JPH01287444A - 光学濃度計 - Google Patents

光学濃度計

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JPH01287444A
JPH01287444A JP11719788A JP11719788A JPH01287444A JP H01287444 A JPH01287444 A JP H01287444A JP 11719788 A JP11719788 A JP 11719788A JP 11719788 A JP11719788 A JP 11719788A JP H01287444 A JPH01287444 A JP H01287444A
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light
peak wavelength
temperature
light emitting
emitting diode
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JP11719788A
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Hitoshi Kamezawa
仁司 亀沢
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Minolta Co Ltd
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    • G01N2201/062LED's
    • G01N2201/0621Supply

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、光源とこの光源から発せられた光の特定の波
長領域の光量を計測する受光手段を備え、試料中の葉緑
素などの特定物質がもつ波長に関する吸光度差を利用し
て上記特定物質の濃度を測定する光学濃度計に関する。
〈従来の技術〉 従来、この種の光学濃度計として、発光ダイオードを用
いて試料である葉中の葉緑素の濃度を測定する葉緑素計
が知られている。葉緑素は、光に対し青色領域と赤色領
域に強い吸収があり、緑色領域においては吸収量が非常
に小さく、特に赤外領域では殆んど吸収がない特性を有
する。そして、生葉における葉緑素含有量の測定は、吸
光度の異なる2波長間で光の透過量を求めることによっ
て行なわれ、測定光には、通常、葉緑素の吸光度が強く
、カロチン(黄色素)の影響を受けない赤色領域(R)
と、葉緑素による吸収が殆んどない赤外領域(IR)の
波長領域をもつ光源が用いられる。
いま、第9図に示すような発光ダイオード41で夫々発
生され、直接受光素子42で計測される上記赤色領域(
R)と赤外領域(IR)の入射光の光量を夫々I or
、 I oirとし、葉を通して受光素子42で計測さ
れる透過光の光量を夫々I r、 I irとすれば、
次式が成立する。
1ir=Ioir−Fir−10−C”αir■r=I
or−Fr−1O−CC°αrただし、Cc:葉の葉緑
素濃度 αr、αir:R域、IR域での葉緑素の吸光係数 Fr、Fir:R域、IR域での葉緑素以外の葉中物質
による光透過率 上式より、下記の(1)式が得られる。
Cc(a r −a ir) −(1OgF r −1
OgF 1r)−(1)(1)式の左辺は光量の計測で
求まり、右辺の吸光係数と光透過率は既知定数だから、
(1)式より葉緑素濃度Ccを求めることができる。
葉緑素計は、上記(1)式のf or、 I oirを
試料を挿入しない状態で計測し、I r、 I irを
試料を挿入した状態で計測して(1)式により葉緑素濃
度Ccを、具体的にはこのCcに直接対応するR、In
域間での光学濃度差ΔODを求めるものであり、R1I
R域の光源として、従来、赤色発光ダイオードと赤外発
光ダイオードが用いられている。
〈発明が解決しようとする課題〉 ところが、上記赤色および赤外発光ダイオードは、周囲
温度の変化によって発光スペクトルのピーク波長がシフ
トするという発光ダイオードに共通の好ましくない特性
を有し、ピーク波長のシフト率は、+0.2nm/℃程
度といわれている。−方、試料たる生葉の分光透過率曲
線は、第10図jこ示すよう?、:R域(610〜70
