JPH01283554A - Thermoresisting photosensitive polymer composition - Google Patents

Thermoresisting photosensitive polymer composition

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JPH01283554A
JPH01283554A JP11246688A JP11246688A JPH01283554A JP H01283554 A JPH01283554 A JP H01283554A JP 11246688 A JP11246688 A JP 11246688A JP 11246688 A JP11246688 A JP 11246688A JP H01283554 A JPH01283554 A JP H01283554A
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JP
Japan
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group
formula
polymer
composition
weight
Prior art date
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Pending
Application number
JP11246688A
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Japanese (ja)
Inventor
Jun Tanaka
順 田中
Fumio Kataoka
文雄 片岡
Fusaji Shoji
房次 庄子
Tetsuya Yamazaki
哲也 山崎
Mitsumasa Kojima
児嶋 充雅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication of JPH01283554A publication Critical patent/JPH01283554A/en
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/075Silicon-containing compounds
    • G03F7/0757Macromolecular compounds containing Si-O, Si-C or Si-N bonds

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  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make possible to form the thick pattern of the title composition which has high sensitivity, excellent definition and sticking property against a supporting substrate plate by incorporating a specified copolymer, a photopolymerization initiator, a photocrosslinking agent and a sensitizing agent in a prescribed ratio, in the composition. CONSTITUTION:The composition is composed of 100pts.wt. of the copolymer contg. 99.9-50mol.% of a polymer having a repeating unit shown by formula I as a main component and 0.1-50.0mol.% of a polymer having a repeating unit shown by formula II as a main component, the photopolymerization initiator, the photocrosslinking agent and 0.1-30pts.wt. of the sensitizing agent. In formula I, R<1> is >=4 C four valent org. group, R<2> is 3 or 4 valent org. group contg. an aromatic ring group, P<1>, P<2> and P<3> are each a photosensitive group, X is an org. group binding the groups P<2> and R<2>, etc., (n) is 1 or 2. And, in formula II, R<3> and R<4> are each alkylene or phenylene group, R<5>-R<8> are each a lower alkyl or phenyl group, (k) is an integer of 1-5. Thus, the material having the good definition and the high sensitivity and the excellent sticking property against the supporting substrate plate in case of forming the thick film of the composition is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体素子、多層配線基板、マイクロエレクト
ロニクス素子等に用いられる耐熱感光性重合体組成物に
係るもので、露光部分が硬化するネガ形感光性材料に関
する。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a heat-resistant photosensitive polymer composition used for semiconductor devices, multilayer wiring boards, microelectronic devices, etc. Regarding photosensitive materials.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

便米、耐熱性高分子となる耐熱性感光材料としては、(
イ)q!f公昭59−52822号に、全芳香族ポリア
ミド酸と、化学線によジ二重化または重合可能な炭素−
炭素二重結合によびアミノ基?含む化合物と、必要に応
じ℃加える増感剤とから成るもの(ロ)特開昭56−1
10728号に、芳香族テトラカルボン酸二無水物と芳
香族ジアミンとから合成されるポリアミド酸で、芳香族
ジアミン成分に感光基金導入したもの、が開示されてい
る。
As a heat-resistant photosensitive material that can be used as a heat-resistant polymer, (
b) q! In Japanese Publication No. 59-52822, a wholly aromatic polyamic acid and a carbon-carbon compound capable of being diduplexed or polymerized by actinic radiation are disclosed.
Amino group due to carbon double bond? (b) JP-A-56-1
No. 10728 discloses a polyamic acid synthesized from an aromatic tetracarboxylic dianhydride and an aromatic diamine, in which a photosensitive fund is introduced into the aromatic diamine component.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上記(イ)、(ロ)の材料は、厚膜とし
た場合、解像性が低下する。感度が不十分である、現像
後や最終硬化後に微細なレリーフ・パターンあるいはレ
リーフ・パターン周辺部で剥離が生じる等の問題がある
。このため、最終硬化膜厚で2〜5μm程度の膜厚があ
nばよい半導体素子の層間絶縁膜や保護膜への適用には
対応できるが、10〜20μm以上の膜厚?必要とする
メモリ素子のα線遮蔽膜、薄膜多層基板の層間絶縁膜等
の用途には適用できアよかりた。
However, when the materials (a) and (b) are made into thick films, the resolution decreases. There are problems such as insufficient sensitivity and peeling of fine relief patterns or areas around the relief patterns after development or final curing. For this reason, it can be applied to interlayer insulating films and protective films of semiconductor devices that only require a final cured film thickness of about 2 to 5 μm, but is it possible to apply the film to a film thickness of 10 to 20 μm or more? It is a good idea that it can be applied to required applications such as α-ray shielding films for memory devices and interlayer insulating films for thin-film multilayer substrates.

