JPH0191977A - 溶接2次ケーブルの断線検出方法 - Google Patents
溶接2次ケーブルの断線検出方法Info
- Publication number
- JPH0191977A JPH0191977A JP62246920A JP24692087A JPH0191977A JP H0191977 A JPH0191977 A JP H0191977A JP 62246920 A JP62246920 A JP 62246920A JP 24692087 A JP24692087 A JP 24692087A JP H0191977 A JPH0191977 A JP H0191977A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cable
- welding
- disconnection
- magnetic field
- magnetic sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003466 welding Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 65
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 8
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 210000003254 palate Anatomy 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野J
本発明は、溶接ガンと変圧器とを接続する溶接2次ケー
ブルを構成する複数の内部導体の断線を検出する検出方
法に関する。
ブルを構成する複数の内部導体の断線を検出する検出方
法に関する。
「従来の技術」
本件出願人は既に溶接用2次クープルの断線検出方法と
して磁気センサの磁界強度信号を統計的手法により処理
して磁界強度のバラツキ量(標準偏差、分散等の統計量
)を求め、このバラツキ量と予め設定したしきい値との
比較により、溶接2次ケーブルを構成する内部導体の断
線を検出する方法を提案し、迅速かつ連続的な断線検出
を可能にして常時監視態勢を採り、突発的な作業中断を
未然に防止するとともに点検工数の削減を図った。
して磁気センサの磁界強度信号を統計的手法により処理
して磁界強度のバラツキ量(標準偏差、分散等の統計量
)を求め、このバラツキ量と予め設定したしきい値との
比較により、溶接2次ケーブルを構成する内部導体の断
線を検出する方法を提案し、迅速かつ連続的な断線検出
を可能にして常時監視態勢を採り、突発的な作業中断を
未然に防止するとともに点検工数の削減を図った。
「発明が解決しようとする問題点」
しかしながら、前記方法は溶接2次ケーブル外周上に配
設した複数の磁気センサの磁界強度信号を、統計的手法
により処理して求めた磁界強度のバラツキ量(標準偏差
、偏差平方和、分散、範囲等)を断線判定値とするもの
である。一方、前記ケーブル外周上の磁界の強さは、溶
接時の通電電流により変化する。このため通電電流の多
寡により前記断線判定値たる統計量も必然的に変化し、
ケーブルを構成する内部導体の断線率に変化がなくても
、予め設定したしきい値を越えたり越えなかったりして
、判定誤差を生じる危険性がある等の解決すべき問題点
があった。
設した複数の磁気センサの磁界強度信号を、統計的手法
により処理して求めた磁界強度のバラツキ量(標準偏差
、偏差平方和、分散、範囲等)を断線判定値とするもの
である。一方、前記ケーブル外周上の磁界の強さは、溶
接時の通電電流により変化する。このため通電電流の多
寡により前記断線判定値たる統計量も必然的に変化し、
ケーブルを構成する内部導体の断線率に変化がなくても
、予め設定したしきい値を越えたり越えなかったりして
、判定誤差を生じる危険性がある等の解決すべき問題点
があった。
「問題点を解決するための手段J
本発明は、前記問題点を解決し溶接2次ケーブルの内部
導体の断線による溶接品質の低下、及び突発的な作業中
断を未然に防止することを目的とするもので、第1の発
明の具体的構成は、溶接ガンと変圧器とを接続する複数
の正側内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断
面に対して交互にリング状に配列して構成した溶接2次
ケーブルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の
磁気センサを配置し、その各磁気センサから出力される
磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバ
ラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して
算出した特性値と予め設定したしきい値との比較により
、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線を
検出することを特徴とするものである。
導体の断線による溶接品質の低下、及び突発的な作業中
断を未然に防止することを目的とするもので、第1の発
明の具体的構成は、溶接ガンと変圧器とを接続する複数
の正側内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断
面に対して交互にリング状に配列して構成した溶接2次
ケーブルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の
磁気センサを配置し、その各磁気センサから出力される
磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバ
ラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して
算出した特性値と予め設定したしきい値との比較により
、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線を
検出することを特徴とするものである。
また、第2の発明の具体的槽或は、溶接ガンと変圧器と
を接続する複数の正側内部導体と、複数の負側内部導体
とをケーブル断面に対して交互にリング状に配列して構
成した溶接2次ケーブルの外周に、前記各内部導体に対
応させて複数の磁気センサを配置し、その各磁気センサ
から出力される磁界強度信号を統計的手法により処理し
て磁界強度のバラツキ量を求めるとともに、このバラツ
キ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しくはその
平均値で除して算出した特性値を毎回記憶し、過去N回
の特性値の平均値と予め設定したしきい値との比較によ
り、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線
を検出することを特徴とするものである。
を接続する複数の正側内部導体と、複数の負側内部導体
とをケーブル断面に対して交互にリング状に配列して構
成した溶接2次ケーブルの外周に、前記各内部導体に対
応させて複数の磁気センサを配置し、その各磁気センサ
