JPH02102197A - ダイヤモンドの合成方法 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
ダイヤモンドの合成方法に関し、さらに詳しく言うと、
基体上に、高速にかつ高純度のダイヤモンド膜を形成す
ることのできるダイヤモンドの合成方法に関する。
基体上に、高速にかつ高純度のダイヤモンド膜を形成す
ることのできるダイヤモンドの合成方法に関する。
[従来技術と発明が解決しようとする課題]近年、ダイ
ヤモンドの合成技術の進歩に伴い、ダイヤモンドが様々
な分野で広く使用されるに至っている。
ヤモンドの合成技術の進歩に伴い、ダイヤモンドが様々
な分野で広く使用されるに至っている。
ところでダイヤモンドの合成方法としては、従来、マイ
クロ波、高周波等を用いたプラズマCvD法、熱フィラ
メント法、スパッタリング法等により原料ガスを励起し
て得られるガスを基体に接触させてダイヤモンドを得る
方法が知られている。
クロ波、高周波等を用いたプラズマCvD法、熱フィラ
メント法、スパッタリング法等により原料ガスを励起し
て得られるガスを基体に接触させてダイヤモンドを得る
方法が知られている。
これらの中でも、マイクロ波プラズマCvD法は、比較
的に品質の高いダイヤモンドを高速に合成することがで
きることで、好適に採用されている方法の一つである。
的に品質の高いダイヤモンドを高速に合成することがで
きることで、好適に採用されている方法の一つである。
しかしながら、従来の励起方法は、たとえ前記マイクロ
波プラズマCvD法であっても、充分に満足することの
できる高品質のダイヤモンドを高速に得ることができる
とは言いがたく、たとえばダイヤモンドの合成速度を高
めようとすれば、形成するダイヤモンドの純度が低下し
、またダイヤモンドの純度を上げようとすれば、ダイヤ
モンドの合成速度が低下するという傾向にあった。
波プラズマCvD法であっても、充分に満足することの
できる高品質のダイヤモンドを高速に得ることができる
とは言いがたく、たとえばダイヤモンドの合成速度を高
めようとすれば、形成するダイヤモンドの純度が低下し
、またダイヤモンドの純度を上げようとすれば、ダイヤ
モンドの合成速度が低下するという傾向にあった。
これは、たとえばマイクロ波プラズマCvD法について
言えば、波形が一定の振幅が連続する、いわゆる連続波
のマイクロ波を用いてMl/4ガスを励起するために、
低い励起レベルのガスは増加するものの、ダイヤモンド
の生成に必要であるといわれている高い励起レベルの反
応中間体が得られにくいこと、すなわち電子エネルギー
の高い状態が得られにくいことに起因するものとされて
いる。
言えば、波形が一定の振幅が連続する、いわゆる連続波
のマイクロ波を用いてMl/4ガスを励起するために、
低い励起レベルのガスは増加するものの、ダイヤモンド
の生成に必要であるといわれている高い励起レベルの反
応中間体が得られにくいこと、すなわち電子エネルギー
の高い状態が得られにくいことに起因するものとされて
いる。
パルス状に変調させたマイクロ波を用いる方法(特開昭
82−12309)は既に提案されてはいるが、この方
法で用いるマイクロ波では、原子状水素を供給すること
により、ダイヤモンド中の黒鉛成分は除去することがで
きるものの、前記課題を解決したとは言い難く、その結
果、ダイヤモンドの合成速度を充分に高めることができ
ないという不都合を有していた。
82−12309)は既に提案されてはいるが、この方
法で用いるマイクロ波では、原子状水素を供給すること
により、ダイヤモンド中の黒鉛成分は除去することがで
きるものの、前記課題を解決したとは言い難く、その結
果、ダイヤモンドの合成速度を充分に高めることができ
ないという不都合を有していた。
この発明は、前記事情に基いてなされたものである。
この発明の目的は、マイクロ波プラズマCVD法により
ダイヤモンドを合成するにあたり、高純度のダイヤモン
ドを高速に合成することのできるダイヤモンドの合成方
法を提供することにある。
ダイヤモンドを合成するにあたり、高純度のダイヤモン
ドを高速に合成することのできるダイヤモンドの合成方
法を提供することにある。
[前記課題を解決するための手段]
前記課題を解決するためのこの発明の構成は。
パルス励起時間1.とパルス停止時間t2との比(t2
/l+)がθ〜1,000になるようにパルス状に変調
され、かつ周波数が150 Hz 〜13.56 MH
zであるマイクロ波により、炭素源ガスを含有する原料
