JPH0158598B2 - - Google Patents
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- JPH0158598B2 JPH0158598B2 JP56089000A JP8900081A JPH0158598B2 JP H0158598 B2 JPH0158598 B2 JP H0158598B2 JP 56089000 A JP56089000 A JP 56089000A JP 8900081 A JP8900081 A JP 8900081A JP H0158598 B2 JPH0158598 B2 JP H0158598B2
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はメモリ回路に係り、特にダイナミツ
ク・ランダム・アクセス・メモリ(以下単にダイ
ナミツクRAMと称す)の自動リフレツシユ機構
に関するものである。
ク・ランダム・アクセス・メモリ(以下単にダイ
ナミツクRAMと称す)の自動リフレツシユ機構
に関するものである。
メモリは大容量のものが望まれかつ生産されて
いるが、その中でも記憶素子(以下メモリセルと
称す)の構造が単純で大容量化に適しているダイ
ナミツクRAMの果している役割は大きなものが
ある。しかし、ダイナミツクRAMは、メモリセ
ルに蓄積された情報が時間の経過と共に失われて
ゆくため、一定時間内にこれらのメモリセルの内
容をリフレツシユしなければならない。従つて、
ダイナミツクRAMの動作にはリフレツシユのた
めの周辺回路が必要となる。このためにダイナミ
ツクRAMはその適用範囲を狭めてしまう場合が
ある。そこで、ダイナミツクRAM自身に自動的
にリフレツシユを行わせるという擬似スタテイツ
クRAMが検討されており、既に幾つかの方式が
提案されている。これらの方式は以下に挙げる2
つの方式に大別出来る。
いるが、その中でも記憶素子(以下メモリセルと
称す)の構造が単純で大容量化に適しているダイ
ナミツクRAMの果している役割は大きなものが
ある。しかし、ダイナミツクRAMは、メモリセ
ルに蓄積された情報が時間の経過と共に失われて
ゆくため、一定時間内にこれらのメモリセルの内
容をリフレツシユしなければならない。従つて、
ダイナミツクRAMの動作にはリフレツシユのた
めの周辺回路が必要となる。このためにダイナミ
ツクRAMはその適用範囲を狭めてしまう場合が
ある。そこで、ダイナミツクRAM自身に自動的
にリフレツシユを行わせるという擬似スタテイツ
クRAMが検討されており、既に幾つかの方式が
提案されている。これらの方式は以下に挙げる2
つの方式に大別出来る。
第1の方式は、メモリセル自身が自分自身の情
報をリフレツシユする様にメモリセルの構造を工
夫するものである。しかし、この方式ではメモリ
セルの構造が複雑になり、ダイナミツクRAM本
来の特徴である単純なメモリセル構造をもたない
ので大容量化に適さない。
報をリフレツシユする様にメモリセルの構造を工
夫するものである。しかし、この方式ではメモリ
セルの構造が複雑になり、ダイナミツクRAM本
来の特徴である単純なメモリセル構造をもたない
ので大容量化に適さない。
第2の方式は、ダイナミツクRAMのチツプ上
にリフレツシユ用アドレスカウンタを備え、一定
時間毎に、リフレツシユカウンタの出力に基いて
チツプ上の全メモリセルの内の一部のメモリセル
群をリフレツシユ対象として選択し、このメモリ
セル群の情報をセンスアンプを用いてリフレツシ
ユし、この作業を順次行うことによつてチツプ上
の全メモリセルのリフレツシユを所定時間内に完
了するものである。
にリフレツシユ用アドレスカウンタを備え、一定
時間毎に、リフレツシユカウンタの出力に基いて
チツプ上の全メモリセルの内の一部のメモリセル
群をリフレツシユ対象として選択し、このメモリ
セル群の情報をセンスアンプを用いてリフレツシ
ユし、この作業を順次行うことによつてチツプ上
の全メモリセルのリフレツシユを所定時間内に完
了するものである。
第2の方式による従来の自動リフレツシユ回路
を第1図に示す。
を第1図に示す。
所定時間内にメモリマトリクス40の中の全メ
モリセルをセンスアンプ50を用いてリフレツシ
ユするための一定のリフレツシユ間隔をタイマー
回路1によつて決定する。タイマー回路1によ
り、定期的にリフレツシユ信号発生回路2Aが働
きリフレツシユが行われる。
モリセルをセンスアンプ50を用いてリフレツシ
ユするための一定のリフレツシユ間隔をタイマー
回路1によつて決定する。タイマー回路1によ
り、定期的にリフレツシユ信号発生回路2Aが働
きリフレツシユが行われる。