から出力される磁界強度信号を統計的手法により処理し
て磁界強度のバラツキ量を求めるとともに、このバラツ
キ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しくはその
平均値で除して算出した特性値を毎回記憶し、過去N回
の特性値の平均値と予め設定したしきい値との比較によ
り、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線
を検出することを特徴とするものである。
「作用」
本発明方法は、前記具体的構成の説明により明らかにし
たように、内部導体に対応させて配置した磁気センサか
ら出力される磁界強度信号を統計的手法により処理して
磁界強度のバラツキIを定量的に求めるとともに、この
バラツキ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しく
はその平均値で除して算出した値をケーブルの断線検出
の特性値としてとらえることにより、通電電流変化によ
る影響を小さくして、溶接2次ケーブルを構成する内部
導体の断線の有無を、明確な有意差をもって確実に検出
する。
たように、内部導体に対応させて配置した磁気センサか
ら出力される磁界強度信号を統計的手法により処理して
磁界強度のバラツキIを定量的に求めるとともに、この
バラツキ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しく
はその平均値で除して算出した値をケーブルの断線検出
の特性値としてとらえることにより、通電電流変化によ
る影響を小さくして、溶接2次ケーブルを構成する内部
導体の断線の有無を、明確な有意差をもって確実に検出
する。
また、前記特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置によるバラツキを低減でき、より精度の高い断
線検出が可能である。
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置によるバラツキを低減でき、より精度の高い断
線検出が可能である。
「実施例」
本件発明方法及びその装置の一実施例を添付図面に基づ
いて説明する。 。
いて説明する。 。
第1図は、溶接2次ケーブル1(以下ケーブルという)
の断面構造の一例を示したもので、それぞれ電流方向が
相反する正側内部導体2a、2b。
の断面構造の一例を示したもので、それぞれ電流方向が
相反する正側内部導体2a、2b。
2Cと負側内部導体3a、3b、3cとを、交互にケー
ブル断面に対してリング状に平行に配置し、各内部導体
間を絶縁セパレータ4により分離区画するとともに、交
流インピーダンスを下げるため各内部導体にケーブル長
手方向の撚りをかけ、外装チューブ5に収める。このケ
ーブル1の使用時には、外装チューブ5内の空隙6に冷
却水を通して冷却する。
ブル断面に対してリング状に平行に配置し、各内部導体
間を絶縁セパレータ4により分離区画するとともに、交
流インピーダンスを下げるため各内部導体にケーブル長
手方向の撚りをかけ、外装チューブ5に収める。このケ
ーブル1の使用時には、外装チューブ5内の空隙6に冷
却水を通して冷却する。
第2図は、本発明方法の基礎となる前記ケーブル1の近
傍磁界の計測方法を示したもので、同図矢線に示すよう
に各内部導体に通電した場合に、ケーブル1の中心から
放射方向に発生する磁力線gで形成される磁界の強さを
、ガウスメータGにより計測する。
傍磁界の計測方法を示したもので、同図矢線に示すよう
に各内部導体に通電した場合に、ケーブル1の中心から
放射方向に発生する磁力線gで形成される磁界の強さを
、ガウスメータGにより計測する。
またこの計測方法によりケーブル1を構成する内部導体
の断線を検出することができる原理を簡単に説明する。
の断線を検出することができる原理を簡単に説明する。
平行に置かれた2本の導体に、それぞれ逆方向に電流を
流すと、各導体の周りには磁力線の方向が逆方向の磁界
が発生し、2本の導体の中間位置の磁界強度は両者を重
ね合わせた強度を示す、この中間位置に磁気センサを配
置すると2本の導体に流れる電気量の変化を、磁界強度
の変化として捉えることができる。さらにこれをケーブ
ル1を構成する3組の内部導体束に適用すると、3個の
磁気センサにより、各3組の導体束に流れる電流量の変
化を捉えることが可能となり、各内部導体を形成する細
銅線が徐々に破断して内部導体の抵抗が変化し電流の分
流比率が変化するから、これを磁界強度の変化として捉
え、内部導体の断線を検出することができる。
流すと、各導体の周りには磁力線の方向が逆方向の磁界
が発生し、2本の導体の中間位置の磁界強度は両者を重
ね合わせた強度を示す、この中間位置に磁気センサを配
置すると2本の導体に流れる電気量の変化を、磁界強度
の変化として捉えることができる。さらにこれをケーブ
ル1を構成する3組の内部導体束に適用すると、3個の
磁気センサにより、各3組の導体束に流れる電流量の変
化を捉えることが可能となり、各内部導体を形成する細
銅線が徐々に破断して内部導体の抵抗が変化し電流の分
流比率が変化するから、これを磁界強度の変化として捉
え、内部導体の断線を検出することができる。
第3図(イ)、(ロ)は、前記計測方法及び計測原理に
従い、ケーブルを構成する内部導体の断線モード及びそ
の近傍磁界の磁界強度の分布をケーブルの円周上に沿っ
て計測した結果を示す。
従い、ケーブルを構成する内部導体の断線モード及びそ
の近傍磁界の磁界強度の分布をケーブルの円周上に沿っ
て計測した結果を示す。
第3図(イ)において、縦軸に磁界強さを、横軸に内部
導体を配列順に並べて表す、横軸の導体に付した番号は
、同図(ロ)のAに示すよ゛うに第1図に示した各内部
導体について時計廻り凧に付した番号であり、B、C,
Dにおいて番号を付していないものは、断線した内部導
体を示す、第3図(イ)、(ロ)によれば、内部導体に
断線のない正常なケーブルでは、各内部導体の中間にお
いて、磁界の強さが等しくかつ最大となる周期的パター
ンを示し、内部導体に断線のあるケーブルでは、磁界の
強さが変化し周期的パターンを呈することもなく両者に
大きな相違がある。
導体を配列順に並べて表す、横軸の導体に付した番号は
、同図(ロ)のAに示すよ゛うに第1図に示した各内部
導体について時計廻り凧に付した番号であり、B、C,
Dにおいて番号を付していないものは、断線した内部導
体を示す、第3図(イ)、(ロ)によれば、内部導体に
断線のない正常なケーブルでは、各内部導体の中間にお
いて、磁界の強さが等しくかつ最大となる周期的パター
ンを示し、内部導体に断線のあるケーブルでは、磁界の
強さが変化し周期的パターンを呈することもなく両者に
大きな相違がある。
尚、ケーブルの断線パターンとして内部導体の全てが同
時に断線することはなく、1〜2本の内部導体が徐々に
断線していくのが普通である。従って、磁界強度の乱れ
を定量的に捉えることによりケーブルの内部導体の断線
を検出できる。
時に断線することはなく、1〜2本の内部導体が徐々に
断線していくのが普通である。従って、磁界強度の乱れ
を定量的に捉えることによりケーブルの内部導体の断線
を検出できる。
第4図(A)、(B)は、第1図に示すfli造のケー