ガスを励起して得られるガスを基板に接触させることを
特徴とするダイヤモンドの合成方法である。
/l+)がθ〜1,000になるようにパルス状に変調
され、かつ周波数が150 Hz 〜13.56 MH
zであるマイクロ波により、炭素源ガスを含有する原料
ガスを励起して得られるガスを基板に接触させることを
特徴とするダイヤモンドの合成方法である。
以下、この発明につき詳細に説明する。
この発明は、パルス状に変調されたマイクロ波により、
原料ガスを励起して得られるガスを基板に接触させてダ
イヤモンドを合成する。
原料ガスを励起して得られるガスを基板に接触させてダ
イヤモンドを合成する。
前記パルス状に変調されるマイクロ波は、その周波数が
、150 Hz−13,56MHzであり、好ましくは
200Hz ” l MHz テあり、さらに好ましく
は300Hz 〜5,0OOHzである。
、150 Hz−13,56MHzであり、好ましくは
200Hz ” l MHz テあり、さらに好ましく
は300Hz 〜5,0OOHzである。
前記周波数が、 150 Hzよりも小さいと、高い励
起レベルの反応中間体が充分に得られず、この発明の目
的が達成されない。
起レベルの反応中間体が充分に得られず、この発明の目
的が達成されない。
また、前記周波数が13.85 MHzを超えると、マ
イクロ波に変調をかけた効果がうすれ、連続波を用いて
原料ガスを励起した場合とかわりなくなる。
イクロ波に変調をかけた効果がうすれ、連続波を用いて
原料ガスを励起した場合とかわりなくなる。
マイクロ波をパルス状に変調するには、マイクロ波発信
管へ印加されるプレート電圧と、パルス発振器から出力
されるパルス信号とを混合すればよい。
管へ印加されるプレート電圧と、パルス発振器から出力
されるパルス信号とを混合すればよい。
前記変調されたマイクロ波のパルス形状としては、立ち
上がりの急激なパルス波形が好ましい。
上がりの急激なパルス波形が好ましい。
前記の立ち上がりが急激なパルス状の変調マイクロ波は
、ダイヤモンドの中間体を多量に発生する作用乃至機能
を有する。
、ダイヤモンドの中間体を多量に発生する作用乃至機能
を有する。
すなわち、前記の立ち上がりが急激なパルス状の変調マ
イクロ波は、プラズマ内の電子を優先的に励起すること
により、プラズマ内の電子エネルギーを非平衡状態にし
て高エネルギーの電子を増加させ、また前記高エネルギ
ー電子は、原料の分子を励起して、ダイヤモンドの中間
体を多量に発生する。
イクロ波は、プラズマ内の電子を優先的に励起すること
により、プラズマ内の電子エネルギーを非平衡状態にし
て高エネルギーの電子を増加させ、また前記高エネルギ
ー電子は、原料の分子を励起して、ダイヤモンドの中間
体を多量に発生する。
変調マイクロ波により形成されるパルスの形状としては
、たとえば、第1図、第2図に示すように、垂直に立ち
上がる三角波パルス、第3図に示すような三角波と方形
波との合成パルス、第4図に示すような減衰期が下に凸
状の曲線であるパルス等を挙げることができる。
、たとえば、第1図、第2図に示すように、垂直に立ち
上がる三角波パルス、第3図に示すような三角波と方形
波との合成パルス、第4図に示すような減衰期が下に凸
状の曲線であるパルス等を挙げることができる。
なお、第1図〜第4図においては説明の便宜のためにパ
ルス状に偏重されたマイクロ波の包結線をもってパルス
変調されたマイクロ波を簡略化して描いである。
ルス状に偏重されたマイクロ波の包結線をもってパルス
変調されたマイクロ波を簡略化して描いである。
このように、前記パルスは、第1図〜第4図に示すよう
な80度の立ち上がりを示すものが好ましいが、この発
明においては、このようなパルスに限定されるものでは
なく、前記作用乃至機部を阻害しないかぎりにおいて特
に制限はなく、たとえば、立ち上り時間(τ1)が、一
つのパルス波形を形成するに要する時間、すなわちマイ
クロ波を出力している時間すなわちパルス励起時間(1
+)の2分の1以内であればよい。
な80度の立ち上がりを示すものが好ましいが、この発
明においては、このようなパルスに限定されるものでは
なく、前記作用乃至機部を阻害しないかぎりにおいて特
に制限はなく、たとえば、立ち上り時間(τ1)が、一
つのパルス波形を形成するに要する時間、すなわちマイ
クロ波を出力している時間すなわちパルス励起時間(1
+)の2分の1以内であればよい。
なお、前記立ち上り時間(τl)とは、最大振幅の10
