JPH01307923A - 欠陥検出回路 - Google Patents

欠陥検出回路

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JPH01307923A
JPH01307923A JP13846988A JP13846988A JPH01307923A JP H01307923 A JPH01307923 A JP H01307923A JP 13846988 A JP13846988 A JP 13846988A JP 13846988 A JP13846988 A JP 13846988A JP H01307923 A JPH01307923 A JP H01307923A
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JP
Japan
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defect
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output
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Application number
JP13846988A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Hagita
萩田 宏之
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、情報が濃淡のピット列で記録された情報記
録担体に読み取り光を照射し、その像を光検出器上に結
像させて情報を再生する光学式情報再生装置において、
特にフォーカスサーボやトラッキングサーボ等を行うに
あたって情報記録担体上の欠陥によるサーボはずれを防
止するのに好適な欠陥検出回路に関する。
〔従来の技術〕
例えば、光カード再生装置として第3図に示すように濃
淡のピット列で記録された情報を有する光カード1に、
図示しない照明系によって読み取り光を照射し、その像
をレンズ2を経て光検出器3上に結像させて情報を読み
取るようにしたものがある。ここで、情報はトラックと
称される直線状の単位に連続して記録されており、この
ようなトラックがいくつか並ぶことによって全体の情報
が構成されている。このような光カード再生装置は、例
えば特開昭62−279523号公報に開示されている
ところで、光カード1にはそりや歪みがあるため、目的
の情報を光検出器3上に結像させるためには、焦点合わ
せやトラック合わせを行う必要があり、それぞれフォー
カスサーボ、トラッキングサーボと称されるサーボ系が
必要となる。そのトラッキングサーボの一例として、第
4図に示すように光カード1にトラック方向に一定間隔
で連続して黒色のピットを並べたマーク4を設けると共
に、光検出器3にはここに結像されるマーク4の像を挟
み込むように受光面5a、 5bを設け、これら受光面
5a、 5bの出力の差をとることによりトラッキング
エラーを検出する方式がある。この検出方式においては
、マーク像が受光面5a、 5bの中央に位置している
状態、すなわちトラックずれかない状態では受光面5a
、 5bの受光量は等しく、トラッキングエラーは零と
なる。これに対し、マーク像が第4図において上方にず
れると、受光面5aの受光量は大きくなり受光面5bの
受光量は小さくなって、トラッキングエラーは例えば正
の値をとる。
逆に下方にずれると、受光面5aの受光量は小さくなり
受光面5bの受光量は大きくなってトラッキングエラー
は負の値をとる。このような原理によりトラッキングエ
ラー信号が生成される。なおトラックずれが比較的小さ
い場合には、受光面5a、 5bの受光量の和はほぼ一
定となる。
ところが、実際の光力−トドでは情報が理想的に記録さ
れているわけではなく、第5図に示すように反射膜が欠
落するような黒い欠陥6が存在する。このような欠陥6
は単に情報読み取りエラーを起こすのみでなく、例えば
前述のトラッキングエラー等にノイズを生ぜしめ、これ
がためサーボ系がはずれて欠陥が生じていない部分の情
報をも読み取り不能とし、甚だしい場合は制御可能な範
囲を越えて復帰ができなくなるということがある。
このような現象の対策として、第6図に示すように欠陥
検出回路7により欠陥を検出し、欠陥が検出されている
期間、その出力によりスイッチ8を閉成してサーボ系の
ゲインを低げるようにしたものや、第7図に示すように
サーボ系のループを遮断するようにしたものが知られて
いる。
ここで、欠陥検出回路7における欠陥の検出方法として
は、例えば特開昭59−94248号公報に開示されて
いるように、情報記録担体からの戻り光の一部の光量が
ある設定値よりも小さくなったことを検出して欠陥を検
出する方法が知られている。具体的には光検出器の出力
の一部または全部の和を増幅し、その出力が設定値より
小さくなることをもって欠陥と見なすもので、実際には
情報記録担体の反射率や透過率等にばらつきがあるため
、その影響を除くため設定値は光量の平均値から一定値
低下した値とする等の方法がとられることが多い。
第8図は上記の検出方法による欠陥検出回路の一例の構
成を示すもので、入力端子10には光検出器の一部また
は全部の出力の和を増幅した信号が供給され、欠陥が生
じたときに出力端子11にLレベルの欠陥検出信号が現
