JPH01503665A - 電子回路手段を冷却する低温発生容器 - Google Patents
電子回路手段を冷却する低温発生容器Info
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- JPH01503665A JPH01503665A JP63505787A JP50578788A JPH01503665A JP H01503665 A JPH01503665 A JP H01503665A JP 63505787 A JP63505787 A JP 63505787A JP 50578788 A JP50578788 A JP 50578788A JP H01503665 A JPH01503665 A JP H01503665A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
電子回路手段を冷却する低温発生容器
この発明は集積回路チップのような電子回路手段を冷却するための低温発生容器
に関する。
高い実装密度において高いスイッチング速度を得るため、現在の電子装置に発生
する熱は重大な問題となシ、大規模集積回路の・母ッケージを冷却することが最
も重要となってきた。そのような・ぐッケージは低温発生容器に入れられている
液化ガスに入れるということが提案されている。その構成は、例えばUS−A−
4027728に開示されている。この特許による装置において、冷却液に入れ
られた1群の半導体素子は外゛部利用装置とその素子とを電気的に接続する1対
の電気絶縁ケーブル状端子によって容器内の一定の場所に保持される。このケー
ブル状端子を使用するこのような構成では、多数の接続を行う際、例えば、接続
線のインピーダンスの制御の必要性、漏話防止の必要性及びケーブルを曲げるこ
との困難性等の多くの問題がある。
発明の開示
この発明の目的は上記の問題を解決した冷却容器を提供することである。
この発明によると、低温発生液を入れ、それから生じたガスを排出するだめの導
管手段を有する容器であシ、そこに満たされている低温発生液に電子回路手段を
入れて冷却する低温発生容器であって、各々が外壁及び内部没入チャンバを有す
る1対の容器部と、前記没入チャンバを分離するため前記容器部の間にある腹部
材とを有し、前記膜部材は前記容器部の没入チャンバ間で液体を流す開口手段と
前記容器の内部間に通じる部分とを有し、前記膜部材と前記容器部の各々との間
に液体密封シールが与えられ、前記電子回路手段は前記没入チャンバ内において
前記腹部材の部分に取付けられた取付手段に取付けられ、前記膜部材は前記取付
手段に接続された電気導体手段を有し、前記電気導体手段は前記取付手段から前
記容器部の前記内部まで前記膜部材を通るようにした低温発生容器を提供する。
この発明による低温発生容器の他の利点は、a) この膜は2本のケーブルよシ
多くの接続を提供し、
b)この膜はケーブルよシ密封が楽であシ、C)この容器は組立が楽である。
図面の簡単な説明
次に、下記の添付図面を参照してその例によシこの発明の一実施例を説明する。
第1図は、没入チャンバを示すため上部を切欠いたこの発明の低温発生容器の平
面図である。
第2図は、第1図の2−2線から見た低温発生容器の側部断面図である。
第3図は、縦構造に取付けられたこの発明の低温発生容器の一部の側面図である
。
第4図は、水平構造に取付けられたこの発明の低温発生容器の側部断面図である
。
第5図は、この発明の低温発生容器に使用するフレキシブル膜部材の一実施例で
ある。
第6図は、その中の電気導体を示すため表面切欠部を有するこの発明の低温発生
容器に使用するフレキシブル膜部材の他の実施例を示す図である。
第7図は、この発明の低温発生容器に使用する7レキシプル膜部材の他の実施例
を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
第1図は没入チャンバ12を表わすように上部を切欠いた低温発生容器10の平
面図であシ、第2図は第1図の容器の側部断面図である。
第1及び2図の低温発生容器10は1対のシールの間に設けられたフレキシブル
膜部材18によって分離されている対称的な2つの絶縁された容器部から成る。
フレキシブル膜部材18はICフケ、ト20に接続されたICチップ22が没入
チャンバ12の1つの中に置かれるように設けられた集積回路(IC)ソケット
20を有する。第5図で説明するように、フレキシブル膜部材18は希望によシ
複数のICコネクタを含むことができる。
低温発生容器10はポルト24のような取付ハードウェアによって印刷回路が−
ド26(第2図)に固定される。各対称部14.16は外壁32及び内壁34を
含む、外壁32の次には、外壁32に機械的強度を与える閉セル・プラスチック
・ホームのような絶縁材料層36があシ、容器部14,16がポルト24で共に
締付けられたときその間にはさまれるようにしたフレキシブル膜18と対称容器
部14.16との間をかたく蒸気を密封しうるようにした寸法である。真空チャ
ンバ30は内壁34と絶縁層36の次のチャンバ壁33とによって形成される。