%から80%に達するまでに要する時間をいう。
%から80%に達するまでに要する時間をいう。
このパルスは、通常、前記パルス励起時間(tl)に対
する。パルス波形の形成を停止している時間、すなわち
マイクロ波の出力を停止している時間(t2)の比(以
下、パルス比ということがある。)が0〜1,000で
あり、好ましくは。
する。パルス波形の形成を停止している時間、すなわち
マイクロ波の出力を停止している時間(t2)の比(以
下、パルス比ということがある。)が0〜1,000で
あり、好ましくは。
θ〜10Gである。
前記パルス比が、1,000より大きいと、安定したプ
ラズマ状態を維持できなくなる。
ラズマ状態を維持できなくなる。
もっとも、前記変調周波数や後述する反応圧力、原料ガ
ス等の反応条件を適宜に選定するとパルス比が、1.0
00より大きくともプラズマ状態を維持できるであろう
。
ス等の反応条件を適宜に選定するとパルス比が、1.0
00より大きくともプラズマ状態を維持できるであろう
。
この発明においては、前記パルス状に変調されたマイク
ロ波を原料ガスに照射して得られる励起ガスを基板に接
触させてダイヤモンドを合成する。
ロ波を原料ガスに照射して得られる励起ガスを基板に接
触させてダイヤモンドを合成する。
前記原料ガスとしては、公知のものを好適に使用するこ
とができ、たとえば炭素源ガスと水素ガスとの混合ガス
等を挙げることができる。
とができ、たとえば炭素源ガスと水素ガスとの混合ガス
等を挙げることができる。
また、所望により、前記原料ガスとともに、不活性ガス
、たとえばヘリウム、ネオン、アルゴン等のガスをキャ
リヤーガスとして用いることもできる。
、たとえばヘリウム、ネオン、アルゴン等のガスをキャ
リヤーガスとして用いることもできる。
前記炭素源ガスとしては、各種炭化水素、含酸素化合物
、含窒素化合物、等のガスを使用することができる。
、含窒素化合物、等のガスを使用することができる。
炭化水素化合物としては、例えばメタン、エタン、プロ
パン、ブタン等のパラフィン系炭化水素:エチレン、プ
ロピレン、メチレン等のオレフィン系炭化水素;アセチ
レン、アリレン等のアセチレン系炭化水素:ブタジェン
等のジオレフィン系炭化水素;シクロプロパン、シクロ
ブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン等の脂環式炭
化水素;シクロブタジェン、ベンゼン、トルエン。
パン、ブタン等のパラフィン系炭化水素:エチレン、プ
ロピレン、メチレン等のオレフィン系炭化水素;アセチ
レン、アリレン等のアセチレン系炭化水素:ブタジェン
等のジオレフィン系炭化水素;シクロプロパン、シクロ
ブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン等の脂環式炭
化水素;シクロブタジェン、ベンゼン、トルエン。
キシレン、ナフタレン等の芳香族炭化水素、塩化メチル
、臭化メチル、塩化メチレン、四塩化炭素等のハロゲン
化炭化水素等を挙げることができき。
、臭化メチル、塩化メチレン、四塩化炭素等のハロゲン
化炭化水素等を挙げることができき。
含酸素化合物としては2例えばアセトン、ジエチルケト
ン、ベンゾフェノン等のケトン類:メタノール、エタノ
ール、プロパツール、ブタノール等のアルコール類;メ
チルエーテル、エチルエーテル、メチルエチルエーテル
、メチルプロピルエーテル、フェノールエーテル、ジオ
キサン等のエーテル類;ホルムアルデヒド、アセトアル
デヒド、ベンズアルデヒド等のアルデヒド類:酢酸。
ン、ベンゾフェノン等のケトン類:メタノール、エタノ
ール、プロパツール、ブタノール等のアルコール類;メ
チルエーテル、エチルエーテル、メチルエチルエーテル
、メチルプロピルエーテル、フェノールエーテル、ジオ
キサン等のエーテル類;ホルムアルデヒド、アセトアル
デヒド、ベンズアルデヒド等のアルデヒド類:酢酸。
プロピオン酸、コハク酸等の有機酸類;酢酸メチル、酢
酸エチル等の酸エステル類;エチレングリコール、ジエ
チレングリコール等の二価アルコール類ニー酸化炭素、
二酸化炭素等を挙げることができる。
酸エチル等の酸エステル類;エチレングリコール、ジエ
チレングリコール等の二価アルコール類ニー酸化炭素、
二酸化炭素等を挙げることができる。
含窒素化合物としては、例えばトリメチルアミン、トリ
エチルアミンなどのアミン類等を挙げることができる。
エチルアミンなどのアミン類等を挙げることができる。
また、炭素源として、単体ではないが、消防法に規定さ
