JPH0128435B2 - - Google Patents
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- JPH0128435B2 JPH0128435B2 JP55047106A JP4710680A JPH0128435B2 JP H0128435 B2 JPH0128435 B2 JP H0128435B2 JP 55047106 A JP55047106 A JP 55047106A JP 4710680 A JP4710680 A JP 4710680A JP H0128435 B2 JPH0128435 B2 JP H0128435B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G19/00—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups
- G01G19/40—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups with provisions for indicating, recording, or computing price or other quantities dependent on the weight
- G01G19/42—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups with provisions for indicating, recording, or computing price or other quantities dependent on the weight for counting by weighing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06M—COUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06M1/00—Design features of general application
- G06M1/08—Design features of general application for actuating the drive
- G06M1/10—Design features of general application for actuating the drive by electric or magnetic means
- G06M1/108—Design features of general application for actuating the drive by electric or magnetic means by electronic means
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06M—COUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06M7/00—Counting of objects carried by a conveyor
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Control Of Conveyors (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
- Weight Measurement For Supplying Or Discharging Of Specified Amounts Of Material (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、同一種類の多数個の部品個数を計数
するための部品個数計数装置に関するものであ
る。
するための部品個数計数装置に関するものであ
る。
[従来の技術]
生産過程或いは流通過程に於いて、同一種類の
部品個数を計数しなければならないことが屡々あ
り、例えば個数を直接計数する代りに、全部品が
同一重量であることを条件に、計数したい全部品
の総重量を測定し、この総重量を1個の重量で除
算することにより総個数を求める計数はかりが知
られている。然しこの種の装置では、個々の部品
重量にばらつきが存在する場合には理論的に避け
られない計数誤差を生ずるほか、実用上静的測定
のみに限定され、例えば製造工程中や分包などの
ための部品搬送中の動的測定には不向きである。
部品個数を計数しなければならないことが屡々あ
り、例えば個数を直接計数する代りに、全部品が
同一重量であることを条件に、計数したい全部品
の総重量を測定し、この総重量を1個の重量で除
算することにより総個数を求める計数はかりが知
られている。然しこの種の装置では、個々の部品
重量にばらつきが存在する場合には理論的に避け
られない計数誤差を生ずるほか、実用上静的測定
のみに限定され、例えば製造工程中や分包などの
ための部品搬送中の動的測定には不向きである。
部品を動的に計数する従来の方法としては、部
品が測定点を通過する際に特定の光ビームを投光
して、部品を光学的手段により検知するとか、部
品の材質によつては近接スイツチにより検知する
とかの方式が従来専ら利用されていた。然しなが
ら、これらの方式は測定原理上各部品を分離して
個々に計数できる状態にしなければ正確な計数値
が得られないので、パーツフイーダなど測定部へ
の部品供給仕分け装置が複雑高価となる上に、計
数速度をあまり高めることができない。光学的手
段においては透明な部品や偏平或いは複雑な形状
の部品の場合には、測定点通過時の部品の姿勢に
より計数誤差が発生し、例えばつる巻きばねのよ
うに相互に絡まり易く完全分離の状態では搬送で
きない複雑な形状のものは測定不可能である。
品が測定点を通過する際に特定の光ビームを投光
して、部品を光学的手段により検知するとか、部
品の材質によつては近接スイツチにより検知する
とかの方式が従来専ら利用されていた。然しなが
ら、これらの方式は測定原理上各部品を分離して
個々に計数できる状態にしなければ正確な計数値
が得られないので、パーツフイーダなど測定部へ
の部品供給仕分け装置が複雑高価となる上に、計
数速度をあまり高めることができない。光学的手
段においては透明な部品や偏平或いは複雑な形状