ブル1に配置する磁気センサの配置位置を示したもので
、正側内部導体と負側内部導体例えば2aと3a、2b
と3b、2cと3Cの三組の内部導体の各ベアの中間に
磁気センサを配置するもので、同図(A)の場合はケー
ブル1の外装チューブ5の同一円周上に120°角間隔
に3個の磁気センサSa、Sb、Scを配置し、各内部
導体の通電時に発生する放射方向の最大磁束を捉えるよ
うにし、また同図(B)の場合は、ケーブル1を構成す
る各内部導体には前記のように長手方向に沿って撚りが
かけられているため、円周上の一点で長手方向の断面を
考えると、図に示す如く各内部導体が一列に並ぶことか
ら、3個の磁気センサSa、Sb。
ブル1に配置する磁気センサの配置位置を示したもので
、正側内部導体と負側内部導体例えば2aと3a、2b
と3b、2cと3Cの三組の内部導体の各ベアの中間に
磁気センサを配置するもので、同図(A)の場合はケー
ブル1の外装チューブ5の同一円周上に120°角間隔
に3個の磁気センサSa、Sb、Scを配置し、各内部
導体の通電時に発生する放射方向の最大磁束を捉えるよ
うにし、また同図(B)の場合は、ケーブル1を構成す
る各内部導体には前記のように長手方向に沿って撚りが
かけられているため、円周上の一点で長手方向の断面を
考えると、図に示す如く各内部導体が一列に並ぶことか
ら、3個の磁気センサSa、Sb。
Scを外装チューブ5の外側で長手方向の一直線上に配
置して、各内部導体の通電時に発生する垂直方向の最大
磁束を捉えるようにする。
置して、各内部導体の通電時に発生する垂直方向の最大
磁束を捉えるようにする。
尚、磁気センナとして、本実施例においてはホール素子
を用いているが、磁気抵抗素子、コイル等の磁電変換素
子を使用することもできる。
を用いているが、磁気抵抗素子、コイル等の磁電変換素
子を使用することもできる。
第5図は本発明方法を適用する装置のブロックダイヤグ
ラムを示す。
ラムを示す。
10は前置増幅器であって、ケーブル1に嵌めたセンサ
リング7内に前記第4[3(A)に示すように配置した
3個の磁気センサSa、Sb、’Scからの磁界強度信
号を、信号処理可能レベルまで増幅するもので、各磁気
センサに対応して3個の増幅器10a、10b、10c
を有する。11は特定の溶接電流サイクルの信号のみを
通過させるサンプルスイッチで3個のスイッチlla、
llb。
リング7内に前記第4[3(A)に示すように配置した
3個の磁気センサSa、Sb、’Scからの磁界強度信
号を、信号処理可能レベルまで増幅するもので、各磁気
センサに対応して3個の増幅器10a、10b、10c
を有する。11は特定の溶接電流サイクルの信号のみを
通過させるサンプルスイッチで3個のスイッチlla、
llb。
11cからなる。12はサンプルスイッチ11を通過し
た磁界強度信号の最大値を記憶するピークホールド回路
で3個の回路12a、12b、12Cからなる。13は
ピークホールド回路に記憶されたアナログ電圧をマイク
ロコンピュータ14の処理しやすいデジタル信号に変換
するA/D変換回路、14はA/D変換器13からのデ
ジタル信号を用いて、統計量(標準偏差、偏差平方和、
分散、範囲等)の演算や、その演算結果に基づきケーブ
ル1を構成する内部導体の断線の有無の判定を行うマイ
クロコンピュータであって、cpu。
た磁界強度信号の最大値を記憶するピークホールド回路
で3個の回路12a、12b、12Cからなる。13は
ピークホールド回路に記憶されたアナログ電圧をマイク
ロコンピュータ14の処理しやすいデジタル信号に変換
するA/D変換回路、14はA/D変換器13からのデ
ジタル信号を用いて、統計量(標準偏差、偏差平方和、
分散、範囲等)の演算や、その演算結果に基づきケーブ
ル1を構成する内部導体の断線の有無の判定を行うマイ
クロコンピュータであって、cpu。
RAM、ROM、アドレスデコーダ回路15及び入出力
インターフェイス16からなる。17はパルス化回路で
あって、溶接電流サイクルを積算する積算回路21を作
動させるための信号を前置増幅器10の増幅信号により
作るため、最大値セレクタ回路18、比較回路1つ及び
しきい値電圧設定回路20とからなる。また積算回路2
1は1位の積算回路21aと10位の積算回路21bと
からなる。22はサンプルサイクル数設定回路、23は
該回路22からの信号と1位の積算回路21aの信号と
から、設定したサイクル数に達したことを判別する比較
回路である。24はサンプルスイッチ駆動信号発生回路
で比較回路23の信号を受けて出力信号を発し、前記サ
ンプルスイッチ11を0N10FFさせて、特定の溶接
電流サイクルの1サイクル分の電流によって発生する磁
界強度を示す信号を通過せしめる。25は加圧バルブ信
号入力回路であって、溶接機からの溶接プロセスの始動
、完了の情報を加圧バルブ信号として入力し、溶接終了
信号発生回路26、リセット信号発生回路27に信号を
送る。溶接終了信号発生回路26は無通電判別を行う無
通電判別フリップフロップ回路2つにリセット信号を送
る。リセット信号発生回路27は溶接開始時に、ピーク
ボールド回路12、積算回路21等をリセットするリセ
ット信号を送る。28は判定開始判別フリップフロップ
回路であって、前記マイクロコンピュータ14に、演算
処理、断線判定処理を開始するタイミング情報を送る。
インターフェイス16からなる。17はパルス化回路で
あって、溶接電流サイクルを積算する積算回路21を作
動させるための信号を前置増幅器10の増幅信号により
作るため、最大値セレクタ回路18、比較回路1つ及び
しきい値電圧設定回路20とからなる。また積算回路2
1は1位の積算回路21aと10位の積算回路21bと
からなる。22はサンプルサイクル数設定回路、23は
該回路22からの信号と1位の積算回路21aの信号と
から、設定したサイクル数に達したことを判別する比較
回路である。24はサンプルスイッチ駆動信号発生回路
で比較回路23の信号を受けて出力信号を発し、前記サ
ンプルスイッチ11を0N10FFさせて、特定の溶接
電流サイクルの1サイクル分の電流によって発生する磁
界強度を示す信号を通過せしめる。25は加圧バルブ信
号入力回路であって、溶接機からの溶接プロセスの始動
、完了の情報を加圧バルブ信号として入力し、溶接終了
信号発生回路26、リセット信号発生回路27に信号を
送る。溶接終了信号発生回路26は無通電判別を行う無
通電判別フリップフロップ回路2つにリセット信号を送
る。リセット信号発生回路27は溶接開始時に、ピーク
ボールド回路12、積算回路21等をリセットするリセ
ット信号を送る。28は判定開始判別フリップフロップ
回路であって、前記マイクロコンピュータ14に、演算
処理、断線判定処理を開始するタイミング情報を送る。
その他30は断線判定結果を表示するランプ31.32
を点灯するランプ点灯回路、33は電源回路であって、
前記各回路に所定電圧を供給する。
を点灯するランプ点灯回路、33は電源回路であって、
前記各回路に所定電圧を供給する。
以下に本発明装置の作動を第5図のブロックダイヤグラ
ム及び第6図の本発明装置のタイミングチャートに従い
説明する。
ム及び第6図の本発明装置のタイミングチャートに従い
説明する。
溶接用自動機(ロボット、専用機等)や溶接作業者から