第1図に示す従来の自動リフレツシユ回路のリ
フレツシユ動作を説明する。リフレツシユ信号発
生回路2Aにより、リフレツシユアドレスカウン
タ4、入力選択回路20、信号発生回路3A,3
B,3Cが駆動される。リフレツシユアドレスカ
ウンタ4は、メモリマトリクス40中の全メモリ
セルをリフレツシユする際に必要となる列アドレ
スの数と同じだけの2進カウンターを従属接続し
た構成となつており、リフレツシユ信号発生回路
2Aがタイマー回路1により動作すればリフレツ
シユアドレスを出力しかつ桁上げ動作を行う。そ
して、この時には外部入力アドレスとリフレツシ
ユアドレスとの切換えを行う入力選択回路20に
よつて、リフレツシユアドレスがアドレスバツフ
ア30に入力される。アドレスバツフア30は信
号発生回路3Aによつて駆動され、リフレツシユ
アドレスとして出力する。この列アドレスは列デ
コーダ10に入力される。列デコーダ10はプリ
チヤージ機能をもつNORゲートによつて構成さ
れており、信号発生回路3Bによつてコントロー
ルされている。列デコーダ10に入力された列ア
ドレスは、全ての列の中から1つのNORゲート
の出力のみを高レベルとし、その結果、メモリマ
トリクス40内のリフレツシユ対象メモリセル群
を選択する1本のワード線を指定する。このワー
ド線によつて選択されたメモリセル群は、信号発
生回路3Cによつて駆動されるセンスアンプ50
によりリフレツシユされる。
フレツシユ動作を説明する。リフレツシユ信号発
生回路2Aにより、リフレツシユアドレスカウン
タ4、入力選択回路20、信号発生回路3A,3
B,3Cが駆動される。リフレツシユアドレスカ
ウンタ4は、メモリマトリクス40中の全メモリ
セルをリフレツシユする際に必要となる列アドレ
スの数と同じだけの2進カウンターを従属接続し
た構成となつており、リフレツシユ信号発生回路
2Aがタイマー回路1により動作すればリフレツ
シユアドレスを出力しかつ桁上げ動作を行う。そ
して、この時には外部入力アドレスとリフレツシ
ユアドレスとの切換えを行う入力選択回路20に
よつて、リフレツシユアドレスがアドレスバツフ
ア30に入力される。アドレスバツフア30は信
号発生回路3Aによつて駆動され、リフレツシユ
アドレスとして出力する。この列アドレスは列デ
コーダ10に入力される。列デコーダ10はプリ
チヤージ機能をもつNORゲートによつて構成さ
れており、信号発生回路3Bによつてコントロー
ルされている。列デコーダ10に入力された列ア
ドレスは、全ての列の中から1つのNORゲート
の出力のみを高レベルとし、その結果、メモリマ
トリクス40内のリフレツシユ対象メモリセル群
を選択する1本のワード線を指定する。このワー
ド線によつて選択されたメモリセル群は、信号発
生回路3Cによつて駆動されるセンスアンプ50
によりリフレツシユされる。
以上の作業をタイマー回路1により指定される
一定の時間間隔で順次行い、所定時間内に全メモ
リセルのリフレツシユを完了する。
一定の時間間隔で順次行い、所定時間内に全メモ
リセルのリフレツシユを完了する。
さて、この自動リフレツシユ動作は通常の外部
アドレス入力による動作と殆んど同一の手順とな
るため、リフレツシユに要する時間及び消費電力
は通常動作のそれとあまり変らない。又、入力選
択回路20が存在することにより、リフレツシユ
動作と通常動作において、アドレスバツフア30
の動作時間の増大及び感度減少等の悪影響が出て
しまう。更に、メモリ容量が増大してくるに従つ
てリフレツシユアドレスの数が増大してくると、
リフレツシユアドレスカウンタ4において従属接
続される2進カウンタの数が多くなり、この従属
接続部での桁上げ動作に要する時間の最大値は増
大する。この事は、高速なリフレツシユ動作を行
いたい場合には障害となつてしまう。
アドレス入力による動作と殆んど同一の手順とな
るため、リフレツシユに要する時間及び消費電力
は通常動作のそれとあまり変らない。又、入力選
択回路20が存在することにより、リフレツシユ
動作と通常動作において、アドレスバツフア30
の動作時間の増大及び感度減少等の悪影響が出て
しまう。更に、メモリ容量が増大してくるに従つ
てリフレツシユアドレスの数が増大してくると、
リフレツシユアドレスカウンタ4において従属接
続される2進カウンタの数が多くなり、この従属
接続部での桁上げ動作に要する時間の最大値は増
大する。この事は、高速なリフレツシユ動作を行
いたい場合には障害となつてしまう。
本発明の目的は、通常動作に比して消費電力が
少く、しかも高速動作が可能な自動リフレツシユ
機能を備えたメモリ回路を得ることにある。
少く、しかも高速動作が可能な自動リフレツシユ
機能を備えたメモリ回路を得ることにある。