−寸 上記(イ)の材料を厚膜とした賜金に解像性が悪くなる
のは、ポリマ主鎖に感光基が結合していないために露光
部の硬化性が低い一万で、未露光部分の溶解性が悪いた
めと考えられる。このため、未a光部分を完全に溶解し
ようとし℃、現像温度全土ばたり、現像時間を長くする
と、露光部分まで溶解した9、径の異なったパターンで
はマスク寸法に対するすれ幅が著しく異なる等のことが
生ずる。
- Dimensions The reason why the resolution deteriorates when using a thick film of the material in (a) above is because there is no photosensitive group bonded to the polymer main chain, so the curability of the exposed area is low, and the unexposed This is thought to be due to poor solubility of the part. For this reason, if you try to completely dissolve the unexposed areas, if you increase the temperature, development temperature, or lengthen the development time, even the exposed areas will be dissolved9. Patterns with different diameters will have markedly different widths for the mask dimensions, etc. Something happens.

上記(ロ)の材料の場合、露光部の硬化性は十分である
が、未露光部の溶解性が低いため、微細なパターンの解
像性が悪(なる。
In the case of the material (b) above, the curability of the exposed area is sufficient, but the solubility of the unexposed area is low, resulting in poor resolution of fine patterns.

解像性低下の原因としては、現I液に係る要因が主因と
考えられる。すなわち、上記(イ)、C口〕の材料の未
露光部分を溶解するための現像液は、N−メチル−2−
ピロリドン、N、N−ジメチルアセトアミド等の非プロ
トン性極性溶媒を主成分とせざるを得ないが、これらは
いずれも液粘性が比較的高いために、未嬉光部分の溶解
拡散が抑制される。また、溶解力が強いために、光硬化
度の不十分な材料では、a元部も溶解されてしまう等の
ことがある。
The main cause of the decrease in resolution is considered to be factors related to the current I solution. That is, the developing solution for dissolving the unexposed portion of the material in (a) above, port C] is N-methyl-2-
The main component must be an aprotic polar solvent such as pyrrolidone or N,N-dimethylacetamide, but since these solvents all have relatively high liquid viscosity, dissolution and diffusion of the unglamorous portion is suppressed. Moreover, since the dissolving power is strong, if the material has an insufficient degree of photocuring, the a-base may also be dissolved.

また、上記イ)、(ロ)の材料な厚膜とした場合、感度
が不十分となる理白としては、繰返し単位当りの感光基
数が不足していることが考えられる。
Further, when a thick film is made of the materials (a) and (b) above, the sensitivity may be insufficient because the number of photosensitive groups per repeating unit is insufficient.

さらに、上記(イ)、(ロ)の材料を厚膜とした場合、
現漁後や最終硬化後に微細なレリーフ・パターンやレリ
ーフ・パターン周辺部で剥I#IIを生じる原因として
は、材料と支持基板との接着性が悪いことが考えられる
Furthermore, when the materials (a) and (b) above are made into thick films,
Possible causes of peeling I#II in the fine relief pattern or the peripheral area of the relief pattern after the actual fishing or final curing are poor adhesion between the material and the support substrate.

本発明の目的は、厚膜とした場合の解像性を向上させる
ため、液粘性が低く、溶解力の低い弱極性溶媒?現像液
として凹円した場合においても、パターン形成が可能で
、高感度かつ支持基板との接着性に優れた耐熱感光性重
合体組成物を提供す上記目的を達成するためには、主成
分であるポリマの構造は以下のようにすればよいと考え
られる。すなわち、上記イ)、神)の材料がN−メチル
−2−ピロリドン等の非プロトン性極性溶媒を主成分と
する溶剤にしか溶けないのは、ポリアミド酸には極性の
高いカルボキシル基が結合しているためと考えられるの
で、これを極性のより低いカルボン酸エステルにするこ
とが考えられる。また、高感度化のためには、ポリマの
原料である酸二無水物成分およびジアミン成分の両方の
成分に、感光基を導入することにより、繰返し単位当り
の感光基数を増すことが考えられる。さらに、支持基板
との接着性を高めるためには、支持基板との反応性の高
いS1成分を含むSl系ジアミンをポリマ主鎖に共重合
させればよいと考えられる。
The purpose of the present invention is to use a weakly polar solvent with low liquid viscosity and low dissolving power in order to improve the resolution when forming a thick film. In order to achieve the above objective of providing a heat-resistant photosensitive polymer composition that is capable of pattern formation even when used as a developer and has high sensitivity and excellent adhesion to a supporting substrate, it is necessary to It is thought that the structure of a certain polymer may be as follows. In other words, the reason that the above materials (a) and (a) are soluble only in solvents whose main component is aprotic polar solvents such as N-methyl-2-pyrrolidone is because polyamic acid has highly polar carboxyl groups bonded to it. This is thought to be due to the presence of carbon dioxide, so it is possible to use a less polar carboxylic acid ester. Furthermore, in order to increase the sensitivity, it is possible to increase the number of photosensitive groups per repeating unit by introducing photosensitive groups into both the acid dianhydride component and the diamine component, which are raw materials for the polymer. Furthermore, in order to improve the adhesion with the support substrate, it is considered that an Sl-based diamine containing an S1 component that is highly reactive with the support substrate may be copolymerized with the polymer main chain.

