JPH01314205A - 偏光ビームスプリッタ - Google Patents
偏光ビームスプリッタInfo
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- JPH01314205A JPH01314205A JP63145908A JP14590888A JPH01314205A JP H01314205 A JPH01314205 A JP H01314205A JP 63145908 A JP63145908 A JP 63145908A JP 14590888 A JP14590888 A JP 14590888A JP H01314205 A JPH01314205 A JP H01314205A
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Landscapes
- Polarising Elements (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光磁気ディスク用光ヘッドに用いられる偏光ビ
ームスプリフタのうち、半導体レーザ。
ームスプリフタのうち、半導体レーザ。
コリメートレンズ、対物レンズからなる結像光学系内に
挿入されて、光磁気ディスクでのカー効果によって生じ
る偏光成分をほぼ損失なく結像光学系外に取り出し、そ
れと直交する偏光成分を約50%結像光学系光軸外に取
り出す動作を行う偏光ビームスプリフタに関する。
挿入されて、光磁気ディスクでのカー効果によって生じ
る偏光成分をほぼ損失なく結像光学系外に取り出し、そ
れと直交する偏光成分を約50%結像光学系光軸外に取
り出す動作を行う偏光ビームスプリフタに関する。
光磁気記録は、書き込み、消去可能な光記録方式として
開発が進められている。この方式では、−読出し専用型
、あるいは追記型のように記録信号の再生は、光ディス
クからの反射光強度の変化を検出するのではなく、光磁
気媒体面でのカー効果によって生じる偏光の回転を検出
して行う。従って、光磁気媒体への信号の記録、再生を
行う光磁気ヘッドには偏光特性が要求される。
開発が進められている。この方式では、−読出し専用型
、あるいは追記型のように記録信号の再生は、光ディス
クからの反射光強度の変化を検出するのではなく、光磁
気媒体面でのカー効果によって生じる偏光の回転を検出
して行う。従って、光磁気媒体への信号の記録、再生を
行う光磁気ヘッドには偏光特性が要求される。
第2図は光磁気ヘッド内で用いられている偏光ビームス
プリフタの理想と思われる゛パワー分配比を示したもの
である。図中のパーセントは、各偏光ビームスプリフタ
の、各偏光入力パワーに対する出力パワーを示している
。第1偏光ビームスプリンタ1 (以下筒1PBSと略
す。図中も同じ)は、半導体レーザ2.コリメートレン
ズ(図示せず)、対物レンズ(図示せず)からなる結像
光学系内に挿入されて、光磁気ディスク3からの反射光
のうち、光磁気ディスク3のカー効果によって生じた情
報信号光の偏光成分をほぼ100%反射し、それと直交
するキャリア光の偏光成分を約50%反射して、サーボ
用の誤差信号検出系4および情報信号検出系5に導く動
作をする。第2偏光ビームスプリツタ6(以下第2PB
Sと略す。図中も同じ)はキャリア光の偏光成分を約2
0%程度誤差信号検出系4に導き、それ以外の光を情報
信号検出系5に導く動作をする。ここで、本発明に関係
するのは第1 PBSである。
プリフタの理想と思われる゛パワー分配比を示したもの
である。図中のパーセントは、各偏光ビームスプリフタ
の、各偏光入力パワーに対する出力パワーを示している
。第1偏光ビームスプリンタ1 (以下筒1PBSと略
す。図中も同じ)は、半導体レーザ2.コリメートレン
ズ(図示せず)、対物レンズ(図示せず)からなる結像
光学系内に挿入されて、光磁気ディスク3からの反射光
のうち、光磁気ディスク3のカー効果によって生じた情
報信号光の偏光成分をほぼ100%反射し、それと直交
するキャリア光の偏光成分を約50%反射して、サーボ
用の誤差信号検出系4および情報信号検出系5に導く動
作をする。第2偏光ビームスプリツタ6(以下第2PB
Sと略す。図中も同じ)はキャリア光の偏光成分を約2
0%程度誤差信号検出系4に導き、それ以外の光を情報
信号検出系5に導く動作をする。ここで、本発明に関係
するのは第1 PBSである。
