JPH0150972B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光学デイスクのような円板状の情報担
体に情報を記録および、または、再生する情報記
録再生装置のためのトラツク検索装置に関する。

情報記録再生装置としては、例えば光感応性材
料を塗布又は蒸着した円板状情報担体る回転させ
ておき、前記円板状担体にレーザー光源等からの
光束を直径1μm以下に絞つた微小スポツト光とし
て照射し、その光出力強度を記録信号で変調する
ことによつて情報担体上に凹凸による位相変化、
屈折率変化あるいは反射光や透過率変化などの光
学的特性変化としてリアルタイムでビデオ信号や
デイジタル信号等の情報の記録が行なえ、かつ前
記光学的特性変化を検出することにより記録した
情報の再生が行なえる装置が提案されている。

かかる装置では、記録トラツクの高密度化、離
散的な部分書き込みあるいは消去などの理由によ
り記録しようとするトラツクを案内する案内トラ
ツクを同心円あるいはスパイラル状に予め設けて
おき、前記案内トラツクに追従するようにトラツ
キング制御をかけながら定められたトラツクに情
報を記録し、またそのトラツクから情報を再生す
る光学情報記録再生装置が考えられる。

本発明の目的は、記録あるいは再生時に所定の
トラツクを検索するにあたり、信号の記録あるい
は再生を行う信号変換素子が案内トラツクを横断
する回数を計数して高速検索する検索装置を供す
ることにある。

情報担体に形成された案内トラツクは、例えば
凹凸の溝状構造が適当である。情報はこの案内ト
ラツクの設けられた情報担体に蒸着されたアモル
フアス金属のごとき記録媒体に記録される。情報
は、記録媒体の蒸発による穴形成または極所的な
黒化等という形で蓄積される。

案内トラツクの識別は、案内トラツクで反射さ
れた反射レーザー光束の遠視野パターンが案内ト
ラツク方向の両側に光強度分布の偏りで行なわれ
る。この偏りは、分割境界が前記案内トラツクの
接線方向と平行になるように配された２つの受光
部をもつて光検出器で光電変換されて、トラツキ
ング制御手段へ印加される。したがつて、微小ス
ポツト光を情報担体上に収束して案内トラツクを
横断するように走査すると案内トラツクを通過す
る毎にトラツキング制御方向の光検出器の２つの
受光部の出力の差信号としてトラツクの横断信号
が得られるので、この横断信号の数を計数するこ
とによつて微小スポツト光が情報担体上を移動し
たトラツク数が求まる。したがつて、この横断ト
ラツク数のカウントが目標移動トラツク数と一致
したときトラツク検索走査を停止せしめれば高速
トラツク検索ができる。

一般に情報担体が装置に脱着されるとき、数
10μmオーダーの偏心が生じるのは避けられない。
この偏心の存在は、トラツク間隔が1μm〜2μmと
非常に狭い光デイスクではトラツク検索走査の開
始時と終了時のように走査速度が情報担体の回転
速度に比して遅くなる場合に偽の横断信号が発生
する。したがつて、偏心量が大きくなればんそれ
だけ横断トラツク数のカウントの誤差が大きくな
るという欠点がある。