本発明は、一度リフレツシユが行われた際に、
列デコーダの各NORゲートの内、リフレツシユ
の対象となつたメモリセル群を指定している
NORゲートの出力部の電位情報を取り込み、次
回のリフレツシユ動作時にのみこの取り込んだ情
報を列デコーダ中の他のNORゲートの出力部に
転送する信号転送回路により、リフレツシユ動作
の度にリフレツシユの対象となるメモリセル群の
指定を切り換え、高速かつ低消費電力の自動リフ
レツシユを行うことを特徴とする。
列デコーダの各NORゲートの内、リフレツシユ
の対象となつたメモリセル群を指定している
NORゲートの出力部の電位情報を取り込み、次
回のリフレツシユ動作時にのみこの取り込んだ情
報を列デコーダ中の他のNORゲートの出力部に
転送する信号転送回路により、リフレツシユ動作
の度にリフレツシユの対象となるメモリセル群の
指定を切り換え、高速かつ低消費電力の自動リフ
レツシユを行うことを特徴とする。
第2図に、本発明による自動リフレツシユ回路
の一実施例を示す。
の一実施例を示す。
タイマー回路1、リフレツシユ信号発生回路2
A、信号発生回路3B,3C、メモリマトリクス
40及びセンスアンプ50の接続とそれらの働き
は、第1図に示すものと同一である。
A、信号発生回路3B,3C、メモリマトリクス
40及びセンスアンプ50の接続とそれらの働き
は、第1図に示すものと同一である。
第2図に示す実施例のリフレツシユ動作を説明
する。
する。
今、信号転送回路5には、前回のリフレツシユ
動作時にリフレツシユ対象となつたメモリセル群
を指定する列デコーダ10中のNORゲートの出
力部の電位情報が取り込まれているとする。
動作時にリフレツシユ対象となつたメモリセル群
を指定する列デコーダ10中のNORゲートの出
力部の電位情報が取り込まれているとする。
タイマー回路1によりリフレツシユ信号発生回
路2Aが働き、信号発生回路3B,3C,3D,
3Eが駆動される。信号発生回路3Dは、アドレ
スバツフア30を非活性化するものであり、従つ
て列デコーダ10には列アドレスが入力されな
い。信号発生回路3Eにより信号転送回路5が駆
動され、列デコーダ10の内、前回リフレツシユ
対象となつたメモリセル群を指定したNORゲー
ト以外の他のNORゲートに、既に信号転送回路
5内に取り込まれている電位情報を転送する。
路2Aが働き、信号発生回路3B,3C,3D,
3Eが駆動される。信号発生回路3Dは、アドレ
スバツフア30を非活性化するものであり、従つ
て列デコーダ10には列アドレスが入力されな
い。信号発生回路3Eにより信号転送回路5が駆
動され、列デコーダ10の内、前回リフレツシユ
対象となつたメモリセル群を指定したNORゲー
ト以外の他のNORゲートに、既に信号転送回路
5内に取り込まれている電位情報を転送する。
従つて、このNORゲートにより指定されるメ
モリセル群が新たなリフレツシユ対象となる。信
号転送回路3Cによつてセンスアンプ50が駆動
され、選択されたメモリセル群の情報をリフレツ
シユする。そして、このNORゲートの出力部の
電位情報を再び信号転送回路5内に取り込み、次
回のリフレツシユに備える。以上の作業をタイマ
ー回路1により指定される一定の時間間隔で順次
行うことにより、所定時間内に全メモリセルのリ
フレツシユを完了する。
モリセル群が新たなリフレツシユ対象となる。信
号転送回路3Cによつてセンスアンプ50が駆動
され、選択されたメモリセル群の情報をリフレツ
シユする。そして、このNORゲートの出力部の
電位情報を再び信号転送回路5内に取り込み、次
回のリフレツシユに備える。以上の作業をタイマ
ー回路1により指定される一定の時間間隔で順次
行うことにより、所定時間内に全メモリセルのリ
フレツシユを完了する。
第2図に示した本発明の信号転送回路5及び列
デコーダ10の実施例を第3図に示す。列デコー
ダ10を構成する列アドレスによるワード線選択
回路11,12,…1Nの回路形式は既に広く知
られているが、典型的なものを11として示し
た。信号発生回路3Bからのプリチヤージ信号
φPにより節点N11はドレイン電源(以下VDDと
称す)からプリチヤージトランジスタQPを介し
てプリチヤージされる。節点N11をソース電源
(以下VSSと称す)の間にトランジスタQ0,Q1,
…Qiを接続し、これらのトランジスタのゲート
に夫々列アドレスX0,X1,…Xiを接続しNORゲ
ートを構成する。従つて節点N11はNORゲート
の出力部である。トランジスタQDを介して節点
N11と節点N21を接続する。節点N21をトランジス
タQWLのゲートに接続し、ソースにはワード線
W1を接続する。トランジスタQDのゲートには信
号発生回路3Bからのワード線高レベル制御信号