上述の偏光ビームスプリッタの機能は、従来では主に、
透明体の反射を用いて実現されてきた。
透明体の反射を用いて実現されてきた。
透明な等方媒質の表面に入射する光は、入射面に垂直な
振動面を持つ偏光成分(S成分)と平行に振動する偏光
成分(P成分)に対する反射率が異なるために、反射光
あるいは透過光は偏光される。
振動面を持つ偏光成分(S成分)と平行に振動する偏光
成分(P成分)に対する反射率が異なるために、反射光
あるいは透過光は偏光される。
特に、入射角がその媒質のブリュースター角のときにP
成分の反射率がOになる。このことを利用して、屈折率
の異なる物質を交互に積み重ねて反射増加膜を構成し、
この反射増加膜を入射光に対してブリュースター角とな
るよう配置すれば、偏光ビームスプリフタが得られる。
成分の反射率がOになる。このことを利用して、屈折率
の異なる物質を交互に積み重ねて反射増加膜を構成し、
この反射増加膜を入射光に対してブリュースター角とな
るよう配置すれば、偏光ビームスプリフタが得られる。
さらに、第3図に示すように各偏光成分を直角に分離す
るためには、基板となるガラス7、高屈折率の薄膜8、
低屈折率の薄膜9の屈折率をそれぞれn、、n□+ n
Lとすれば、 ng −20%no”/ (nLz+no”)なる関係
を満足するようにすればよい。この例として、 (a) nt =1.385 (MgFz)、no
=2.04 (Z r 02)を用いるとn、 =
1.62 (b) nt =1.385 (MgFz)、nl
(=2.44 (T i 02)を用イルトn、 =
1.70 を満足するガラスを基板に用いればよい。なお第3図に
おいて、10は接着剤を示している。
るためには、基板となるガラス7、高屈折率の薄膜8、
低屈折率の薄膜9の屈折率をそれぞれn、、n□+ n
Lとすれば、 ng −20%no”/ (nLz+no”)なる関係
を満足するようにすればよい。この例として、 (a) nt =1.385 (MgFz)、no
=2.04 (Z r 02)を用いるとn、 =
1.62 (b) nt =1.385 (MgFz)、nl
(=2.44 (T i 02)を用イルトn、 =
1.70 を満足するガラスを基板に用いればよい。なお第3図に
おいて、10は接着剤を示している。
ここで、特定の偏光間分配比を得るためには、薄膜の厚
さや層数を調節すればよい。
さや層数を調節すればよい。
以上述べた偏光ビームスプリンタに関しては、すでに多
くの教科書やハンドブックに詳述されている。例えば、
田幸敏治、辻内順平、南茂夫編集の「光学的測定ハンド
ブック」 (昭和56年、朝倉書店発行)があげられる
。
くの教科書やハンドブックに詳述されている。例えば、
田幸敏治、辻内順平、南茂夫編集の「光学的測定ハンド
ブック」 (昭和56年、朝倉書店発行)があげられる
。
以上述べた従来技術による偏光ビームスプリフタは、光
学研磨したガラスに必要な誘電体薄膜を必要厚さ複数回
蒸着し、さらにそれらを張りつける工数が必要であるた
め、その工程管理を含めて、大きな工数を必要とし、結
果的に高価なものとなっていた。
学研磨したガラスに必要な誘電体薄膜を必要厚さ複数回
蒸着し、さらにそれらを張りつける工数が必要であるた
め、その工程管理を含めて、大きな工数を必要とし、結
果的に高価なものとなっていた。
本発明の目的は、上記問題点を解決し、安価で、量産性
に富む偏光ビームスプリッタを提供することにある。
に富む偏光ビームスプリッタを提供することにある。
本発明の偏光ビームスプリッタは、
入射光の波長λに対して、ピッチが略波長に等しく、格
子溝深さdが、略0.25λなる関係を有する金属表面
レリーフ格子を備え、入射光に対して、格子の略ブラッ
グ角となるよう配置されることを特徴としている。
子溝深さdが、略0.25λなる関係を有する金属表面
レリーフ格子を備え、入射光に対して、格子の略ブラッ
グ角となるよう配置されることを特徴としている。
以下図面を参照しながら、本発明の詳細な説明する。
本発明では、金属表面レリーフ格子の回折効率の偏光依
存性を用いて偏光ビームスプリッタを形成する。一般に
表面レリーフ格子は、その格子ピッチAや格子溝深さd
、入射角θ、格子形状等により回折特性を制御すること
ができる。特に、金属で表面を覆った金属表面レリーフ
格子は回折効率に大きな偏光依存性を有し、偏光ビーム
スプリフタへ通用することができる。