、溶接制御袋rI140に溶接指令信号が加えられると
、溶接動作が開始され第6図Aで示す加圧バルブ信号が
、溶接電極による被溶接部材圧接のためのシリンダを制
御する制御バルブに発せられる。また本発明装置の断線
検出装置(以下単に装置という)に加えられた前記加圧
バルブ信号は、加圧バルブ信号入力回路25でスクイズ
動作による誤動作を防止するため若干の遅延を加えた後
く第6図B)、リセット信号発生回路27によりリセッ
ト信号を発する(同図D)。このリセット信号は装置の
ピークホールド回路12.積算回路211判定開始判別
フリップフロップ回路28.ゲート制御フリップフロッ
プ回路34等に供給され、それらの回路の初期化を行う
。続いて初期加圧時間終了後通電時間に入ると、ケーブ
ル1には溶接電流が流れケーブル】の近傍に磁界が発生
し、これをセンサリング7に配πした磁気センサSa、
Sb。
、溶接制御袋rI140に溶接指令信号が加えられると
、溶接動作が開始され第6図Aで示す加圧バルブ信号が
、溶接電極による被溶接部材圧接のためのシリンダを制
御する制御バルブに発せられる。また本発明装置の断線
検出装置(以下単に装置という)に加えられた前記加圧
バルブ信号は、加圧バルブ信号入力回路25でスクイズ
動作による誤動作を防止するため若干の遅延を加えた後
く第6図B)、リセット信号発生回路27によりリセッ
ト信号を発する(同図D)。このリセット信号は装置の
ピークホールド回路12.積算回路211判定開始判別
フリップフロップ回路28.ゲート制御フリップフロッ
プ回路34等に供給され、それらの回路の初期化を行う
。続いて初期加圧時間終了後通電時間に入ると、ケーブ
ル1には溶接電流が流れケーブル】の近傍に磁界が発生
し、これをセンサリング7に配πした磁気センサSa、
Sb。
Scが検出して、センサ出力信号として第6図Fに示す
信号と同様の信号が前置増幅器10a。
信号と同様の信号が前置増幅器10a。
10b、iocに入力される。ケーブル1の断線モード
によっては、いずれかの磁気センサにおいて殆ど出力信
号が得られないこともあるので、前記3個の前置増幅器
10a、10b、10cの増幅信号のうち最大値を最大
値セレクタ回路18により選出し、その信号と予めしき
い値電圧設定回路20により設定したしきい値電圧とを
比較回路1つで比較して、センサ出力パルス信号とする
(第6図G)。このパルス信号は積算回路21で積算さ
れるとともに、サンプルサイクル数設定回路22で設定
されたサンプルサイクル数と比較回路23で比較し、一
致した場合にはサンプルスイッチ駆動信号発生回路24
へ一致イ2号を送る。
によっては、いずれかの磁気センサにおいて殆ど出力信
号が得られないこともあるので、前記3個の前置増幅器
10a、10b、10cの増幅信号のうち最大値を最大
値セレクタ回路18により選出し、その信号と予めしき
い値電圧設定回路20により設定したしきい値電圧とを
比較回路1つで比較して、センサ出力パルス信号とする
(第6図G)。このパルス信号は積算回路21で積算さ
れるとともに、サンプルサイクル数設定回路22で設定
されたサンプルサイクル数と比較回路23で比較し、一
致した場合にはサンプルスイッチ駆動信号発生回路24
へ一致イ2号を送る。
比較回路23において用いるサンプルサイクルは10進
1桁の数値のため積算回路には、11サイクル以上のパ
ルス信号が加わらないように、10位の積算回路21b
の最下位ビットが○Nになった時(10サイクル目のパ
ルスを数えた時)以降ゲート回路35を閉じる。
1桁の数値のため積算回路には、11サイクル以上のパ
ルス信号が加わらないように、10位の積算回路21b
の最下位ビットが○Nになった時(10サイクル目のパ
ルスを数えた時)以降ゲート回路35を閉じる。
前記一致信号を受けたサンプルスイッチ駆動信号発生回
路24は、溶接電源周波数に同期した1サイクル分の時
間幅を持つサンプルスイッチ駆動信号をサンプルスイッ
チ11に供給する(第6図H)、その信号を受けた各サ
ンプルスイッチ11a 、1 l b + 11 cは
前記1サイクル分の時間幅の間だけ閉じ前記前置増幅器
10の各増幅出力信号をピークホールド回路12の各回
路12a。
路24は、溶接電源周波数に同期した1サイクル分の時
間幅を持つサンプルスイッチ駆動信号をサンプルスイッ
チ11に供給する(第6図H)、その信号を受けた各サ
ンプルスイッチ11a 、1 l b + 11 cは
前記1サイクル分の時間幅の間だけ閉じ前記前置増幅器
10の各増幅出力信号をピークホールド回路12の各回
路12a。
12b、12cに送る。ピークホールド回路12は第6
図工に示すように、前記の時間幅内に受けた増幅出力信
号の最大値を、サンプルスイッチ11が作動しなくなっ
た後も保持する。
図工に示すように、前記の時間幅内に受けた増幅出力信
号の最大値を、サンプルスイッチ11が作動しなくなっ
た後も保持する。
前記サンプルスイッチ駆動信号は同時に、判定開始判別
フリップフロップ回路28をセットし、マイクロプロセ
ッサCPUに信号処理、判定処理の開始を知らせる(第
6図J)とともに、無通電判別79117071回路2
つをセットし、前記加圧バルブ信号入力中に、溶接電流
が通電されたことを記憶させる。前記判定開始を通知さ
れたマイクロプロセッサCPUは、アドレスデコーダ回
路15を介してアナログデジタル変換回路13含駆動し
、前記ピークボールド回路12に保持されたセンサ出力
電圧をデジタル値として取り込み、その各デジタル出力
信号X l + X 2+ X 2を次式(i。
フリップフロップ回路28をセットし、マイクロプロセ
ッサCPUに信号処理、判定処理の開始を知らせる(第
6図J)とともに、無通電判別79117071回路2
つをセットし、前記加圧バルブ信号入力中に、溶接電流
が通電されたことを記憶させる。前記判定開始を通知さ
れたマイクロプロセッサCPUは、アドレスデコーダ回
路15を介してアナログデジタル変換回路13含駆動し
、前記ピークボールド回路12に保持されたセンサ出力
電圧をデジタル値として取り込み、その各デジタル出力
信号X l + X 2+ X 2を次式(i。
ii、1ii)に基づき算術演算を行い標準偏差Sを算
出するとともに、断線検出のパラメータとしての特性値
としてその標準偏差Sを各出力信号X l +X 2
+ X :lの和で除して算出する。
出するとともに、断線検出のパラメータとしての特性値
としてその標準偏差Sを各出力信号X l +X 2
+ X :lの和で除して算出する。
平均値x−(x++x2+x、3)/3−(i>(口蓋
平方和 5=(x+−x)2+(x2−x)2+(xa
−x)2・−(ii)分 散 V=S/(3−1
) ・・・(iii )標準偏差 S=、
/V ・・・(iv)特性値Q= s/(
x+ + X2+ X)) ・・(v )式(ii )
、 (iii >、 (iv )には前記の関係がある
ため特性値の分子は標準偏差に限ることなく、分散、偏
差平方和であってもよい。
平方和 5=(x+−x)2+(x2−x)2+(xa
−x)2・−(ii)分 散 V=S/(3−1
) ・・・(iii )標準偏差 S=、
/V ・・・(iv)特性値Q= s/(
x+ + X2+ X)) ・・(v )式(ii )
、 (iii >、 (iv )には前記の関係がある