各真空チャンバ30は溶接囲いの形に作られる。真空チャンバ30は各容器部1
4.16の没入チャンバ12の周囲の超絶縁層を形成する。容器部14.16の
絶縁層36はシール19の間のフレキシブル膜部材18と共に、密封された低温
発生容器10の外部環境から没入チャンバ12を密封する。それによって、没入
チャンバ12内に低温発生液42を保持し霜の形成を防止する。
フレキシブル膜部18は、例えば、ポリイミド又はテフロン材のような低温で固
体にならない材料から成る市販のフレックス回路でよい。テフロンはE、1.D
uFont de Nemoura and Companyの商標であるのフ
レキシブル膜部材18は異なる回路応用のためにインピーダンスを制御すること
ができる内部電気導体(第6図)を含み、ICソケット20とプリント回路?−
ド26に取付けられているソケット43に差込みうるプラグイン・アダプタ40
との間に電気接続を行う。ICソケット20及びプラグイン・アダプタ40は夫
々フレキシブル膜部材18内の個々の導体25にはんだ付けされて電気接続を形
成するピン21.41を有する。
没入チャンバ12は完全にICチップ22を取囲み、それを冷却する液体窒素の
ような低温発生液42を保有する。容器部14.16の間を液体及びガスが流動
する穴又は開口44はICフケ、)20(第1図)の周囲に通常配置されている
フレキシブル膜部材18に設けられる。第3,4図において、低温発生液42は
冷却されるICチップ22の周囲に、すなわち穴44を通して他の低温発生容器
に自由に流れるよう対称容器部14.16の1つの没入チャンバ12に導入され
る。
第3図は一方の容器部14を除去して垂直構造に取付けられた低温発生容器部1
6を表わす図である。容器部16の没入チャンバ12は点線で示す。矢印52で
示すように、低温発生液42は外壁32、絶縁材料32及び容器部16の真空チ
ャンバ30を通して延びるチューブ50に溢って没入チャンバ12に導入される
。低温発生液42は没入チャンバ12の液−ガス界面55の下にある管50の終
端54から出る。液42はチップ22を冷却すると、ガス状態に気化する。発生
したガスは矢印57で示すように管56を通して没入チャンバ12から排出され
る。その終端58は液−ガス界面の上にある。フレキシブル膜部材18は容器部
14.16が組立てられたとき低温発生容器10を形成する対称容器部14.1
6を分離する容器160カバーである拡大部60を有する。フレキシブル膜部6
0は第1,2図で説明したように容器部14.16を締めるためのポルト24を
通す穴62を持つ。
第4図は水平構造に取付けられた低温発生容器10の他の実施例の側部断面図で
ある。第4図の構造の低温発生液42は矢印52のように管50を通してその終
端54から流出され、容器lOが水平に取付けられたとき液−ガス界面55の下
方に曲げられる。管56はチップ22が冷却される(矢印57)と、低温発生液
42が気化したガスを排出するため液−ガス界面の上に曲げられる。
第5.6.7図は対称容器部14.16(第2,4図)を分離するフレキシブル
膜部材18のなしうる数数の実施例を示す。第5図の実施例は中央に配置された
拡張部60と、そこから反対方向に延びる狭い拡張部80.81とを有する。プ
ラグイン・アダプタ82゜83は夫々拡張部80.81の各端部に設けられ、フ
レキシブル膜部材18の電気導体に電気的に接続され、拡張部60の複数のIC
チッf84に接続される電気接続を形成する。
第6図は拡張部60が狭い延長部85の一端にあシ、他端にプラグイン・アダプ
タ40があるフレキシブル膜部材18の実施例を示す。
第7図は拡張部60から延びる延長部87が部材88.89に分離されるように
した膜部材18の他の実施例を示す。部材88はプラグイン・アダゲタ90で終
シ、部材89はアダプタ92で終る。第7図の構造はプラグイン・アダプタ90
.92が印刷回路が一ドのソケットを分離し又は希望によシ多層回路ボードの反
対側にソケットを分離してプラグインする場合に特に有益である。
更に、フレキシブル膜部材の利点は、例えば第2図に示すようにコンパクト構造
にするため容易に曲げることができるということである。又、ウェーブはんだ付
方式を用いて、外部接続と平IJ gン状にした膜部材の終端とを接続するのが
容易であるという利点もある。
FIG、 1
FIG、3
平成 1年 2月20E)
特許庁長官 吉 1)文 毅 殿
1 特許出願の表示
PCT/US8B102049
2、発明の名称
電子回路手段を冷却する低温発生容器
3、 特許出願人
代表者 ホークツウィルバート ジュニア国 籍 アメリカ金床−
4、代理人 〒107 電582−6111 C内2481)住 所 東京都港
区赤坂1丁目2番2号日本エヌ・シー・アール株式会社内
5、 補正書の提出年月日
1988年11月16日
6、添付書類の目録
請求の範囲
1、 低温発生容器(10)の壁を通し、前記低温発生容器(10)の中に低温
発生液を導入し前記低温発生容器(10)から発生したガスを排気するために延
びる導管手段(50,56)を有する低温発生容器(10)に入れられている低