 Lm)において大きく変化し、従ってこのR域とIR
域(900+v+)間での上記光学臭度差ΔODも、第
11図に示すように赤色光の波長によって大きく変化す
る。例えば、周囲温度が50℃変動すると、ピーク波長
がlOnmシフトし、赤色発光ダイオードのピーク波長
λrpは、第11図中で例えば650nI11から66
0nmに変化し、光学濃度差ΔODは、0.477から
0.602へ実に20%以上も増大することになる。そ
して、光学濃度差ΔODのピーク波長λ「pに対する変
化率は、ピーク値を越えた長波長側(λrp> 680
 nm)で負債となって一層増大する。
しかるに、従来の葉緑素計は、λrpが660nm付近
の赤色発光ダイオードを用いているにも拘わらず、周囲
温度の変動によって生じる上記光学濃度差ΔODの誤差
を全く補正するようになっておらず、生葉の葉緑素濃度
を高精度に測定し得ないという欠点があった。
そこで、本発明の目的は、受光素子によって計測される
試料のR域とIR域間での光学濃度差ΔODを、温度変
化による赤色発光ダイオードのピーク波長λrpのシフ
ト具体に応じて、大きな記憶容量を要する補正係数テー
ブルを用いず簡単かつ安価な手法で最適に補正でき、試
料中の特定物質の濃度を高精度に測定できる光学濃度計
を提供することである。
〈課題を解決するための手段〉 発明者は、試料中の特定物質の分光透過率曲線(第1O
図参照)および光学濃度差曲線(第11図参照)を詳細
に検討し、その結果、特定物質による吸収が比較的大き
い第2の光源(R域)として、波長に対する吸光係数の
変化が略緩勾配の直線(第11図参照参照)をなすよう
な波長域の光を用いれば、赤色発光ダイオードのピーク
波長シフトによる光学濃度差(ΔOD)の誤差の補正が
、温度変化の一次式で行なえることを見出した。そして
、この手法を本願出願人が最近提案した新規な光学濃度
計(特願昭62−206795号)に適用すれば、−層
顕著な効果を奏することに想到し、本発明を構成するに
至った。
即ち、本発明の光学濃度計は、試料中の特定物質による
吸収が小さい波長域の光を発する第1の光源と、上記特
定物質による吸収が比較的大きい波長域の光であって、
そのピーク波長が温度変化によりシフトし、このピーク
波長のシフトに伴う上記特定物質による吸光係数の変化
が略緩勾配の直線を呈するような光を発する第2の光源
と、この受光手段の計測値に基づいて、特定物質の濃度
に応じて変化する第1と第2の光源光の吸光度差を算出
する演算手段と、上記光源や受光手段の温度を測定する
温度測定手段と、この温度測定手段の測定値に基づいて
、温度変化による上記第2の光源光のシフト後のピーク
波長を求め、求めたピーク波長における上記特定物質の
吸光係数によって、上記演算手段で算出された吸光度差
を補正する補正手段を備える。
〈作用〉 試料中の特定物質の濃度測定に先立ち、まず第1および
第2の光源について、試料を挿入しない状態で公知の手
法により初期較正が行なわれる。
次に、第!および第2の光源から発せられ、試料を透過
した光の光量が夫々受光手段で計測され、演算手段は、
この計測値に基づいて特定物質の濃度に対応する両光の
吸光度差を演出する。即ち、特定物質による吸収は、第
1の光源が小さく、第2の光源が比較的大きいから、特
定物質の濃度に対応する吸光度差が得られる。一方、温
度測定手段は、較正時に対する計測時の光源や受光手段
の温度変化を測定し、補正手段は、測定された温度変化
による第2の光源光のシフト後のピーク波長を求め、求
めたピーク波長における上記特定物質の吸光係数によっ
て、上記演算手段で算出された吸光度差を補正する。こ
のとき、上記ピーク波長シフトに伴う吸光係数の変化は
略緩勾配の直線を呈するので、上記補正は、大容量メモ
リを要する補正係数テーブルによらず温度変化の一次式
として簡単かつ高精度に行なえる。こうして、最適に補
正された吸光度差によって、試料中の特定物質の濃度が
高精度に測定されるのである。
〈実施例〉 以下、本発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第1図、第2図は本発明の光学濃度計の一実施例として
の葉緑素計の平面図および側面図であり、lは試料であ
る葉を載置する試料台、2はこの試料台!の上部に基端
部2bをピン3で枢着して回動自在に取り付けられ、図
示しないスプリングで開方向に付勢される回動蓋、4.
