JPH0135310Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0135310Y2 JPH0135310Y2 JP1983175947U JP17594783U JPH0135310Y2 JP H0135310 Y2 JPH0135310 Y2 JP H0135310Y2 JP 1983175947 U JP1983175947 U JP 1983175947U JP 17594783 U JP17594783 U JP 17594783U JP H0135310 Y2 JPH0135310 Y2 JP H0135310Y2
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- JP
- Japan
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- reflective
- photosensor
- reel stand
- reflective photosensor
- circumferential surface
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、非反射部における反射形ホトセン
サへの直接反射をなくして検出精度の向上を図つ
た、テープレコーダのリール台回転検出装置に関
する。
サへの直接反射をなくして検出精度の向上を図つ
た、テープレコーダのリール台回転検出装置に関
する。
反射形ホトセンサを用いたテープレコーダのリ
ール台回転検出装置として第１図に示すようなも
のがある。すなわち、リール台１の底部に一定間
隔をもつて反射形ホトセンサ２を対向配置し、反
射形ホトセンサ２と対向するリール台１の薄い底
部円周面に反射部３と非反射部４を交互に形成し
たものである。
ール台回転検出装置として第１図に示すようなも
のがある。すなわち、リール台１の底部に一定間
隔をもつて反射形ホトセンサ２を対向配置し、反
射形ホトセンサ２と対向するリール台１の薄い底
部円周面に反射部３と非反射部４を交互に形成し
たものである。
反射部３は、反射形ホトセンサ２の発光素子か
らの発光を反射形ホトセンサ２の受光素子に反射
率大で直接反射するもので、アルミホツトスタン
プ、アルミ板等から形成されている。
らの発光を反射形ホトセンサ２の受光素子に反射
率大で直接反射するもので、アルミホツトスタン
プ、アルミ板等から形成されている。
一方、非反射部４は、反射形ホトセンサ２の発
光素子からの発光を反射形ホトセンサ２の受光素
子に反射率小で直接反射するもので、アルミ板に
塗装したもの、樹脂の表面に細かい凹凸をつけた
もの、また第２図に示すようにリール台１の底部
円周面に凹凸面を形成し、凸面を反射部３とし、
凹面を非反射部４として反射部３と非反射部４と
で反射形ホトセンサ２との離隔距離を変化させた
もの等がある。
光素子からの発光を反射形ホトセンサ２の受光素
子に反射率小で直接反射するもので、アルミ板に
塗装したもの、樹脂の表面に細かい凹凸をつけた
もの、また第２図に示すようにリール台１の底部
円周面に凹凸面を形成し、凸面を反射部３とし、
凹面を非反射部４として反射部３と非反射部４と
で反射形ホトセンサ２との離隔距離を変化させた
もの等がある。
そうして、反射部３と非反射部４との反射率の
差を反射形ホトセンサ２の受光素子により検出
し、リール台１の回転を検出している。
差を反射形ホトセンサ２の受光素子により検出
し、リール台１の回転を検出している。
この従来技術においては、上記のように反射形
ホトセンサ２が非反射部４からも受光するため、
反射部３と非反射部４との反射率の差は小さく、
したがつて反射部３と非反射部４とにおける反射
形ホトセンサ２の出力電圧の差（E3−E4）は小
さい。また、反射形ホトセンサ２の出力電圧Ｅの
波形は反射むらやゴミなどでノイズを含んでいる
場合があるため、ヒステリシスをもたせたトリガ
レベルＨ，Ｌを設け、出力電圧Ｅがこのレベル以
上または以下になつたときにパルスを検出する様
に回路構成している（第３図参照）。
ホトセンサ２が非反射部４からも受光するため、
反射部３と非反射部４との反射率の差は小さく、
したがつて反射部３と非反射部４とにおける反射
形ホトセンサ２の出力電圧の差（E3−E4）は小
さい。また、反射形ホトセンサ２の出力電圧Ｅの
波形は反射むらやゴミなどでノイズを含んでいる
場合があるため、ヒステリシスをもたせたトリガ
レベルＨ，Ｌを設け、出力電圧Ｅがこのレベル以
上または以下になつたときにパルスを検出する様
に回路構成している（第３図参照）。
したがつて、この従来技術には、反射形ホトセ
ンサ２の出力電圧の差（E3−E4）が小さいため
最大電圧値E3とトリガレベルの上限値Ｈの差が