温発生液に没入させて電気回路手段(22,84)を冷却する低温発生容器であ
って、各々が外壁(32)及び内部没入チャンバ(12)を有する1対の容器部
(14,16)と、
前記容器部(14,16)の間に設けられ、前記没入チャンバ(12)を分離す
る膜部材(18)とを含み、前記膜部材(18)は前記容器部(14,16)の
前記没入チャンバ(12)の間の液体流通を与える開口手段(44)と、前記容
器部(14,16)の間及び前記容器部の外部に延びる部分(80,81,85
,87)とを有し、
それによって、前記膜部材(18)と前記容器部(14゜16)の各々との間に
液体密封シールが与えられ、前記電子回路手段(22,84)は前記没入チャン
バ(12)内の前記膜部材(18)の一部(60)に取付けられた取付手段(2
0)に設置され、
前記膜部材(18)は前記取付手段(20)に接続された電子導体手段(25)
を有し、
前記電子導体手段(25)は前記取付手段(20)から前記容器部(14,16
)の外部の位置に前記膜部材(18)内を通るようにした低温発生容器。
2、 前記膜部材(18)はフレキシブル回路であることを特徴とする請求の範
囲1項記載の低温発生容器。
3、 前記膜部材(18)はポリイミドか又はテフロン(Teflon )材料
から成ることを特徴とする請求の範囲2項記載の低温発生容器。
4、前記電子導体手段(25)は前記電子回路手段(22゜84)とプラグイン
・アダプタ(40)との間の電気接続を提供し、前記プリント回路ボード(26
)に取付けられているソケット(43)にプラグインされるようにしたことを特
徴とする請求の範囲1項記載の低温発生容器。
5、 前記低温発生容器(lO)は前記低温発生容器部(14,16)を共に締
固定するだめのクランピング手段(24)を有することを特徴とする請求の範囲
4項記載の低温発生容器。
6、 前記クランピング手段(24)は更に前記共に締固定された前記低温発生
容器部(14,16)を前記プリント回路が−ド(26)に取付けるための取付
手段を有することを特徴とする5項記載の低温発生容器。
7、前記低温発生容器部(14,16)の各々はその前記外壁(32)とその前
記没入チャンバ(12)との間に絶縁するだめの真空チャンバ(30)を含み、
前記絶縁するための真空チャンバ(30)は前記没入チャンバ(12)を取囲み
、前記低温発生容器は前記真空チャンバ(30)の各々と前記膜部材(18)と
の間に設けられ、その間の液体密封を行わせるようにしたシーリング部材(19
)を含むことを特徴とする請求の範囲1項記載の低温発生容器。
8、前記低温発生容器部(14,16)の各々はその前記外壁(32)とその前
記絶縁真空チャンバ(30)との間に絶縁材料層(36)を含み、前記絶縁材料
層(36)は前記膜部材(18)に接触して蒸気密封シールを形成する大きさと
されることを特徴とする請求の範囲7項記載ご低温発生容器。
9、 前記絶縁材料層(36)は閉じられたセルのプラスチック・ホームから成
ることを特徴とする請求の範囲8項記載の低温発生容器。
10、前記導管手段(50,56)は前記低温発生液の液−ガス界面以下の前記
没入チャンバ(12)の1つに終端を有する供給導管(50)を含み、前記液−
ガス界面以上の前記没入チャンバ(12)の1つに終端(58)を有する排気導
管を含むことを特徴とする請求の範囲1項記載の低温発生容器。
国@調査報告
SA 23097
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.低温発生容器(10)の壁を通し、前記低温発生容器(10)の中に低温発 生液を導入し前記低温発生容器(10)から発生したガスを排気するために延び る導管手段(50,56)を有する低温発生容器(10)に入れられている低温 発生液に没入させて電気回路手段(22,84)を冷却する低温発生容器であっ て、各々が外壁(32)及び内部没入チャンバ(12)を有する1対の容器部( 14,16)と、前記容器部(14,16)の間に設けられ、前記没入チャンバ (12)を分離する膜部材(18)とを含み、 前記膜部材(18)は前記容器部(14,16)の間にあって前記没入チャンバ (12)を分離し、前記膜部材(18)は前記容器部(14,16)の前記没入 チャンバ(12)の間の液体流通を与える開口手段(44)と、前記容器部(1 4,16)の間及び前記容器部の外部に延びる部分(80,81,85,87) とを有し、 それによって、前記膜部材(18)と前記容器部(14,16)の各々との間に 液体密封シールが与えられ、前記電子回路手段(22,84)は前記没入チャン バ(12)内の前記膜部材(18)の一部(60)に取付けられた取付手段(2 0)に設置され、前記膜部材(18)は前記取付手段(20)に接続された電子 導体手段(25)を有し、 前記電子導体手段(25)は前記取付手段(20)から前記容器部(14,16 )の外部の位置に前記膜部材(18)内を通るようにした低温発生容器。 2.前記膜部材(18)はフレキシブル回路であることを特徴とする請求の範囲 1項記載の低温発生容器。 