れる第4類危険物;ガソリンなどの第1石油類、ケロシ
ン、テレピン油、しょう脳油、松根油などの第2石油類
、重油などの第3石油類。
れる第4類危険物;ガソリンなどの第1石油類、ケロシ
ン、テレピン油、しょう脳油、松根油などの第2石油類
、重油などの第3石油類。
ギヤー油、シリンダー油などの第4石油類などをも使用
することができる。また前記各種の炭素化合物を混合し
て使用することもできる。
することができる。また前記各種の炭素化合物を混合し
て使用することもできる。
これらの炭素源の中でも、常温で気体または蒸気圧の高
いメタン、エタン、プロパン等ツバラフイン系炭化水素
等、アセトン、ベンゾフェノンなどのケトン類、メタノ
ール、エタノール等のアルコール類、−酸化炭素、二酸
化炭素ガス等の含酸素化合物等が好ましい。
いメタン、エタン、プロパン等ツバラフイン系炭化水素
等、アセトン、ベンゾフェノンなどのケトン類、メタノ
ール、エタノール等のアルコール類、−酸化炭素、二酸
化炭素ガス等の含酸素化合物等が好ましい。
さらに好ましくは、−酸化炭素、二酸化炭素ガスである
。
。
前記水素ガスとしては、特に制限がなく、たとえば石油
類のガス化、天然ガス、水性ガスなどの変成、水の電解
、鉄と水蒸気との反応、石炭の完全ガス化などにより得
られるものを充分に精製したものを用いることができる
。
類のガス化、天然ガス、水性ガスなどの変成、水の電解
、鉄と水蒸気との反応、石炭の完全ガス化などにより得
られるものを充分に精製したものを用いることができる
。
また、前記−酸化炭素ガスと前記水素ガスとは、メタノ
ールを分解することにより、−酸化炭素ガスと水素ガス
との混合ガスとして同時に得ることもできる。
ールを分解することにより、−酸化炭素ガスと水素ガス
との混合ガスとして同時に得ることもできる。
前記炭素源ガスと前記水素との混合比は、通常、前記炭
素源ガスと前記水素との合計流量に対して前記炭素源ガ
スの流量が0.1容量%以上、好ましくは0.1〜90
容量%、さらに好ましくは0.2〜80容量%である。
素源ガスと前記水素との合計流量に対して前記炭素源ガ
スの流量が0.1容量%以上、好ましくは0.1〜90
容量%、さらに好ましくは0.2〜80容量%である。
前記混合ガス中の炭素源ガスの流量が0.1容量%より
も少ないとダイヤモンドが生威しなかったり、ダイヤモ
ンドがたとえ生成してもその堆積速度が著しく小さい。
も少ないとダイヤモンドが生威しなかったり、ダイヤモ
ンドがたとえ生成してもその堆積速度が著しく小さい。
前記水素は、励起されることにより原子状水素を形成す
る。
る。
この原子状水素は、ダイヤモンドの析出と同時に析出す
る黒鉛構造の炭素等の非ダイヤモンドを除去する作用を
有する。
る黒鉛構造の炭素等の非ダイヤモンドを除去する作用を
有する。
なお、水素ガスと前記−酸化炭素および/または前記二
酸化炭素ガスとの組合せは、特に好ましい。
酸化炭素ガスとの組合せは、特に好ましい。
前記基板としては、この発明の目的を阻害しない限り、
特に制限はなく、たとえばシリコン、アルミニウム、チ
タン、タングステン、モリブデン、コバルト、ゲルマニ
ウムおよびクロムなどの金属、これらの酸化物、窒化物
、および炭化物、これらの合金、A 1203−Fe系
、Tie−Xi系、TiC−Go系および84C−Fe
系等のサーメットならびに各種セラミックス等を挙げる
ことができる。
特に制限はなく、たとえばシリコン、アルミニウム、チ
タン、タングステン、モリブデン、コバルト、ゲルマニ
ウムおよびクロムなどの金属、これらの酸化物、窒化物
、および炭化物、これらの合金、A 1203−Fe系
、Tie−Xi系、TiC−Go系および84C−Fe
系等のサーメットならびに各種セラミックス等を挙げる
ことができる。
この発明の方法においては、以下の条件下に反応が進行
して、前記基材上にダイヤモンドが折、出する。
して、前記基材上にダイヤモンドが折、出する。
すなわち、前記基板の表面の温度は、通常、室温〜1.
200℃、好ましくは800℃〜1,000℃である。
200℃、好ましくは800℃〜1,000℃である。
この温度が室温より低い場合には、ダイヤモンドの堆積
速度が遅くなったり、非ダイヤモンド成分を多量に含ん
だ膜を形成することがある。
速度が遅くなったり、非ダイヤモンド成分を多量に含ん
だ膜を形成することがある。
一方、1,200℃より高い場合には、基材上に堆積し
たダイヤモンドがエツチングにより削られてしまい、堆
積速度の向上が見られないことがある。
