JPH01320593A - 最適閾値決定方式 - Google Patents

最適閾値決定方式

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JPH01320593A
JPH01320593A JP63152302A JP15230288A JPH01320593A JP H01320593 A JPH01320593 A JP H01320593A JP 63152302 A JP63152302 A JP 63152302A JP 15230288 A JP15230288 A JP 15230288A JP H01320593 A JPH01320593 A JP H01320593A
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JP
Japan
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threshold value
histogram
picture
inflection point
point
Prior art date
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Pending
Application number
JP63152302A
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English (en)
Inventor
Seiji Hata
清治 秦
Kinuyo Hagimae
萩前 絹代
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPH01320593A publication Critical patent/JPH01320593A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子部品表面上に表された文字、記号を読み取
る文字認識装置に係り、特に、背景領域から文字、記号
の領域を抽出する閾値を決定する最適2値化閾値決定方
式に関する。
〔従来の技術〕
画像認識の為の2値化閾値の理論的な決定方式として、
従来は、電子技術総合研究所(1980年9月)のユー
ザーズマニュアル「画像処理サブルーチンパッケージ5
PIDERJに記載されている方法が知られている。
この従来の方式は、パ大津″′の方法と呼ばれており1
画像の明るさヒストグラムを作成し、その明るさの集合
を2つのグループに分けた時のグループ間の分離度が最
も良くなる閾値を求める方法である。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術に係る方法は、第8図に示す明るさヒスト
グラムの様に、明確な2つのピークが存在する場合には
有効であり、効果的に対象とする画像を抽出することが
できる。しかし、電子部品上に記された文字や記号付近
での明るさヒストグラムの多くは、第9図に示す様に、
背景領域に対するピークは存在するが、文字や記号の領
域にはピークが存在せずなだらかな丘が広く伸びている
形をとる。この様なヒストグラムの場合に上記従来技術
を適用しても、文字や図形を有効に背景から抽出するこ
とができない。
本発明の目的は、電子部品の表面に表された文字や記号
を明瞭かつ安定に背景から抽出することができる最適2
値化閾値決定方式を提供する1:とにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記l]的は、電子部品の表面に表された文字や記号等
を′r■カメラ等で撮像し、得られた画像から明度ヒス
トグラムを抽出し、このヒストグラムから文字や記号等
を虐出して認識する文字認識装置において1画像から抽
出した明度ヒストグラムの変曲点位置を推定し、該推定
変曲点位置を閾値とすることで、達成される。
〔作用〕
電子部品の表面画像の明度ヒストグラムは、背景明度の
分布曲線と文字等の明度の分布曲線が重なりあっている
と考えられる。この2つの分布曲線の交点を閾値にすれ
ば、文字等を背景から分離抽出することが可能となる。
そこで、本発明では、明度ヒストグラムの変曲点が前記
2つの分布曲線の交点あるいはその近傍にあると見て、
その変曲点位置を推定し、この変曲点を閾値とする。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
電子部品の表面画像の明度ヒストグラムは、第1図に示
される様に、背景明度の分布曲線のと、文字等の明度の
分布曲線■が重なりあっていると考えられる。この2つ
の分布曲線■、■の交点を閾値Sにすれば、文字等を背
景から分離抽出することが可能となる。しかし、この交
点を実際に精度良く算出しても、その計算時間が長くか
かるので、この方法を検査ラインに適用することは現実
的でなくなる。そこで、交点位置(変曲点で近似できる
。)を概略計算で推定し短時間で求めることが必要とな
る。また、精度良く変曲点位置を算出しても、その利益
は、推定した変曲点を閾値とした場合に比べてそれほど
大きいとは言えない。
明度ヒストグラムの変曲点(閾値として必要なのは変曲
点そのものではなくその明るさを示すX座標位置である
。尚、変曲点と言った場合、上述した分布曲線■、■の
交点を含むものとする。)を推定する方法には、種々の
ものがある。例えば。
第1図において、分布曲線■を正規分布曲線と考えてそ
のパラメータを決定し、ヒストグラムから■の成分を除
き、残りから■の部分を決定し、そして交点のX座標位
置を求める。このX座標位置を閾値とする。また、正規
分布曲線としてではなく、2次曲線として近似してもよ
い。より一層閾値を簡便に求める方法もある。例えば第
2図に示す様に、適当な点から接線を引き、この接線と
X軸との交点を閾値とする方法である。この方法も、本
発明の一実施態様である。更に、第3図に示す様に、ピ
ークの点Aと分布の一番伸びた点Bとを直線で結び、こ
の直線からヒストグラム上の最遠点(変曲点)を求める
こともできる。この方法は、第8図で示した2つのピー
クを有する場合にも有効である。第4図に示す方法では
、ピークのまわりの明るさ頻度を何点かサンプリングし
、2次方程式や正規分布方程式に近似してそのX軸との
交点等で閾値Sを決定している。第5図に示す方法では
、明るさ一頻度曲線から下式により累積曲線を抽出し、 点(閾値S)を求めたり、びん度値の10%と90%と
いう風に適当な設定値を通る2点を結ぶ直線りから最遠
(距離)Dを与える点Sを求めて閾値としている。
次に、上述した本発明の各実施例のうち第3図で説明し
た方法を例に、電子部品表面に表わされた文字、記号等
を抽出して認識する文字認識装置及びその具体的データ
処理動作を説明する。
第6図は、文字認識装置のブロック構成図である。この
文字認識装置は組立済みプリント基板に搭載されている
電子部品の一種であるICの品名を検査する装置に適用