5はこの回動蓋2の先端部2aの下面に横方向に隣接し
て設けられ、赤色領域および赤外領域の光を発生する第
1および第2の光源としての赤色発光ダイオードおよび
赤外発光ダイオード、6は上記試料台lの先端部!aの
上面に上記両発光ダイオード4.5に対向して設けられ
、両波長領域の光の光量を夫々計測する受光手段として
の受光素子、7は試料台の先端部1aの上面に試料固定
と遮光のため設けられた押え部材、8は測定値である葉
緑素濃度を表示する表示部、9はパワースイッチ、10
は上記回動蓋2の上面に設けられた指押え凹部、11は
葉緑素計を把持するためのホールドグリップであり、上
記発光ダイオード4,5、受光素子6、押え部材7、試
料台および回動蓋の先端部1 a、 2 aで試料固定
部■2を構成している。
第3図は上記葉緑素計の回路構成を示すブロック図であ
る。同図において、21は各回路を制御するとともに測
定に関する種々の演算を行ない、演算手段および補正手
段を兼ねる制御演算回路、22は赤色発光ダイオード4
および赤外発光ダイオード5のオン・オフを制御するL
ED駆動回路、23は温度による特性変化を補償するた
めに上記両発光ダイオード4.5および受光素子6の温
度を計測する温度測定手段としての温度測定回路、24
は受光素子6の光電流出力を電圧信号に変換するととも
に信号を増幅する電流電圧変換回路、25は上記温度測
定回路23および電流電圧変換回路24からのアナログ
信号をディジタル信号に変換するAD変換回路、26は
デイツプスイッチやEEPROM等からなり、各回路の
諸特性に応じて設定される較正値および発光ダイオード
4゜5の発光量とピーク波長や受光素子6の受光出力の
温度特性に関する情報を記憶する校正値記憶回路、27
は初期較正や測定の適否をブザー音で知らせる警告回路
、28はスイッチ29の状態を読み取って制御演算回路
21に入力するスイッチ入力回路、30は測定値などを
表示する表示素子31を制御する表示素子駆動回路であ
る。各回路は電力を供給する電源回路に接続されている
上記制御演算回路21は、LED駆動回路22とAD変
換回路25を制御し、電流電圧変換回路24の増幅度等
を制御し、校正値記憶回路26に格納された較正値や発
光ダイオード等の温度特性に関する情報に基づいて測定
値を補正するとともに、赤色、赤外両波要領域(r(、
I R)で測定、補正された較正光量1 or、 I 
oirと透過光量1 r、 I irに基づき前述の(
0式1こ従って葉の葉緑素濃度Ccを算出し、算出した
葉緑素濃度Ccを表示素子駆動回路30を介して表示素
子31に表示させる。また、上記制御演算回路21は、
動作モードが較正モードに設定されているとき、試料を
挿入しない状態または較正用フィルタを挿入した状態で
葉緑素計を動作させ、発光ダイオード4.5から発せら
れた赤色、赤外領域の光量を測定する一方(第6図#3
゜#4参照)、測定された光量が、発光ダイオードの周
囲温度や使用時間などに応じて予め定められ内蔵のメモ
リに記憶された適正範囲内にあるか否かを判別するとと
もに(第6図#6参照)、上記光量が適正範囲内にある
と判別しかつ動作モードが測定モードに設定されている
場合は、透過光量測定のため各回路を動作させ(第6図
#8.#9参照)、適正範囲内にあると判別した上記光
量を記憶するようになっている。さらに、上記制御演算
回路21は、較正時に上記判別結果に応じて警告回路2
7を駆動して、測定光量が適正範囲内のときOKブザー
音を(第6図#6参照)、そうでないときNGブザー音
を発生させる一方、濃度測定時に試料透過光の測定光量
が予め定められた適正範囲内にあるか否かを判別しく第
6図#IO参照)、判別結果に応じて同様にOKブザー
音またはNGブザー音を発生させる(第6図#12.#
14参照)。
第4図は、上記温度測定回路の一興体例を示す図である
。同図において、スイッチングトランジスタTrは、制
御演算回路2Iからの制御信号によって駆動され、発光
ダイオードLEDのオン。
オフを制御する。上記発光ダイオードLEDの順方向電
圧降下は、発光ダイオードのアノード側電位をAD変換
回路25に入力することにより測定される。一般に、発
光ダイオードの順方向電圧降下と発光ダイオードの温度