このため本発明では、光学デイスクに偏心があ
つても正確に微小スポツト光が横切る正味のトラ
ツク数を計数することを目的としている。そのた
めに微小スポツト光がトラツクを横切る方向を正
確に検知する必要がある。トラツク横断方向検出
は後述するようにトラツキング差信号と、トラツ
キング和信号または記録再生信号の位相を比較す
ることによつて得ることができる。ところで、光
学デイスクにおいては一般にデイスク表面の細い
キズやゴミの付着はさけられない。またデイスク
に蒸着してある光感応材料自体の反射率の変化等
も発生することがある。さらに光学デイスクに案
内溝トラツクのみだけでなく、各トラツクに番地
情報や、１つのトラツクをさらに細分してセクタ
ー記録を行う際にセクター分離のための情報を溝
の凹凸であらかじめ光学デイスクにカツテイング
することもある。このかうに微小スポツト光が案
内溝トラツクを横切る時に、溝横断信号のみが光
検出器出力に現れるとは限らない。デイスク上の
ゴミ、キズ等および番地、セクター情報が光検出
器出力に現れるため、溝横断信号に混入し、雑音
成分となる。このような雑音成分は光検出器のト
ラツキング和信号に大きく影響を与える。なぜな
らばトラツキング和信号出力は、デイスク面上の
反射率の変化そのものを表わしているためであ
る。ところがトラツキング差信号は微小スポツト
光よりサイズが大きい光学デイスク上での雑音に
対しては、差動出力を取り出す性質上雑音成分は
キヤンセルされてしまい雑音の影響を受けにく
い。つまりトラツキング差信号は、溝横断信号に
関しては和信号よりもＳ／Ｎ良い信号を出力する
ことができる。ところで偏心の影響のためトラツ
ク横断方向を検出する必要のある区間は、検索移
送台の速度がデイスクの偏心のために生じる微小
スポツト光の横断速度よりも小さくなつたときで
ある。なぜなら検索移送台の速度が偏心の速度を
超えると微小スポツト光のトラツク横断方向は当
然、検索移送の動く方向と一致するからである。
前述したようにＳ／Ｎの悪いトラツキング和信号
を用いてトラツク横断方向を検出した場合、横断
方向検出を誤つて、トラツク横断信号を計数する
ため、計数したトラツク横断信号と実際のトラツ
ク横断数と一致しなくなる。したがつて検索誤差
を生じ、不安定で検索に時間がかかる場合があ
る。つまり横断方向を検出するのは、偏心の影響
力があり、横断方向が不確実な区間、つまり検索
移送台が、光学デイスクの偏心の速度以下の区間
のみに限ればよい。検索移送台が偏心の速度を超
えたときは、トラツク横断方向検出はやめ横断方
向を検索移送台の動く方向に固定し、その区間、
デイスク上の雑音成分の影響を受けないトラツキ
ング差信号を一方向のみカウントする。。実際検
索移送台の速度が光学デイスクの最大偏心時の速
度を超える区間は、超えない区間に比較してはる
かに長い。したがつてＳ／Ｎの悪いトラツキング
和信号を用いた横断方向検出は必要最小限の区間
のみに限定することができる。以上述べたように
本発明は、光学デイスクに偏心があり、しかもデ
イスク面上の雑音成分がある場合でも、正味の横
断トラツク数を計数することができるので、高速
でしかも安定なトラツク検索を行うことができ
る。

以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。第１図は光学情報記録再生装置のトラツク検
索装置の構成図である。半導体レーザ等の光源１
からの放射された光ビーム２は、デイスク３上の
トラツクに光ビームを追従させるためのトラツク
キングミラー４を経て絞りレンズ５によつてデイ
スク上のトラツクに光スポツト６として集光され
る。デイスク上からの反射光７は絞りレンズ５、
トラツキングミラー４を経て、半透明鏡８により
その光路が分離変更される。この反射光は光学ウ
エツジ９によりフオーカシング方向１０及びトラ
ツキング方向１１の光ビームに分離される。分離
された光ビームはそれぞれ２分割された光検出器
１２，１３上に投射される。デイスク３の面ブレ
に応じて光検出器１２上では光スポツトが移動す
るので、２分割光検出器１２から前置差動増幅器
１４に入力れフオーカス誤差信号１５が得られ
る。この誤差信号は駆動回路１６を経て絞りレン
ズを上下に駆動させるボイスコイル１７に加えら
れ、デイス上に光スポツトを集光するように制御
する。