れるようになっている。
抵抗12およびコンデンサ13は入力信号の平均値を与
えるローパスフィルタを構成し、電源14は平均値から
どのくらい人力信号が低下したら欠陥と見なすかを決め
るスレッシュホールドレベルを与える。すなわち、コン
パレータ15の反転入力端子には平均値から電源14の
電圧分低下した設定値が供給され、この設定値と非反転
入力端子に供給される人力信号とが比較されて、入力信
号が設定値を下まわるとコンパレータ15の出力がLレ
ベルとなる。なお、コンパレータ15はオープンコレク
タ形式のもので、抵抗16によりプルアップされている
第9図は上記の欠陥検出回路の変形例を示すもので、第
8図の電源14に代えて抵抗17.18を設け、抵抗1
7の電圧降下分をスレッシュホールドレベルとして得る
ようにしたものである。
また、欠陥検出の他の例として、例えば特開昭61−4
2742号公報には、トラッキングエラー信号やフォー
カスエラー信号が設定範囲を越えたことを検出し、これ
をもって欠陥を検出するようにしたものが開示されてい
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、第8図および第9図に示した欠陥検出回
路は、第5図に示した黒い欠陥6に対しては有効である
が、第5図に示すように反射膜が余分な所にもある白い
欠陥20に対しては、戻り光量は低下することはなく、
むしろ増加するため検出できない。したがって、このよ
うな白い欠陥20があった場合には何らの対策も働かな
いため、サーボ系が乱される結果となる。
また、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号
に基づいて欠陥を検出する場合あっては、欠陥によるト
ラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号のノイズ
と、本来のトラックずれやフォーカスすれとの区別が困
難となり、本来のトラッキングずれやフォーカスずれを
欠陥と誤検出してサーボゲインの低下あるいはサーボル
ープの遮断が引き起こされ、その結果ますますトラック
ずれやフォーカスずれが大きくなり、やがてサーボがま
ったくはずれてしまうということがある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、情報記録担体の白い欠陥も有効に検出できる
よう適切に構成した欠陥検出回路を提供することを目的
とする。
〔課題を解決するための手段および作用〕上記目的を達
成するため、この発明では情報が濃淡のピット列で記録
された情報記録担体に照射された光の該情報記録担体で
の反射光の一部を受光する手段と、この受光手段の出力
が所定の範囲内にあるか否かを比較する比較手段とを具
え、前記受光手段の出力が前記所定の範囲外にあるとき
に、前記比較手段から欠陥検出信号を発生させて前記情
報記録担体の欠陥を検出するよう構成する。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例の要部の構成を示すもので
ある。この実施例では、第4図に示す光検出器3におけ
るフォーカスエラー検出用の受光面5a、 5bの和の
出力電流を増幅し、これを電圧に変換して入力端子25
を経てコンパレータ26の非反転入力端子およびコンパ
レータ27の反転入力端子にそれぞれ供給する。また、
入力端子25は抵抗28およびコンデンサ29を経て接
地すると共に、抵抗28およびコンデンサ29の接続点
30とコンパレータ26の反転入力端子およびコンパレ
ータ27の非反転入力端子との間には電源31および3
2をそれぞれ接続する。ここで、抵抗28およびコンデ
ンサ29は人力信号の平均値を与え、電源31は負方向
のスレッシュホールドレベルを、電源32は正方向のス
レッシュホールドレベルをそれぞれ与えるものである。
コンパレータ26および27の出力は出力端子33に供
給するようにする。なお、コンパレータ26および27
はともにオープンコレクタ形式のもので、抵抗34によ
りプルアップする。したがって、この実施例においては
、コンパレータ26および27のいずれか一方の出力が
Lレベルとなると、出力端子33にはLレベルの信号が
現れ、コンパレータ26および27の出力がともにHレ
ベルのさきのみ出力端子33にHレベルの信号が現れる
ことになる。
上記構成において、人力信号がほとんどレベル変化をし
ない状態、すなわち第4図に示すマーク4に欠陥がない
状態では、コンパレータ26の反転入力端子には平均値
よりも電源31の電圧分だけ小さい電圧が加わり、非反
転入力端子には入力信号そのものが加わるが、この場合
の入力信号は平均値と大差がないので、非反転入力端子
の入力電圧の方が反転入力端子のそれよりも高くなり、
したがってコンパレータ26の出力はHレベルとなる。
また、コンパレータ27においては、その非反転入力端
子に平均値よりも電源32の電圧分だけ大きい電圧が加
わり、反転入力端子には人力信号そのものが加わるので
、やはり非反転入力端子の入力電圧の方が反転入力端子
のそれよりも高くなり、出力はHレベルとなる。したが
って出力端子33にはHレベルの信号が現れることにな
る。
ここで、第5図に示すようにマーク4に黒い欠陥6があ
ると、受光面5a、 5bの和の出力は、その像を受光
した時点で急に低下する。したがって、コンパレータ2
6の非反転入力端子の入力電圧もそれに従って低下する
が、反転入力端子の入力端子は抵、抗28およびコンデ