の部品の場合には、測定点通過時の部品の姿勢に
より計数誤差が発生し、例えばつる巻きばねのよ
うに相互に絡まり易く完全分離の状態では搬送で
きない複雑な形状のものは測定不可能である。
[発明の目的]
本発明の目的は、上述の従来の諸装置の欠点を
解消し、個々の部品重量に若干の差異があつても
支障を来さず、部品の形状や測定点通過時の姿勢
にも関係なく、複数個の部品が極めて近接すると
か重なり合うとか、更には一体に絡み合つて搬送
されてきた場合でも、動的に測定可能な部品個数
計数装置を提供することにある。
解消し、個々の部品重量に若干の差異があつても
支障を来さず、部品の形状や測定点通過時の姿勢
にも関係なく、複数個の部品が極めて近接すると
か重なり合うとか、更には一体に絡み合つて搬送
されてきた場合でも、動的に測定可能な部品個数
計数装置を提供することにある。
[発明の概要]
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、
一端を水平軸により軸支し部品をその自重により
上方から下方に移動させるための傾斜を有する計
量シユートと、該計量シユート上を移動する部品
により前記水平軸を中心にその周りに発生するト
ルクに比例した電気信号を波形面積として出力す
るトルク検出機構と、反転及び非反転の差動入力
端を有する積分回路と、基準的な部品1個分に相
当する波形面積の基準パルス波を出力するパルス
発生回路と、該パルス発生回路からの基準パルス
波の数を計数し部品数として出力する計数回路と
を備え、前記トルク検出機構の出力を前記積分回
路の一方の入力端に接続し、前記パルス発生回路
の出力を前記積分回路の他方の入力端に接続し、
前記積分回路の出力を前記パルス発生回路の入力
端に接続し、前記パルス発生回路は前記積分回路
の出力波形面積が基準パルス波の面積よりも大き
いときは、これらの面積の差に相当する前記積分
回路の出力が小さくなるように前記基準パルス波
を発生することを特徴とする部品個数計数装置で
ある。
一端を水平軸により軸支し部品をその自重により
上方から下方に移動させるための傾斜を有する計
量シユートと、該計量シユート上を移動する部品
により前記水平軸を中心にその周りに発生するト
ルクに比例した電気信号を波形面積として出力す
るトルク検出機構と、反転及び非反転の差動入力
端を有する積分回路と、基準的な部品1個分に相
当する波形面積の基準パルス波を出力するパルス
発生回路と、該パルス発生回路からの基準パルス
波の数を計数し部品数として出力する計数回路と
を備え、前記トルク検出機構の出力を前記積分回
路の一方の入力端に接続し、前記パルス発生回路
の出力を前記積分回路の他方の入力端に接続し、
前記積分回路の出力を前記パルス発生回路の入力
端に接続し、前記パルス発生回路は前記積分回路
の出力波形面積が基準パルス波の面積よりも大き
いときは、これらの面積の差に相当する前記積分
回路の出力が小さくなるように前記基準パルス波
を発生することを特徴とする部品個数計数装置で
ある。
[発明の実施例]
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明に係る装置の基本的な機構を示
すものであり、支点台1の上部の水平軸2にビー
ム3が回動自在に軸支され、ビーム3の一端には
水平に対し20〜30度程度傾斜させた計量シユート
4が取付けられ、計量シユート4の上部には計量
シユート4内に部品Aを投入するための漏斗状の
案内ホツパ5が設けられている。また、ビーム3
の他端には平衡錘6,7が取付けられていて、ビ
ーム3が水平軸2を中心として釣合いがとれるよ
うに調整されている。ビーム3の中間部には荷重
検出部8が設けられ、計量シユート4に載加又は
滑動落下する部品Aにより、水平軸2を中心にそ
の周りに発生するトルクを電気的に測定し得るよ
うになつている。荷重検出部8としては、測定す
べき部品が重い場合にはストレインゲージによる
ロードセル方式を用いることもできるが、部品が
軽い一般用途に対しては電磁力平衡式が好適であ
る。計量シユート4の案内ホツパ5への部品Aの
供給は、各種供給装置を使用することが可能であ
るが、例えば部品収納ホツパ9から搬送コンベヤ
10或いは電磁フイーダなどを介して行なわれ
る。
すものであり、支点台1の上部の水平軸2にビー
ム3が回動自在に軸支され、ビーム3の一端には
水平に対し20〜30度程度傾斜させた計量シユート
4が取付けられ、計量シユート4の上部には計量
シユート4内に部品Aを投入するための漏斗状の
案内ホツパ5が設けられている。また、ビーム3
の他端には平衡錘6,7が取付けられていて、ビ
ーム3が水平軸2を中心として釣合いがとれるよ
うに調整されている。ビーム3の中間部には荷重
検出部8が設けられ、計量シユート4に載加又は
滑動落下する部品Aにより、水平軸2を中心にそ
の周りに発生するトルクを電気的に測定し得るよ
うになつている。荷重検出部8としては、測定す
べき部品が重い場合にはストレインゲージによる
ロードセル方式を用いることもできるが、部品が
軽い一般用途に対しては電磁力平衡式が好適であ
る。計量シユート4の案内ホツパ5への部品Aの
供給は、各種供給装置を使用することが可能であ
るが、例えば部品収納ホツパ9から搬送コンベヤ
10或いは電磁フイーダなどを介して行なわれ
る。
本発明の装置は、部品Aが計量シユート4に作
用する力により水平軸2を中心にその周りに発生
するトルクを検出して、そのトルク出力を測定す
ることを基本的原理とするものであるが、第1図
の動作原理を述べる前にこのトルクについて数式
を用いて説明する。
用する力により水平軸2を中心にその周りに発生
するトルクを検出して、そのトルク出力を測定す
ることを基本的原理とするものであるが、第1図
の動作原理を述べる前にこのトルクについて数式
を用いて説明する。
第2図に示すように、水平面に対し傾斜角θを
有する斜面上に置かれた質量mの質点が、重力の
作用により斜面に沿つて下方に滑り落ちる場合の
運動方程式は、質点の位置をx、質点と斜面の間
の摩擦係数をp、重力の加速度をgとすると、 mx′=mg sinθ−pmg cosθ x″=g(sin−p cosθ) …(1) で与えられる。(1)式を2回積分して変位xと時間
tとの関係を求めると、t=0のとき初速度x′と
変位xが共に零という初期条件のもとに、 x=(1/2)g(sinθ−p cosθ)t2 …(2) となり、部品の滑り落ちる距離xは、時間tの二