デイスク３は、デイスクモータ１８によつて回
転しているが、デイスクモータ１８の回転中心と
デイスク３の回転の中心がずれている場合には、
デイスク３上の光スポツト６はトラツクを正確に
追従せず、トラツクを横切る。光スポツト６がト
ラツクを横切つた場合には、光検出器１３上には
後述するように光分布の変化が生じる。この変化
を検出し、前置差動増幅器１９に入力されトラツ
キング差信号２０を得ている。この差信号２０は
駆動回路２１に入力されトラツキングミラー４を
駆動している。トラツキングミラー４は光スポツ
ト６がデイスク３上のトラツクを正確に追従する
ように、前記差信号に応じてその角度が変化し、
トラツキング制御を行つている。２２は第５図で
示されている信号処理回路で、トラツク横断パル
ス、及びトラツク横断方向を表わす信号をリニア
モータ駆動回路２３へ送り、目標トラツクのアド
レス信号２４と比較し、リニアモータ２５を駆動
させ光スポツトが目標トラツクへ正確に移動する
ように、リニアモーター２５の制御を行つてい
る。また１０１は速度検出器で、リニアモータ２
５の速度制御を行つている。２６は前置和増幅器
で、トラツキング方向の２分割光検出器１３によ
り検出される信号の和信号２７を出力している。
光デイスク３よりの記録再生信号は光検出器１３
により検出され前置高周波増幅器２８に入力され
再生信号２９を出力している。

次に本発明のトラツク検索装置に使用する光デ
イスク３の構造の一実施例を第２図に基づいて説
明する。第２図はデイスク３の円板の一部を示す
図で、デイスク３の面Ｒ側には幅Ｗ、ピツチｐ、
深さδの溝状案内トラツク３０ａ〜３０ｃが同心
円状、あるいはスパイラル状に堀つてある。

３１ａ〜３１ｃは溝間を示す。光感光性の記録
材料は面Ｒ側から塗布されて記録面３２を形成し
ている。光スポツト６は面Ｒで集光されている。
記録および再生のときは光スポツトが溝状案内ト
ラツク上に投射されるようにトラツキング制御が
かけられる。記録時には光源１の光出力を大きく
し、デイスク上の溝状案内トラツク上に投射され
る光スポツトの光エネルギーを大きくして案内ト
ラツク上に塗布された記録材料を感光させてい
る。その結果溝状案内トラツク上の記録部分の反
射率が変化する。この反射率の変化を記録時より
小さな光出力の光スポツトを用いて検出すれば、
記録信号を再生することが出来る。記録した時の
溝状案内トラツク内の記録材料が感光した様子を
３３に示す。この場合は記録材料が黒化し反射率
が大きくなつた例を示している。

前記案内トラツク３０ａ〜ｏの幅Ｗ、ピツチ
ｐ、深さδの具体的な値としては例えば幅Ｗ＝
0.6μmピツチｐ＝1.6μm、深さδ＝1000Å（前記
レーザー光源３の光波長の１／０の光路長）ぐら
いが選ばれる。