ため特性値の分子は標準偏差に限ることなく、分散、偏
差平方和であってもよい。
尚、ここで示す分散は正確には不偏分散といわれるもの
であるが、データ数3で除した分散、標準偏差でも同様
である。
であるが、データ数3で除した分散、標準偏差でも同様
である。
さらに統計学上データ中の最大値S waxと最小値S
minの差で決定される範囲Rと標準偏差Sとの間に
は、 s = R/ k ((Elしkはデータ数により規
定される定数)の関係があるため、範囲Rを前記特性値
の分子として用いてもよい。また特性値の分母は式(i
)の平均値を用いてもよい。
minの差で決定される範囲Rと標準偏差Sとの間に
は、 s = R/ k ((Elしkはデータ数により規
定される定数)の関係があるため、範囲Rを前記特性値
の分子として用いてもよい。また特性値の分母は式(i
)の平均値を用いてもよい。
上記により特性値を算出したマイクロブロセ・ンサCP
Uは、遂次内部メモリーにその特性値を記憶するととも
に、過去N回の特性値の平均値を算出して、この平均値
を予め定めた判定しきい値と比較し、上まわっていれば
ケーブル交換の警告(NG信号)を、ランプ駆動回路3
0によりNGランプ32を点灯して告知する。また下ま
わっていれば正常の表示(G OOD信号〉を同様にG
○○Dランプ31を点灯して告知する。
Uは、遂次内部メモリーにその特性値を記憶するととも
に、過去N回の特性値の平均値を算出して、この平均値
を予め定めた判定しきい値と比較し、上まわっていれば
ケーブル交換の警告(NG信号)を、ランプ駆動回路3
0によりNGランプ32を点灯して告知する。また下ま
わっていれば正常の表示(G OOD信号〉を同様にG
○○Dランプ31を点灯して告知する。
上記判定後マイクロプロセッサCPUは、判定終了信号
く第6図K)を無通電判別フリ・ノブフロ・ノブ回路2
つに送り該回路2つをリセ・ン卜するとともに、判定開
始判別フリップフロップ回路28へのセット信号が通過
するセット信号ゲート36を閉じる。
く第6図K)を無通電判別フリ・ノブフロ・ノブ回路2
つに送り該回路2つをリセ・ン卜するとともに、判定開
始判別フリップフロップ回路28へのセット信号が通過
するセット信号ゲート36を閉じる。
通電時間、保持時間が終了すると前記加圧バルブ信号の
オフエツジで、溶接終了信号発生回路26により溶接終
了信号が発生する。
オフエツジで、溶接終了信号発生回路26により溶接終
了信号が発生する。
正常に溶接電流が通電されていれば、前記の様に判定開
始判別フリップフロップ回路28へのセット信号ゲート
36が閉じられているので、マイクロプロセッサCPU
は起動せず、無通電判別フリップフロップ回路2つのリ
セットを行うのみである。
始判別フリップフロップ回路28へのセット信号ゲート
36が閉じられているので、マイクロプロセッサCPU
は起動せず、無通電判別フリップフロップ回路2つのリ
セットを行うのみである。
しかし、溶接電流が通電されなかった場合には、前記ゲ
ート36は開いており、第6図′J“に示すように判定
開始判別フリップフロップ回路28がセットされ、マイ
クロプロセッサCPUが信号処理を開始し、て、無通電
判別フリップフロップ回路がセットされていないことを
、入出力インターフェイス16の入力回路を介して読み
取る。その結果無通電判定を行いケーブル断線検出同様
NGランプ32にて警告する。
ート36は開いており、第6図′J“に示すように判定
開始判別フリップフロップ回路28がセットされ、マイ
クロプロセッサCPUが信号処理を開始し、て、無通電
判別フリップフロップ回路がセットされていないことを
、入出力インターフェイス16の入力回路を介して読み
取る。その結果無通電判定を行いケーブル断線検出同様
NGランプ32にて警告する。
本発明装置の作動は上記の通りであつζ、通電中に発生
するケーブル1を構成する各内部導体間の反発力で内部
導体が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、磁
気センサのセンサ出力信号に誤差を生じる場合であって
も、予め設定した溶接電流1サイクル分の電流によって
発生する磁界の強度信号を取り込むため、前記振動によ
って生じる誤差を除去できるばかりでなく、無通電判別
フリップフロップ回路2つを設け、その出力を入出力イ
ンターフェイス16の入力回路と接続し、マイクロプロ
セッサで読み取ることにより、溶接電流の無通電検出も
行うことができる。さらに溶接2次ケーブルの構造的特
徴により、磁気センサの取付けは、ケーブルの周りに等
角度間隔で配置する場合に限定されることなく、ケーブ
ルの長手方向に直線状に配置することもできる。
するケーブル1を構成する各内部導体間の反発力で内部
導体が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、磁
気センサのセンサ出力信号に誤差を生じる場合であって
も、予め設定した溶接電流1サイクル分の電流によって
発生する磁界の強度信号を取り込むため、前記振動によ
って生じる誤差を除去できるばかりでなく、無通電判別
フリップフロップ回路2つを設け、その出力を入出力イ
ンターフェイス16の入力回路と接続し、マイクロプロ
セッサで読み取ることにより、溶接電流の無通電検出も
行うことができる。さらに溶接2次ケーブルの構造的特
徴により、磁気センサの取付けは、ケーブルの周りに等
角度間隔で配置する場合に限定されることなく、ケーブ
ルの長手方向に直線状に配置することもできる。
第7図(1)は、3個の磁気センサSa、Sb。
Scの出力をデジタル化した各デジタル出力信号X 1
、 X 2. X 3の和X、と通電電流の関係を示
したもので、両者が略比例関係を呈していることが分か
る。
、 X 2. X 3の和X、と通電電流の関係を示
したもので、両者が略比例関係を呈していることが分か
る。
また第7図(■)は、前記各デジタル出力信号Xl、
X2. X3の標準偏差Sと通電電流の関係を示したも
ので、両者が略比例関係を呈していることが分かる。こ
の結果は、標準偏差SをX、で除することで、各通電電
流値に対応して磁気センサから出力される磁界強度信号
をもとに算出した標準偏差を平均化して誤差をなくすこ
とができる可能性を示す、第7図(III)は、s /
X @と通電電流との関係を示したもので、各通電電
流値に対して、s / X *が略一定であることが分
かる。
X2. X3の標準偏差Sと通電電流の関係を示したも
ので、両者が略比例関係を呈していることが分かる。こ
の結果は、標準偏差SをX、で除することで、各通電電
流値に対応して磁気センサから出力される磁界強度信号
をもとに算出した標準偏差を平均化して誤差をなくすこ
とができる可能性を示す、第7図(III)は、s /
X @と通電電流との関係を示したもので、各通電電
流値に対して、s / X *が略一定であることが分
かる。
第8図(1)iII)は、各々正規化した標準偏差S及
び特性値s / x 、と通電電流の関係を示したもの
で、両者の比較の為、S及びs / X #の平均値s
、s/xsを100として正規化して表す。
び特性値s / x 、と通電電流の関係を示したもの
で、両者の比較の為、S及びs / X #の平均値s