次曲線で表されることが判る。第1図に示す計量
シユート4は第2図の斜面に対応し、水平軸2の
直上至近距離に部品Aが徐々に投入され、その位
置即ちx=0の点から滑り始めて他端から排出さ
れるものとすると、水平軸2の周りに現われるト
ルクTは次式で与えられる。
有する斜面上に置かれた質量mの質点が、重力の
作用により斜面に沿つて下方に滑り落ちる場合の
運動方程式は、質点の位置をx、質点と斜面の間
の摩擦係数をp、重力の加速度をgとすると、 mx′=mg sinθ−pmg cosθ x″=g(sin−p cosθ) …(1) で与えられる。(1)式を2回積分して変位xと時間
tとの関係を求めると、t=0のとき初速度x′と
変位xが共に零という初期条件のもとに、 x=(1/2)g(sinθ−p cosθ)t2 …(2) となり、部品の滑り落ちる距離xは、時間tの二
次曲線で表されることが判る。第1図に示す計量
シユート4は第2図の斜面に対応し、水平軸2の
直上至近距離に部品Aが徐々に投入され、その位
置即ちx=0の点から滑り始めて他端から排出さ
れるものとすると、水平軸2の周りに現われるト
ルクTは次式で与えられる。
T=xmg cosθ=(1/2)mg2
cosθ(sinθ−p cosθ)t2 …(3)
この(3)式において、荷重検出部8で測定される
水平軸2のトルクTは、(2)式と同様に時間tに関
する二次曲線であり、部品Aが計量シユート4か
ら排出されると、トルクTは即時に零に戻ること
になる。
水平軸2のトルクTは、(2)式と同様に時間tに関
する二次曲線であり、部品Aが計量シユート4か
ら排出されると、トルクTは即時に零に戻ること
になる。
第3図に示す波形は、第1図に示した機構にお
いて、部品Aを約1秒間隔で計量シユート4を流
したときに荷重検出部8で得られたトルクTの出
力である。各部品Aは水平軸2の直上至近距離に
投入されるために、投入時の衝撃や振動はトルク
に殆ど変換されないので、計数のためのトルクの
波形処理に際し何等の妨害とならないことは明ら
かである。尚、部品Aの排出時の測定トルクTが
瞬間的には零に戻らずグラフ上復帰に約0.1秒を
要していることが認められるが、これは測定系内
各部の遅れ、特にフイルタによる遅れが作用して
いるためであり、(3)式による理論的なトルクT
が、実質的には忠実に実現されていることは間違
いない。
いて、部品Aを約1秒間隔で計量シユート4を流
したときに荷重検出部8で得られたトルクTの出
力である。各部品Aは水平軸2の直上至近距離に
投入されるために、投入時の衝撃や振動はトルク
に殆ど変換されないので、計数のためのトルクの
波形処理に際し何等の妨害とならないことは明ら
かである。尚、部品Aの排出時の測定トルクTが
瞬間的には零に戻らずグラフ上復帰に約0.1秒を
要していることが認められるが、これは測定系内
各部の遅れ、特にフイルタによる遅れが作用して
いるためであり、(3)式による理論的なトルクT
が、実質的には忠実に実現されていることは間違
いない。
計量シユート4の上には、2個以上の部品Aが
同時に載加されることがない適度の間隔を置いて
部品Aが流された結果、第3図に示すようなトル
ク波形が得られた状態において部品数を求めるの
は極めて容易であり、例えばトルクTそのもの或
いはこの出力を微分して得られた出力の80%のレ
ベルを予め設定しておき、測定トルクTがその設
定レベルを何回超えたかを計測すればよい。然し
ながら計数速度を向上させるため、部品A相互は
完全に分離されているが、計量シユート4には第
1図に示すような状態、即ち同時に2個或いは3
個載加する程度にまで間隔を詰めると、得られる
トルクTの波形は例えば第4図に示すようにな
り、前述のような部品1個の出力ピーク値の80%
基準の計数方法では、正確に部品個数を計数でき
ないことになる。また、複数個の部品Aが全く又
は殆ど同時に計量シユート4を通過排出する場合
にも問題がある。
同時に載加されることがない適度の間隔を置いて
部品Aが流された結果、第3図に示すようなトル
ク波形が得られた状態において部品数を求めるの
は極めて容易であり、例えばトルクTそのもの或
いはこの出力を微分して得られた出力の80%のレ
ベルを予め設定しておき、測定トルクTがその設
定レベルを何回超えたかを計測すればよい。然し
ながら計数速度を向上させるため、部品A相互は
完全に分離されているが、計量シユート4には第
1図に示すような状態、即ち同時に2個或いは3
個載加する程度にまで間隔を詰めると、得られる
トルクTの波形は例えば第4図に示すようにな
り、前述のような部品1個の出力ピーク値の80%
基準の計数方法では、正確に部品個数を計数でき
ないことになる。また、複数個の部品Aが全く又
は殆ど同時に計量シユート4を通過排出する場合
にも問題がある。
第5図は9個の部品Aを流した場合に得られた
トルクTの波形であるが、cとdの波形は明らか
に2個の部品が同時に並列的に計量シユート4を
通過し排出された状態を示している。この場合に
ピークを計数するだけでは、実数の9個に対し、
7個と誤計数することになる。例えば、c,dの
波形と微分すれば得られる微分パルス波形は、他
の部分即ち1個宛で分離され排出された場合に得
られたものよりは約2倍の大きさの出力が得ら
れ、或る程度の識別は可能ではあるが、2個又は
3個の部品の同時の排出により得られたものであ
ると的確に断定することは、特に高密度で高速に
部品が流された場合にはときとして困難である。
そこで、複数個の部品を全く又は殆ど同時に計量
シユート4を通過し排出することを許容しながら
確実に計数する、換言すればパーツフイーダなど
特別の部品供給装置を用いることなく、高速で能
率良く計数し、しかも形状が複雑なため複数個の
部品が一体に絡み合つて搬送されてくる場合でも
測定可能な解決手段を次に説明する。
トルクTの波形であるが、cとdの波形は明らか
に2個の部品が同時に並列的に計量シユート4を
通過し排出された状態を示している。この場合に
ピークを計数するだけでは、実数の9個に対し、
7個と誤計数することになる。例えば、c,dの
波形と微分すれば得られる微分パルス波形は、他
の部分即ち1個宛で分離され排出された場合に得
られたものよりは約2倍の大きさの出力が得ら
れ、或る程度の識別は可能ではあるが、2個又は
3個の部品の同時の排出により得られたものであ
ると的確に断定することは、特に高密度で高速に