は第5図の直線で示すような関係にあり、温度上昇に比
例して電圧が減少する。上記直線の勾配aおよび縦軸切
片すは各発光ダイオードごとに異なる。そのため、二点
較正等により赤色発光ダイオード4と赤外発光ダイオー
ド5の勾配と縦軸切片の値を校正値記憶回路26に記憶
させておき、制御演算回路21が、記憶された勾配aと
縦軸切片すと入力される発光ダイオードのアノード側電
位Vに基づいて発光ダイオードの温度Tを、次式 T”
a”V+l)  ・・・(2)で求めるようになってい
る。
上記構成の葉緑素計の動作について、第6図を参照しつ
つ次に述べる。
ステップ#Iでパワースイッチ9をオンにすると、動作
モードが較正モードに設定され、ステップ#2で表示素
子31に較正モードであることを示す“CAL”という
表示がされる。この較正モードは、試料を試料固定部1
2に挿入しない状態で赤色発光ダイオード4と赤外発光
ダイオード5の光量およびこれら発光ダイオード4.5
と受光素子6の温度を測定するモードである。
ステップ#3で測定スイッチが押されたか否かの判断が
される。この葉緑素計は、回動蓋2が閉じられと自動的
に測定スイッチがオンになる構造になっており、測定ス
イッチがオンと判断されれば、次のステップ#4へ進む
。ステップ#4では両光光ダイオード4.5の光量およ
び両光光ダイオード4.5と受光素子6の温度が測定さ
れ、測光値を測定温度に応じて校正値記憶回路26に記
憶された較正値で補正して入射光量f or、 I o
irが求められる。次に、ステップ#5で初期較正が正
常にされたか否か、即ち上記入射光量f or、 I 
oirが適正範囲内にあるか否かが判断される。そして
、発光ダイオード4,5が故障あるいは劣化したり、受
光素子6等に泥などが付着して、入射光m r or。
r oirが適正範囲外と判断された場合、初期較正が
失敗したことを知らせるため警告回路27がNGブザー
音を発する一方、上記入射光量1 or、 1 oir
が適正範囲内と判断された場合、この入射光量が制御演
算回路21内の記憶手段(RAM)に格納されるととも
に、初期較正が完了したことを知らせるためステップ#
6でOKブザー音が発せられる。
OKブザー音が発せられると、ステップ#7で表示素子
3!の表示はブランクとなる。
以上の較正モード処理が完了すると、試料である葉を透
過した光量を測定する測定モードに進む。
まず、ステップ#8で測定スイッチが押されたか否かの
判断が同様になされ、測定スイッチがオンと判断されれ
ば、次のステップ#9へ進む。ステップ#9では発光ダ
イオードと受光素子の温度が測定され、両売光ダイオー
ド4,5から発せられ、葉を透過した光量が測定・温度
補正され、その温度補正された測定値1r、firと制
御演算回路2IのRAMに記憶されている入射光量1 
or、 I oirから、前述の(1)式により葉緑素
濃度Ccが求められる。
次に、ステップ#lOで測定が正常にされたか否か、即
ち上記測定値1 r、 I irが適正範囲内にあるか
否かが判断される。そして、葉が光路に正しくセットさ
れておらず入射光が直接受光されたり、発光ダイオード
4.5や受光素子6に前述と同様の不具合があって、透
過光量が適正範囲外と判断された場合、ステップ#13
で測定値表示はブランクになり、ステップ#!4で測定
が失敗したことを知らせるNGブザー音が発せられ、次
の測定を待つためステップ#8に戻る。一方、透過光量
が適正範囲内と判断された場合、ステップ#11で表示
素子3!に葉緑素濃度Ccが表示され、ステップ#12
で測定が完了したことを知らせるOKブザー音が発せら
れ、次の測定を待つためステップ#8に戻る。
このように、上記実施例では、発光ダイオード4.5の
温度測定をその順方向電圧降下を測定することによって
行なっているので、測定回路が簡素化されるとともに、
発光ダイオードそのものの温度が測定できるという利点
がある。また、初期較正が正常に行なわれた場合にのみ
、試料透過光の光量を測定するようにしているので、予
備調整を正確かつ確実に行なうことができ、予備調整ミ
スによる以降の無駄な測定が防止できて、測定の高精度
化と能率化に大きく寄与する。また、上記実施例では、