小さく、ゴミの付着や部品回路特性のばらつきに
よつて、反射形ホトセンサ２の出力電圧Ｅがトリ
ガレベルＨ，Ｌの間に入ると、回転の検出ができ
なくなり、検出精度が低下してしまうという欠点
がある。
ンサ２の出力電圧の差（E3−E4）が小さいため
最大電圧値E3とトリガレベルの上限値Ｈの差が
小さく、ゴミの付着や部品回路特性のばらつきに
よつて、反射形ホトセンサ２の出力電圧Ｅがトリ
ガレベルＨ，Ｌの間に入ると、回転の検出ができ
なくなり、検出精度が低下してしまうという欠点
がある。
この考案は、このような従来技術の欠点を解決
する目的でなされたものであつて、この考案のテ
ープレコーダのリール台回転検出装置は、リール
台の分厚い底部円周面に反射形ホトセンサからの
発光を該反射形ホトセンサに直接反射する反射部
と、該反射形ホトセンサからの発光を該反射形ホ
トセンサに直接反射しない非反射部とを形成した
ものである。
する目的でなされたものであつて、この考案のテ
ープレコーダのリール台回転検出装置は、リール
台の分厚い底部円周面に反射形ホトセンサからの
発光を該反射形ホトセンサに直接反射する反射部
と、該反射形ホトセンサからの発光を該反射形ホ
トセンサに直接反射しない非反射部とを形成した
ものである。
以下、この考案を図面に基づいて説明する。
第４図は、この考案の一実施例を示す図であ
る。
る。
リール台１の底部円周面１Ａに反射部３と非反
射部１０が交互に形成されている。底部円周面１
Ａは従来に比べて分厚く形成されている。
射部１０が交互に形成されている。底部円周面１
Ａは従来に比べて分厚く形成されている。
反射部３は、リール台１の底部円周面１Ａと一
定間隔をもつて対向配置された反射形ホトセンサ
２と平行になつており、反射形ホトセンサ２の発
光素子２１からの発光を反射率大で反射形ホトセ
ンサ２の受光素子２２にすべて直接反射する。
定間隔をもつて対向配置された反射形ホトセンサ
２と平行になつており、反射形ホトセンサ２の発
光素子２１からの発光を反射率大で反射形ホトセ
ンサ２の受光素子２２にすべて直接反射する。
非反射部１０は、底部円周面１Ａを底部円周面
１Ａの外周下端部から内周上端部に向つて切り欠
いた形の傾斜面となつていて、反射形ホトセンサ
２および反射部３に対して傾斜しており、反射形
ホトセンサ２の発光素子２１からの発光をすべて
リール台１の内周側に反射し、反射形ホトセンサ
２の受光素子２２に直接反射しない。
１Ａの外周下端部から内周上端部に向つて切り欠
いた形の傾斜面となつていて、反射形ホトセンサ
２および反射部３に対して傾斜しており、反射形
ホトセンサ２の発光素子２１からの発光をすべて
リール台１の内周側に反射し、反射形ホトセンサ
２の受光素子２２に直接反射しない。
なお、非反射部１０およびリール台１の内周側
に塗装等をし、反射率を小さくしている。
に塗装等をし、反射率を小さくしている。
リール台１が回転すると、反射部３と非反射部
１０は反射形ホトセンサ２の上部を交互に通過
し、それぞれに応じて、反射形ホトセンサ２は出
力電圧Ｅを発生する。
１０は反射形ホトセンサ２の上部を交互に通過
し、それぞれに応じて、反射形ホトセンサ２は出
力電圧Ｅを発生する。
反射部３における出力電圧E3は従来技術と同
じであるが、非反射部１０における出力電圧E10
は、従来技術に比べてきわめて小さくなる（第５
図参照）。これは、従来の非反射部が発光素子か
らの発光を反射率小で受光素子に直接反射するの
に対し、非反射部１０は発光素子からの発光を受
光素子に直接反射しないので、受光素子の受光光
量がきわめて異なるからである。
じであるが、非反射部１０における出力電圧E10
は、従来技術に比べてきわめて小さくなる（第５
図参照）。これは、従来の非反射部が発光素子か
らの発光を反射率小で受光素子に直接反射するの
に対し、非反射部１０は発光素子からの発光を受
光素子に直接反射しないので、受光素子の受光光
量がきわめて異なるからである。
したがつて、この考案における出力電圧の差
E3−E10は従来に比べて大きくなるので、トリガ
レベルＨ，Ｌを全体に下げることができる。この
ため最大電圧値E3とトリガレベルの上限値Ｈの
差は大きくなり、従来ならばゴミの付着や部品回
路特性のばらつきによつて、トリガレベルの間に
入るものであつてもトリガレベルの間に入らなく
なるので、検出精度は向上する。
E3−E10は従来に比べて大きくなるので、トリガ
レベルＨ，Ｌを全体に下げることができる。この
ため最大電圧値E3とトリガレベルの上限値Ｈの
差は大きくなり、従来ならばゴミの付着や部品回
路特性のばらつきによつて、トリガレベルの間に
入るものであつてもトリガレベルの間に入らなく
なるので、検出精度は向上する。
以上説明してきたように、この考案は、反射部
に対して傾斜していて反射形ホトセンサからの発