たダイヤモンドがエツチングにより削られてしまい、堆
積速度の向上が見られないことがある。
反応圧力は、通常、10−5〜103 torr、好ま
しくは10−3〜103torrである6反応圧力が1
O−5tarrよりも低い場合には、ダイヤモンドの堆
積速度が遅くなったり、ダイヤモンドが析出しなくなっ
たりすることがある。
しくは10−3〜103torrである6反応圧力が1
O−5tarrよりも低い場合には、ダイヤモンドの堆
積速度が遅くなったり、ダイヤモンドが析出しなくなっ
たりすることがある。
一方、10” torrより高くしてもそれに相当する
効果が得られないことがある。
効果が得られないことがある。
このような条件で合成されるダイヤモンド微粒子の平均
粒径は、通常0.1〜30gmである。
粒径は、通常0.1〜30gmである。
なお、ダイヤモンドを基板上に薄膜として得ようとする
場合のダイヤモンド膜厚は1通常。
場合のダイヤモンド膜厚は1通常。
0.2〜100 JLmで、好ましくは、0.5〜50
ILmである。
ILmである。
前記膜厚が0.21Lm未満であると、基板上の全てを
ダイヤモンド膜で被覆することが困難になるなることが
あり、また1100JLを超えると、基板とダイヤモン
ド膜との熱膨張係数の違いにより、ダイヤモンド膜が剥
離しやすくなる場合がある。
ダイヤモンド膜で被覆することが困難になるなることが
あり、また1100JLを超えると、基板とダイヤモン
ド膜との熱膨張係数の違いにより、ダイヤモンド膜が剥
離しやすくなる場合がある。
このような合成方法によると、高純度のダイヤモンドを
高速に得ることができる。
高速に得ることができる。
[実施例]
次いで、この発明の実施例および比較例を示し、この発
明についてさらに具体的に説明する。
明についてさらに具体的に説明する。
(実施例1)
基体として、シリコンウェハーを用いた。
このシリコンウェハーを反応室内に設置したのちに、反
応室内の圧力50torr、シリコンウェハー表面温度
920℃の条件下に、周波数2.45GHzのマイクロ
波の平均出力を380Wに設定した。
応室内の圧力50torr、シリコンウェハー表面温度
920℃の条件下に、周波数2.45GHzのマイクロ
波の平均出力を380Wに設定した。
なお、この実施例においては、第1r11Iに示すよう
に、垂直な立上りを示す三角波パルス状に変調された、
変調周波数が500 Hz、パルス比(t2/1+)が
1であるマイクロ波を使用した。
に、垂直な立上りを示す三角波パルス状に変調された、
変調周波数が500 Hz、パルス比(t2/1+)が
1であるマイクロ波を使用した。
反応室内に供給する原料ガスとして一酸化炭素ガスと水
素ガスとの混合ガスを使用し、−酸化炭素ガス濃度を5
容量%、流量を100 scc+++ (−酸化炭素と
水素ガスとの合量)に設定した。
素ガスとの混合ガスを使用し、−酸化炭素ガス濃度を5
容量%、流量を100 scc+++ (−酸化炭素と
水素ガスとの合量)に設定した。
このような反応条件のもとに放電時間の合計が1時間と
なるようにダイヤモンドの合成を行って、前記温度に制
御したシリコンウェハー表面に堆積物を形成せしめた。
なるようにダイヤモンドの合成を行って、前記温度に制
御したシリコンウェハー表面に堆積物を形成せしめた。
得られた堆積物について、ラマン分光分析により組成分
析を行い、ダイヤモンドの純度を評価するともに、得ら
れた堆積物の破断面を走査型電子顕微鏡で膜厚を測定し
てダイヤモンドの合成速度を算出して評価した。
析を行い、ダイヤモンドの純度を評価するともに、得ら
れた堆積物の破断面を走査型電子顕微鏡で膜厚を測定し
てダイヤモンドの合成速度を算出して評価した。
結果を第1表に示す。
なお、第1表における成分分析に関する記号の意味を以
下に示す。
下に示す。
■・・ダイヤモンドが生成。
○・・主としてダイヤモンドが生成し、わずかにダイヤ
モンド状炭素が生成。
モンド状炭素が生成。
△・・主としてダイヤモンド状炭素が生成し。
わずかにダイヤモンドが生成。
X−・主としてグラファイトが生成。
(実施例2)
一酸化炭素ガス濃度を20容量%としたほかは、実施例
1と同様にダイヤモンドを合成した。
1と同様にダイヤモンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例3)
一酸化炭素ガス濃度を80容量%としたほかは。
実施例1と同様にダイヤモンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例4)