φDを接続する。ワード線選択回路12,…1N
も11の回路と同様の構成であり、夫々にワード
線W2,…WNが入り、NORゲート出力部N12,…
N1Nを形成する。NORゲート出力部N11とN12の
間に信号転送手段101を接続する。タイマー回
路1により定期的にリフレツシユ信号発生回路2
Bが動作し、一度リフレツシユ動作が行われた際
には、列デコーダ10の各NORゲートの出力部
の状態は、1つは高レベル、他は低レベルとなつ
ている。
デコーダ10の実施例を第3図に示す。列デコー
ダ10を構成する列アドレスによるワード線選択
回路11,12,…1Nの回路形式は既に広く知
られているが、典型的なものを11として示し
た。信号発生回路3Bからのプリチヤージ信号
φPにより節点N11はドレイン電源(以下VDDと
称す)からプリチヤージトランジスタQPを介し
てプリチヤージされる。節点N11をソース電源
(以下VSSと称す)の間にトランジスタQ0,Q1,
…Qiを接続し、これらのトランジスタのゲート
に夫々列アドレスX0,X1,…Xiを接続しNORゲ
ートを構成する。従つて節点N11はNORゲート
の出力部である。トランジスタQDを介して節点
N11と節点N21を接続する。節点N21をトランジス
タQWLのゲートに接続し、ソースにはワード線
W1を接続する。トランジスタQDのゲートには信
号発生回路3Bからのワード線高レベル制御信号
φDを接続する。ワード線選択回路12,…1N
も11の回路と同様の構成であり、夫々にワード
線W2,…WNが入り、NORゲート出力部N12,…
N1Nを形成する。NORゲート出力部N11とN12の
間に信号転送手段101を接続する。タイマー回
路1により定期的にリフレツシユ信号発生回路2
Bが動作し、一度リフレツシユ動作が行われた際
には、列デコーダ10の各NORゲートの出力部
の状態は、1つは高レベル、他は低レベルとなつ
ている。
今、節点N11が高レベルであるとして信号転送
手段101の動作は次の様になる。信号発生回路
3Eからのリフレツシユ信号φRA,φRBの内φRAを
まず高レベルとする。リフレツシユ信号φRAがゲ
ートに入るトランジスタQ10を介して、節点N11
が高レベルであるという情報を節点N101に移す。
即ち、節点N101の節点容量C10に節点N11の電位
を記憶させる。VDDとVSS間にトランジスタQ20,
Q30,Q40を直列に接続し、節点N301,N201を形
成する。トランジスタQ20,Q30のゲートには
夫々リフレツシユ信号φRA,φRBが入り、トランジ
スタQ40のゲートは節点N101に接続する。ゲート
にリフレツシユ信号φRBが入るトランジスタQ50を
節点N301,N401間に挿入する。トランジスタQ60
のゲートにはリフレツシユ信号φRA、トランジス
タQ70のゲートには節点N401を接続する。
手段101の動作は次の様になる。信号発生回路
3Eからのリフレツシユ信号φRA,φRBの内φRAを
まず高レベルとする。リフレツシユ信号φRAがゲ
ートに入るトランジスタQ10を介して、節点N11
が高レベルであるという情報を節点N101に移す。
即ち、節点N101の節点容量C10に節点N11の電位
を記憶させる。VDDとVSS間にトランジスタQ20,
Q30,Q40を直列に接続し、節点N301,N201を形
成する。トランジスタQ20,Q30のゲートには
夫々リフレツシユ信号φRA,φRBが入り、トランジ
スタQ40のゲートは節点N101に接続する。ゲート
にリフレツシユ信号φRBが入るトランジスタQ50を
節点N301,N401間に挿入する。トランジスタQ60
のゲートにはリフレツシユ信号φRA、トランジス
タQ70のゲートには節点N401を接続する。
リフレツシユ信号φRAが高レベルから低レベル
へ移行した後、リフレツシユ信号φRBを低レベル
から高レベルとし、節点N101の電位情報を反転
して節点N201,N301,N401に転送し、節点N301,
N401の節点容量C20,C30に記憶させる。その後リ
フレツシユ信号φRBを低レベルとして次回のリフ
レツシユ動作を待つ。タイマー回路1により新た
なリフレツシユ動作が始まる直前には節点N11,
N12,…N1Nはプリチヤージ信号φPにより高レベ
ルに充電されている。新たなリフレツシユ動作が
始まりリフレツシユ信号φRAが高レベルとなると
トランジスタQ60,Q70によるNAND回路により
節点N401の電位情報が節点N12に反転して転送さ
れる。
へ移行した後、リフレツシユ信号φRBを低レベル
から高レベルとし、節点N101の電位情報を反転
して節点N201,N301,N401に転送し、節点N301,
N401の節点容量C20,C30に記憶させる。その後リ
