はそれぞれ第1.第2.第3の成膜室であり、各
室はゲートバルブ87.8B、 89.90の開閉によ
り隔離およびガラス基体の移動に必要な連結ができる。
) 、82.86は取入室、取出室であり、83゜84
、85はそれぞれ第1.第2.第3の成膜室であり、各
室はゲートバルブ87.8B、 89.90の開閉によ
り隔離およびガラス基体の移動に必要な連結ができる。
ガラス基体91は搬送ベルト92により移動させられる
。第1.第2.第3の成膜室には、それぞれカソード9
6.97.98が絶縁体111により真空槽から電気的
に絶縁されて設置され、またスパッタガス導入用のガス
パイプ99.100.1吋およびバルブ102.103
.104.カソードに電力を印加するための電源108
.109.110およびスイッチ105゜置の第1のカ
ソード96には金属チタン93を、第2のカソード97
には二珪化チタン94を、第3のカソード9日には石英
ガラス95を、それぞれターゲットとして取り付けた。
。第1.第2.第3の成膜室には、それぞれカソード9
6.97.98が絶縁体111により真空槽から電気的
に絶縁されて設置され、またスパッタガス導入用のガス
パイプ99.100.1吋およびバルブ102.103
.104.カソードに電力を印加するための電源108
.109.110およびスイッチ105゜置の第1のカ
ソード96には金属チタン93を、第2のカソード97
には二珪化チタン94を、第3のカソード9日には石英
ガラス95を、それぞれターゲットとして取り付けた。
二酸化チタンの膜を被覆する場合には、通常行なわれる
のと同様に、金属チタン93をターゲットとして取りつ
けである第1の成膜室83の中に酸素ガスをガスパイプ
99から導入し、排気ポンプのオリフィスバルブにより
3mTorrの圧力に調整し、5Δのスパッタ電′流を
カソード96に印加し、ガラス基体91を20mm/m
inの速度で゛[1ターケソト上を移動させながら、お
こなった。
のと同様に、金属チタン93をターゲットとして取りつ
けである第1の成膜室83の中に酸素ガスをガスパイプ
99から導入し、排気ポンプのオリフィスバルブにより
3mTorrの圧力に調整し、5Δのスパッタ電′流を
カソード96に印加し、ガラス基体91を20mm/m
inの速度で゛[1ターケソト上を移動させながら、お
こなった。
−酸化珪素の膜を形成する場合は、石英ガラス95をタ
ーゲットとして取り付けである第3の成膜室85に、9
5体積%のアルゴンガスと5体積%の酸素ガスを導入し
、同様な方法で5mTorrの圧力に調整し、3KWの
電力を高周波電源より投入し高周波スパッタリングを行
なった。そして、二珪化チタンの酸化物を被覆する場合
には、二珪化チタン94をターゲットとして取り付けで
ある第2の成膜室に酸素ガスを導入し、同様な方法で5
mTorrの圧力に調整し、3Aのスパッタ電流でガラ
ス基体を900mm/minで移動させながらおこなっ
た。上層膜を形成する際には、まずガラス基体を第1の
成膜室をil遇させ二酸化チタンの層を被覆し、次に第
2の成nり室をill過させ、二珪化チタンの酸化物を
被覆し、そして第3の成膜室でガラス基体を30mm/
minの速度でターゲット上を通過させて二酸化珪素を
形成した。次にガラス基体を送る方向を逆転し、再び第
2の成膜室を通過させて二珪化チタンの酸化物を被覆し
、さらに第1の成膜室を通過させて二酸化チタンの膜を
被覆した。次に再びガラス基体を送る方向を逆転し、第
2の成膜室を通過させて、六層目の二珪化チタンの酸化
物を被覆し、最後に、第3の成膜室でガラス基体を60
1/mjnの速度でターゲット上を通過させて最上層の
酸化珪素を被覆した。
ーゲットとして取り付けである第3の成膜室85に、9
5体積%のアルゴンガスと5体積%の酸素ガスを導入し
、同様な方法で5mTorrの圧力に調整し、3KWの
電力を高周波電源より投入し高周波スパッタリングを行
なった。そして、二珪化チタンの酸化物を被覆する場合
には、二珪化チタン94をターゲットとして取り付けで
ある第2の成膜室に酸素ガスを導入し、同様な方法で5
mTorrの圧力に調整し、3Aのスパッタ電流でガラ
ス基体を900mm/minで移動させながらおこなっ
た。上層膜を形成する際には、まずガラス基体を第1の
成膜室をil遇させ二酸化チタンの層を被覆し、次に第
2の成nり室をill過させ、二珪化チタンの酸化物を
被覆し、そして第3の成膜室でガラス基体を30mm/
minの速度でターゲット上を通過させて二酸化珪素を
形成した。次にガラス基体を送る方向を逆転し、再び第
2の成膜室を通過させて二珪化チタンの酸化物を被覆し
、さらに第1の成膜室を通過させて二酸化チタンの膜を
被覆した。次に再びガラス基体を送る方向を逆転し、第
2の成膜室を通過させて、六層目の二珪化チタンの酸化
物を被覆し、最後に、第3の成膜室でガラス基体を60
