JPH0134101Y2 - - Google Patents

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JPH0134101Y2
JPH0134101Y2 JP20401383U JP20401383U JPH0134101Y2 JP H0134101 Y2 JPH0134101 Y2 JP H0134101Y2 JP 20401383 U JP20401383 U JP 20401383U JP 20401383 U JP20401383 U JP 20401383U JP H0134101 Y2 JPH0134101 Y2 JP H0134101Y2
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JP
Japan
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resistor
series circuit
thermistor
capacitor
connection point
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JP20401383U
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、例えば火災感知器などに利用され
るサーミスタを用いた温度検出装置に関するもの
である。
〔従来の技術〕 従来の温度検出装置は、熱応答時定数の異なる
2個のサーミスタを用いて温度上昇率を検出して
いた。その一例を第1図に示す。Eは、抵抗R0
コンデンサC0、ツエナーダイオードDZ、トラン
ジスタTr0からなる定電圧回路である。Bは、抵
抗R1,R2、サーミスタTH1,TH2からなるブリ
ツジ回路、PUTは中点a,g間に接続した開放
電圧比を調整可能なユニジヤンクシヨントランジ
スタUJTに相当するシリコンユニラテラルスイ
ツチ(SUS),Tr1はトランジスタ、R3,R4は抵
抗、C1はコンデンサ、SCRはサイリスタ、L,
Cは受信機への出力端子である。
サーミスタTH1とサーミスタTH2とはサーミ
スタ定数(B)すなわち抵抗温度係数は同じである
が、温度変化に伴う抵抗値変化の熱応答の遅れを
示す熱応答時定数が両者で異なり、スイツチ
PUTのゲートに接続したサーミスタTH1の方が
スイツチPUTのアノードに接続したサーミスタ
TH2よりも小さい。この場合、サーミスタTH1
は、数十秒間程度以内に急激に温度上昇をするの
を検出することから、その抵抗値変化の熱応答時
定数は十分に小さく設定してある。また、サーミ
スタTH2は、数十秒程度では抵抗値を変化せず、
数分ないし数十分程度の時間の緩やかな温度上昇
には追従するように熱時定数を十分に大きく設定
している。
ブリツジ回路Bは、定常時は平衡状態にあり、
スイツチPUTのアノード電圧Vaはゲート電圧
Vgよりも低く、スイツチPUTはオフである。温
度が上昇すると、両サーミスタTH1,TH2の抵
抗値が減少するが、温度上昇率が低いと両サーミ
スタTH1,TH2の抵抗比は一定に保たれるので、 Va<Vg の条件は変わらず、スイツチPUTはオフを保つ。
しかし、温度上昇率が高いと、熱応答時定数の小
さい方のサーミスタTH1は、温度上昇に対する
抵抗値変化の追従が早く、抵抗値を速く低下させ
る。ところが、熱応答時定数の大きい方のサーミ
スタTH2は、温度上昇に対する抵抗値変化の追
従が遅く、抵抗値の低下が遅れる。したがつて、
抵抗R1およびサーミスタTH1の接続点の電位Vg
が抵抗R2およびサーミスタTH2の接続点の電位
Vaよりも速く低下する。この結果、 Va>Vg となつてスイツチPUTがオンとなる。これによ
り、トランジスタTr1がオンとなり、サイリスタ
SCRをオンにする。
〔考案が解決しようとする課題〕
しかしながら、両サーミスタTH2,TH2の抵
抗値、熱応答時定数、サーミスタ定数(B)などの誤
差、ばらつきを考慮に入れて調整しなければなら
ず、その調整が困難であつた。また、サーミスタ
TH2の熱応答時定数は、電気的な時定数と違つ