存性を用いて偏光ビームスプリッタを形成する。一般に
表面レリーフ格子は、その格子ピッチAや格子溝深さd
、入射角θ、格子形状等により回折特性を制御すること
ができる。特に、金属で表面を覆った金属表面レリーフ
格子は回折効率に大きな偏光依存性を有し、偏光ビーム
スプリフタへ通用することができる。
第4図は、1986年11月発行のジャーナル オブジ
オプティカル ソサイエティ オブ アメリカ A
(Journal of the 0pti
cal 5ociety ofAmerica A
)誌第1780ページから第1787ページに掲載され
ているエム、シイ・モハラム(M、G、Moharam
)とティ・ケイ・ゲイロード(T、に、Gaylord
)著の論文「リガラス カップルド−ウェーブ アナリ
シス オブ メタリック サーフェイスーレリーフグレ
ーテイングズJ (Rigorous couple
d−ivaveanalysis of metall
ic 5urface−relief grating
s)から引用したもので、回折効率の格子溝深さ依存性
の一例を示すための計算結果である。格子ピッチA=1
.0μmの金の矩形断面表面レリーフ格子にブラッグ角
で波長λ=1.0μmの光が入射した場合について示し
ている。縦軸は回折効率、横軸は格子溝深さを波長で規
格化した規格化格子溝深さ(d/λ)を示している。参
考のために、完全導体の場合をp、 c、として示す、
格子溝に平行な電気ベクトルを持つ偏光をTE偏光と呼
び、格子溝に平行な磁気ベクトルを持つ偏光を7M偏光
と呼ぶことにする。
オプティカル ソサイエティ オブ アメリカ A
(Journal of the 0pti
cal 5ociety ofAmerica A
)誌第1780ページから第1787ページに掲載され
ているエム、シイ・モハラム(M、G、Moharam
)とティ・ケイ・ゲイロード(T、に、Gaylord
)著の論文「リガラス カップルド−ウェーブ アナリ
シス オブ メタリック サーフェイスーレリーフグレ
ーテイングズJ (Rigorous couple
d−ivaveanalysis of metall
ic 5urface−relief grating
s)から引用したもので、回折効率の格子溝深さ依存性
の一例を示すための計算結果である。格子ピッチA=1
.0μmの金の矩形断面表面レリーフ格子にブラッグ角
で波長λ=1.0μmの光が入射した場合について示し
ている。縦軸は回折効率、横軸は格子溝深さを波長で規
格化した規格化格子溝深さ(d/λ)を示している。参
考のために、完全導体の場合をp、 c、として示す、
格子溝に平行な電気ベクトルを持つ偏光をTE偏光と呼
び、格子溝に平行な磁気ベクトルを持つ偏光を7M偏光
と呼ぶことにする。
(a)は入射光量からO次回折効率と1次回折効率を引
いたもので、格子の損失を示しており、(b)は1次回
折効率を、(c)は0次回折効率を示している。第4図
で、規格化格子溝深さ0.25付近に注目する。TE偏
光に関してはO次回折効率がほぼ60%であり、1次回
折効率が38%程度であるのに対し、7M偏光に関して
は0次回折効率がほぼ0%であり、1次回折効率はほぼ
90%となる。したがって、上述の第1 PBSの機能
とほぼ等価な機能が格子型の素子で得られることになる
。
いたもので、格子の損失を示しており、(b)は1次回
折効率を、(c)は0次回折効率を示している。第4図
で、規格化格子溝深さ0.25付近に注目する。TE偏
光に関してはO次回折効率がほぼ60%であり、1次回
折効率が38%程度であるのに対し、7M偏光に関して
は0次回折効率がほぼ0%であり、1次回折効率はほぼ
90%となる。したがって、上述の第1 PBSの機能
とほぼ等価な機能が格子型の素子で得られることになる
。
第1図は本発明の詳細な説明するための斜視図である。
図中、光の偏光方向は電気ベクトルを用いて表す。入射
光の波長λとほぼ等しいピッチをもち、はぼ0.25λ
なる格子溝深さdを有する金属表面レリーフ格子11を
、格子のブラッグ角に近い角度(略ブラッグ角θ、′)
で光が入射するよう配置する。ブラッグ角に一致させな
いのは1次回折光と入射光を分離するためである。
光の波長λとほぼ等しいピッチをもち、はぼ0.25λ
なる格子溝深さdを有する金属表面レリーフ格子11を
、格子のブラッグ角に近い角度(略ブラッグ角θ、′)
で光が入射するよう配置する。ブラッグ角に一致させな