1/mjnの速度でターゲット上を通過させて最上層の
酸化珪素を被覆した。
このようにして得られたフィルタの光学特性を第2図に
示す。第2図の21は透過率、22は膜面側反射率、2
3はガラス面側反射率である。可視光線領域で約90%
の高い透過率と、900nm以上の近赤外線領域での高
い反射率を有し、いわゆる熱線反射ガラスとしての良好
な特性を示す。第3図と第4図は、このようにして得ら
れたフィルタの特性と、従来の、二珪化チタンの酸化物
の界面層をもたないフィルタの特性を比較したものであ
って、第3図の31(実線)は従来のフィルタの透過率
、32(破線)は本発明の透過率、第4図の41 (実
線)は従来のフィルタの膜面側反射率、42(破線)は
本発明のフィルタの膜面側反射率である。これらより本
発明のフィルタは従来のものに比較して何ら特性の低下
は認められないことがわかる。界面層の厚みを6 nm
、 10nm、 20nmと増大していっても、特性の
低下は第5図に示すように認められなかった。第5図の
51(実線)は本発明のフィルタで界面層の厚みが20
nmであるものの透過率、52(破線)は、その膜面側
反射率、53(破線)は、そのガラス面側反射率である
。また第6図は本発明のフィルタの界面層の厚みが40
nn+のときの光学特性で、可視域でやや透過および反
射の特性にリップルが出現しはじめる。第6図の61(
実vA)は透過率、62(破線)は膜面側の反射率、6
3(破線)はガラス面側の反射率を表す。
示す。第2図の21は透過率、22は膜面側反射率、2
3はガラス面側反射率である。可視光線領域で約90%
の高い透過率と、900nm以上の近赤外線領域での高
い反射率を有し、いわゆる熱線反射ガラスとしての良好
な特性を示す。第3図と第4図は、このようにして得ら
れたフィルタの特性と、従来の、二珪化チタンの酸化物
の界面層をもたないフィルタの特性を比較したものであ
って、第3図の31(実線)は従来のフィルタの透過率
、32(破線)は本発明の透過率、第4図の41 (実
線)は従来のフィルタの膜面側反射率、42(破線)は
本発明のフィルタの膜面側反射率である。これらより本
発明のフィルタは従来のものに比較して何ら特性の低下
は認められないことがわかる。界面層の厚みを6 nm
、 10nm、 20nmと増大していっても、特性の
低下は第5図に示すように認められなかった。第5図の
51(実線)は本発明のフィルタで界面層の厚みが20
nmであるものの透過率、52(破線)は、その膜面側
反射率、53(破線)は、そのガラス面側反射率である
。また第6図は本発明のフィルタの界面層の厚みが40
nn+のときの光学特性で、可視域でやや透過および反
射の特性にリップルが出現しはじめる。第6図の61(
実vA)は透過率、62(破線)は膜面側の反射率、6
3(破線)はガラス面側の反射率を表す。
次に、本発明によって得られたフィルタの耐摩耗性を評
価するために、テーパー摩耗試験機を用いて、C3lO
Fの摩耗輪に500gの荷重をかけ、−分間に60rp
+*の速度で1000回の回転摩耗を加えるテストを行
ない、そのテスト前後での透過率の変化量を測定した。
価するために、テーパー摩耗試験機を用いて、C3lO
Fの摩耗輪に500gの荷重をかけ、−分間に60rp
+*の速度で1000回の回転摩耗を加えるテストを行
ない、そのテスト前後での透過率の変化量を測定した。
その結果を第7図に示した。
第7図より明らかなように、界面層を用いない場合には
、7%もの透過率の低下があったのに対して、2nmの
界面層を形成したものでは、4%となり、6nn+の界
面層を形成したものでは、わずか2%となる。これ以上
界面層の厚みを増加しても透過率の変化量はそれほど小
さ(ならない。すなわち、もはや界面層での散乱は殆ど
なくなり、透過率の低下は最表面の膜が傷ついたことに
よるものだけと考えられる。従って、このような結果か
ら、界面層の厚みとしては、2nm以上で40nm以下
が好ましく、5nm以上20nm以下が最も好ましい。
、7%もの透過率の低下があったのに対して、2nmの
界面層を形成したものでは、4%となり、6nn+の界
面層を形成したものでは、わずか2%となる。これ以上
界面層の厚みを増加しても透過率の変化量はそれほど小
さ(ならない。すなわち、もはや界面層での散乱は殆ど
なくなり、透過率の低下は最表面の膜が傷ついたことに
よるものだけと考えられる。従って、このような結果か
ら、界面層の厚みとしては、2nm以上で40nm以下
が好ましく、5nm以上20nm以下が最も好ましい。
本発明によれば、従来得ることが困難であったところの
耐摩耗性に優れた光学フィルタを提供することができる
。また本発明の製造方法によれば、膜の交互層の界面で
の付着性を増強させるための、被覆後の熱処理が不要と
なる。
耐摩耗性に優れた光学フィルタを提供することができる
。また本発明の製造方法によれば、膜の交互層の界面で
