JPH01315029A - 追記型光ディスク装置の試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ディスク装置の試験方法に関し、特に追記型
光ディスク装置の試験方法に関する。

〔従来の技術〕

従来の追記型光ディスク装置（以下、単に「装置」と称
する）の試験方法においては、以下に述べるような方法
によって光ディスク試験機（以下、単に「試験機」と称
する）が装置に装着した光ディスク媒体（以下、単に「
媒体」と称する）に対して装置の書き込み動作の試験を
するために使用することができる未書き込みセクタ群ま
たはトラック群の存在の認識を行なっている。

すなわち、試験機から装置に対して所定の位置決め命令
を送出することによっで装置の光ヘッドを媒体上の任意
の位置に移動し、次に所定の読みだし動作を起動するこ
とによってその位置決めされた位置から順次に未書き込
み状態のセクタを検出するまで読み出し動作を続ける。

未書き込み状態のセクタを検出すると次に装置の書き込
み動作をするために必要な数だけのセクタが未書き込み
状態で存在することを確認するため、引き続いて読み出
し動作を起動する。この動作の途中で書き込み済みのセ
クタを検出すると、再び未書き込み状態のセクタを検出
す、るために上述と同様の処理を繰り返して実行する。

このようにして所望の未書き込みセクタ群を識別する。

また、他の方法として、試験機によって媒体上の未書き
込み状態のセクタ群もしくはトラック群の情報を管理す
るという方法も用いられている。

すなわち、媒体を使用して試験機によって装置を試験す
るとき、書き込みを行なったセクタまたはトラックの位
置情報を試験機の内部メモリもしくは補助記憶装置に登
録してこれを管理し、試験機を用いて装置の試験のため
の書き込み動作を行なうときは、登録した管理情報から
所望の未書き込み状態のセクタ群を識別し、これを用い
て装置の試験を行なう方法が用いられている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の光ディスク装置の試験方法のうち、試験
のときに媒体を検索してその未書き込み状態のセクタ群
もしくはトラック群を捜し出す方法では、媒体のどの辺
に未書き込み状態のセクタがあるかがあらかじめわから
ないため、多くの検索時間を必要とする。すなわち、検
索し始めてすぐ見つかることもあるが、最悪の場合は媒
体の全面にわたって検索して全てが書き込み済みである
こともあり、平均的には媒体上の半分のセクタ（または
トラック）を検索する時間が必要である。

このため本来の装置への書き込み試験に対して、このよ
うな準備のための検索処理に多くの時間を必要とすると
いう欠点があった。また、書き込み動作の試験を媒体上
の複数の区域に分けられたそれぞれに行なおうとした場
合、各区域の位置情報は暗黙の値で識別するしかないた
め、区域数を変える必要のある場合、あるいは媒体上に
アクセスしてはならない区域が媒体個別にある場合、も
しくは媒体上の総セクタ数（またはトラック数）が変わ
る場合に試験機のプログラムを変更しなげればならない
という欠点があった。

一方、媒体への書き込みを行なったときの位置情報を試
験機において管理することによって未書き込み状態のセ
クタ群もしくはトラック群を認識する後者の方法では、
多数の試験機および媒体を使用して多数の装置を、試験
する場合においては、このような位置情報の管理が複雑
になるという欠点があった。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の追記型光ディスク装置の試験方法は、マイクロ
プロセッサと前記マイクロプロセッサの動作のための命
令を格納するプログラムメモリド前記マイクロプロセッ
サによってその動作を制御されて追記型光ディスク装置
の試験のために使用する光ディスク媒体の間で送受する
データを格納するデータメモリと前記マイクロプロセッ
サによってその動作を制御されて前記光ディスク装置と
の間で情報の送受を行なうインタフェース制御部とを備
える光ディスク試験機を用意し、前記光ディスク媒体の
特定の連続した複数個のセクタを制御データ領域とし、
残余のセクタを複数の区域に分割された試験用領域群と
し、すでに試験を終了して正常に動作することを確認し
た光ディスク装置を用いて前記光ディスク試験機によっ
て前記光ディスク媒体の未書き込み状態のセクタ群を前
記試験用領域群毎に検索してそれに関するデータを前記
制御データ領域に記録し、新たな追記型光ディスク装置
の試験を行なうときは前記制御データ領域に登録された
未書き込み状態のセクタ群の情報をもとに前記試験用領
域群毎に検索して未書き込み状態のセクタが所要数だけ
あるかを調べ、前記未書き込み状態のセクタが所要数を
満足するだけ存在するときはその光ディスク媒体を用い
て前記試験用領域群毎に書き込み動作を行なって前記新
しい光ディスク装置の試験を行ない、前記未書き込み状
態のセクタ数が所要数を満足しないときはその光ディス
ク媒体は使用不可能であるとして異常終了し、必要に応
じて未書き込み状態のセクタ群を前記試験用領域群毎に
検索を実行してその更新データを前記データ領域に追記
することを含んで構成される。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第３図は本発明の一実施例に使用する試験機の構成を示
すブロック図である。