部品が流された場合にはときとして困難である。
そこで、複数個の部品を全く又は殆ど同時に計量
シユート4を通過し排出することを許容しながら
確実に計数する、換言すればパーツフイーダなど
特別の部品供給装置を用いることなく、高速で能
率良く計数し、しかも形状が複雑なため複数個の
部品が一体に絡み合つて搬送されてくる場合でも
測定可能な解決手段を次に説明する。
第3図〜第5図に示したような、流された複数
個の部品Aに対応するトルクTの出力波形の総面
積即ち時間tに関する積分値は、部品Aが1個宛
離して流れた場合でも、密集近接或いは複数個同
時に並列的に流れた場合でも、流れた部品Aの総
数により一義的に定まるものである。このことは
原理上容易に理解できる上、実験的にも確認され
ている。例えば第5図において、トルクTの出力
のピーク数は7個であるが、波形の総面積は部品
1個のeの波形面積の9倍であり、このことから
流れた部品の数は9個であると判定することがで
きる。この点、部品2個が同時に並列的に流れた
cやd部分の波形面積が、1個の部品Aによるe
の波形面積に比較し、それぞれほぼ2倍であるこ
とを目視により推定できることからも肯ける事実
である。
個の部品Aに対応するトルクTの出力波形の総面
積即ち時間tに関する積分値は、部品Aが1個宛
離して流れた場合でも、密集近接或いは複数個同
時に並列的に流れた場合でも、流れた部品Aの総
数により一義的に定まるものである。このことは
原理上容易に理解できる上、実験的にも確認され
ている。例えば第5図において、トルクTの出力
のピーク数は7個であるが、波形の総面積は部品
1個のeの波形面積の9倍であり、このことから
流れた部品の数は9個であると判定することがで
きる。この点、部品2個が同時に並列的に流れた
cやd部分の波形面積が、1個の部品Aによるe
の波形面積に比較し、それぞれほぼ2倍であるこ
とを目視により推定できることからも肯ける事実
である。
第6図はトルクTの出力波形の面積を、基準的
な部品1個のトルク波形面積と同一の矩形波パル
スの面積で除算する方式により個数を求める回路
構成の実施例を示すものである。荷重検出部8で
検出されたトルクTの出力は、フイルタ11、増
幅器12を経て積分器16に入力され、積分器1
6の出力はレベル調整器17を経てパルス波波発
生器としての単安定マルチバイブレータ18にフ
イードバツクされ、マルチバイブレータ18はそ
の入力電圧が或る一定値を超えると、波高と幅が
一定で、その面積が基準的な1個の部品Aに相当
するトルクTの波形面積に等しい矩形波パルスを
発するように構成されている。発生した矩形波パ
ルスは積分器16に入力されると共に、計数回路
15により計数される。積分器16の入力はこの
ようにトルクTの出力と矩形波パルス出力の2つ
があるが、両者は逆極性、即ち差動入力となり積
分器16は差分回路として作用できるように接続
されている。
な部品1個のトルク波形面積と同一の矩形波パル
スの面積で除算する方式により個数を求める回路
構成の実施例を示すものである。荷重検出部8で
検出されたトルクTの出力は、フイルタ11、増
幅器12を経て積分器16に入力され、積分器1
6の出力はレベル調整器17を経てパルス波波発
生器としての単安定マルチバイブレータ18にフ
イードバツクされ、マルチバイブレータ18はそ
の入力電圧が或る一定値を超えると、波高と幅が
一定で、その面積が基準的な1個の部品Aに相当
するトルクTの波形面積に等しい矩形波パルスを
発するように構成されている。発生した矩形波パ
ルスは積分器16に入力されると共に、計数回路
15により計数される。積分器16の入力はこの
ようにトルクTの出力と矩形波パルス出力の2つ
があるが、両者は逆極性、即ち差動入力となり積
分器16は差分回路として作用できるように接続
されている。
この実施例の動作原理を考えると、1個の部品
Aが計量シユート4を通過することにより、第7
図aに示すようなトルクTの波形が増幅器12か
ら出力され、積分器16の反転入力端子(−符号
で示す)に入力される結果、このトルクTの波形
に対応して第7図bに示すようなトルク積分出力
が得られる。このトルク積分出力は前述のように
レベル調整器17を介して単安定マルチバイブレ
ータ18に供給され、レベル調整器17により予
め設定された基準値Lを超えると、単安定マルチ
バイブレータ18から第7図cに示すような矩形
波パルスが発せられる。この矩形波パルス波は計
数回路15により計数されると共に積分器16の
非反転入力端子(+符号で示す)に入力される結
果、この矩形波パルスに対応して第7図dに示す
ような矩形波パルスの積分出力が得られる。実際
の装置では、aに示すトルクTの波形面積とcに
示す矩形波パルスの面積が等しくなるように回路
定数を選択してあるから、1個の部品Aが通過後
の各波形積分値、即ちbに示すQとdに示す
Q′は大きさが等しく、かつ矩形波パルスの積分
動作はトルク波の積分動作途中で開始されて極く
短時間に終了するので、差分回路としての積分器
16の実際の出力はb,dの差(代数和)として
eに示すような形となる筈である。
Aが計量シユート4を通過することにより、第7
図aに示すようなトルクTの波形が増幅器12か
ら出力され、積分器16の反転入力端子(−符号
で示す)に入力される結果、このトルクTの波形
に対応して第7図bに示すようなトルク積分出力
が得られる。このトルク積分出力は前述のように
レベル調整器17を介して単安定マルチバイブレ
ータ18に供給され、レベル調整器17により予
め設定された基準値Lを超えると、単安定マルチ
バイブレータ18から第7図cに示すような矩形
波パルスが発せられる。この矩形波パルス波は計
数回路15により計数されると共に積分器16の
非反転入力端子(+符号で示す)に入力される結
果、この矩形波パルスに対応して第7図dに示す
ような矩形波パルスの積分出力が得られる。実際
の装置では、aに示すトルクTの波形面積とcに
示す矩形波パルスの面積が等しくなるように回路
定数を選択してあるから、1個の部品Aが通過後
の各波形積分値、即ちbに示すQとdに示す
Q′は大きさが等しく、かつ矩形波パルスの積分
動作はトルク波の積分動作途中で開始されて極く
短時間に終了するので、差分回路としての積分器
16の実際の出力はb,dの差(代数和)として
eに示すような形となる筈である。
第8図は実測値を示し、部品Aが個々に計量シ