の付着性を増強させるための、被覆後の熱処理が不要と
なる。
第1図は本発明の1実施例である光学フィルタの膜構成
を示す断面図、 第2図はその光学フィルタの分光光学特性、第3図は本
発明の1実施例と従来のフィルタの分光透過率の比較、 第4図は本発明の1実施例と従来のフィルタの分光反射
率の比較、 第5図は本発明の実施例で、界面層が20nmの厚みの
ときの分光光学特性、 第6図は本発明の実施例で、界面層が40nmの厚みの
ときの分光光学特性、 第7図は本発明の実施例における界面層の厚みとテーパ
ー摩耗試験後の透過率との関係を示す図である。 11、15・・・二酸化チタン層、 12、14.16・・・二珪化チタンの酸化物の界面層
、13、17・・・二酸化珪素層、 81・・・真空
槽、82・・・取入室、 83・・・取出室、 91・
・・ガラス基体、92・・・ガラス搬送ヘルド、96,
97.98・・・カソード、93・・・チタンターゲッ
ト、 94・・・二珪化チタンターゲット、 95・・・石英ガラスターゲット、 108、109・・・直流電源、 110・・・高周
波電源、99、100.101・・・スパッタガス導入
パイプ、102、103.104・・・バルブ、105
、 106.107 ・・・スイッチ、第1図 波長I nm) 第3図 第2図 波長+nm + 波長fnml 第4図 波長 inm+ 第 図 波長 nml 界面層の厚み (nm) 第 図 手続ネ甫正書(方式) ■、事件の、表示 特願昭63−256825号 2、発明の名称 耐17耗性光学フイルタ 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 大阪府大阪市東区道修町4丁目8番地名称(40
0)日本板硝子株式会社 代表者 中 島 達 二 4、代理人 住所 東京都港区新@5丁目11番3号新橋住友ビル 日本板硝子株式会社特許部内 7、補正の内容 第16頁第5行末尾に「また第8図は本発明を実施する
のに用いたスパンタリング装置の概略断面図である。」
を追加する。
を示す断面図、 第2図はその光学フィルタの分光光学特性、第3図は本
発明の1実施例と従来のフィルタの分光透過率の比較、 第4図は本発明の1実施例と従来のフィルタの分光反射
率の比較、 第5図は本発明の実施例で、界面層が20nmの厚みの
ときの分光光学特性、 第6図は本発明の実施例で、界面層が40nmの厚みの
ときの分光光学特性、 第7図は本発明の実施例における界面層の厚みとテーパ
ー摩耗試験後の透過率との関係を示す図である。 11、15・・・二酸化チタン層、 12、14.16・・・二珪化チタンの酸化物の界面層
、13、17・・・二酸化珪素層、 81・・・真空
槽、82・・・取入室、 83・・・取出室、 91・
・・ガラス基体、92・・・ガラス搬送ヘルド、96,
97.98・・・カソード、93・・・チタンターゲッ
ト、 94・・・二珪化チタンターゲット、 95・・・石英ガラスターゲット、 108、109・・・直流電源、 110・・・高周
波電源、99、100.101・・・スパッタガス導入
パイプ、102、103.104・・・バルブ、105
、 106.107 ・・・スイッチ、第1図 波長I nm) 第3図 第2図 波長+nm + 波長fnml 第4図 波長 inm+ 第 図 波長 nml 界面層の厚み (nm) 第 図 手続ネ甫正書(方式) ■、事件の、表示 特願昭63−256825号 2、発明の名称 耐17耗性光学フイルタ 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 大阪府大阪市東区道修町4丁目8番地名称(40
0)日本板硝子株式会社 代表者 中 島 達 二 4、代理人 住所 東京都港区新@5丁目11番3号新橋住友ビル 日本板硝子株式会社特許部内 7、補正の内容 第16頁第5行末尾に「また第8図は本発明を実施する
のに用いたスパンタリング装置の概略断面図である。」
を追加する。
Claims (6)
- (1)透明基体上に、高屈折率材料と低屈折率材料の薄
膜を交互に積層して被覆した光学干渉型フィルタにおい
て、低屈折率材料として二酸化珪素を、高屈折率材料と
して金属酸化物を用い、かつ、それらの界面に該金属酸
化物を形成する該金属のシリサイドの酸化物層を形成し
たことを特徴とする光学フィルタ - (2)該界面の該金属シリサイドの酸化物層の厚みが、
2nm以上で40nmを越えない特許請求の範囲第1項
記載の光学フィルタ - (3)該高屈折率材料としての金属酸化物が、酸化チタ
ン、酸化クロム、酸化ジルコニウム、酸化タンタル、酸
化タングステン、酸化モリブデン、酸化亜鉛、酸化錫、
酸化ネオジウム、酸化プラセオジウム、酸化インジウム
、酸化セリウム、酸化ビスマスのうちから選ばれた1つ
あるいは2つ以上の混合酸化物である特許請求の範囲第
1項記載の光学フィルタ - (4)該高屈折率材料が二酸化チタンであり、該金属シ