第３図は、第２図で示した光デイスク３上の溝
状案内トラツク３０（未記録部）に光スポツト６
が投射された時のトラツキング方向（溝状案内ト
ラツクとは法線方向）における光検出器１３の光
量分布変化を表わしている。第３図はデイスク３
の断面方向から見た図である。１３ａは光デイス
ク３の内径方向の光検出器、１３ｂは光デイスク
３の外径方向の光検出器を示している。３４は光
デイスク３からの反射光７が光検出器上に投射す
る光スポツトを表わしている。反射光スポツト３
４の円内の濃淡は光スポツト内の光量分布変化を
表わしている。第３図は溝状案内トラツク３０が
ない溝間３１の平坦部に光スポツト６が投射して
いる様子を示している。この場合入射した光ビー
ム２は一様に反射するため光検出器の反射光スポ
ツト３４は一様に分布するので光検出器１３ａと
１３ｂの差信号出力２０は零となる。第３図ｂは
光スポツトが溝状案内トラツクの外径側のエツジ
３５ｂにかかつて投射された様子を示している。
溝状案内トラツク３０の深さδがレーザ光波長の
１／８の光路長であれば、入射光ビーム２は回折さ
れ反射光７ｂは溝の外側へ曲げられる。そのため
外径方向の光検出器１３ｂへ光量分布がかたま
る。前置差動増幅器２６の入力は外径方向光検出
器１３ｂを正入力、内径方向光検出器１３ａを負
入力とすると、第３図ｂの場合には差信号出力２
７は正となる。第３図ｃは溝状案内トラツク３０
の両方向エツジ３５ａ，３５ｂを含み、溝状案内
トラツク全体に光スポツト６が投射されている様
子を示す。この場合は入射光ビーム２が両エツジ
にかかつているため反射光７ｃは両方向とも溝の
外側へ回折する。絞りレンズ５の口径が有限であ
るので、回折した反射光はケラレる。そのため光
検出器１３に投射されるスポツトの光量全体が減
少する。よつて両方向１３ａ，１３ｂの光検出器
の和信号出力２７は第３図ａ，ｂ，ｄと比較して
その振幅が減少する。なの第３図ｃの場合入射光
スポツト６と溝状案内トラツク３０の中心が一致
していれば、両方向の光検出器１３ａ，１３ｂに
投射される反射光スポツトの光量分布は一様であ
るので差信号出力２０の振幅は零となる。第３図
ｄは光スポツト６が内径方向のエツジ３６ａにか
かつて投射されている様子を示す。この場合、第
３図ｂとは反対に内径方向に反射光７ｄが回折さ
れ、内径方向の光検出器１３ａへ光量分布がかた
よる。従つて差信号出力２０は負となる。

第４図は、光スポツト６が溝状案内トラツク３
０を横切つたときの光検出器出力、和信号及び差
信号出力の振幅の時間的変化波形を示したもので
ある。３６ａは内径方向の光検出器出力波系形、
３６ｂは外径方向の光検出器出力波形、３７はそ
の両出力の差信号波系形、３８は和信号出力波形
を表わす。第４図ａは光スポツトが溝状案内トラ
ツク３０を外径方向から内径方向へ横切つた時
（第３図でＡ方向）の振幅変化を示す。第３図で
説明したとうり、差信号波形３７の振幅は外エツ
ジ通過の時正、溝円中心で零、内エツジ通過の時
負となる。一方和信号波形３８の振幅は溝中心で
減少する。第４図ｂは光スポツトが溝状案内トラ
ツク３０を内径方向から外径方向へ横切つた時
（第３図でＢ方向）の振幅変化を示す。この場合
は第４図ａとは反対に内エツチから通過していく
ので、正負が逆になる。ここで重要なことは、第
４図ａ，ｂを比較すると、いづれの場合でも和信
号波形のピークは差信号波形が零交差する点と一
致するということである。

これは第３図ｃで説明した理由により明らかで
ある。さらに和信号波形３８と差信号の負波形３
７ｂの位相を比較すると、溝状案内トラツク３０
を内径方向（Ａ方向）へ横切つた時（第４図ａ）
は、和信号波形が差信号の負波形３７ａより位相
が早い。一方溝状案内トラツク３０を外径方向
（Ｂ方向）へ横切つた時（第４図ｂ）は差信号の
負波形３７ｂの方が、和信号よりも位相が早い。

以上のように和信号波形３８と差信号の負波形
の位相を比較すれば、容易に溝状案内トラツクを
横切つた方向を検出することが可能である。さら
にデイスク面上の反射率が変化し、和信号及び差
信号の振幅が変化しても、前述したとおり和信号
のピークと差信号の零交叉の位相はいつも一致し
ている。従つて光デイスク面上の反射率の変化に
よつて和信号と差信号の位相関係が変化すること
はないので、反射率の変化があつても安定した溝
状案内トラツクの横断方向の検出が可能である。