3.前記膜部材(18)はポリイミドか又はテフロン(Teflon)材料から 成ることを特徴とする請求の範囲2項記載の低温発生容器。 4.前記電子導体手段(25)は前記電子回路手段(22,84)とプラグイン ・アダプタ(40)との間の電気接続を提供し、前記プリント回路ボード(26 )に取付けられているソケット(43)にプラグインされるようにしたことを特 徴とする請求の範囲1項記載の低温発生容器。 5.前記低温発生容器(10)は前記低温発生容器部(14,16)を共に締固 定するためのクランピング手段(24)を有することを特徴とする請求の範囲4 項記載の低温発生容器。 6.前記クランピング手段(24)は更に前記共に締固定された前記低温発生容 器部(14,16)を前記プリント回路ボード(26)に取付けるための取付手 段を有することを特徴とする5項記載の低温発生容器。 7.前記低温発生容器部(14,16)の各々はその前記外壁(32)とその前 記没入チャンバ(12)との間に絶縁するための真空チャンバ(30)を含み、 前記絶縁するための真空チャンバ(30)は前記没入チャンバ(12)を取囲み 、前記低温発生容器は前記真空チャンバ(30)の各々と前記膜部材(18)と の間に設けられ、その間の液体密封を行わせるようにしたシーリング部材(19 )を含むことを特徴とした請求の範囲1項記載の低温発生容器。 8.前記低温発生容器部(14,16)の各々はその前記外壁(32)とその前 記絶縁真空チャンバ(30)との間に絶縁材料層(36)を含み、前記絶縁材料 層(36)は前記膜部材(18)に接触して蒸気密封シールを形成する大きさと されることを特徴とする請求の範囲7項記載の低温発生容器。 9.前記絶縁材料層(36)は閉じられたセルのプラスチック・ホームから成る ことを特徴とする請求の範囲8項記載の低温発生容器。 10.前記導管手段(50,56)は前記低温発生液の液−ガス界面以下の前記 没入チャンバ(12)の1つに終端を有する供給導管(50)を含み、前記液− ガス界面以上の前記没入チャンバ(12)の1つに終端(58)を有する排気導 管を含むことを特徴とする請求の範囲1項記載の低温発生容器。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US64,626 | 1987-06-22 | ||
US064,626 | 1987-06-22 | ||
US07/064,626 US4805420A (en) | 1987-06-22 | 1987-06-22 | Cryogenic vessel for cooling electronic components |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01503665A true JPH01503665A (ja) | 1989-12-07 |
JP2521804B2 JP2521804B2 (ja) | 1996-08-07 |
Family
ID=22057225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63505787A Expired - Lifetime JP2521804B2 (ja) | 1987-06-22 | 1988-06-15 | 電子回路手段を冷却する低温発生容器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4805420A (ja) |
EP (1) | EP0321550B1 (ja) |
JP (1) | JP2521804B2 (ja) |
DE (1) | DE3885071T2 (ja) |
WO (1) | WO1988010511A1 (ja) |
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- 1988-06-15 EP EP88906405A patent/EP0321550B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-06-15 DE DE3885071T patent/DE3885071T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-06-15 JP JP63505787A patent/JP2521804B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1988010511A1 (en) | 1988-12-29 |
JP2521804B2 (ja) | 1996-08-07 |
DE3885071D1 (de) | 1993-11-25 |
EP0321550B1 (en) | 1993-10-20 |
US4805420A (en) | 1989-02-21 |
EP0321550A1 (en) | 1989-06-28 |
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