ユート4を通過するときの積分器16の出力を示
す第8図aの波形が理論的考察により求めた第7
図eと極めてよく近似していることが判る。第8
図bは複数個の部品Aが同時に、或いは極めて近
接して計量シユート4を通過排出した時の動作状
態を確認するため、1個の部品A及び故意に2
個、3個の部品を一体の緊縛した状態で通過さ
せ、その場合の積分器16の出力を実測した例を
示している。bにおいてfは部品Aが通常の単一
部品の場合、gは2個一体の場合、hは3個一体
の場合の積分出力波形であり、それぞれの個数に
対応した数の矩形波パルスが発生されていること
が実証されている。
ユート4を通過するときの積分器16の出力を示
す第8図aの波形が理論的考察により求めた第7
図eと極めてよく近似していることが判る。第8
図bは複数個の部品Aが同時に、或いは極めて近
接して計量シユート4を通過排出した時の動作状
態を確認するため、1個の部品A及び故意に2
個、3個の部品を一体の緊縛した状態で通過さ
せ、その場合の積分器16の出力を実測した例を
示している。bにおいてfは部品Aが通常の単一
部品の場合、gは2個一体の場合、hは3個一体
の場合の積分出力波形であり、それぞれの個数に
対応した数の矩形波パルスが発生されていること
が実証されている。
このように実施例では、単安定マルチバイブレ
ータ18に対して、積分器16の出力をレベル調
整器17を介してフイードバツクすることによ
り、トルクTの波形面積が矩形波パルスの面積よ
りも十分に、即ち設定されたレベルL(例えば0.4
個分の面積に相当する値)よりも大きい時には、
部品通過後の積分器16の出力が零に近付くため
に必要なだけの矩形波パルスを引続き発生させ、
発生した矩形波パルスの数を計数回路15により
計数するよう構成している。従つて、複数個の部
品Aが同時並列的に或いは一体となつて計量シユ
ート4を通過した場合でも、その総数を確実に計
数できることになる。このように、レベル調整器
17の出力はマルチバイブレータ18が矩形波パ
ルスを発生するかどうかを制御する機能を持つて
いる。
ータ18に対して、積分器16の出力をレベル調
整器17を介してフイードバツクすることによ
り、トルクTの波形面積が矩形波パルスの面積よ
りも十分に、即ち設定されたレベルL(例えば0.4
個分の面積に相当する値)よりも大きい時には、
部品通過後の積分器16の出力が零に近付くため
に必要なだけの矩形波パルスを引続き発生させ、
発生した矩形波パルスの数を計数回路15により
計数するよう構成している。従つて、複数個の部
品Aが同時並列的に或いは一体となつて計量シユ
ート4を通過した場合でも、その総数を確実に計
数できることになる。このように、レベル調整器
17の出力はマルチバイブレータ18が矩形波パ
ルスを発生するかどうかを制御する機能を持つて
いる。
第9図は部品Aを高密度で計量シユート4を通
過させた場合の実施例を示すものであり、第9図
aは積分器16の出力、bはそのときの単安定マ
ルチバイブレータ18の矩形波パルスの出力を示
している。このように、実施例では1秒間に10個
以上の高速度の計数でも極めて容易にかつ正確に
実施することができる。
過させた場合の実施例を示すものであり、第9図
aは積分器16の出力、bはそのときの単安定マ
ルチバイブレータ18の矩形波パルスの出力を示
している。このように、実施例では1秒間に10個
以上の高速度の計数でも極めて容易にかつ正確に
実施することができる。
然しながら、このような差分回路たる積分器1
6により得られる矩形波パルスの面積の差し引き
方式に基く計数動作は、基本的にはトルクTの波
形の総面積を基準的な1個のトルクTの波形面積
で除算することと等価であり、除算結果として1
個分以内の端数が実際上は残る筈であり、多数部
品の計数に際し、もし個々の端数がプラス側又は
マイナス側の何れかに偏つて累積された場合に
は、計数誤差を生ずることもある。個々の部品A
についての除算結果として端数が残る原因は、(1)
部品Aの重量が均一ではなく個々に差異があるこ
と、(2)計量シユート4に投入時の部品の姿勢、方
向、衝撃、相互の反発及び落下経路などの微妙な
差異により、同一重量、同一外形の部品でも計量
シユート4上を滑動落下する際の速度や状態が異
なるため、得られるトルクTの波形とその面積に
も個々に若干の差が発生し得ること、(3)装置内各
部に測定誤差が存在すること、等の原因が挙げら
れる。
6により得られる矩形波パルスの面積の差し引き
方式に基く計数動作は、基本的にはトルクTの波
形の総面積を基準的な1個のトルクTの波形面積
で除算することと等価であり、除算結果として1
個分以内の端数が実際上は残る筈であり、多数部
品の計数に際し、もし個々の端数がプラス側又は
マイナス側の何れかに偏つて累積された場合に
は、計数誤差を生ずることもある。個々の部品A
についての除算結果として端数が残る原因は、(1)
部品Aの重量が均一ではなく個々に差異があるこ
と、(2)計量シユート4に投入時の部品の姿勢、方
向、衝撃、相互の反発及び落下経路などの微妙な
差異により、同一重量、同一外形の部品でも計量
シユート4上を滑動落下する際の速度や状態が異
なるため、得られるトルクTの波形とその面積に
も個々に若干の差が発生し得ること、(3)装置内各
部に測定誤差が存在すること、等の原因が挙げら
れる。
このような各種の誤差が発生存在する場合にお
いても誤計数を無くするためには、計量シユート
4が空になつた時の積分出力が、個々の測定誤差
の累積により例えば0.4個分相当のレベルLに到
達する以前に零レベル又は零レベル付近に修正す
ればよい。具体的な方法として、例えば第1図に
おいてコンベヤ10を間欠送りとし、最初の動作
期間内に送られた20個程度の少数個の部品数を計
数し、計数後に積分器16の出力を零レベルに修
正した後に再びコンベヤ10を動作させ、同様の
動作を繰り返して個数を累計してゆけばよい。然
しながら、この方法では計数速度をあまり早くで
きないという問題点を有している。
いても誤計数を無くするためには、計量シユート
4が空になつた時の積分出力が、個々の測定誤差
の累積により例えば0.4個分相当のレベルLに到
達する以前に零レベル又は零レベル付近に修正す
ればよい。具体的な方法として、例えば第1図に
おいてコンベヤ10を間欠送りとし、最初の動作
期間内に送られた20個程度の少数個の部品数を計
数し、計数後に積分器16の出力を零レベルに修