実施例3に用いた、マイクロ波の波形を、第2図に示す
ように、出力を停止している時間t2が0の波形とした
ほかは、実施例3と同様にダイヤモンドを合成した。
ように、出力を停止している時間t2が0の波形とした
ほかは、実施例3と同様にダイヤモンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例5)
変調周波数を3 kHzとしたほかは、実施例3と同様
にダイヤモンドを合成した。
にダイヤモンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(比較例1)
実施例1の変調周波数が500 Hz、パルス比が1の
マイクロ波にかえて、第5図に示すように、連続波のマ
イクロ波を使用したほかは、実施例1と同様にダイヤモ
ンドを合成した。
マイクロ波にかえて、第5図に示すように、連続波のマ
イクロ波を使用したほかは、実施例1と同様にダイヤモ
ンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(比較例2)
実施例2の変調周波数が500 Hz、パルス比が1の
マイクロ波にかえて、第5図に示すように、連続波のマ
イクロ波を使用したほかは、実施例2と同様にダイヤモ
ンドを合成した。
マイクロ波にかえて、第5図に示すように、連続波のマ
イクロ波を使用したほかは、実施例2と同様にダイヤモ
ンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表〈示す。
(比較例3)
実施例3の変調周波数が500 Hz、パルス比が1の
マイクロ波にかえて、第5図に示すように、連続波のマ
イクロ波を使用したほかは、実施例3と同様にダイヤモ
ンドを合成した。
マイクロ波にかえて、第5図に示すように、連続波のマ
イクロ波を使用したほかは、実施例3と同様にダイヤモ
ンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につぎ実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(比較例4)
実施例2の変調周波数が500 Hz、パルス比が1の
マイクロ波にかえて、第6図に示すように、矩形波を繰
り返して有するパルス波で、変調周波数が50 Hz
、パルス比が1のマイクロ波を使用したほかは、実施例
2と同様にダイヤモンドを合成した。
マイクロ波にかえて、第6図に示すように、矩形波を繰
り返して有するパルス波で、変調周波数が50 Hz
、パルス比が1のマイクロ波を使用したほかは、実施例
2と同様にダイヤモンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(比較例5)
変調周波数を50Hzとしたほかは、実施例3と同様に
ダイヤモンドを合成した。
ダイヤモンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
(比較例6)
変調周波数を50Hzとした−ほかは、実施例4と同様
にダイヤモンドを合成した。
にダイヤモンドを合成した。
なお、得られたダイヤモンド膜につき実施例1と同様の
評価を行った。
評価を行った。
結果を第1表に示す。
[評価]
変調周波数が500Hzまたは3 kHzであって、波
形が三角波のマイクロ波を使用してダイヤモンドを合成
した場合は、連続波または、変調周波数が50H2であ
って波形が方形波もしくは三角波のマイクロ波を使用し
てダイヤモンドを合成した場合に比較して、ダイヤモン
ドの品質1合成速度ともに優れ、また、−酸化炭素ガス
の濃度を高めても。
形が三角波のマイクロ波を使用してダイヤモンドを合成
した場合は、連続波または、変調周波数が50H2であ
って波形が方形波もしくは三角波のマイクロ波を使用し
てダイヤモンドを合成した場合に比較して、ダイヤモン
ドの品質1合成速度ともに優れ、また、−酸化炭素ガス
の濃度を高めても。
良質のダイヤモンドを高速に合成することができた。
[9,明の効果]
この発明によると、
(1)基体上にダイヤモンド膜を高速に合成することが
できるとともに、 (2)原料ガス中の炭素源ガス濃度を、ダイヤモンド膜
の合成速度を高めるべく高濃度に設定しても、グラファ
イト等の不純物の析出が極めて少ない、良質のダイヤモ
ンド膜を合成することのできる等の利点を有するダイヤ
モンドの合成方法を提供することができる。