て最適なものが得にくいという難点があつた。以
上のために温度上昇率の検出精度が低いものとな
つていた。
この考案の目的は、調整が容易で、温度上昇率
の検出精度が高い温度検出装置を提供することで
ある。
〔課題を解決するための手段〕
この考案の温度検出装置は、定電圧回路の出力
端に接続したサーミスタと抵抗とからなる第1の
直列回路と、この第1の直列回路に並列接続した
抵抗とコンデンサとからなり前記サーミスタの熱
応答時定数よりも充電時定数の大きな第2の直列
回路と、前記第1の直列回路におけるサーミスタ
と抵抗との接続点にベースを接続し前記第2の直
列回路における抵抗とコンデンサとの接続点をエ
ミツタ側としコレクタ側に放電用抵抗を介して前
記第2の直列回路におけるコンデンサに並列接続
し通常はオンで温度上昇とともにオフとなるトラ
ンジスタと、前記第1の直列回路におけるサーミ
スタと抵抗との接続点にアノードを接続し前記第
2の直列回路における抵抗とコンデンサとの接続
点にゲートを接続した制御用スイツチ素子と、こ
の制御用スイツチ素子の動作に基づいて動作する
検出用スイツチ素子とを備えた構成にしている。
〔作用〕
この温度検出装置では、サーミスタを1個減ら
し、その代わりに抵抗とコンデンサとによる時定
数回路(第2の直列回路)を設け、コンデンサが
抵抗を通して充電されることによる抵抗およびコ
ンデンサの接続点の電圧の上昇速度よりも、温度
上昇に伴うサーミスタの抵抗値の減少によるサー
ミスタおよび抵抗の接続点の電圧の上昇速度の方
が速くなるように、第1の直列回路のサーミスタ
の熱応答時定数よりも第2の直列回路における抵
抗およびコンデンサの充電時定数の方を大きく設
定している。
そして、温度が安定している状態においては、
トランジスタのスイツチング作用によつて第1の
直列回路のサーミスタおよび抵抗の接続点の電圧
よりも第2の直列回路の抵抗およびコンデンサの
接続点の電圧がトランジスタのベース・エミツタ
間電圧だけ高い状態で安定する。
温度が上昇すると、第1の直列回路のサーミス
タの抵抗値が減少し、第1の直列回路のサーミス
タおよび抵抗の接続点の電圧が上昇する。この結
果、この第1の直列回路のサーミスタおよび抵抗
の接続点の電圧の上昇でもつてトランジスタに逆
バイアスが加わつてトランジスタが遮断し、第2
の直列回路において抵抗を通してコンデンサが充
電されることで、第2の直列回路の抵抗およびコ
ンデンサの接続点の電圧が上昇し、その電圧値が
第1の直列回路のサーミスタおよび抵抗の接続点
の電圧よりもトランジスタのベース・エミツタ間
電圧だけ高い状態で安定する。
温度の上昇率が小さいと、第1の直列回路のサ
ーミスタおよび抵抗の接続点の電圧の上昇にほぼ
追従して第2の直列回路の抵抗およびコンデンサ
の接続点の電圧が上昇し、第1の直列回路のサー
ミスタおよび抵抗の接続点の電圧が第2の直列回
路の抵抗およびコンデンサの接続点の電圧より高
くならない。
ところが、温度の上昇率が大きいと、第1の直
列回路のサーミスタおよび抵抗の接続点の電圧の
上昇に第2の直列回路の抵抗およびコンデンサの
接続点の電圧の上昇が追従できなくなり、第1の
直列回路のサーミスタおよび抵抗の接続点の電圧
が第2の直列回路の抵抗およびコンデンサの接続
点の電圧を超えることになり、制御用スイツチ素
子が導通し、したがつて検出用スイツチ素子が導
通することになる。
〔実施例〕
この考案の一実施例を第2図に基づいて説明す
る。Eは、抵抗R0、コンデンサC0、ツエナーダ
イオードDZ、トランジスタTr0からなる定電圧回
路である。B1は、定電圧回路Eの出力端に接続
したサーミスタTHと抵抗R5とからなる第1の直
列回路S1、およびこの第1の直列回路S1に並列接
続した抵抗R6とコンデンサC2とからなる第2の
直列回路S2で構成されたブリツジ回路である。抵
抗R6は可変抵抗である。
第2の直列回路S2は、コンデンサC2が抵抗R6
を通して充電されることによる抵抗R6およびコ
ンデンサC2の接続点の電圧VGの上昇速度よりも、
温度上昇に伴うサーミスタTHの抵抗値の減少に
よるサーミスタTHおよび抵抗R5の接続点の電圧
VAの上昇速度の方が速くなるように、第1の直