正した後に再びコンベヤ10を動作させ、同様の
動作を繰り返して個数を累計してゆけばよい。然
しながら、この方法では計数速度をあまり早くで
きないという問題点を有している。
実用性に富む他の方法は、アナログ的に連続的
な短時間の零修正手段を講ずることである。具体
策は極めて簡単であり、積分器16を単一に1次
遅れ特性とするだけでよい。純粋の積分回路より
も一次遅れ回路の方が実用上はるかに扱い易いこ
とは関係技術者の熟知する所であり、回路変更も
積分器16内の積分コンデンサに適宜の抵抗を並
列に接続するだけで済む。第10図はこのような
除算結果として発生し得る端数の累積とそれに起
因する誤計数の問題を、積分回路として一次遅れ
回路を用いて平易かつ合理的に解決した場合の動
作状態を説明するための実施例である。
な短時間の零修正手段を講ずることである。具体
策は極めて簡単であり、積分器16を単一に1次
遅れ特性とするだけでよい。純粋の積分回路より
も一次遅れ回路の方が実用上はるかに扱い易いこ
とは関係技術者の熟知する所であり、回路変更も
積分器16内の積分コンデンサに適宜の抵抗を並
列に接続するだけで済む。第10図はこのような
除算結果として発生し得る端数の累積とそれに起
因する誤計数の問題を、積分回路として一次遅れ
回路を用いて平易かつ合理的に解決した場合の動
作状態を説明するための実施例である。
第10図aは第6図において、積分器16とし
て前述の通り基本的な純積分回路を用いた積分出
力を示すものであり、実験の目的上計数誤差を故
意に発生させるため、特別に矩形波パルスの面積
をトルクTの波形面積よりも小さくなるように調
整した場合の実施例である。明らかに個々の部品
AについてトルクTの波形面積から矩形波パルス
の面積を差し引いた残りの端数面積が毎回累積さ
れ、11個目の部品Aのトルクの積分が終つた時点
での積分出力は本来は零レベルに戻るべき所を、
レベル調整器17で設定された基準レベルLに一
致したため、12個目の部品Aが到達する以前のi
において余分な矩形波パルスを1個発生し、それ
までの部品Aの実数11個に対し計数値が12個とな
ることを示している。
て前述の通り基本的な純積分回路を用いた積分出
力を示すものであり、実験の目的上計数誤差を故
意に発生させるため、特別に矩形波パルスの面積
をトルクTの波形面積よりも小さくなるように調
整した場合の実施例である。明らかに個々の部品
AについてトルクTの波形面積から矩形波パルス
の面積を差し引いた残りの端数面積が毎回累積さ
れ、11個目の部品Aのトルクの積分が終つた時点
での積分出力は本来は零レベルに戻るべき所を、
レベル調整器17で設定された基準レベルLに一
致したため、12個目の部品Aが到達する以前のi
において余分な矩形波パルスを1個発生し、それ
までの部品Aの実数11個に対し計数値が12個とな
ることを示している。
然しながら、積分器16内の積分コンデンサに
並列的に適宜の抵抗を挿入し、積分器16を時定
数約0.05秒の一次遅れ回路に変更した第10図b
に示す実施例では、一次遅れ回路による近似積分
出力が、部品通過直後において、aと同様に個々
のトルクTの波形面積が矩形波パルスの面積より
大きいためトルクTの波形側に偏つてはいるが、
短時間後には零レベルに向けて引き戻されてい
る。このようにしてトルクTの波形面積と矩形波
パルスの面積との差がたとえ5%や10%程度存在
したとしても、それが累加されることはないの
で、部品Aの通過排出後の近似積分出力が矩形波
パルスを発生すべきレベルL以内に止まり、誤計
数は発生しないことを証明している。第10図c
は矩形波パルスの面積をトルクTの波形面積より
も故意に大きく設定した場合の実施例を示し、こ
の場合も部品Aの通過排出後の近似積分出力が矩
形波パルス側に偏り過ぎて計数不足を生ずること
のないことが判る。
並列的に適宜の抵抗を挿入し、積分器16を時定
数約0.05秒の一次遅れ回路に変更した第10図b
に示す実施例では、一次遅れ回路による近似積分
出力が、部品通過直後において、aと同様に個々
のトルクTの波形面積が矩形波パルスの面積より
大きいためトルクTの波形側に偏つてはいるが、
短時間後には零レベルに向けて引き戻されてい
る。このようにしてトルクTの波形面積と矩形波
パルスの面積との差がたとえ5%や10%程度存在
したとしても、それが累加されることはないの
で、部品Aの通過排出後の近似積分出力が矩形波
パルスを発生すべきレベルL以内に止まり、誤計
数は発生しないことを証明している。第10図c
は矩形波パルスの面積をトルクTの波形面積より
も故意に大きく設定した場合の実施例を示し、こ
の場合も部品Aの通過排出後の近似積分出力が矩
形波パルス側に偏り過ぎて計数不足を生ずること
のないことが判る。
このようにして一次遅れ回路を用いた実施例に
よれば、個々の部品Aについての矩形波パルスの
面積とトルクTの波形面積との差が通常起り得る
程度の小さな範囲に止まる限り、その差に対応す
る近似積分出力が短時間後に零レベルに引き戻さ
れるように修正されるから、常に正確な計数が行
われることになる。
よれば、個々の部品Aについての矩形波パルスの
面積とトルクTの波形面積との差が通常起り得る
程度の小さな範囲に止まる限り、その差に対応す
る近似積分出力が短時間後に零レベルに引き戻さ
れるように修正されるから、常に正確な計数が行
われることになる。
このように1個の部品AによるトルクTの波形
面積と矩形波パルスの面積が一致又は極めて近似
していることが計数に好結果をもたらすことにな
るが、測定対象が変り部品の重量が変わると、前
述の(3)式からも明らかなようにトルクTの大きさ
は重量に比例して変わることになり、単安定マル
チバイブレータ18から発せられる矩形波パルス
の面積をそれに対応させて変えなければならな
い。その方法としては、部品の重量を設定すれば
対応して矩形波パルスの面積が変化するように回
路的に構成しておいてもよいが、積分器16の出
力側(積分器18を一次遅れ回路として用いる場
合にはコンデンとの並列抵抗を一時的に開放して
純積分要素としておく)に指示計を接続し、部品
1個1個を十分な間隔をとりながら計量シユート
4を通過させ、積分器16の出力レベルの偏りを
調整することにより容易に校正ができる。
面積と矩形波パルスの面積が一致又は極めて近似
していることが計数に好結果をもたらすことにな
るが、測定対象が変り部品の重量が変わると、前