測定モードにおいても、測定光量が適正範囲内にあるか
否かを判断するとともに、較正モードおよび測定モード
における測定光量の適否判断結果をブザー音で知らせる
ようにしているので、測定ミスが減少し、−層確実な測
定を行なうことができる。
ここで、上記実施例の制御演算回路21によって第6図
のステップ#4.#9で行なわれる測定値の補正につい
て詳述する。
発光ダイオード4.5の発生光量は温度上昇に比例して
減少するという特性をもち、受光素子の受光出力も同様
の温度特性をもっている。従って、測定原理を示す(1
)式中の入射光量のf or、 I oirは、次式で
表わされる。
1 oir= I osir−fir(t −ts) 
   =(3)for= Iosr−fr(t−ts)
     −・−(4)ただし、I osr、 1 o
sir:基準温度におけるR域。
rR域の発生光量 t、ts:測定時温度、基準温度 rr−fir: R域、IR域の発生光量の温度特性関
数(1次関数) また、受光素子のR域、IR域に対する受光出力も温度
特性関数φr(t −ts) 、φ1r(t −ts)
で表わせる。
次に、発光ダイオード4.5の発光ピーク波長λr、λ
irは、温度変化によってシフトし、次式で表わされる
λr=λsr+gr(t−ts)        ・・
・(5)λir=λsir+gir(t −ts)  
   ・・・(6)ただし、λsr、λsir:基準温
度におけるR域。
IR域の発光ピーク波長 gr、gir+ R域、IR域のピーク波長の温度特性
関数 較正処理(c)のステップ#4で測定される両発光ダイ
オードの入射光量I cr、 I cirは、較正時の
温度をtcとすれば上記(3)、(4)式および受光出
力の温度補正を考慮して次のように表わされる。
I cr= I osr ・fr(tc −ts戸φr
(tc−ts)  ・・(7)T cir= I os
ir−fir(tc−ts)−φ1r(tc −ts)
・・・(8) また、測定処理(m)のステップ#9で両発光ダイオー
ドから発せられる入射光111 oar、 I omi
rは、測定時の温度をtmとすれば上記(3X4 )式
および(7)、(8)式から次のように表わされる。
[omr= I osr @fr(ta −ts)=f
r(tc −ts) ・mr(tc −ts)I om
ir= I osir −fir(tm −ts)=(
9)、(10)式において、各温度特性値frJir。
φr、φirおよび基準温度tsは校正値記憶回路26
に記憶されていて既知であり、I cr、 I air
、tcは前ステップ#4で測定され、制御演算回路21
内のRAMに記憶されているから、これらの式で測定モ
ード(温度:tm)での入射光量が決定される。
さらに、測定モードでの透過光量については、受光出力
の温度補正をする。即ち、基準温度t8および測定温度
tmでのR域、IR域の透過光量を夫々I sr、 I
 sir、  I sr、 I airとすれば次式が
成立する。
Imr=Isrφ mr(tg+−ts)。
I 5m1r=目r”φir(Lm −ts)従って、 I sr−1sr/φr(tm −ts)    −(
11)I 5ir= I sir/φir(tm −t
s)  =(12)上記(11)、(12)式により測
定モードでの透過光量が基準温度下の透過光量に補正さ
れる。
一方、発光ダイオード4.5のピーク波長のずれに対す
る測定値の補正は次のように行なわれる。
(1)式より試料中の葉緑素濃度Ccは次式で与えられ
る。
Cc= (log(I or/ I r) −log(
I oir/ I ir)+(1ogFr−1ogFi
r))/(αr−αir)・・・(13) (13)式中のa r、 a irは、葉緑素のR域、
IR域での吸光係数であるが、ピーク波長がシフトする
と上記吸光係数も変化する。従って、葉緑素の吸光度曲
線をh(λ)とすると、(13)式の分母αr−αir
は、前述の(5)、(6)式を考慮して次のようになる
ar−air=h(λr)−h(λ1r)=h(λsr
+gr(t−ts)) −h(λsir+gir(t−
ts))    −(14)上記吸光度曲線h(λ)お
よび(14)式中の発光ダイオードのピーク波長に関す