いのは1次回折光と入射光を分離するためである。
説明をわかりやすくするために格子11への入射光12
は、光磁気ディスクからの反射光であるとし、カー効果
によって生じる偏光成分が格子の7M偏光に相当するよ
うに配置しであるとする。このとき、0次回折光13は
、7M偏光の回折効率がほぼ0%であるので、格子溝に
平行な電気ベクトルを持つ直線偏光となる。一方、1次
回折光14はTE偏光の回折効率が約40%、7M偏光
の回折効率が約90%であるので、カー回転によって生
じた偏光成分をほぼそのまま含んだ偏光を示す。従って
、この金属表面レリーフ格子11は、上述の第1偏光ビ
ームスプリツタ(第2図の第1PBS)と等価な働きを
していることがわかる。
は、光磁気ディスクからの反射光であるとし、カー効果
によって生じる偏光成分が格子の7M偏光に相当するよ
うに配置しであるとする。このとき、0次回折光13は
、7M偏光の回折効率がほぼ0%であるので、格子溝に
平行な電気ベクトルを持つ直線偏光となる。一方、1次
回折光14はTE偏光の回折効率が約40%、7M偏光
の回折効率が約90%であるので、カー回転によって生
じた偏光成分をほぼそのまま含んだ偏光を示す。従って
、この金属表面レリーフ格子11は、上述の第1偏光ビ
ームスプリツタ(第2図の第1PBS)と等価な働きを
していることがわかる。
本実施例に用いた金属表面レリーフ格子11の作成方法
を第5図に基づいて説明する。第5図(a)。
を第5図に基づいて説明する。第5図(a)。
(b)、 (C)は、それぞれ異なる作成方法を示し
ている。
ている。
第5図(a)に示す方法では、基板15に適当な厚さの
金16を蒸着し、フォトプロセスにより格子パターンを
形成後、フォトレジストをマスクとして金に湿式あるい
は乾式エツチング法によるエツチングを施して金の表面
レリーフ格子17を作成する。
金16を蒸着し、フォトプロセスにより格子パターンを
形成後、フォトレジストをマスクとして金に湿式あるい
は乾式エツチング法によるエツチングを施して金の表面
レリーフ格子17を作成する。
第5図(b)に示す方法では、ガラスあるいはプラスチ
ックなどの誘電体基板18を用いて、誘電体基板に対し
て第5図(a)の方法と同様のフオロプロセスおよびエ
ツチングを施して表面レリーフを形成したのち、金19
を蒸着して金属表面レリーフ格子を作成する。
ックなどの誘電体基板18を用いて、誘電体基板に対し
て第5図(a)の方法と同様のフオロプロセスおよびエ
ツチングを施して表面レリーフを形成したのち、金19
を蒸着して金属表面レリーフ格子を作成する。
第5図(c)に示す方法では、あらかじめ必要な格子ピ
ッチおよび格子溝深さを持つ金型を作成しておき、この
金型からフォトポリマー法(2P法)により、基板20
上のフォトポリマー樹脂21に金型のレプリカを成形し
、このレプリカの表面に金22を蒸着して金属表面レリ
ーフ格子を作成する。
ッチおよび格子溝深さを持つ金型を作成しておき、この
金型からフォトポリマー法(2P法)により、基板20
上のフォトポリマー樹脂21に金型のレプリカを成形し
、このレプリカの表面に金22を蒸着して金属表面レリ
ーフ格子を作成する。
以上の各作成方法の中で、特に第5図(C)で述べた方
法は量産性に富み、かつ製造ロフト間のばらつきも小さ
く、工業生産に適した方法である。
法は量産性に富み、かつ製造ロフト間のばらつきも小さ
く、工業生産に適した方法である。
以上の説明においては、金属として金を取りあげたが、
もちろん他の金属材料、例えば銀やアルミニウムなどを
用いることも可能である。これらの金属材料を用いた場
合、金を用いた場合に比べてさらに製造原価を減らすこ
とができる。
もちろん他の金属材料、例えば銀やアルミニウムなどを
用いることも可能である。これらの金属材料を用いた場
合、金を用いた場合に比べてさらに製造原価を減らすこ
とができる。
本発明による偏光ビームスプリフタでは、従来の偏光ビ
ームスプリフタの製作において必要であった光学ガラス
の複数面の光学研磨、および複数回の誘電体物質の蒸着
、および張り合わせといった工程がほとんど無くなり、
材料費および製造工数を大幅に削減でき、安価で量産性
に富む偏光ビームスプリフタが提供できる。
ームスプリフタの製作において必要であった光学ガラス
の複数面の光学研磨、および複数回の誘電体物質の蒸着
、および張り合わせといった工程がほとんど無くなり、