、s/xsを100として正規化して表す。
これらの結果により、各通電電流値によるSとs /
X @の値の変化がs / x mはSに比較して約1
/8程度であって、通電電流の変化の影響を非常に小さ
くすることができる。
X @の値の変化がs / x mはSに比較して約1
/8程度であって、通電電流の変化の影響を非常に小さ
くすることができる。
また、第9図(0,(II)は、前記S及びs / x
。
。
と断線率との関係を示したもので、同図([)により明
らかなように、通電電流値によって標準偏差Sと断線率
との関係が明確に異なり判定しきい値を越える断線率の
範囲、即ち、通電電流による判定誤差を生ずる範囲が広
く、s / x *の場合は、同図(II)に示すよう
にs / x sの値が通電電流値によって影響される
ことなく、従って判定誤差を生じる範囲が殆どない。
らかなように、通電電流値によって標準偏差Sと断線率
との関係が明確に異なり判定しきい値を越える断線率の
範囲、即ち、通電電流による判定誤差を生ずる範囲が広
く、s / x *の場合は、同図(II)に示すよう
にs / x sの値が通電電流値によって影響される
ことなく、従って判定誤差を生じる範囲が殆どない。
以上により、磁気センサSa、Sb、Scのセンサ出力
の標準偏差Sをセンサ出力信号xi、 x2゜X、の和
x1で除して算出した値を、ケーブルの断線検出の特性
値としてとらえることにより、通電電流による影響を殆
ど無くすることができ、溶接通電電流変化の大きい溶接
工程においても精度よくケーブルを構成する内部導体の
断線を検出することができる。
の標準偏差Sをセンサ出力信号xi、 x2゜X、の和
x1で除して算出した値を、ケーブルの断線検出の特性
値としてとらえることにより、通電電流による影響を殆
ど無くすることができ、溶接通電電流変化の大きい溶接
工程においても精度よくケーブルを構成する内部導体の
断線を検出することができる。
第10図は、1台の溶接スポットガンの車両1台分のス
ポット溶接位置と断線検出の特性値S/X、の実測値例
である。同図に示すように、前記特性値はスポット溶接
位置によって、かなり大きなバラツキを持つが、車両1
台当たりの溶接態様(ケーブルの捩れ、曲がり等)が変
化しなければ、高い再現性を有することが分かる。前記
特性値のバラツキの原因は、スポット位置によりケーブ
ル1が捩れ、内部導体とそれを覆う外装チューブ5の外
周上に固定した磁気センサの位置関係がずれるためであ
ると考えられる。このように特性値がバラツクことから
、1回の溶接工程により採取され算出される特性値から
、直ちにケーブルの断線を判定することは、誤判定の危
険性が高い。
ポット溶接位置と断線検出の特性値S/X、の実測値例
である。同図に示すように、前記特性値はスポット溶接
位置によって、かなり大きなバラツキを持つが、車両1
台当たりの溶接態様(ケーブルの捩れ、曲がり等)が変
化しなければ、高い再現性を有することが分かる。前記
特性値のバラツキの原因は、スポット位置によりケーブ
ル1が捩れ、内部導体とそれを覆う外装チューブ5の外
周上に固定した磁気センサの位置関係がずれるためであ
ると考えられる。このように特性値がバラツクことから
、1回の溶接工程により採取され算出される特性値から
、直ちにケーブルの断線を判定することは、誤判定の危
険性が高い。
このためマイ゛クロコンピユータ14のCPLIの内部
処理により、そのメモリー内に過去N回の特性値を記憶
し、常時過去N回まで遡って得られる特性値の平均を算
出して特性値のバラツキを低減し、この平均値と予め設
定したしきい値との比較により断線を判定する。
処理により、そのメモリー内に過去N回の特性値を記憶
し、常時過去N回まで遡って得られる特性値の平均を算
出して特性値のバラツキを低減し、この平均値と予め設
定したしきい値との比較により断線を判定する。
第1112Iは、前記した過去N回の特性値の平均値の
求め方を表した説明図であってN=8の場合を示す、同
図(A>はスポット溶接時にケーブル1に通電される溶
接電流を示し、これを磁気センサSa、Sb、Scによ
り検出して処理したデジタル出力信号(x 、 ++1
+l、X2,1+41、X=、。。I)、 (x+。
求め方を表した説明図であってN=8の場合を示す、同
図(A>はスポット溶接時にケーブル1に通電される溶
接電流を示し、これを磁気センサSa、Sb、Scによ
り検出して処理したデジタル出力信号(x 、 ++1
+l、X2,1+41、X=、。。I)、 (x+。
+1+2b X2++1+2、X 3+l+”2)”
’(X 1 It1+1. X 2+l+”l、Xz
、a+L)から、前記式(i )、 (ii>、 (i
ii)、 (iv)。
’(X 1 It1+1. X 2+l+”l、Xz
、a+L)から、前記式(i )、 (ii>、 (i
ii)、 (iv)。
(v)から特性値s / x sをQ Th’l+ Q
n+2+”’Q1+1として求め、さらに過去8回の特
性値の平均値を以下の通り順次求める。
n+2+”’Q1+1として求め、さらに過去8回の特
性値の平均値を以下の通り順次求める。
平均値 Z1□= ΣQ −1/ 8Zn+9”
ΣQ、1.I/8 Z fi41゜= ΣQ、、。7.L/8Z、っ= Σ
Q 11−−− m 4L / 8ここでNの適切な決
定方法は以下の二通りが考えられ、−の方法は固定値と
して予めマイクロコンピュータ内部にセットしておき(
但しN≧2)、他の方法は車両1台に対してスポット溶
接機が打つ打点数をNとし、外部スイッチによりセット
するものであり、前者によれば、CPUの内部処理によ
、り行うことができ、後者によれば車両1台毎に前記し
た特性値のバラツキが周期性をもつため、バラツキの影
響を無くすることができる。
ΣQ、1.I/8 Z fi41゜= ΣQ、、。7.L/8Z、っ= Σ
Q 11−−− m 4L / 8ここでNの適切な決
定方法は以下の二通りが考えられ、−の方法は固定値と
して予めマイクロコンピュータ内部にセットしておき(
但しN≧2)、他の方法は車両1台に対してスポット溶
接機が打つ打点数をNとし、外部スイッチによりセット
するものであり、前者によれば、CPUの内部処理によ
、り行うことができ、後者によれば車両1台毎に前記し
た特性値のバラツキが周期性をもつため、バラツキの影
響を無くすることができる。
本実施例は、可搬式のスポット溶接機や自動スポット溶
接機に適用する場合であって、各磁気センサから出力さ
れる磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度
のバラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均直で除して
算出した特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平均
値と予め設定したしきい値との比較により、溶接2次ケ
ーブルの断線を検出するようにしたが、溶接位置く姿勢
)の変化しない定置式のスポット溶接機にあっては、必
ずしも前記過去N回の特性値の平均値を用いる必要はな
く、この場合には前記特性値と予め設定したしきい値と
の比較により、断線を検出するようにすれば良い。
接機に適用する場合であって、各磁気センサから出力さ