る温度特性関数gr。
gir、基準ピーク波長λS、λsir、基準温度ts
は、予め校正値記憶回路26に記憶されており、(14
)式中のtは較正時または測定時の温度tc、tmであ
るから、上記(13)、(14)式によりピーク波長の
ずれに対する補正をすることができる。
以上の測定値補正方法による補正処理の流れについて、
第7図、第8図を参照しつつ次に述べる。
第6図の較正モードステップ#4における初期較正は、
第7図に示すように分解できる。即ち、第7図のステッ
プ#21では温度tcにおけるR−LEDの光1i 1
 Crが、ステップ#22ではIR−LEDの光量1c
irが、ステップ#23ではその時の温度tcが夫々測
定され、AD変換されて制御演算回路21内のRAMに
記憶される。
一方、第6図の測定モードステップ#9における葉緑素
量測定、温度測定は、第8図に示すように分解できる。
まず、ステップ#3!でR−LEDの葉を透過した透過
光量f mrが、ステップ#32でIR−LEDの葉を
透過した透過光量I lll1rが、ステップ#33で
その時の温度Lmが夫々測定され、AD変換される。次
に、ステップ#34.#35では夫々R−LED、IR
−LEDの葉への入射光量の補正が(9)、(I O)
式により行なわれる。ここに、frJir、φr、φi
rは、夫々R−LED光量の温度特性関数および受光出
力のR域、IR域先に対する温度特性関数であり、既知
である。
さらにステップ#36.#37ではR−LED、R1−
LEDの葉を透過した透過光量1 mr、 I lll
1rの補正が(11)、(12)式により行なわれる。
以上の補正の後、ステップ#38で(1)式に基づく2
波長間の光学濃度差を求める。
次に、前述したように各LEDのピーク波長はある程度
ばらつきをもっており、また温度によってもピーク波長
はシフトする。また、生葉の分光透過率は、第9図に示
したような特性をもっているから、特に赤色発光ダイオ
ードのピーク波長によって葉緑素の濃度は一定であって
も2波長の光学濃度差は大きく異なる。従って、#39
以降では、求めた光学濃度差に補正係数を乗算して補正
する必要がある。この補正は、補正手段を兼ねる制御演
算回路21(第3図参照)によって行なわれるが、その
概要を次に詳述する。
葉緑素による吸収が比較的大きいR域の光を発生する第
2の光源たる赤色発光ダイオード5には、発光ピーク波
長λrpが、常温で640nm≦λrp≦670r++
++あるいは671r++s≦λrp≦674nmのも
のが使用される。前者は、第10図に示す生葉の分光透
過率曲線が極小となるλ=674nmの左近傍の波長域
であり、後者は、λ=674nmの左極近傍の変曲部に
相当する波長域である。そして、第11図に示す光学濃
度差曲線(ΔOD)において、前者(64(1−670
ne)はΔODの変化が略緩勾配の直線り即ち一次式で
近似できる波長域であり、後者(671〜674 nm
)はΔODの変化が最小となる変曲部に該当する波長域
である。
上記緩勾配の直線りは、下記の(15)式で近似できる
Δ0D=a・λrp+b =0.0113λrp−6,852=(15)従って、
上記赤色発光ダイオード5の基準温度T s ℃(例え
ばTs=0)におけるピーク波長をλS。
そのときの光学濃度差をΔODs、ピーク波長シフトの
温度係数を&nm/ ’C(、に= + 0 、2 )
とすれば、温度T℃における試料測定時のピーク波長λ
rpは、下記の(16)式で与えられる。
λrp=λs+k(T −Ts)・(16)よって、T
℃で測定された光学濃度差ΔODを、Ts℃での光学濃
度差に補正するには、ΔODs/ΔODを乗ずればよい
。即ち、巻頭で述べた(1)式の左辺第1項に乗ずべき
補正係数は、下記の(17)式で与えられる。
ΔODs/ΔOD =ΔODs/(0,0113λrp−6,852)=Δ
00s/[0,0113(λs+kcT −Ts)) 
−6,8521・・(l 7) このような補正による効果は、次のとおりである。仮に
、赤色発光ダイオード5のピーク波長が極値λrp= 
674 na+よりも長波長側だとすると、第11図か
ら明らかなように一次式の勾配aは、a=−0037と