述の(3)式からも明らかなようにトルクTの大きさ
は重量に比例して変わることになり、単安定マル
チバイブレータ18から発せられる矩形波パルス
の面積をそれに対応させて変えなければならな
い。その方法としては、部品の重量を設定すれば
対応して矩形波パルスの面積が変化するように回
路的に構成しておいてもよいが、積分器16の出
力側(積分器18を一次遅れ回路として用いる場
合にはコンデンとの並列抵抗を一時的に開放して
純積分要素としておく)に指示計を接続し、部品
1個1個を十分な間隔をとりながら計量シユート
4を通過させ、積分器16の出力レベルの偏りを
調整することにより容易に校正ができる。
理解を容易にするため、実施例では矩形波パル
スの発生器として単安定マルチバイブレータ18
を説明したが、本発明の目的を達するために何ら
これに限定されることなく、他の形式の矩形波パ
ルス発生器をも使用できることは勿論である。ま
た、トルクTの波形と面積が等しく、かつ積分器
16にトルク波形と差動的に入力されるべき波形
としては、矩形波パルスが比較的に回路構成が簡
単で処理も容易ではあるが、必ずしも矩形波パル
スである必要はなく、例えば三角波等のパルス波
であつてもよい。
スの発生器として単安定マルチバイブレータ18
を説明したが、本発明の目的を達するために何ら
これに限定されることなく、他の形式の矩形波パ
ルス発生器をも使用できることは勿論である。ま
た、トルクTの波形と面積が等しく、かつ積分器
16にトルク波形と差動的に入力されるべき波形
としては、矩形波パルスが比較的に回路構成が簡
単で処理も容易ではあるが、必ずしも矩形波パル
スである必要はなく、例えば三角波等のパルス波
であつてもよい。
[発明の効果]
以上詳しく説明したように本発明に係る部品個
数計数装置は、(1)部品が計量シユートを排出する
際の測定トルクが顕著にかつ急峻に変化すること
を利用して部品の通過を識別するから、部品の形
状、色、透明度、姿勢、個々の重量の若干の差異
に拘らず計数できる、(2)2個又はそれ以上の部品
が同時に並列的に、或いは一体となつて排出され
たような場合は、検出されたトルクの波形面積
が、部品1個のトルクの波形面積の2倍又は数倍
であることからその個数を判定し、部品が高速で
搬送される場合でもその総数を極めて能率良く計
数し得る、という極めて顕著な長所を具備し、比
較すべき在来品の全く無い、工業上極めて有益な
計数装置である。
数計数装置は、(1)部品が計量シユートを排出する
際の測定トルクが顕著にかつ急峻に変化すること
を利用して部品の通過を識別するから、部品の形
状、色、透明度、姿勢、個々の重量の若干の差異
に拘らず計数できる、(2)2個又はそれ以上の部品
が同時に並列的に、或いは一体となつて排出され
たような場合は、検出されたトルクの波形面積
が、部品1個のトルクの波形面積の2倍又は数倍
であることからその個数を判定し、部品が高速で
搬送される場合でもその総数を極めて能率良く計
数し得る、という極めて顕著な長所を具備し、比
較すべき在来品の全く無い、工業上極めて有益な
計数装置である。
図面は本発明に係る部品個数計数装置の実施例
を示し、第1図はその計数機構の構成図、第2図
は斜面を滑動落下する質点の運動方程式を求める
ための説明図、第3図、第4図、第5図、第8
図、第9図及び第10図は装置内各部の出力波形
の出力特性図、第6図はブロツク回路構成図、第
7図は動作原理の説明図である。 符号3はビーム、4は計量シユート、5は案内
ホツパ、8は荷重検出部、10は搬送コンベン
ヤ、11はフイルタ、12は増幅器、15は計数
回路、16は積分器、17はレベル調整器、18
は単安定マルチバイブレータである。
を示し、第1図はその計数機構の構成図、第2図
は斜面を滑動落下する質点の運動方程式を求める
ための説明図、第3図、第4図、第5図、第8
図、第9図及び第10図は装置内各部の出力波形
の出力特性図、第6図はブロツク回路構成図、第
7図は動作原理の説明図である。 符号3はビーム、4は計量シユート、5は案内
ホツパ、8は荷重検出部、10は搬送コンベン
ヤ、11はフイルタ、12は増幅器、15は計数
回路、16は積分器、17はレベル調整器、18
は単安定マルチバイブレータである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一端を水平軸により軸支し部品をその自重に
より上方から下方に移動させるための傾斜を有す
る計量シユートと、該計量シユート上を移動する
部品により前記水平軸を中心にその周りに発生す
るトルクに比例した電気信号を波形面積として出
力するトルク検出機構と、反転及び非反転の差動
入力端を有する積分回路と、基準的な部品1個分
に相当する波形面積の基準パルス波を出力するパ
ルス発生回路と、該パルス発生回路からの基準パ
ルス波の数を計数し部品数として出力する計数回
路とを備え、前記トルク検出機構の出力を前記積
分回路の一方の入力端に接続し、前記パルス発生
回路の出力を前記積分回路の他方の入力端に接続
し、前記積分回路の出力を前記パルス発生回路の
入力端に接続し、前記パルス発生回路は前記積分
回路の出力波形面積が基準パルス波の面積よりも
大きいときは、これらの面積の差に相当する前記
積分回路の出力が小さくなるように前記基準パル
ス波を発生することを特徴とする部品個数計数装
置。 2 前記積分回路は、その出力が前記基準パルス
波の面積よりも十分小さければ、出力を短時間後
に零とするように修正する修正回路を設けた特許
請求の範囲第1項に記載の部品個数計数装置。 3 前記修正回路は一次遅れ回路とした特許請求
の範囲第2項に記載の部品個数計数装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4710680A JPS56143918A (en) | 1980-04-10 | 1980-04-10 | Counter of number of parts |
US06/203,192 US4368382A (en) | 1980-04-10 | 1980-11-03 | Apparatus for counting articles using torque |
GB8037062A GB2074353B (en) | 1980-04-10 | 1980-11-19 | Article counting apparatus |