れる磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度
のバラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均直で除して
算出した特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平均
値と予め設定したしきい値との比較により、溶接2次ケ
ーブルの断線を検出するようにしたが、溶接位置く姿勢
)の変化しない定置式のスポット溶接機にあっては、必
ずしも前記過去N回の特性値の平均値を用いる必要はな
く、この場合には前記特性値と予め設定したしきい値と
の比較により、断線を検出するようにすれば良い。
もちろん、可搬式のスポット溶接機や自動スポット、溶
接機であっても、溶接位置く姿勢)の変化が少ない場合
には、前記定置式のスポット溶接機の場合と同様の方法
を採用し得る。
接機であっても、溶接位置く姿勢)の変化が少ない場合
には、前記定置式のスポット溶接機の場合と同様の方法
を採用し得る。
「効果」
本発明方法は、前記した具体的構成及び作用の説明で明
らかにしたように、各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気センサから出力される磁界
強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツ
キ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数の磁
気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して算出
した特性値と予め設定したしきい値との比較により、前
記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線を検出
するもので、前記特性値が溶接通電電流の変化の影響を
殆ど受けることが無いから、溶接通電電流変化の大きい
溶接工程においても、確実かつ高精度で内部導体の断線
検出を行うことができるばかりでなく、常時監視態勢を
採って、断線による溶接品質の低下を招いたり、突発的
な作業中断を未然に防止し、さらに点検工数をも削減で
きる。
らかにしたように、各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気センサから出力される磁界
強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツ
キ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数の磁
気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して算出
した特性値と予め設定したしきい値との比較により、前
記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線を検出
するもので、前記特性値が溶接通電電流の変化の影響を
殆ど受けることが無いから、溶接通電電流変化の大きい
溶接工程においても、確実かつ高精度で内部導体の断線
検出を行うことができるばかりでなく、常時監視態勢を
採って、断線による溶接品質の低下を招いたり、突発的
な作業中断を未然に防止し、さらに点検工数をも削減で
きる。
また、前記特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置によるバラツキを低減することができ、より一
層精度の高い断線検出が可能である。
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置によるバラツキを低減することができ、より一
層精度の高い断線検出が可能である。
添付図面第1図は溶接2次ケーブル1の断面構造図、第
2区は溶接2次ケーブル1の近傍磁界の計測方法を示す
斜視図、第3図(イ)、(ロ)は溶接2次ケーブル1の
断線モード及びその近傍磁界の計測結果を示した図、第
4図(A)、(B)は磁気センサの配置を示した断面図
であって、同図(A)は円周配置を同図(B)はケーブ
ルの艮手方向配霞を示す、第5図は本発明装置のブロッ
クダイヤグラム、第6図は本発明装置作動タイミングチ
ャート、第7図(1)は各デジタル出力信号の和X、と
通電電流の関係を示し、第7図(It)は標準偏差Sと
通電電流との関係を示し、第7図(III)は特性値S
/X、と通電電流との関係を示した図、第8図(+)は
正規化した標準1口差Sと通電電流との関係を示し、第
8図(It)は正規化した特性値s / x sと通電
電流との関係を示した図、第9図(1)は標準偏差Sと
断線率との関係を示し、第9図(II)は特性値s /
x *と断線率との関係を示した図、第10図はスポ
ット溶接位置と特性値s / x 、の実測値の関係を
示した図、第11図は平均値の求め方を表した説明図で
ある。 11.、溶接2次ケーブル、 2a〜2c、3a〜3c
、、、内部導体、 Sa、Sb、Sc、、、磁気センサ
、 741.センサリング、 10 、、、前置増幅
器、 11 、、、サンプルスイッチ、 12.、
、ピークホールド回路、 135.アナログデジタル回
路、 14 、、、マイクロコンピュータ、 17
.。 、パルス化回路、 21=−、積算回路、 CPLl、
、。 マイクロプロセッサ、 30 、、、ランプ駆動回路。 第1図 第2図 ニ 第4図 (B) (I) 誦 電 電 流 8図 (II) 誦電@洗 第 (工 ) 一一 を流による寥り定韻左 (In) 電流による?J定胡左
2区は溶接2次ケーブル1の近傍磁界の計測方法を示す
斜視図、第3図(イ)、(ロ)は溶接2次ケーブル1の
断線モード及びその近傍磁界の計測結果を示した図、第
4図(A)、(B)は磁気センサの配置を示した断面図
であって、同図(A)は円周配置を同図(B)はケーブ
ルの艮手方向配霞を示す、第5図は本発明装置のブロッ
クダイヤグラム、第6図は本発明装置作動タイミングチ
ャート、第7図(1)は各デジタル出力信号の和X、と
通電電流の関係を示し、第7図(It)は標準偏差Sと
通電電流との関係を示し、第7図(III)は特性値S
/X、と通電電流との関係を示した図、第8図(+)は
正規化した標準1口差Sと通電電流との関係を示し、第
8図(It)は正規化した特性値s / x sと通電
電流との関係を示した図、第9図(1)は標準偏差Sと
断線率との関係を示し、第9図(II)は特性値s /
x *と断線率との関係を示した図、第10図はスポ
ット溶接位置と特性値s / x 、の実測値の関係を
示した図、第11図は平均値の求め方を表した説明図で
ある。 11.、溶接2次ケーブル、 2a〜2c、3a〜3c
、、、内部導体、 Sa、Sb、Sc、、、磁気センサ
、 741.センサリング、 10 、、、前置増幅
器、 11 、、、サンプルスイッチ、 12.、
、ピークホールド回路、 135.アナログデジタル回
路、 14 、、、マイクロコンピュータ、 17
.。 、パルス化回路、 21=−、積算回路、 CPLl、