なって(15)式の3倍にもなる。
この勾配の違いは、通常は問題ないが、測定時の発光ピ
ーク波長を何らかの要因で誤認した場合、補正結果の差
となって顕現する。いま、赤色発光ダイオードの基準ピ
ーク波長670nm(A点参照)として得られる。第1
0図の生葉の光学濃度差は0.719となるが、どのよ
うなピーク波長であってもこの値0.719に補正すべ
く補正係数をかけることにする。まず679nm付近で
In1l誤認の場合を考える。679nmにおけるΔO
Dは0.70!であり、このときlnmのピーク波長の
誤認があって680nI11における補正係数を選択す
ると(!7)式に相当する補正係数は1.104となり
、補正結果は0,701x1.104=0.774にな
り、この値は上記基準光学濃度差0.719に対して7
.6%もの誤差を生じる。これに対し、赤色LEDが本
実施例で採用する短波長側の660nm(0点参照)で
ある場合のInfllの誤認の影響は以下のようになる
。即ち、660nmにおけるΔODは0.606であり
、このときinmのピーク波長の誤認があると(17)
式による補正係数は1.209となり、補正結果は0.
606x1.209=0.732になり、この値は上記
基準光学濃度差0.719に対して僅か1.8%の誤差
にとどまる。
このように、本実施例では、第11図の直線りで示され
る緩勾配の一次補正式を用いているので、ピーク波長を
誤認しても誤差の度合が小さいという利点がある。
他方、赤色発光ダイオード5に後者の波長域(671〜
674 nm)のものを用いた場合は、±lO℃の温度
変化に対するピーク波長のシフトは略±2rusであり
、λrpは669〜676n−の範囲に納まり、第11
図から明らかなように変曲点極近傍故、光学濃度差ΔO
Dの変化は殆どなく、全く補正しなくとも誤差は±1.
7%の範囲に入る。−例としてイネの生育状態を管理す
る場合、光学濃度差0゜75±0.03程度のオーダー
で判定することがあり、上記範囲の誤差は、何ら実用上
支障とならないといえる。
さて、第8図に示すフローチャートの説明に戻ることと
する。フローチャートのステップ#39では、まず予め
校正値記憶回路26に記憶されている各LEDの基準温
度(例えば0℃)におけるピーク波長λSとステップ#
33で測定されている現時点の温度に基づき現時点にお
けるLEDのピーク波長λrpが求められる。次に、ス
テップ#40では、求められたLEDのピーク波長に基
づきステップ#38で求められた光学濃度差に乗ずべき
前述の(I7)式で与えられる係数を求める。この係数
は、第10図に示した生葉の分光透過率曲線から求めら
れるが、前述の如くピーク波長が640〜670nmで
は簡単な計算で求まる。従って、ステップ#40では求
められたLEDのピーク波長から計算によって補正係数
を求め、ステップ#41で上記求められた係数をステッ
プ#38で求められた光学濃度差に乗する。
このように、上記実施例では、発光ダイオード4.5の
発光量と発光ピーク波長および受光素子6の受光出力に
ついて温度補正を行ない、温度変化による測定値の誤差
を可能な限り無くすようにしているので、−度初期較正
をすれば再び較正を行なわすとも常に精度の高い測定値
を能率的に得ることができる。また、赤色発光ダイオー
ドのピーク波長として生葉の吸収ピーク付近の671〜
674 nmを選べば、前述の如く特にステップ#40
、#41の処理を行なわなくとも充分実用に耐える。こ
の場合でも、ステップ#39のLEDのピーク波長は求
めて、精度が保てる範囲にあるか否かを制御演算回路2
1でチエツクさせる。
なお、上記実施例では、測定モードにおける測定光量が
予め定められた適正範囲内にあるか否かで測定の適否を
判別させたが、これを測定を複数回繰り返して測定値の
バラツキを求め、このバラツキが所定範囲内であるか否
かによって、あるいは受光素子の受光面を複数の部分に
分割し、各部分の出力のバラツキが所定範囲内にあるか
否かによって判別させてもよい。また、発光ダイオード
の順方向電圧降下の測定によらずサーミスタ等で周囲の
温度を測定してもよく、回動蓋2を試料台lに間隔をあ
けて固定し、この間隙に試料を挿入するような構造にも
でき、回動蓋2の閉動に連動する測定スイッチをマニュ