フレツシユ信号φRBを低レベルとして次回のリフ
レツシユ動作を待つ。タイマー回路1により新た
なリフレツシユ動作が始まる直前には節点N11,
N12,…N1Nはプリチヤージ信号φPにより高レベ
ルに充電されている。新たなリフレツシユ動作が
始まりリフレツシユ信号φRAが高レベルとなると
トランジスタQ60,Q70によるNAND回路により
節点N401の電位情報が節点N12に反転して転送さ
れる。
こうして前回のリフレツシユ動作の際の節点
N11の高レベルが次回に節点N12に転送されるこ
とになる。リフレツシユ動作が行われた際に節点
N12が低レベルとなつていても同様の手順で電位
情報の転送が可能である。
N11の高レベルが次回に節点N12に転送されるこ
とになる。リフレツシユ動作が行われた際に節点
N12が低レベルとなつていても同様の手順で電位
情報の転送が可能である。
信号転送手段101と同様の信号転送手段10
2,…10NをNORデコーダ出力部N12,…N1N
に対して接続し、N11−N12−…N1N−N11という
ループを持つ信号転送回路5を形成する。
2,…10NをNORデコーダ出力部N12,…N1N
に対して接続し、N11−N12−…N1N−N11という
ループを持つ信号転送回路5を形成する。
以上の操作により、リフレツシユ動作の度に信
号転送回路5を駆動しワード線の指定を切換える
ことが出来、リフレツシユ信号φRAが高レベルと
なつた後、信号発生回路3Bによりワード線W1,
W2,…WNを順次駆動すればセンスアンプによる
リフレツシユが完了する。
号転送回路5を駆動しワード線の指定を切換える
ことが出来、リフレツシユ信号φRAが高レベルと
なつた後、信号発生回路3Bによりワード線W1,
W2,…WNを順次駆動すればセンスアンプによる
リフレツシユが完了する。
本発明による自動リフレツシユ回路により、従
来の自動リフレツシユの際に必要であつたアドレ
スバツフア30の動作が不要となる。従つてリフ
レツシユアドレスカウンタ4を用いる事で起る通
常動作での高速化への障害、アドレスバツフア3
0の感度低下、速度減少等の問題が解決される。
更にリフレツシユ動作において、アドレスバツフ
ア30の消費電力、動作速度を全く考慮する必要
がなく、高速かつ低消費電力が期待出来る。又、
信号転送回路5において取り扱う信号の殆んどが
低レベルであるため、NORゲート出力部の電位
情報の転送において流れる電流はわずか1つ分の
ダイナミツク電流でしかない。このため、信号転
送回路5を形成したことによる消費電力の増加は
ごくわずかであるといえる。
来の自動リフレツシユの際に必要であつたアドレ
スバツフア30の動作が不要となる。従つてリフ
レツシユアドレスカウンタ4を用いる事で起る通
常動作での高速化への障害、アドレスバツフア3
0の感度低下、速度減少等の問題が解決される。
更にリフレツシユ動作において、アドレスバツフ
ア30の消費電力、動作速度を全く考慮する必要
がなく、高速かつ低消費電力が期待出来る。又、
信号転送回路5において取り扱う信号の殆んどが
低レベルであるため、NORゲート出力部の電位
情報の転送において流れる電流はわずか1つ分の
ダイナミツク電流でしかない。このため、信号転
送回路5を形成したことによる消費電力の増加は
ごくわずかであるといえる。
本発明において、信号転送回路5を形成してい
る信号転送手段は第3図に示した実施例にのみ限
定されるものではない。信号転送手段101のト
ランジスタQ30を取り除き、節点N201,N301を接
続したものや、トランジスタQ60,Q70のゲート
の接続を逆にしたものも同様の効果をあげること
が出来る。これらを第4図及び第5図に示す。更
に述べれば、リフレツシユ信号を適当に設定する
ことにより既に広く知られている殆んどのダイナ
ミツクシフトレジスタを本発明の信号転送回路5
に用いることが可能である。
る信号転送手段は第3図に示した実施例にのみ限
定されるものではない。信号転送手段101のト
ランジスタQ30を取り除き、節点N201,N301を接
続したものや、トランジスタQ60,Q70のゲート
の接続を逆にしたものも同様の効果をあげること
が出来る。これらを第4図及び第5図に示す。更
に述べれば、リフレツシユ信号を適当に設定する
ことにより既に広く知られている殆んどのダイナ
ミツクシフトレジスタを本発明の信号転送回路5
に用いることが可能である。
又、消費電力は大となるが、スタテイツクシフ
トレジスタを本発明の信号転送回路5に用いても
同様の高速リフレツシユを行うことが出来る。第
6図に三相スタテイツクシフトレジスタを用いた
信号転送手段を示す。ここで信号φRC,φRDはリフ
レツシユ信号である。