ンサ29の時定数のため急激には低下せず、事実上人力
信号低下前の平均値を保っているので、人力信号の低下
量が電源31の電圧分を越えると、反転入力端子の入力
端子の方が非反転入力端子のそれよりも高くなってコン
パレータ26の出力はLレベルとなり、出力端子33に
はLレベルの欠陥検出信号が現れる。
また、第5図に示すようにマーク4に白い欠陥20があ
ると受光面5a、 5bの和の出力は、その像を受光し
た時点で急に増加する。したがって、コンパレータ27
の反転入力端子の入力電圧もそれに従って増加するが、
非反転入力端子の入力端子は抵抗28およびコンデンサ
29の時定数のため急激には増加せず二事実上入力信号
増加前の平均値を保。
ているので、入力信号の増加量が電源32の電圧分を越
えると、反転入力端子の入力電圧の方が非反転入力端子
のそれよりも高くなってコンパレータ27の出力はLレ
ベルとなり、出力端子33にはLレベルの欠陥検出信号
が現れる。
以上のように、この実施例によれば黒い欠陥および白い
欠陥もともに有効に検出することができる。したがって
、その欠陥検出信号によって、その期間第6図および第
7図に示したようにスイッチ8を閉成してトラッキング
やフォーカスサーボ系のゲインを低下させたり、そのル
ープを遮断することにより、サーボ系の乱れを有効に防
止でき、情報を常に有効に読み取ることが可能となる。
第2図はこの発明の他の実施例の要部の構成を示すもの
である。この実施例は、第1図の電源31および32に
代えて、駆動電源+Vおよび−V間に抵抗35〜38を
直列に接続し、抵抗37による電圧降下分を電源31の
電圧分に、抵抗36の電圧降下分を電源32の電圧分に
相当させるようにしたもので、その他の構成は第1図と
同様である。したがって、この実施例においても、第1
図と同様に動作し、同様の効果を得ることができる。
なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
上述した実施例では、光検出器3におけるフォーカスエ
ラー検出用の受光面5a、 5bの出力の和に基づいて
欠陥を検出するようにしたが、受光面5a、 5bのい
ずれか一方の出力に基づいて欠陥を検出するよう構成す
ることもできる。また特開昭62−275325号公報
、同63−7533号公報、同63−91830号公報
等に開示されているように、マーク像からフォーカスエ
ラーふよびトラッキングエラーを検出する場合にあって
は、それら検出用受光面の一部または全部の出力の和に
基づいて欠陥を検出するよう構成することもできる。更
に、この発明は光カードにおける欠陥検出に限らず、光
ディスク、光磁気ディスク等の他の光学式の情報記録担
体における欠陥検出にも有効に適用することができる。
〔発明の効果〕
以上述べたように、この発明によれば情報記録担体での
反射光の一部の光量が所定の範囲内にあるか否かを比較
して欠陥を検出するようにしたので、情報記録担体上の
黒い欠陥および白い欠陥をともに有効に検出することが
でき、したがって光学式情報再生装置においではサーボ
系の乱れを有効に防止でき、情報を常に有効に読み取る
ことが可能”となる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の要部の構成を示す図、 第2図は同じく他の実施例の要部の構成を示す図、 第3図〜第9図は従来の技術を説明するための図である
。 1・・・光カード     2・・・レンズ3・・・光
検出器     4・・・マーク5a、 5b・・・受
光面    6・・・黒い欠陥20・・・白い欠陥  
   25・・・入力端子26、27・・・コンパレー
タ 28・・・抵抗29・・・コンデンサ    30
・・・接続点31.32・・・電源     33・・
・出力端子34・・・抵抗 特許出願人  オリン?マス光学工業株式会社第1図 
    第2図 −V 第3図 第4図 第5図 第6図    第7図 手続補正書 昭和63年11月30日 昭和63年特許願第138469号 2、発明の名称 欠陥検出回路 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (037)オリンパス光学工業株式会社4、代理人 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 1、明細書第4頁第11行「低げる」を「下げる」に補
正する。 2、同第7頁第1行「場合あっては、」を「場合にあっ
ては、」に補正する。 3、同第8頁第6行「フォーカスエラー」を「トラッキ
ングエラー」に補正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、情報が濃淡のピット列で記録された情報記録担体に
    照射された光の該情報記録担体での反射光の一部を受光
    する手段と、この受光手段の出力が所定の範囲内にある
    か否かを比較する比較手段とを具え、前記受光手段の出
    力が前記所定の範囲外にあるときに、前記比較手段から
    欠陥検出信号を発生させて前記情報記録担体の欠陥を検
    出するよう構成したことを特徴とする欠陥検出回路。
JP13846988A 1988-06-07 1988-06-07 欠陥検出回路 Pending JPH01307923A (ja)

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