第３図において、マイクロプロセッサ１及びプログラム
メモリ２及びデータメモリ３及びインタフェース制御部
４はシステムバス５によって結合されており、インタフ
ェース制御部４から出たインタフェースバス６によって
光ディスク装置７に接続される。マイクロプロセッサ１
は、プログラムメモリ２内に記憶されたプログラムを逐
次読み出してその実行を司る部分で、インタフェース制
御部４を制御する本試験機の中枢部である。インタフェ
ース制御部４は、マイクロプロセッサ１の指示に従って
インタフェースバス６を介して試験対象の光ディスク装
置７を制御して試験を行ない、必要に応じて光ディスク
装置７との間で送受される書き込みデータまたは読み出
しデータをデータメモリ３に対して読み出しまたは書き
込みを行なう。

第２図は本発明の一実施例を用いた光ディスク装置の試
験に使用する光ディスク媒体の論理的構成を示した図で
ある。

第２図に示すように、本試験方法の説明においては便宜
的に媒体における「トラック」という概念を外して、す
べてのトラックの中の先頭のトラックの先頭のセクタを
この媒体の論理的な第１セクタ（Ｓｌ）とし、ここから
最終のトラックの最終のセクタたる最終セクタ（Ｓｅ）
まで全トラックの全セクタが連続して並んでいるものと
する。

このうち第１セクタ（Ｓｌ）から第ｎセクタ（Ｓｎ）ま
でのｎ個の連続したセクタ群を制御データ領域４１とし
、残余の第ｎ＋１セクタ（Ｓｎ＋１）から最終セクタ（
Ｓｓ）までの試験用領域４２のうち、第ｎ＋１セクタ（
Ｓｎ＋１）から第ｐセクタ（Ｓｐ）までのセクタ群を第
１試験用領域４３、第ｎ＋１セクタ（Ｓｐ＋１）から最
終セクタ（Ｓｅ）までのセクタ群を第２試験用領域４４
とする。

試験用領域４２は、光ディスク装置７の書き込み動作を
ともなう試験を行なうときに使用する領域であり、第１
試験用領域４３と第２試験用領域４４の２つに分割され
、書き込み動作をともなう試験をそれぞれ媒体の内周よ
りの区域と外周よりの区域とで行なうことができるよう
に確保され、−力制御データ領域４１は、試験用領域４
２内における未書き込みセクタに関するデータを制御情
報として記憶しておく領域である。

上記のように構成した媒体の使用には、次に示すような
２種の異なったフェーズがある。

すなわち、第一のフェーズは、制御データ領域４１へ制
御情報を記録するフェーズであり、これは光ディスク装
置の試験には属さない。このフェーズのために使用する
光ディスク装置としては、すでに試験を終了して正常に
動作することを確認された装置を使用する。本フェーズ
の動作は、まずプログラムメモリ２の指示に従ってマイ
クロプロセッサ１がインタフェース制御４を介して光デ
ィスク装置７を制御し、媒体上の試験領域４２の内の第
１の試験用領域４３及び第２試験用領域４４のそれぞれ
を検索して、それぞれの朱書き込みセクタ群を識別する
。第１試験用領域４３及び第２試験用領域４４のそれぞ
れの未書き込みセクタ群の数および各朱書き込みセクタ
群の先頭のセクタの番号と最終のセクタの番号とを整理
してデータメモリ３に一時記憶する。この検索動作を終
了すると、マイクロプロセッサ１はデータメモリ、３に
記憶した未書き込みセクタ群に関する情報をインタフェ
ース制御部４及び光ディスク装置７を介して媒体の制御
データ領域４１の先頭セクタすなわち第１セクタ（Ｓｌ
）に書き込む。

装置の試験を行なって未書き込みセクタの一部が使用さ
れたのちに、再び第一のフェーズを実行するときには、
第１セクタ（Ｓｌ）をデータメモリ３に読み出し、第１
試験用領域４３及び第２試験用領域４４それぞれについ
て、登録されている未書き込みセクタに関するデータに
示されたセクタ群のみを上記と同様に検索し、更新され
た新しい未書き込みセクタに関するデータを第２セクタ
（Ｓ２）に書き込む。