以上の第４図ａ，ｂの説明は、光デイスク面上
に塗布された記録材料を感光させていない未記録
部分の溝状案内トラツクを横切つた場合のもので
ある。第２図３３のような記録感光された溝状案
内トラツクを光スポツトが横切つた場合の光検出
器出力波形、和信号および差信号波形を第４図
ｃ，ｄに示す。溝状案内トラツク内の記録材料が
記録感光されると反射率が大きくなる。従つて各
光検出器の出力振幅も大きくなりさらに差信号振
幅３７ｃ，３７ｄも大きくなる。一方和信号は第
３図ａ，ｂの３８ａ，３８ｂほどには、溝の中心
で振幅が減少しない。３８ｃ，３８ｄこれは溝状
案内トラツク内の反射率が大きくなり、第３図ｃ
のように反射光７ｃがケラレでいるにもかかわら
ず、受光量が増加したためである。第４図ｃ，ｄ
のように和信号出力の振幅が小さいと横断方向の
検出が不安定になるため、記録部では和信号２７
の代りに再生信号２９を用いる。再生信号波形を
第４図の３９に示す。記録は溝状案内トラツク中
心に光スポツトを投射して行なわれるため、再生
信号波形３９の位相は、トラツキング方向の和信
号波形３８ｃ，ｄと一致している。このように記
録部では、再生信号波形３９と差信号の負波形の
位相を比較して、溝状案内トラツキングを光スポ
ツトが横断する方向を検出している。第４図ｃは
ａと同様にデイスクの外径方向から内径方向に溝
状案内トラツクを光スポツトを横切る様子を、第
４図ｄはｂと同様に内径方向から外径方向に横切
る様子を示している。

以上のことから未記録部では和信号と差信号の
位相差を、記録部では再生信号と差信号の位相差
を検出すれば容易に溝状案内トラツクの横断方向
を知ることが出来る。つまりデイスク上に記録済
トラツクがあるなしにかかわらず、溝横断方向の
検出およびトラツク計数が可能である。

第５図は第１図２２で示した信号処理回路のブ
ロツク図を示す。また第６図は第５図の各部にお
ける信号波形を同一時間軸に表わしたタイミング
チヤートである。第５図ａ〜ｑの各部の信号波形
は第６図ａ〜ｏおよび第８図ａ〜ｑに示す。

前置差動増幅器１９の差信号出力ａの波形を第
６図ａに示す。ａ１の区間では光スポツトが外径
方向から内径方向に、ａ２の区間では内径方向か
ら外径方向に横断するときの差信号波形を示して
いる。つまり第６図は、リニアモータ５の速度が
光学デイスク３の偏心の速度より小さい時の各部
の波形を示している。微小光スポツトが、その横
断方向の反転をくりかえしながら、案内溝トラツ
クを横断している場合である。

前置和増幅器２６の和信号出力ｂの波形を第６
図ｂに示す。３８ａ，３８ｂ、は未記録部分２８
ｃ，３８ｄは記録部分における和信号出力波形で
ある。第６図ｃに記録再生信号３９を示し、記録
トラツクは３９ｃ，３９ｄである。第５図２８は
再生信号を増幅する前置高周波増幅器である。

差信号出力ａはローパスフイルター４０に入力
れ、溝状案内トラツクを横断する時の検出信号以
外の光デイスク上の雑音成分を除去する。ローパ
スフイルター４０の出力は波形整形回路４１に入
力され、差信号３７の負成分のみをパルス波形に
整形し出力している（第６図ｄ）。また和信号出
力ｂも同様にローパスフイルター４０、波形整形
回路４１に入力され第６図ｃのパルス波形に整形
され出力している。また記録再生信号ｃは検波回
路４２に入力され包線線検波された後、同様にロ
ーパスフイルター４０、波形整形回路４１に入力
され、パルス波形ｆを出力している。パルス化さ
れた和信号ｅ、および再生信号ｆは、OR回路に
入力され、２つの入力の論理和が出力される（第
６図ｇ）。これにより記録の有無にかかわらず溝
状案内トラツクの中心を示すパルスが出力され
る。パルス化された差信号ｄおよび、パルス化さ
れた論理出力信号ｇは、そのパルスの立上りによ
つて、モノマルチバイブレータ４４をトリガーし
て幅の短いパルスを出力している。