リサイドがチタンシリサイドである特許請求の範囲第1
項記載の光学フィルタ - (5)該透明基体がガラスである、特許請求の範囲第1
項乃至第4項のいずれか項記載の光学フィルタ - (6)透明基体上にスパッタリング法により、金属酸化
物からなる高屈折率層と二酸化珪素からなる低屈折率層
を少なくとも三層以上交互に積層してなる光学フィルタ
において、該金属酸化物層と二酸化珪素層の間に、該金
属酸化物を形成する該金属のシリサイドの酸化物を反応
性スパッタリング法にて形成することを特徴とする第1
項乃至第5項のいずれか項記載の光学フィルタ
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25682588A JPH02103002A (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | 耐摩耗性光学フィルタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25682588A JPH02103002A (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | 耐摩耗性光学フィルタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02103002A true JPH02103002A (ja) | 1990-04-16 |
Family
ID=17297954
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25682588A Pending JPH02103002A (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | 耐摩耗性光学フィルタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02103002A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007322891A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Ulvac Japan Ltd | コールドミラーの製造方法及びその製造装置 |
JP2010231172A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-10-14 | Seiko Epson Corp | 光学物品およびその製造方法 |
US8789944B2 (en) | 2010-08-02 | 2014-07-29 | Hoya Lens Manufacturing Philippines Inc. | Optical article and optical article production method |
JP2016075964A (ja) * | 2016-02-08 | 2016-05-12 | イーエイチエス レンズ フィリピン インク | 光学物品およびその製造方法 |
JP2017101297A (ja) * | 2015-12-02 | 2017-06-08 | 中部電力株式会社 | 遮熱膜 |
-
1988
- 1988-10-12 JP JP25682588A patent/JPH02103002A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007322891A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Ulvac Japan Ltd | コールドミラーの製造方法及びその製造装置 |
JP2010231172A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-10-14 | Seiko Epson Corp | 光学物品およびその製造方法 |
US8789944B2 (en) | 2010-08-02 | 2014-07-29 | Hoya Lens Manufacturing Philippines Inc. | Optical article and optical article production method |
JP2017101297A (ja) * | 2015-12-02 | 2017-06-08 | 中部電力株式会社 | 遮熱膜 |
JP2016075964A (ja) * | 2016-02-08 | 2016-05-12 | イーエイチエス レンズ フィリピン インク | 光学物品およびその製造方法 |
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