できるとともに、 (2)原料ガス中の炭素源ガス濃度を、ダイヤモンド膜
の合成速度を高めるべく高濃度に設定しても、グラファ
イト等の不純物の析出が極めて少ない、良質のダイヤモ
ンド膜を合成することのできる等の利点を有するダイヤ
モンドの合成方法を提供することができる。
第1図、第2図、第3図、第4図、第5図および第6図
は、マイクロ波の波形を示す概念図である。 tl −・・マイクロ波が出力している時間t2 ・
φ・マイクロ波の停止している時間第1 図 第5図 第6図 第2図
は、マイクロ波の波形を示す概念図である。 tl −・・マイクロ波が出力している時間t2 ・
φ・マイクロ波の停止している時間第1 図 第5図 第6図 第2図
Claims (1)
- (1)パルス励起時間t_1とパルス停止時間t_2と
の比(t_2/t_1)が0〜1,000になるように
パルス状に変調され、かつ周波数が150Hz〜13.
56MHzであるマイクロ波により、炭素源ガスを含有
する原料ガスを励起して得られるガスを基板に接触させ
ることを特徴とするダイヤモンドの合成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25439488A JPH02102197A (ja) | 1988-10-07 | 1988-10-07 | ダイヤモンドの合成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP25439488A JPH02102197A (ja) | 1988-10-07 | 1988-10-07 | ダイヤモンドの合成方法 |
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JPH02102197A true JPH02102197A (ja) | 1990-04-13 |
JPH0476346B2 JPH0476346B2 (ja) | 1992-12-03 |
Family
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04132683A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 薄膜の作成方法 |
US6110542A (en) * | 1990-09-25 | 2000-08-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for forming a film |
JP2008291327A (ja) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Toyota Motor Corp | アモルファスカーボン膜の製造方法および製造装置 |
-
1988
- 1988-10-07 JP JP25439488A patent/JPH02102197A/ja active Granted
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04132683A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 薄膜の作成方法 |
US6110542A (en) * | 1990-09-25 | 2000-08-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for forming a film |
US6660342B1 (en) | 1990-09-25 | 2003-12-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Pulsed electromagnetic energy method for forming a film |
US7125588B2 (en) | 1990-09-25 | 2006-10-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Pulsed plasma CVD method for forming a film |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPH0476346B2 (ja) | 1992-12-03 |
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