トレジスタを本発明の信号転送回路5に用いても
同様の高速リフレツシユを行うことが出来る。第
6図に三相スタテイツクシフトレジスタを用いた
信号転送手段を示す。ここで信号φRC,φRDはリフ
レツシユ信号である。
更に、第6図に示す信号転送手段において、ト
ランジスタQ101,Q102のゲートに夫々内部信号
φ101,φ102を接続することにより、消費電力を少
く出来る。これを第7図に示す。
ランジスタQ101,Q102のゲートに夫々内部信号
φ101,φ102を接続することにより、消費電力を少
く出来る。これを第7図に示す。
次に、電源投入時、信号転送回路5に初期値を
設定する初期値設定回路の一例を第8図に示す。
VDD,VSS間に直列にトランジスタQ80、コンデン
サC80、トランジスタQ81を接続する。ゲートが
VDDに接続されているトランジスタQ80とコンデ
ンサC80により形成される節点をN80とし、ゲー
トにリフレツシユ信号φRAが入るトランジスタ
Q81とコンデンサC80は節点N81を形成する。
設定する初期値設定回路の一例を第8図に示す。
VDD,VSS間に直列にトランジスタQ80、コンデン
サC80、トランジスタQ81を接続する。ゲートが
VDDに接続されているトランジスタQ80とコンデ
ンサC80により形成される節点をN80とし、ゲー
トにリフレツシユ信号φRAが入るトランジスタ
Q81とコンデンサC80は節点N81を形成する。
ゲートが節点N81、ソースがVSSに夫々接続さ
れているトランジスタQ801のドレインを、第3図
の信号転送手段101中の節点N401に接続する。
ゲートが節点N81、ソースがVDDに夫々接続され
ているトランジスタQ802,…Q80Nのドレインを、
信号転送手段102,…10Nにおける節点
N401と同等の節点N402,…N40Nに接続する。
れているトランジスタQ801のドレインを、第3図
の信号転送手段101中の節点N401に接続する。
ゲートが節点N81、ソースがVDDに夫々接続され
ているトランジスタQ802,…Q80Nのドレインを、
信号転送手段102,…10Nにおける節点
N401と同等の節点N402,…N40Nに接続する。
電源投入直後、VDDの上昇に伴い節点N80は高
レベルとなり、容量結合により節点N81も高レベ
ルとなる。ゲートが高レベルとなるトランジスタ
Q801,Q802,…Q80Nにより節点N401は低レベル、
節点N402,…N40Nは高レベルとなり、初期値が
設定される。電源投入後最初のリフレツシユ動作
でリフレツシユ信号φRAが高レベルとなると、ト
ランジスタQ81により節点N81は低レベルになり、
節点N401,N402,…N40Nは全て高インピーダン
ス状態となる。その後のリフレツシユ動作に影響
を与えることなく信号転送回路5の初期値が設定
出来る。
レベルとなり、容量結合により節点N81も高レベ
ルとなる。ゲートが高レベルとなるトランジスタ
Q801,Q802,…Q80Nにより節点N401は低レベル、
節点N402,…N40Nは高レベルとなり、初期値が
設定される。電源投入後最初のリフレツシユ動作
でリフレツシユ信号φRAが高レベルとなると、ト
ランジスタQ81により節点N81は低レベルになり、
節点N401,N402,…N40Nは全て高インピーダン
ス状態となる。その後のリフレツシユ動作に影響
を与えることなく信号転送回路5の初期値が設定
出来る。
第9図に、初期値設定回路の他の例を示す。
VDD,VSS間に直列に接続されたトランジスタ
Q82,Q84により節点N83を形成する。トランジス
タQ82のゲートは節点N82に接続され、節点N82,
VDD間にコンデンサC81を挿入する。ゲートにリ
フレツシユ信号φRAが入るトランジスタQ83のド
レインを節点N82、ソースをVSSに接続する。節
点N83を第8図に示すトランジスタQ801,Q802,
…Q80Nと同等のトランジスタのゲートに接続す
る。
Q82,Q84により節点N83を形成する。トランジス
タQ82のゲートは節点N82に接続され、節点N82,
VDD間にコンデンサC81を挿入する。ゲートにリ
フレツシユ信号φRAが入るトランジスタQ83のド
レインを節点N82、ソースをVSSに接続する。節
点N83を第8図に示すトランジスタQ801,Q802,
…Q80Nと同等のトランジスタのゲートに接続す
る。
節点N83の動きは、第8図に示す節点N81と同
様である。
様である。
第8図及び第9図において、トランジスタ
Q81,Q83,Q84のゲートに入る信号はリフレツシ
ユ信号φRAにのみ限定されるものでなく、電源投
入後信号転送回路5に初期値が設定された後低レ
ベルから高レベルへ移行する信号であれば良い。