列回路S1のサーミスタTHの温度変化に伴う抵抗
値変化の熱応答の遅れを示す熱応答時定数よりも
第2の直列回路S2における抵抗R6およびコンデ
ンサC2の充電時定数の方を大きく設定している。
この場合、サーミスタTHは、従来例のサーミ
スタTH1と同様に、数十秒間程度以内に急激に
温度上昇をするのを検出することから、その抵抗
値変化の熱応答時定数は十分に小さく設定してあ
る。また、第2の直列回路の抵抗R6およびコン
デンサC2は、従来例のサーミスタTH2に代わる
ものであり、その充電時定数は、数十秒程度では
抵抗R6およびコンデンサC2の接続点の電圧を変
化せず、数分ないし数十分程度の時間の経過に伴
つて抵抗R6およびコンデンサC2の接続点の電圧
を緩やかに変化させるように、充電時定数を十分
に大きく設定している。
制御用スイツチ素子としてのスイツチPUTは、
開放電圧比を調整可能なユニジヤンクシヨントラ
ンジスタUJTに相当するシリコンユニラテラル
スイツチ(SUS)で、そのアノードはサーミス
タTHと抵抗R5との接続点Aに、そのゲートは抵
抗R6とコンデンサC2との接続点Gに、そのカソ
ードはトランジスタTr1のベースにそれぞれ接続
されている。
Tr2はPNP型のトランジスタで、そのエミツタ
はコンデンサC2の正端子に、コレクタは抵抗R7
を介してコンデンサC2の負端子に、ベースは接
続点Aにそれぞれ接続されている。コンデンサ
C2、抵抗R5、定電圧回路Eの負端子は受信機へ
の負の出力端子Cに接続され、サーミスタTH、
抵抗R6、定電圧回路Eの正端子は受信機への正
の出力端子Lに接続されている。
トランジスタTr1のコレクタは抵抗R3を介して
トランジスタTr0のエミツタに、また、エミツタ
は検出用スイツチ素子としてのサイリスタSCR
のゲートにそれぞれ接続されるとともに、抵抗
R4を介して、またコンデンサC1を介して負の出
力端子Cに接続されている。
Tr3はPNP型のトランジスタで、そのエミツタ
は抵抗R6の正端子に、そのコレクタは接続点G
に接続されている。抵抗R8とコンデンサC3との
直列回路は、抵抗R8を正側とする状態でブリツ
ジ回路B1の端子間に接続され、抵抗R8とコンデ
ンサC3との接続点FがトランジスタTr3のベース
に接続されている。また、トランジスタTr3のベ
ース・エミツタ間には逆バイアスダイオードDが
接続されている。
つぎに、動作を説明する。サーミスタTHと抵
抗R5とにより端子間電圧Vを分圧してスイツチ
PUTのアノードに電圧VAを印加している。コン
デンサC2は抵抗R6を介して充電され、接続点G
は電圧VGとなつている。トランジスタTr2は定常
時に導通しており、そのベース・エミツタ間電圧
をVBEとすると、 VG=VA+VBE であり、 VG>VA となつているので、スイツチPUTはオフの状態
になる。
温度が上昇すると、サーミスタTHの抵抗値が
減少するが、温度上昇が緩やかなときは抵抗値減
少も緩やかである。この抵抗値減少により電圧
VAが上昇し、トランジスタTr2のベース・エミツ
タ間が逆バイアスされてトランジスタTr2がオフ
となる。この結果、コンデンサC2はさらに充電
され、電圧VGが上昇する。そして、 VG=VA+VBE の条件は保たれ、 VG>VA であるため、スイツチPUTはオフ状態を維持す
る。
しかし、温度上昇が急速に行われ、サーミスタ
THの抵抗値が急速に減少し、第1の直列回路S1
のサーミスタTHおよび抵抗R5の接続点の電圧
VAが急激に上昇し、この電圧の上昇に対し第2
の直列回路S2におけるコンデンサC2の充電が追
いつかず、抵抗R6およびコンデンサC2の接続点
の電圧VGの上昇が遅れる場合には、スイツチ
PUTがオンとなる。すなわち、電圧VAの上昇率
が高いのに対し、電圧VGの上昇率が低いために VA>VG となつてスイツチPUTがオンとなる。これによ
り、トランジスタTr1がオンとなり、サイリスタ
SCRのゲートに電圧が印加され、サイリスタ
SCRがオンとなる。これが出力端子L,Cを介
して受信機に検出され、温度上昇が急速に行われ
たことが検知される。
VG>VA から VA>VG に変化する時点は、同一の温度変化率に対して、