第６図ｈ，ｊ、パルス化された差信号の立ち上
りによつてトリガーされたモノマルチバイブレー
タ出力ｈと論理和パルス出力ｇの位相をAND回
路４５によつて比較して、両パルスのハイレベル
が一致すれば、外径から内径方向の横断方向パル
スｊを出力している。一方、パルス化された論理
和出力信号ｇの立ち上がりによつてトリガーされ
たモノマルチバイブレータ出力ｉとパルス化され
た差信号ｄの位相を比較して、両パルスのハイレ
ベルが一致すれば内径から外径方向の横断方向パ
ルスｋを方向している。

以上述べたように横断パルスｊおよびｋをアツ
プダウンカウンターのupおよびdown入力に接続
すれば微小スポツトが横切る正味の横断トラツク
数を計数することが出来る。しかし現実には光学
デイスクによつて反射率が異なるためにトラツキ
ング和信号ｂの振幅が異なる。さらに光学デイス
ク上のゴミ、キズあるいは記録層の蒸着ムラ等に
よりトラツキング和信号ｂのＳ／Ｎが悪くなるた
め波形品質が低下し波形整形されたパルス出力ｅ
においてもミスパルスが生じる。このため横断方
向パルスと実際のトラツク横断数と一致しなくな
りカウント誤差を生じる。一般にトラツキング和
信号は、デイスク上の反射率の変化そのものを示
すため、光学デイスク上のゴミ、キズ等の雑音を
受けやすい。ところがトラツキング差信号は微小
スポツト光よりサイズが大きい光学デイスク上で
の欠損に対しては、差動出力を取り出す性質上、
雑音成分はキヤンセルされてしまい、雑音の影響
を受けにくい。以上のことからトラツキング差信
号ａは、トラツキング和信号ｂよりＳ／Ｎの良い
信号を出力することができる。この性質を利用
し、アツプダウンカウンターで実際に計数するパ
ルスは安定な差信号パルスｄを用い、横断方向パ
ルスｊ，ｋはカウンターのアツプまたはダウンの
切換のためのみに行い、トラツク横断数の計数に
は用いないことを特徴としている。横断方向パル
スｊ，ｋを用いてアツプまたはダウンの切断の方
法について述べる。第５図の１０２はＲ―Ｓフリ
ツプフロツプで内径方向の横断方向パルスｊはセ
ツト入力に、外径方向の横断方向パルスｋはリセ
ツト入力に接続されている。フリツプフロツプ１
０２のＱ出力は１１１，１１２のコンパレータ出
力ｑ，ｒがＨレベルになつていなければｌに示す
ように内径方向のときのみＨレベルとなるため、
この区間のみを安定な差信号パルスを計数する。
この場合横断方向出力ｌの方向切換時のタイミン
グと同時に差信号パルスが出力されて、内径方向
パルスｎと外径方向パルスｏの両方に出力される
のを防ぐために、計数する差信号パルスとしては
ｍに示すように差信号パルスｄの立ち下りエツジ
パルスを用いている。

したがつて内径方向へ横断する差信号パルスｎ
をアツプダウンカウンター４６のカウントアツプ
用クロツクに入力し、外径方向へ横断する差信号
パルスｏをカウントダウン用クロツクとして入力
すれば、アツプダウンカウンター４６のカウント
出力は外径から内径方向へ横切つた正味のトラツ
ク数となる。デイスクに偏心があつて光スポツト
が、その横断方向の反転を繰り返しながら横切つ
たとしても正確に横断した溝を計数することが可
能となる。アツプダウンカウンター４６の出力信
号と移動トラツク数設定レジスタ４７の出力信号
をコンパレータ４８で比較し、両者が一致すると
リニアモータ２５のストツプ制御をリニアモータ
駆動制御回路４９で行う。