FR8025460A FR2480465A1 (fr) | 1980-04-10 | 1980-12-01 | Appareil de comptage d'articles |
DE3101652A DE3101652C2 (de) | 1980-04-10 | 1981-01-20 | Vorrichtung zum Zählen von Gegenständen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4710680A JPS56143918A (en) | 1980-04-10 | 1980-04-10 | Counter of number of parts |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56143918A JPS56143918A (en) | 1981-11-10 |
JPH0128435B2 true JPH0128435B2 (ja) | 1989-06-02 |
Family
ID=12765915
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4710680A Granted JPS56143918A (en) | 1980-04-10 | 1980-04-10 | Counter of number of parts |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4368382A (ja) |
JP (1) | JPS56143918A (ja) |
DE (1) | DE3101652C2 (ja) |
FR (1) | FR2480465A1 (ja) |
GB (1) | GB2074353B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0612292B2 (ja) * | 1988-10-21 | 1994-02-16 | 株式会社クボタ | 計数器 |
ITBO20020313A1 (it) * | 2002-05-21 | 2003-11-21 | Ima Spa | Unita per il riempimento di contenitori con prodotti , in particolarearticoli farmaceutici |
US7359142B2 (en) * | 2003-06-26 | 2008-04-15 | Spectra Logic Corporation | Magazine-based data cartridge library |
US8985388B2 (en) * | 2004-12-11 | 2015-03-24 | Nitesh Ratnakar | Smart medicine container |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5184330A (ja) * | 1975-01-18 | 1976-07-23 | Sankyo Giken Kk | Kyujobutsutainiotosuruparusuhatsuseisochi |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1143699A (ja) * | 1900-01-01 | |||
GB498971A (en) * | 1937-04-12 | 1939-01-17 | Stoom Meelfabriek Holland Nv | Improved device for counting sacks, bags and similar packing means containing a material of any kind |
US2914246A (en) * | 1957-01-10 | 1959-11-24 | Beamish Bernard Delacour | Apparatus for detecting and counting objects |
GB876885A (en) * | 1958-06-24 | 1961-09-06 | Ass Elect Ind | Improvements relating to counting apparatus |
US3104318A (en) * | 1961-11-20 | 1963-09-17 | Ramsey Eng Co | Integrating circuit |
JPS5521289B2 (ja) * | 1971-12-28 | 1980-06-09 | ||
US3936741A (en) * | 1973-10-17 | 1976-02-03 | Coulter Electronics, Inc. | Method and apparatus for providing primary coincidence correction during particle analysis utilizing time generation techniques |
US3900718A (en) * | 1973-12-26 | 1975-08-19 | Harold H Seward | System for counting pills and the like |
US4021117A (en) * | 1975-08-07 | 1977-05-03 | Hildegard Gohde | Process for automatic counting and measurement of particles |
-
1980
- 1980-04-10 JP JP4710680A patent/JPS56143918A/ja active Granted
- 1980-11-03 US US06/203,192 patent/US4368382A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-11-19 GB GB8037062A patent/GB2074353B/en not_active Expired
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-
1981
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