光を該反射ホトセンサに直接反射しない非反射部
を設けることによつて、検出精度の向上を図るこ
とができるという効果が得られる。
に対して傾斜していて反射形ホトセンサからの発
光を該反射ホトセンサに直接反射しない非反射部
を設けることによつて、検出精度の向上を図るこ
とができるという効果が得られる。
第１図は従来技術を示す図で、ａは一部断面を
含む正面図、ｂはリール台の底面図、第２図は反
射部・非反射部の一態様を示す図、第３図は従来
技術における反射形ホトセンサの出力波形を示す
図、第４図はこの考案の一実施例を示す図で、ａ
は一部断面を含む正面図、ｂはリール台の底面
図、ｃはｂのＡ−Ａ断面図、ｄはｂのＢ−Ｂ断面
図、第５図はこの考案における反射形ホトセンサ
の出力波形を示す図である。 １……リール台、２……反射形ホトセンサ、３
……反射部、４，１０……非反射部。
含む正面図、ｂはリール台の底面図、第２図は反
射部・非反射部の一態様を示す図、第３図は従来
技術における反射形ホトセンサの出力波形を示す
図、第４図はこの考案の一実施例を示す図で、ａ
は一部断面を含む正面図、ｂはリール台の底面
図、ｃはｂのＡ−Ａ断面図、ｄはｂのＢ−Ｂ断面
図、第５図はこの考案における反射形ホトセンサ
の出力波形を示す図である。 １……リール台、２……反射形ホトセンサ、３
……反射部、４，１０……非反射部。
Claims (1)
- 反射形ホトセンサを用いたテープレコーダのリ
ール台回転検出装置において、リール台の分厚い
底部円周面に、該底部円周面と一定間隔をもつて
対向配置された該反射形ホトセンサと平行になつ
ていて該反射形ホトセンサからの発光を該反射形
ホトセンサにすべて直接反射する反射部と、該底
部円周面の外周下端部から内周上端部に向つて切
り欠いた形の傾斜面になつていて該反射形ホトセ
ンサからの発光を該反射形ホトセンサに直接反射
しない非反射部とを形成したことを特徴とするテ
ープレコーダのリール台回転検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17594783U JPS6085746U (ja) | 1983-11-16 | 1983-11-16 | テ−プレコ−ダのリ−ル台回転検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17594783U JPS6085746U (ja) | 1983-11-16 | 1983-11-16 | テ−プレコ−ダのリ−ル台回転検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6085746U JPS6085746U (ja) | 1985-06-13 |
| JPH0135310Y2 true JPH0135310Y2 (ja) | 1989-10-27 |
Family
ID=30382655
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17594783U Granted JPS6085746U (ja) | 1983-11-16 | 1983-11-16 | テ−プレコ−ダのリ−ル台回転検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6085746U (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS539104A (en) * | 1976-07-13 | 1978-01-27 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Cassette tape running speed detector |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56117365U (ja) * | 1980-02-12 | 1981-09-08 |
-
1983
- 1983-11-16 JP JP17594783U patent/JPS6085746U/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS539104A (en) * | 1976-07-13 | 1978-01-27 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Cassette tape running speed detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6085746U (ja) | 1985-06-13 |
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