第2の直列回路S2における抵抗R6とコンデンサ
C2とによる充電時定数によつて決定される。こ
の充電時定数の調整は、サーミスタTHの熱応答
時定数の調整よりも遥かに容易である。このこと
は、抵抗R6を固定抵抗とする場合でも、同様に
当てはまる。この実施例では、抵抗R6を可変抵
抗としているので、その調整が一層容易であるば
かりでなく、充電時定数の設定が任意にできるの
で、一種、二種といつた具合に感度設定も自由に
行えるという利点がある。
トランジスタTr3は、抵抗R8、コンデンサC3
回路は、電源投入時のコンデンサC2の急速充電
回路であり、電源投入時に VA>VG となるのを防止するものである。ダイオードDは
復帰時のコンデンサC2の放電用のもので、前記
急速充電回路の復帰の際に役目を果たす。
〔考案の効果〕
この考案の温度検出装置によれば、つぎの効果
がある。
(a) 従来例に比べて、サーミスタを1個減らし、
その代わりに抵抗とコンデンサとからなる時定
数回路すなわち第2の直列回路を設け、前記コ
ンデンサが抵抗を介して充電される速度よりも
サーミスタの抵抗値変化(つまり温度変化)の
方が大きい場合に、制御用スイツチ素子を動作
させて検出用スイツチ素子を動作させるように
構成してあるため、所定の温度上昇率の検出を
行えるのはもちろんであるが、ことに、抵抗と
コンデンサからなる直列回路の充電時定数の調
整をサーミスタの熱応答時定数の調整よりも遥
かに容易に行うことができるという利点があ
る。
(b) また、上記のように、充電時定数の調整を容
易に行うことができ、したがつて、正確に行う
ことができるため、温度上昇率の検出精度も2
個のサーミスタの熱応答時定数を調整していた
従来例に比べて向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例の電気回路図、第2図はこの考
案の一実施例の電気回路図である。 E……定電圧回路、TH……サーミスタ、R5
…抵抗、S1……第1の直列回路、R6……抵抗
(可変抵抗)、C2……コンデンサ、S2……第2の
直列回路、A,G……接続点、PUT……スイツ
チ(制御用スイツチ素子)、SCR……サイリスタ
(検出用スイツチ素子)。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 定電圧回路の出力端に接続したサーミスタと
    抵抗とからなる第1の直列回路と、この第1の
    直列回路に並列接続した抵抗とコンデンサとか
    らなり前記サーミスタの熱応答時定数よりも充
    電時定数の大きな第2の直列回路と、前記第1
    の直列回路におけるサーミスタと抵抗との接続
    点にベースを接続し前記第2の直列回路におけ
    る抵抗とコンデンサとの接続点をエミツタ側と
    しコレクタ側に放電用抵抗を介して前記第2の
    直列回路におけるコンデンサに並列接続し通常
    はオンで温度上昇とともにオフとなるトランジ
    スタと、前記第1の直列回路におけるサーミス
    タと抵抗との接続点にアノードを接続し前記第
    2の直列回路における抵抗とコンデンサとの接
    続点にゲートを接続した制御用スイツチ素子
    と、この制御用スイツチ素子の動作に基づいて
    動作する検出用スイツチ素子とを備えた温度検
    出装置。 (2) 前記第2の直列回路における抵抗が可変抵抗
    である実用新案登録請求の範囲第(1)項記載の温
    度検出装置。
JP20401383U 1983-12-23 1983-12-23 温度検出装置 Granted JPS60106136U (ja)

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JPS60106136U JPS60106136U (ja) 1985-07-19
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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