JPH0159564B2 - - Google Patents

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JPH0159564B2
JPH0159564B2 JP17430883A JP17430883A JPH0159564B2 JP H0159564 B2 JPH0159564 B2 JP H0159564B2 JP 17430883 A JP17430883 A JP 17430883A JP 17430883 A JP17430883 A JP 17430883A JP H0159564 B2 JPH0159564 B2 JP H0159564B2
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JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
revolution
light
mirror
microscope
Prior art date
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Expired
Application number
JP17430883A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6067916A (ja
Inventor
Hitoshi Kubota
Minoru Tanaka
Susumu Aiuchi
Yasuhiko Hara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP17430883A priority Critical patent/JPS6067916A/ja
Publication of JPS6067916A publication Critical patent/JPS6067916A/ja
Publication of JPH0159564B2 publication Critical patent/JPH0159564B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/10Condensers affording dark-field illumination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は暗視野照明用の光源を備えた顕微鏡装
置に係り、特に、明るい暗視野照明をすることが
できるように改良した顕微鏡装置に関するもので
ある。
〔発明の背景〕
金属材料や半導体製品などの検鏡においては、
被検物が一般に不透明であるため透過光による観
察が困難で、対物レンズの光軸に沿つて被検物の
表面を垂直に照射する落射照明と、対物レンズの
側方から被検物表面を斜に照射する暗視野照明と
が多く用いられる。
上記2種類の照明は、観察すべき対象物の種類
や性状に応じて適宜に選択まれ、若しくは併用さ
れている。第1図は従来の顕微鏡装置の照明部分
の機能原理図である。光源1から出た光はレンズ
2により平行光になる。この光束はハーフミラー
3より90゜に曲げられて、その光軸中心近傍の光
4は対物レンズ5内を通過して被観察物6を落射
照明する。一方、光軸の外縁部の光7は対物レン
ズ5の外側を通り、更に反射鏡8で反射され、対
物レンズ5の視野内を斜方向から暗視野照明す
る。被観察物6からの反射光9は対物レンズ5に
より拡大され、ハーフミラー3を透過してレンズ
10により光電変換器11上に結像する。この像
信号はテレビモニター等により観察することもで
きるし、あるいは、近年、この像信号を2値化等
の処理をした後、計算機を利用して種々の判定、
検査に利用する提案がなされている。特に後者の
例では、最近高速でしかもより微細なサブミクロ
ン領域の検査への適用が検討されている。このた
めには、被観察物6上を従来に増して明るく照明
することが必須となるが、一般に暗視野照明は斜
方からの照明であり能率が悪く、十分な明るさが
得られなかつた。図1に示す従来の構成の顕微鏡
では、特に暗視野照明に対してはハーフミラー3
による照度の損失などが避けられず、充分な明る
さを得ることが出来なかつた。更に、もう1つの
大きな問題は、対物レンズ5が照射光の曝されて
いるため、対物レンズ鏡筒、対物レンズ支持部分
の温度が上がり、これらが熱変形して観察もしく
は検査している部分がずれてしまつたり、あるい
は倍率がかわつてしまつたりするといつた現象が
起こり、正しい検査ができないという問題があつ
た。
〔発明の目的〕
本発明は上述の事情に鑑みて為され、明るい暗
視野照明を行い得る顕微鏡装置を提供することを
目的とする。
〔発明の概要〕
上記の目的を達成するため、本発明は落射形の
照明装置を備えた顕微鏡装置において、対物レン
ズの光軸の延長線上に設置した暗視野照明用光源
と、上記の光源に焦点を合わせて設置した第1の
回転放物面鏡と、上記第1の回転放物面鏡に対向