このようにして第一のフェーズが実行される毎に新しい
未書き込みセクタに関するデータが制御情報として制御
データ領域４１内の先頭セクタから順次記録される。こ
こで最新の制御情報があるセクタを第ｍセクタ（Ｓｍ）
とする。

第二のフェーズは、光ディスク装置の試験を行なうため
のものである。すなわち、このときに動作させる光ディ
スク装置は試験を行なう対象の位置である。

第１図（Ａ）〜（Ｄ）は本発明の試験方法の一実施例を
示すフローチャートである。

第１図に示すように、まずマイクロプロセッサ１は媒体
の制御データ領域４１内の最新に登録されたセクタすな
わち第一（Ｓｍ）の内容を読みだしてデータメモリ３に
書き込む（１１〜１３）。次にこの書き込んだデータメ
モリ３の内容すなわち未書き込みセクタ群に関するデー
タを参照して、まず第１試験用領域４３および第２試験
用領域４４のに関する未書き込みセクタ群の数をそれぞ
れ配列ＲＢ（ｉ）へ格納しく１４）、各朱書き込みセク
タ群の先頭セクタ番号を配列５ｓ（ｉ、ｊ）へ、最後尾
セクタ番号セクタ番号を配列５ｅ（ｉ、ｊ）へ格納する
（１５）。ここでｉは試験用領域の番号でありｉ＝０は
第１試験用領域４３を、ｉ＝１は第２試論用領域４４を
示し、ｊは０〜ＲＢ（ｉ）の値である。

次に現在の試験用領域番号Ａｘを０を初期化して第１試
験用領域４３を示すようにする（１６）。

続いて現未書き込みセクタ群の番号Ｒｘを０に初期化す
る（１７）。

その後、現未書き込みセクタ群の先頭セクタの番号Ｓｓ
　（Ａｘ、Ｒｘ）を現セクタ番号Ｓｘとしく１８）、現
先頭セクタ番号Ｓｘから現未書き込みセクタの再後尾に
セクタ番号Ｓｓ　（Ａｘ、Ｒｘ）までを順次朱書き込み
状態であるか否かを検索しく１９）、未書き込みセクタ
がない場合は参照番号３０に示す処理に移行するが、未
書き込みセクタを検出したときはその番号を先頭朱書き
込みセクタＳＢとしく２１）、先頭朱書き込みセクタＳ
Ｂから現未書き込みセクタ群の再後尾セクタ番号Ｓ　ｅ
　（Ａ　ｘ　ｒ　Ｒｘ　）までのセクタ数（Ｓｓ　（Ａ
ｘ、Ｒｘ）−３Ｂ）が所望の書き込み用セクタ数ＲＮよ
り大きいかまたは小さいかを調べる（２２）。（Ｓ　ｅ
　（Ａｘ、　Ｒｘ）　−８Ｂ＜Ｒｎ）であるときは、現
未書き込みセクタ群には所望の書き込み領域がないとい
うことであり、このときは処理３０に移行する。（Ｓｅ
（Ａｘ。

Ｒｘ）−８Ｂ≧Ｒｎ）のときは、先頭朱書き込みセクタ
ＳＢから書き込みようセクタ数ＲＮ個のセクタがすべて
未書き込みであるか否かを調べる（２３）。書き込み済
みセクタがあったときには、そのセクタ番号をＳｘに入
れ（２９）で１９に示した処理に戻り、再び未書き込み
セクタの検索を行なう。２４における検索処理において
書き込み済みセクタがないときは、先頭書き込みセクタ
ＳＢから書き込みセクタ数ＲＮ個のセクタが未書き込み
状態であることを示しており、書き込み動作の試験を行
なうセクタ位置が検出されたことになり、ここで書き込
み試験を行なう（２５）。２５の書き込み試験が試験領
域番号Ａｘにて行なわれたのち、試験領域番号Ａｘを更
新しく２６）、その値が１を越えたならばすなわち第１
試験用領域４３および第２試験用領域４４の両方での試
験を終えたならば（２７）、ここでプログラムは正常終
了となり（２８）、１以下であるならば次の試験用領域
の試験をすべく１７の処理に戻る。

現未書き込みセクタ群に所望のみ書き込みセクタ領域が
ない場合は、３０の処理において現未書き込みセクタ群
番号Ｒｘを更新し、その値が未書き込みセクタ群より小
であるなら（３１）ば１８の処理に戻り、次のみ書き込
みセクタ群での検索を行なう。すべての未書き込みセク
タ群内に所望の未書き込みセクタ領域が検出できないと
きは、現在の試験領域番号Ａｘの試験用領域には試験の
ための未書き込み領域が存在しないということであって
異常終了となる（３２）。