以上第６図で示した波形での説明はリニアモー
タ２５の速度がデイスクの偏心よりも小さいとき
に、微小光スポツトのトラツク横断方向が、リニ
アモータの移送方向と一致せず方向反転を繰りか
えしている区間である。第７図は、リニアモータ
の移動距離と横断トラツク数およびリニアモータ
の速度Ｐ（速度検出器の出力Ｐ）との関係を示す
図である。前述したリニアモータの速度がデイス
クの偏心速度以下のときの区間は、第７図に示す
ようにリニアモータのスタート時１１０の区間ス
トツプ時の区間１１０′である。ここで光学デイ
スク３の偏心速度＝〔デイスクの偏心量〕／デイ
スクが半回転する時間〕である。たとえば光学デ
イスクの偏心量を最大100μmp―ｐとすると、
900rpmでデイスクを回転した場合は、偏心速度
＝0.3cm／ｓとなる。この偏心速度を第７図１０
６で示す。つまりリニアモータ速度がデイスクの
偏心速度１０６以下の区間１１０および１１０′
では、第７図に示すように、横断トラツク数がそ
の方向を反転しながら増加している。この区間で
当然横断方向検出は必要である。しかしリニアモ
ータ速度が偏心速度１０６を超えると、その区間
１０９は結局リニアモータの移送方向と一致す
る。そのためデイスク面上の反射率変化等による
雑音の影響を受けやすいトラツキング和信号を用
いた横断方向検出を停止し、トラツク計数方向を
リニアモータの移送方向に固定すればよい。実際
にリニアモータの速度が偏心速度１０６を超える
区間１０９は、超えない区間１１０，１１０′よ
りもはるかに長いため、この区間のデイスク面上
のトラツク横断信号への雑音の影響を大きく低減
することができる。したがつて１０９の区間で
は、雑音の影響が少ない前述のトラツキング差信
号の立ち下りパルスｍを一方向のみにカウントす
る。

第５図１０はリニアモータの速度検出器で、一
般にリニアモータ移送時の速度制御のために用い
られている。本発明では、この速度検出器の出力
Ｐをup方向のコンパレータ１１１、および
DOWN方向のコンパレータ１１２に入力する。
コンパレータ１１１，１１２のしきい値レベル
は、光学デイスクの偏心速度あるいはそれ以上の
値に設定しておけば、up方向、DOWN方向共に
偏心速度を超えた区間のみ、コンパレータ出力ｑ
またはｒをＨレベルにすることができる。たとえ
ば第５図においてカウントup方向（デイスク内
径方向）にリニアモータが移送し、デイスクの偏
心速度を超えると、ｑ出力はＨレベルとなる。こ
の時点から第７図および第８図に示す１０９の区
間に入る。第８図は、リニアモータの移送速度が
デイスクの偏心速度を超えた区間１０９における
第５図ａ〜ｑの各部の信号波形を表している。ｑ
出力かＨレベルになると（第８図ｑ）、横断方向
検出パルスと論理和をとつたｌ出力は、フリツプ
フロツプ１０２のＱ出力の状態にかかわらずＨレ
ベルとなる（第８図ｌ）。従つて差信号の立ち下
りパルスｍのみがアツプダウンカウンター４６の
up入力ｎに入力される。このときdown入力は禁
止されている（第８図ｏ）。