せしめて前記対物レンズの視野付近に焦点を合わ
せて設置した第2の回転放物面鏡とを有すること
を特徴とする。本発明において落射形の照明装置
とは、明視野、暗視野の何れかに限ることなく、
試料の上方から光を当ててその反射光を観察する
方式の照明装置を言うものとする。
〔発明の実施例〕
次に、本発明の1実施例を第2図乃至第4図に
ついて説明する。第2図は本発明の顕微鏡装置の
対物レンズ及び照明装置を描いた垂直断面図であ
る。第3図は第2図のA−A断面図、第4図は同
じくB−B断面図である。
第2図に示すように、対物レンズ16の光軸の
延長線上に光源ランプ12を設ける。13はラン
プステイである。上記の光源ランプ12に焦点位
置を合わせて第1の回転放物面鏡14を設置す
る。
上記第1の回転放物面鏡14に対向せしめて第
2の回転放物面鏡15を設置し、その焦点位置を
対物レンズ16の視野付近に位置せしめる。
前記第1、第2の回転放物面鏡14,15は、
本実施例に示したようにリング状に形成すると好
都合である。これにより、光源ランプ12から出
た光は第1の回転放物面鏡14に反射されて円筒
状の平行光束となり、更に第2の回転放物面鏡1
5に反射されて対物レンズ16の視野付近を斜方
向に照射する。
18は対物レンズ16の支持部材で、前記第2
の回転放物面鏡15も支承している。この支持部
材に反射鏡20を取りつけ、対物レンズ16の光
軸を直角に曲げる。上記の支持部材18の側壁に
孔18bを設け、反射鏡20によつて曲げられた
光軸を遮らないようにする。この孔18bは対物
レンズ16による検出光像を導き出す役目を果た
すと共に、後述の如く落射照明光19を対物レン
ズ16に導入する役目を果たす。
前記の支持部材18には冷却水循環流路18a
を設けてある。本発明を実施する場合、この流路
18aに流通させる冷却時は任意に選定して使用
できる。21は照明用の光源ランプ12及び第1
の回転放物面鏡14を支承している部材で、赤外
領域(一般に600nm〜800nm以上の波長)を反
射するヒートカツトフイルタ22、及び遮光板2
3を取り付けてある。この遮光板23には第4図
について後述する孔28aを設けてある。
24はハーフミラーにして、明視野照明ランプ
25およびレンズ26により作られた光束19を
対物レンズ16側に透過させると同時に、対物レ
ンズ16、反射鏡20からの被観察物の反射光を
結像レンズ27側に反射させる役目をもつてい
る。結像レンズ27の像は、光電変換器28に作
られ、この信号はテレビモニタ、あるいは計算機
等に伝達され(共に図示せず)必要とされる処理
を行う。次に、遮光板23と支持部材18の形状
について、第2図のA−A断面を描いた第3図
と、同じくB−B断面を描いた第4図について詳
述する。第3図に示したように、支持部材18の
3ケの孔18eを設け、放射状の3本の支持腕1
8dを形成する。18cは反射鏡20及び対物レ
ンズ16の支持部である。上記3ケの孔18e
は、第1の回転放物面鏡14で反射された円筒状
の平行光束の大部分を通過せしめ得る形状に設定
する。
遮光板23は、第4図に示すように、第1の回
転放物面鏡14からみた投影形状が支持部材18
と全く同じ形状となるように作られている。従つ
て3ケの孔23aは円筒状反射光束が通過し得る
孔である。本実施例は以上のようにして、支持部
材18、特にその支持腕18dが反射光の直射を
受けないように遮光板23を設けてある。
以上のように構成した本実施例の光路について
説明する。光源ランプ12としては、水銀ランプ
100Wを使用し、その輝点から出た光は第第1の
回転放物面14によつて円筒状平行光束となる。
この円筒状の平行光束は、ヒートカツトフイルタ
22により、赤外領域の波長を反射され、赤外成
分をもたない波長のみが遮光板23側に透過す
る。遮光板23では、孔23a部分のみが通過す
る。このため、上方向から見て支持部材18の3
ケ所の支持腕18d、支持部18c、反射鏡20
の部分は影となり、光は一切当らず、3ケ所の孔
18eの部分のみが光を通過させ、第2の回転放
物面鏡15に到達する。第2の回転放物面鏡15
は、この光束を被観察物17上に集光させる。一
方、被観察物17からの反射光は、対物レンズ1
6により拡大され、反射鏡20により直角に曲げ
られ、更に孔18b、孔21aを通過し、ハーフ
ミラー24により上方向に直角に曲げられた後結
像する。この像を更に結像レンズ27により拡大
し、光電変換器28上に結像させる。
この暗視野照明の他に落射照明を併用する場合
は、明視野照射ランプ25を使用し、レンズ26
により平行光として、ハーフミラー24を通過さ
せ、反射鏡20により対物レンズ16内に導いて
被観察物17上を照明すればよい。もちろん落射
照明、暗視野照明を各々単独で使用することも可
能である。更に、これらの照明時に支持部材18
に設けた流路18a内に冷却流体を循環させるこ
とにより、支持部材18を定温化することもでき
る。
本実施例において、光源ランプ12を出た光は
第1、第2の回転放物面鏡14,15に反射され