されたものである。ICl0が搭載されたプリント基板
1はXY子テーブル」二に載置され、各I C1,0は
、このXYチーデル2上で一個一個位置決めされている
。そして、環状の照明器具3で照らさtLTVカメラ4
で撮影されたIC表面の画像データは、画像処理装置(
IP)6に入力される。
画像処理装置6は、TVカメラ4から送られて来る映像
信号をディジタル値に変換するA/D変換器6】−と、
A/D変換器61の出力信号をもとに明度ヒストグラム
を作成するヒストグラム作成手段62と、作成されたヒ
ストグラムを解析し最適の閾値を第3図の方法で決定す
る閾値決定手段63と、決定された閾値をもとに2値化
を行なう2値化手段64と、2値化された画像データを
格納する画像メモリ65と、2値化画像から文字や記号
等を抽出して該文字等を認識する認識手段66とを備え
ている。
TV受像機5は、画像メモリ65に格納された画像デー
タを表示するものであり、XYコントローラ7は認識手
段6Gからの指示信号によりXY子テーブルを操作して
検査するICl0を順次切り換えるように動作する。
第7図は、上述した最適閾値決定手段63で実行される
処理の手順を示すフローチャートである。
先ず、ステップ1において、ヒストグラム中で。
頻度がある値I】を越える明るさの最少値f mir+
と、最大値f waxを求める。また、頻度のピーク位
置f peakを求める。
次のステップ2では、f peakからのfmax、f
iinの距離を調べ比較して見る。ここで、距離が大な
ほうに文字部があるため、f wax −f peak
の方が大なら白文字であり、f peak −f wi
nの方が大なら黒文字である。
このため1判定結果が黒背景中の白文字の場合にはステ
ップ3のこの結果を記憶し、判定結果が白背景中の黒文
字の場合にはステップ7でこの結果を記憶する。
白文字の場合には、ステップ3の次にステップ4、ステ
ップ5に進み、点(f peak 、 h peak)
と点(fIllax、 hn+ax)を結ぶ直線までの
ヒストグラム上の各点fj−からの距離を調べる。ステ
ップ4では、ステップ5で求めた距離Qiが、f pe
akからf 1llaxの間の各明度値fjについてチ
エツクしたか否かを判定する。そして、ステップ5では
更に求めたQiの最大値を求める。この最大値が変曲点
である。従って、この最大値をステップ6で閾値とする
このQ、iの計算は、下式により行なう事ができる。
F :(fmax、hn+ax)から(fpeak、h
peak)へのベクトルff :(fmax、h+++
ax)から(fj、、hi)へのベクトルには、ステッ
プ7からステップ8に進む。このステップ8は、実質的
に前述したステップ4〜ステツプ6までと同じであるが
、その処理において、f max t!:f mjnに
、h n+axをh winに置き代えて行なう。第3
図に示す実施例は、上述した様に、比較的簡単な計算で
文字等を明瞭且つ安定に抽出することができる最適閾値
を決定できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、印刷状態や背景状態の悪い電子部品に
対しても1文字領域を過不足なく忠実に抽出する事がで
き、信頼性の高い電子部品名の読取、検査を行なうこと
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図、第4図、第5図は夫々本発明
の第1.第2.第4.第5実施例に係る最適閾値決定方
式を説明する原理図、第6図は文字認識装置のブロック
構成図、第7図は第3実施例の具体的処理手順を示すフ
ローチャート、第8図は従来の閾値決定方式の説明図、
第9図は文字。 記号を撮像したときに得られる代表的なヒストグラムで
ある。 1・・・組立後プリント板、2・・・XYテーブル、3
・・・照明、4・・・TVカメラ、5・・・モニターT
V、6・・・画像処理装置、7・・・XY子テーブルン
トローラ。 61・・・AD変換器、62・・・ヒス1ヘゲラム作成
手段。 63・・・最適閾値決定手段、64・・・2値化回路、
65・・・画像メモリ、66・・・認識手段。 躬 1 η 差崖 躬8z    吊(:/η 焔 2 国 印度 「 躬 3 貴 伸度 第4圀 傾崖 躬5図 筋 乙 ロ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、電子部品の表面に表された文字や記号等をTVカメ
    ラ等で撮像し、得られた画像から明度ヒストグラムを抽
    出し、このヒストグラムから文字や記号等を抽出して認
    識する文字認識装置において、画像から抽出した明度ヒ
    ストグラムの変曲点位置を推定し、該推定変曲点位置を
    閾値とすることを特徴とする最適閾値決定方式。
JP63152302A 1988-06-22 1988-06-22 最適閾値決定方式 Pending JPH01320593A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63152302A JPH01320593A (ja) 1988-06-22 1988-06-22 最適閾値決定方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63152302A JPH01320593A (ja) 1988-06-22 1988-06-22 最適閾値決定方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01320593A true JPH01320593A (ja) 1989-12-26

Family

ID=15537553

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63152302A Pending JPH01320593A (ja) 1988-06-22 1988-06-22 最適閾値決定方式

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JP (1) JPH01320593A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008210165A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Tohoku Kensetsu Kyokai 植生判定方法及び画像処理装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008210165A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Tohoku Kensetsu Kyokai 植生判定方法及び画像処理装置

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