材料費および製造工数を大幅に削減でき、安価で量産性
に富む偏光ビームスプリフタが提供できる。
第1図、第5図は本発明の詳細な説明するための図、
第2図、第3図は従来の技術を説明するための図、
第4図は本発明の詳細な説明するための図である。
1・・・・・第1偏光ビームスプリツタ2・・・・・半
導体レーザ 3・・・・・光磁気ディスク 4・・・・・誤差信号検出系 5・・・・・情報信号検出系 6・・・・・第2偏光ビームスプリツタ7・・・・・ガ
ラス 8・・・・・高屈折率薄膜 9・・・・・低屈折率薄膜 10・・・・・接着剤 11・・・・・金属表面レリーフ格子 12・・・・・入射光 13・・・・・0次回折光 14・・・・・1次回折光 15、18.20・・・基板 16、19.22・・・金 17・・・・・表面レリーフ格子 18・・・・・誘電体基板 21・・・・・フォトポリマー樹脂 代理人 弁理士 岩 佐 義 幸 第1図 惰2図 ・第3図 Δ=入 へ二1.○pm dlλ d/入港4図
導体レーザ 3・・・・・光磁気ディスク 4・・・・・誤差信号検出系 5・・・・・情報信号検出系 6・・・・・第2偏光ビームスプリツタ7・・・・・ガ
ラス 8・・・・・高屈折率薄膜 9・・・・・低屈折率薄膜 10・・・・・接着剤 11・・・・・金属表面レリーフ格子 12・・・・・入射光 13・・・・・0次回折光 14・・・・・1次回折光 15、18.20・・・基板 16、19.22・・・金 17・・・・・表面レリーフ格子 18・・・・・誘電体基板 21・・・・・フォトポリマー樹脂 代理人 弁理士 岩 佐 義 幸 第1図 惰2図 ・第3図 Δ=入 へ二1.○pm dlλ d/入港4図
Claims (1)
- (1)入射光の波長λに対して、ピッチが略波長に等し
く、格子溝深さdが略0.25λなる関係を有する金属
表面レリーフ格子を備え、入射光に対して、格子の略ブ
ラッグ角となるよう配置されることを特徴とする偏光ビ
ームスプリッタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63145908A JPH01314205A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 偏光ビームスプリッタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63145908A JPH01314205A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 偏光ビームスプリッタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01314205A true JPH01314205A (ja) | 1989-12-19 |
Family
ID=15395849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63145908A Pending JPH01314205A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 偏光ビームスプリッタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01314205A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991012671A1 (en) * | 1990-02-06 | 1991-08-22 | Motorola, Inc. | Radio-frequency power amplifier with variable impedance and variable output power |
KR100843379B1 (ko) * | 2004-06-25 | 2008-07-03 | 삼성전기주식회사 | 광경로차를 이용한 광변조기 |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP63145908A patent/JPH01314205A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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