て対物レンズ16の視野内に達し、この途中でハ
ーフミラーを通過しないので光の損失が少なく、
従つて明るい暗視野照明が得られる。その上、第
1の回転放物面鏡14で反射された光は円筒状の
平行光束となつて対物レンズ16の周囲を通過す
るので、光源ランプ12の光度を高くしても対物
レンズ16を過熱させる虞れが無いので、より明
るい暗視野照明を得易い。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明によれば明るい暗
視野照明を行うことができ、顕微鏡に計算機を併
用して行う判定、検査の高速化及び倍率向上に貢
献するところ多大である。更に本発明によれば、
位置ずれや倍率が変化するのを防止することがで
きる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の顕微鏡装置の機能原理図、第
2図は、本発明の主要部の断面図、第3図、第4
図は、第2図の各々A−A断面、B−B断面図で
ある。 1……光源、2……レンズ、3……ハーフミラ
ー、5……対物レンズ、8……反射鏡、10……
レンズ、11……光電変換器、12……光源、1
4……第1の回転放物面鏡、15……第2の回転
放物面鏡、16……対物レンズ、18……支持部
材、21……照明光源支持部材、22……ヒート
カツトフイルタ、23……遮光板、24……ハー
フミラー、27……結像レンズ、28……光電変
換器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 落射形の照明装置を備えた顕微鏡装置におい
    て、対物レンズの光軸の延長線上に設置した暗視
    野照明用光源と、上記の光源に焦点を合わせて設
    置した第1の回転放物面鏡と、上記第1の回転放
    物面鏡に対向せしめかつ前記対物レンズの視野付
    近に焦点を合わせて設置した第2の回転放物面鏡
    とを有することを特徴とする顕微鏡装置。 2 前記第1の回転放物面鏡による反射光の通過
    部を設けた支持部材により前記の対物レンズを支
    承し、かつ、前記の支持部材は前記反射光の直射
    を防ぐための遮光部材を備えたものであることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の顕微鏡
    装置。 3 前記の対物レンズと第1の回転放物面鏡との
    間に、該対物レンズの光軸を直角に曲げるように
    反射鏡を設け、対物レンズに対する落射照明用光
    束の投射、並びに、該対物レンズによる検出像の
    導出を可能ならしめたことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項に記載の顕微鏡装置。 4 前記の対物レンズを支持する部材に冷却用流
    体を流通せしめるための流路を設けたことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項に記載の顕微鏡装
    置。 5 前記の対物レンズと第1の回転放物面鏡との
    間にヒートカツトフイルタを設けたことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項に記載の顕微鏡装置。
JP17430883A 1983-09-22 1983-09-22 顕微鏡装置 Granted JPS6067916A (ja)

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JP17430883A JPS6067916A (ja) 1983-09-22 1983-09-22 顕微鏡装置

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JP17430883A JPS6067916A (ja) 1983-09-22 1983-09-22 顕微鏡装置

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JPS6067916A JPS6067916A (ja) 1985-04-18
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004034958A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-09 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und/oder Detektion in einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung

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JPS6067916A (ja) 1985-04-18

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