更に、初期値設定回路は、第8図及び第9図に示
す例にのみ限定されるものでなく、電源投入時、
信号転送回路5に初期値を設定するものであれば
良い。
Q81,Q83,Q84のゲートに入る信号はリフレツシ
ユ信号φRAにのみ限定されるものでなく、電源投
入後信号転送回路5に初期値が設定された後低レ
ベルから高レベルへ移行する信号であれば良い。
更に、初期値設定回路は、第8図及び第9図に示
す例にのみ限定されるものでなく、電源投入時、
信号転送回路5に初期値を設定するものであれば
良い。
又、第6図、第7図に示した信号転送手段にお
いては、フリツプフロツプを構成するトランジス
タQ105,Q106の電流能力に差を持たすことによつ
て、初期値を設定することが出来る。即ち、信号
転送回路5を構成する信号転送手段の内の1つに
おいては、トランジスタQ105の電流能力をより大
とし、他の信号転送手段では、トランジスタQ106
の電流能力を大とする。電源投入後、リフレツシ
ユ信号φRC,φRDが共に高レベルであるとすれば、
トランジスタQ105,Q106の電流能力差により初期
値が設定される。この場合は、特に初期設定回路
を設けることなく初期値を設定することが可能で
ある。
いては、フリツプフロツプを構成するトランジス
タQ105,Q106の電流能力に差を持たすことによつ
て、初期値を設定することが出来る。即ち、信号
転送回路5を構成する信号転送手段の内の1つに
おいては、トランジスタQ105の電流能力をより大
とし、他の信号転送手段では、トランジスタQ106
の電流能力を大とする。電源投入後、リフレツシ
ユ信号φRC,φRDが共に高レベルであるとすれば、
トランジスタQ105,Q106の電流能力差により初期
値が設定される。この場合は、特に初期設定回路
を設けることなく初期値を設定することが可能で
ある。
本発明はエンハンスメント型NチヤネルMOS
トランジスタについてのみ説明を行つたが、Pチ
ヤネルMOSトランジスタでも同様の効果をあげ
ることが出来る。
トランジスタについてのみ説明を行つたが、Pチ
ヤネルMOSトランジスタでも同様の効果をあげ
ることが出来る。
又、本発明は、リフレツシユ動作を開始させる
手段としてタイマー回路をあげたが、外部信号も
しくはタイマー回路と外部信号の組合せによりリ
フレツシユ動作を開始させても可能である。
手段としてタイマー回路をあげたが、外部信号も
しくはタイマー回路と外部信号の組合せによりリ
フレツシユ動作を開始させても可能である。
第1図は従来の自動リフレツシユ回路、第2図
は本発明による自動リフレツシユ回路の一実施
例、第3図は第2図に示した実施例をより詳細に
示したもの、第4図、第5図、第6図、第7図は
本発明による自動リフレツシユ回路に用いること
の出来る信号転送手段の例を示す図である。第8
図および第9図は本発明で用いられる初期値設定
回路を示す図である。 ここで1……タイマー回路、2A……リフレツ
シユ信号発生回路、3A,3B,3C,3D,3
E……信号発生回路、4……リフレツシユカウン
タ、5……信号転送回路、6……初期値設定回
路、10……列デコーダ、20……入力選択回
路、30……アドレスバツフア、40……メモリ
マトリクス、50……センスアンプ、VDD……ド
レイン電源、VSS……ソース電源、φRA,φRB,
φRC,φRD……リフレツシユ信号、φP……プリチヤ
ージ信号、φD……ワード線高レベル制御信号、
φWL……ワード線駆動信号、φ101,φ102……内部
信号、N11,N12,N1N……NORゲート出力部、
101,102,10N……信号転送手段、
N21,N101,N201,N301,N401,N501,N80〜
N83,N402〜N40N……内部節点、C10,C20,C30,
C201,C301……節点容量、C80,C81……コンデン
サ、QP,QD,QWL,Q10〜Q80,Q81〜Q84,Q801〜
Q80N,Q0,Q1,Qi,Q201,Q601,Q701,Q101〜
Q106……エンハンスメント型MOSトランジスタ、
X0,X1,Xi……アドレス入力、W1,W2,WN…
…ワード線である。
は本発明による自動リフレツシユ回路の一実施
例、第3図は第2図に示した実施例をより詳細に
示したもの、第4図、第5図、第6図、第7図は
本発明による自動リフレツシユ回路に用いること
の出来る信号転送手段の例を示す図である。第8
図および第9図は本発明で用いられる初期値設定
回路を示す図である。 ここで1……タイマー回路、2A……リフレツ
シユ信号発生回路、3A,3B,3C,3D,3
E……信号発生回路、4……リフレツシユカウン
タ、5……信号転送回路、6……初期値設定回
路、10……列デコーダ、20……入力選択回