アル操作にしてもよく、警告回路・27のブザーを警告
ランプにしてもよい。
さらに、本発明の光学濃度計が、葉中の葉緑素濃度の測
定のみならず、広く波長による吸光度差を利用した物質
濃度の測定に適用できることはいうまでもない。
〈発明の効果〉 以上の説明で明らかなように、本発明の光学濃度計は、
試料中の特定物質による吸収が小さい第1の光源と、吸
収が比較的大きく、温度変化によるピーク波長のシフト
に伴う上記特定物質の吸光係数変化が略緩勾配の直線を
呈する第2の光源を用い、試料を透過した両光源の光量
を受光手段で計測し、この計測値に基づき演算手段で特
定物質の濃度に対応する両光の吸光度差を算出する一方
、温度測定手段で測定した較正時に対する測定時の温度
変化に基づいて、第2の光源光のシフト後のピーク波長
を求め、求めたピーク波長における上記特定物質の吸光
係数により、上記演算手段で算出された吸光度差を簡単
な式で補正するようにしているので、ピーク波長シフト
による吸光度差の誤差を、大容量メモリを要する補正係
数テーブルによらず簡易かつ高精度に補正でき、試料中
の特定物質の濃度を高精度に測定することができ、濃度
測定の高精度化と能率化に大きく貢献する。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の一実施例としての葉緑素計の
平面図および側面図、第3図は上記葉緑素計の回路構成
を示すブロック図、第4図は上記ブロック図中の温度測
定回路の一興体例を示す図、第5図は発光ダイオードの
順方向電圧降下と発光ダイオードの温度の関係を示す図
、第6図は上記葉緑素計の測定動作を示すフローチャー
ト、第7図、第8図は測定値の温度補正動作を示すフロ
ーチャート、第9図は測定に用いる発光素子と受光素子
を示す図、第1θ図は生葉の分光透過率曲線を示す図、
第11図は第10図の曲線に基づいて算出した光学濃度
差を示す図である。 4・・・赤色発光ダイオード、 5・・・赤外発光ダイオード、6・・・受光素子、21
・・・制御演算回路、23・・・温度測定回路、26・
・・校正値記憶回路、29・・・スイッチ、3ト・・表
示素子。 特 許 出 願 人  ミノルタカメラ株式会社代 理
 人 弁理士  青白 葆 ほか1名第4図 第5図 tX7図 参2I ゛ 第9図 第6図 第1O図 第11図 一液長λrp(面)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料中の特定物質による吸収が小さい波長域の光
    を発する第1の光源と、 上記特定物質による吸収が比較的大きい波長域の光であ
    って、そのピーク波長が温度変化によりシフトし、この
    ピーク波長のシフトに伴う上記特定物質による吸光係数
    の変化が略緩勾配の直線を呈するような光を発する第2
    の光源と、 試料を透過する上記第1および第2の光源光の光量を計
    測する受光手段と、 この受光手段の計測値に基づいて、特定物質の濃度に応
    じて変化する第1と第2の光源光の吸光度差を算出する
    演算手段と、 この温度測定手段の測定値に基づいて、温度変化による
    上記第2の光源光のシフト後のピーク波長を求め、求め
    たピーク波長における上記特定物質の吸光係数によって
    、上記演算手段で算出された吸光度差を補正する補正手
    段を備えた光学濃度計。
  2. (2)上記特許請求の範囲第1項に記載の光学濃度計に
    おいて、上記特定物質が葉緑素であり、上記第2の光源
    が、640〜670nmのピーク波長を有する発光ダイ
    オードである光学濃度計。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014160986A (ja) * 2013-02-20 2014-09-04 Canon Inc 測定装置、および画像形成装置
JP2018050341A (ja) * 2017-12-05 2018-03-29 キヤノン株式会社 測定装置、および画像形成装置

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