トラツク横断信号への雑音成分、たとえば、た
またま微小光スポツトが番地領域を横断した場合
の雑音波形は、トラツク和信号へは１０３、トラ
ツキング差信号へは１０４に示す如くなる。この
ように和信号へは大きく雑音成分となつて現れる
が、差信号への影響は小さい。１０５，１０６は
デイスク面上にキズがあつた場合の影響を示して
いる。この場合も同様に差信号への影響１０６は
ほとんどない。前述したように横断方向を検出し
なくてもよい区間１０９の移動距離は、検出が必
要な区間１１０よりもはるかに長いので、１０９
のトラツキング和信号への雑音の発生確率が大き
い。つまり区間１０９ではＳ／Ｎの良いトラツキ
ング差信号（第８図ａ）を用いてその立ち下りパ
ルスのみをアツプダウンカウンター入力ｎに入力
する。

以上述べたように本発明は、デイスクの偏心速
度より検索移送速度が遅い場合は、トラツク横断
方向の検出を行い、偏心速度より早くなると、横
断方向検出を停止し、移送方向のみにＳ／Ｎの良
い差信号を用いたトラツク横断信号を計数してい
る。このような構成によれば、デイスクの偏心、
デイスク面上のゴミ、キズ、および溝の凸凹の構
造によつて形成されたトラツク番地領域等、トラ
ツク横断信号への雑音成分があつても、正確で、
安定な、トラツク検索を高速に行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の概略構成図、第２
図は、デイスク構造の一実施例の一部を示す斜視
図、第３図は溝状案内トラツクで反射された反射
光の光検出器上の光量分布を説明する図、第４図
は光検出器の出力波形と差信号、和信号、再生信
号の波形を示す図、第５図は、溝状案内トラツク
を計数するための信号処理回路のブロツク図で、
第６図は第５図の各部の信号波形を示す図、第７
図は光デイスクの偏心とトラツク検索の様子を示
す図、第８図は検索移送速度がデイスク偏心速度
を超えたときの各部の信号波形を示す図である。 １……レーザー光源、２……入射光ビーム、３
……光デイスク、４……トラツキングミラー、５
……絞りレンズ、７……反射光ビーム、８……半
透明鏡、９……光学ウエツジ、１２，１３……光
検出器、１４，１９……前置差動増幅器、１８…
…デイスクモータ、２２……信号処理回路、２５
……リニアモータ、２６……前置和増幅器、２０
……前置高周波増幅器、３０……溝状案内トラツ
ク、４０……ローパスフイルター、４１……波形
整形回路、４３……OR回路、４４……モノマル
チバイブレータ、４５……AND回路、４６……
アツプダウンカンウター、１０１……速度検出
器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 同心円状またはスパイラル状の溝状案内トラ
   ツクを有する光記録デイスクと、光学デイスクに
   記録再生するための光ビームを発生するレーザ発
   光手段と、光ビームを絞り光学デイスク上に微小
   スポツト光として照射する手段と、微小スポツト
   光を溝状案内トラツクを横切る方向に移動させる
   移動手段と、溝状案内トラツクからの反射光を分
   割境界が溝状案内トラツクの接線方向に平行とな
   るように配置された２個の受光部からなる光検出
   器で受光し前記光検出器出力の差信号と和信号と
   記録再生信号との位相の進み遅れを比較処理する
   ことにより微小スポツト光が溝状案内トラツクを
   横断する方向を検出するトラツク横断方向検出手
   段と、微小スポツト光が横断する溝状案内トラツ
   ク本数を前記トラツク横断方向検出手段の出力に
   応じて加減算する計数手段と、前記微小スポツト
   光を移動させる移動手段の移動速度が、光学デイ
   スクの偏心のために微小スポツト光が溝状案内ト
   ラツクを横断する速度以上になると前記トラツク
   横断方向検出手段の出力にかかわらず前記計数手
   段の計数方向を前記移動手段による微小スポツト
   光の移動方向と一致させ、前記微小スポツト光の
   移動速度が光学デイスクの偏心のために微小スポ
   ツト光が溝状案内トラツクを横断する速度以下に
   なると前記トラツク横断方向検出手段の出力に従
   つて前記計数手段の計数方向を制御する手段と、
   前記計数手段の計数値によりトラツクを検索する
   手段とを有するトラツク検索装置。