、。 マイクロプロセッサ、 30 、、、ランプ駆動回路。 第1図 第2図 ニ 第4図 (B) (I) 誦 電 電 流 8図 (II) 誦電@洗 第 (工 ) 一一 を流による寥り定韻左 (In) 電流による?J定胡左
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 溶接ガンと変圧器とを接続する複数の正側内部導体
と、複数の負側内部導体とをケーブル断面に対して交互
にリング状に配列して構成した溶接2次ケーブルの外周
に、前記各内部導体に対応させて複数の磁気センサを配
置し、その各磁気センサから出力される磁界強度信号を
統計的手法により処理して磁界強度のバラツキ量を求め
るとともに、このバラツキ量を前記複数の磁気センサ出
力の総和、若しくはその平均値で除して算出した特性値
と予め設定したしきい値との比較により、前記溶接2次
ケーブルを構成する各内部導体の断線を検出することを
特徴とする溶接2次ケーブルの断線検出方法。 2 溶接ガンと変圧器とを接続する複数の正側内部導体
と、複数の負側内部導体とをケーブル断面に対して交互
にリング状に配列して構成した溶接2次ケーブルの外周
に、前記各内部導体に対応させて複数の磁気センサを配
置し、その各磁気センサから出力される磁界強度信号を
統計的手法により処理して磁界強度のバラツキ量を求め
るとともに、このバラツキ量を前記複数の磁気センサ出
力の総和、若しくはその平均値で除して算出した特性値
を毎回記憶し、過去N回の特性値の平均値と予め設定し
たしきい値との比較により、前記溶接2次ケーブルを構
成する各内部導体の断線を検出することを特徴とする溶
接2次ケーブルの断線検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62246920A JPH0615112B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62246920A JPH0615112B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0191977A true JPH0191977A (ja) | 1989-04-11 |
JPH0615112B2 JPH0615112B2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=17155721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62246920A Expired - Lifetime JPH0615112B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0615112B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007121099A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Nissan Motor Co Ltd | 撚合導体の素線断線率の判定方法および判定装置 |
JP2007178154A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
JP2010103071A (ja) * | 2008-09-26 | 2010-05-06 | Denso Corp | 電流測定装置 |
-
1987
- 1987-09-30 JP JP62246920A patent/JPH0615112B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007121099A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Nissan Motor Co Ltd | 撚合導体の素線断線率の判定方法および判定装置 |
JP2007178154A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
JP2010103071A (ja) * | 2008-09-26 | 2010-05-06 | Denso Corp | 電流測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0615112B2 (ja) | 1994-03-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8927902B2 (en) | Systems and methods for diagnosing secondary weld errors | |
EP0581315B1 (en) | Resistance welding monitor | |
KR900007992B1 (ko) | 용접전류 측정장치 | |
JP2018054428A (ja) | 微粒子測定装置および微粒子測定システム | |
JP6481430B2 (ja) | 電磁流量計 | |
JPH0191977A (ja) | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 | |
EP2948752B1 (en) | Methods of and apparatus for measuring metal cleanliness | |
KR20180123324A (ko) | 용접 감시 장치용 전류 센싱 장치 | |
JP5060545B2 (ja) | 媒体の体積流量もしくは質量流量を測定するための磁気誘導装置 | |
JPH05288706A (ja) | 金属部材の欠陥監視システム | |
JP2004512519A (ja) | 電磁気センサを用いてシステム及びプロセスを監視する方法及び装置 | |
JP4744025B2 (ja) | ガスセンサの接続状態判定方法及び定電位電解式ガス測定器 | |
JPH0191976A (ja) | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 | |
JP4493010B2 (ja) | 流量・残留塩素濃度計測器及び水道水の流量・残留塩素濃度計測方法 | |
JP4164754B2 (ja) | 抵抗溶接のスパッタ検出方法及び装置 | |
JP7185382B2 (ja) | インダイレクトスポット溶接装置のケーブルの検査方法 | |
JP2001349923A (ja) | 絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置 | |
KR102155573B1 (ko) | 용접 전압 검출 장치 | |
KR101198422B1 (ko) | 용접 전류 측정용 센서 시스템 | |
JPS6159836B2 (ja) | ||
JP2507141Y2 (ja) | 抵抗溶接機の二次回路部分の電圧測定装置 | |
JP2006122950A (ja) | スポット溶接監視装置 | |
JP6542094B2 (ja) | 接触判定装置および測定装置 | |
JPS63185520A (ja) | 放電加工制御装置 | |
JPS61283469A (ja) | 定置式スポツト溶接機の下部電極消耗状態判別装置 |