路、30……アドレスバツフア、40……メモリ
マトリクス、50……センスアンプ、VDD……ド
レイン電源、VSS……ソース電源、φRA,φRB,
φRC,φRD……リフレツシユ信号、φP……プリチヤ
ージ信号、φD……ワード線高レベル制御信号、
φWL……ワード線駆動信号、φ101,φ102……内部
信号、N11,N12,N1N……NORゲート出力部、
101,102,10N……信号転送手段、
N21,N101,N201,N301,N401,N501,N80〜
N83,N402〜N40N……内部節点、C10,C20,C30,
C201,C301……節点容量、C80,C81……コンデン
サ、QP,QD,QWL,Q10〜Q80,Q81〜Q84,Q801〜
Q80N,Q0,Q1,Qi,Q201,Q601,Q701,Q101〜
Q106……エンハンスメント型MOSトランジスタ、
X0,X1,Xi……アドレス入力、W1,W2,WN…
…ワード線である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 リフレツシユを要するメモリセルを用い、デ
コーダにより選択されるメモリセル群をリフレツ
シユ対象とするメモリにおいて、リフレツシユの
対象となつたメモリセル群を指定するデコーダの
一出力部の情報を取り込み、時間間隔設定手段に
より設定された一定時間の後に、該情報を該一出
力部以外の他の出力部に転送する信号転送回路に
より、自動リフレツシユを行うことを特徴とした
メモリ回路。 2 上記メモリの回路は電源投入時該信号転送回
路の状態を決定する初期値設定回路を有するもの
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のメモリ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56089000A JPS57203288A (en) | 1981-06-10 | 1981-06-10 | Memory circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56089000A JPS57203288A (en) | 1981-06-10 | 1981-06-10 | Memory circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57203288A JPS57203288A (en) | 1982-12-13 |
JPH0158598B2 true JPH0158598B2 (ja) | 1989-12-12 |
Family
ID=13958530
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56089000A Granted JPS57203288A (en) | 1981-06-10 | 1981-06-10 | Memory circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57203288A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5897195A (ja) * | 1981-12-07 | 1983-06-09 | Fujitsu Ltd | ダイナミツク半導体記憶装置 |
JPH0799623B2 (ja) * | 1984-08-30 | 1995-10-25 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53148348A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-23 | Toshiba Corp | Semiconductor dynamic memory unit |
-
1981
- 1981-06-10 JP JP56089000A patent/JPS57203288A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53148348A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-23 | Toshiba Corp | Semiconductor dynamic memory unit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57203288A (en) | 1982-12-13 |
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