以上のようにして書き込み動作の試験を行なうが、これ
を多数回行なうと制御データ領域４１内に登録した未書
き込みセクタ群に関するデータと、試験用領域４２内の
実際の未書き込みセクタ群の値との間の差異が大きくな
り、第二のフェーズにおける検索のための処理時間が増
大する。このため、適度に第一のフェーズを実行して未
書き込みセクタ群に関するデータを更新しておく。

以上のようにすることにより、制御データ領域４１内に
記録された未書き込みセクタ群に関するデータに示され
た試験用領域４２内のセクタ以外の部分はすでに使用さ
れており、書き込み動作の試験には使用不可能であって
検索する必要もないということを試験機が認識できる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の追記型光ディスク装置の
試験方法を用いることにより、装置の試験にあたって書
き込み動作を行なうために必要な未書き込み状態のセク
タ域もしくはトラック域を捜し出すときに、媒体の制御
データ領域に記録されている最新のデータによって使用
可能な試験用領域内のセクタ群もしくはトラック群をあ
らかじめ予測することができるため、短時間に所望の未
書き込み状態のセクタ域もしくはトラック域を検索する
ことができるという効果がある。さらに媒体の内周より
と外周よりで媒体の持つ記録特性が異なるもしくは光デ
ィスク装置の性能が異なるといったときに任意に区分し
た媒体上の試験用領域でそれぞれ試験を行ないたいとき
に、その領域情報までに与えることができ容易に媒体上
の位置に依存するような書き込み動作の試験を構成でき
るという効果がある。上述の例と同様にして、媒体上の
試験用領域をさらに小さく分割することもでき、また媒
体上にアクセスしてはならない領域がある場合には、最
初の第一のフェーズにて制御データを登録する時にその
領域を意識的に未書き込みセクタ群から除外することに
より、試験時には試験機からマスクすることもできると
いう効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図（Ａ）〜（Ｄ）は本発明の一実施例を示すフロー
チャート、第２図は第１図の実施例において使用する光
ディスク媒体の論理構成の一例を示す構成図、第３図は
第１図の実施例を処理する光ディスク試験機の一例を示
すブロック図である。 １・・・・・・マイクロプロセッサ、２・・・・・・プ
ログラムメモリ、３・・・・・・データメモリ、４・・
・・・・インタフェース制御部、５・・・・・・システ
ムバス、６・・団・インタフェースバス、４１・・・・
・・制御データ領域、４２・・・・・・試験用領域、４
３・・・・・・第１試験用領域、４４・・・・・・第２
試験用領域 代理人　弁理士　　内　原　　　音 第１図（Ａ） 第１図（８） 弔Ｉ　図ＣＣ） 第７図（Ｃ）） 第２図 第３　図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. マイクロプロセッサと前記マイクロプロセッサの動作の
   ための命令を格納するプログラムメモリと前記マイクロ
   プロセッサによってその動作を制御されて追記型光ディ
   スク装置の試験のために使用する光ディスク媒体の間で
   送受するデータを格納するデータメモリと前記マイクロ
   プロセッサによってその動作を制御されて前記光ディス
   ク装置との間で情報の送受を行なうインタフェース制御
   部とを備える光ディスク試験機を用意し、前記光ディス
   ク媒体の特定の連続した複数個のセクタを制御データ領
   域とし、残余のセクタを複数の区域に分割された試験用
   領域群とし、すでに試験を終了して正常に動作すること
   を確認した光ディスク装置を用いて前記光ディスク試験
   機によって前記光ディスク媒体の未書き込み状態をセク
   タ群を前記試験用領域群毎に検索してそれに関するデー
   タを前記制御データ領域に記録し、新たな追記型光ディ
   スク装置の試験を行なうときは前記制御データ領域に登
   録された未書き込み状態のセクタ群の情報をもとに前記
   試験用領域群毎に検索して未書き込み状態のセクタが所
   要数だけあるかを調べ、前記未書き込み状態のセクタが
   所要数を満足するだけ存在するときはその光ディスク媒
   体を用いて前記試験用領域群毎に書き込み動作を行なっ
   て前記新しい光ディスク装置の試験を行ない、前記未書
   き込み状態のセクタ数が所要数を満足しないときはその
   光ディスク媒体は使用不可能であるとして異常終了し、
   必要に応じて未書き込み状態のセクタ群を前記試験用領
   域群毎に検索を実行してその更新データを前記データ領
   域に追記することを含むことを特徴とする追記型光ディ
   スク装置の試験方法。