そこで、上記の考えに基づいて鋭意検討した結果、Ia
l一般式(1) (但し、(1)式中R’は少なくとも4個以上の炭素を
含む4価の有機基、Wは芳香族環を含む3価または4価
の有機基、Pl、R3、R8は感光基、XはPIとR″
をつなぐ有機基または一〇−または−N−を表わし、n
は1または2である)で示される繰返し単位を主成分と
するポリマを999〜50.0モルチおよび 一役式(2) (但し、(21式中几8、R4はアルキレンまたは7−
ニレン、R”% R+”、凡’%R1”は低級アルキル
基またはフェニル基、kは1かも5までの整数である)
で示される繰返し単位を主取分とするポリマf!r:0
.1〜50.0モル係含有する共重合ポリマ100重量
部と、fbl光重合開始剤、光架橋剤、増感剤Q、1〜
30重1部と、から成る感光性重合体組成物は、r−ブ
チロラクトン、ジメトキシエタン等、前記した耐熱材料
では用いることのできなかった溶剤を現像液主成分とし
て用いることができ、このため、厚膜としたときの解像
性が良好でちゃ、厚膜としたときでも高感度であり、か
つ現像後や最終硬化後にレリーフ・パターン剥離のない
支持基板との接着性に優れた材料と成り得ることを見出
した。
Therefore, as a result of careful consideration based on the above idea, Ia
l General formula (1) (However, in formula (1), R' is a tetravalent organic group containing at least 4 or more carbons, W is a trivalent or tetravalent organic group containing an aromatic ring, Pl, R3 , R8 is a photosensitive group, X is PI and R″
represents an organic group connecting 10- or -N-, and n
is 1 or 2) is 999 to 50.0 mole and monomer formula (2) (however, (21 formula 8, R4 is alkylene or 7-
(Nylene, R"%R+", and "%R1" are lower alkyl groups or phenyl groups, k is an integer from 1 to 5)
Polymer f! whose main fraction is the repeating unit represented by f! r:0
.. 100 parts by weight of a copolymer containing 1 to 50.0 moles, an FBL photopolymerization initiator, a photocrosslinking agent, a sensitizer Q, 1 to 50.0 parts by weight;
The photosensitive polymer composition consisting of 30 parts by weight and 1 part can use solvents such as r-butyrolactone and dimethoxyethane as the main components of the developer, which cannot be used with the heat-resistant materials described above. If it has good resolution when formed into a thick film, it will be a material that has high sensitivity even when formed into a thick film, and has excellent adhesion to the supporting substrate without peeling off the relief pattern after development or final curing. I found out what I got.

以下、本発明について詳細に説明する。The present invention will be explained in detail below.

一般式(1)、(21の繰返し単位で表わされるポリマ
のR’として好ましいものの例としては、等が挙げられ
るが、これらに限定されない。
Preferred examples of R' in the polymer represented by the repeating units of general formulas (1) and (21) include, but are not limited to, the following.

さらに好ましいものの例としては、 等が挙げられる。More preferable examples include: etc.

kLIは上記構造式単独であってもよく、2種以(混合
して用いてもさしつかえない。
kLI may have the above structural formula alone, or two or more types (a mixture of two or more may be used).

R”として好ましいものの例としては、(但しZは司−
1−8−1−SO2−1−CO−1−C鴇−1のなかか
ら選択された基を表わす)等が挙げられるが、これらに
限定されない。
Preferred examples of R'' include (where Z is
1-8-1-SO2-1-CO-1-C) and the like, but are not limited thereto.

さらに好ましい例としては、 等が挙げられる。As a more preferable example, etc.

几”は2′M1以上の混合で用いてもさしつかえないし
、感光性に悪影響を及ぼさない範囲で感光基を持たない
ものを共重合させてもさしつかえない。
It may be used in a mixture of 2'M1 or more, or it may be copolymerized with a material that does not have a photosensitive group as long as it does not adversely affect photosensitivity.

Xの好ましいものの例としては、−0−5−N−、レン
を表わす)等が挙げられるが、これらに限定されない。
Preferred examples of X include -0-5-N-, (representing ren), but are not limited thereto.

さらに好ましいものの例としては、−C−0−1感光基
P’  P”  P”の例としては、RI+ −CH,CH,0−C−CH−CH−CH−CHR”I (但し、 R1”は、水素、シアノ基、低級アルキノ1
基から選択された基、R11は水素、低級アルキル・基
、アルコキシ基から選択された基、R”、R+”、f(
、+4. m−、R1・は水素、低級アルキル基、ビニ
ル基から選択された基を表わす)等が挙げられるが、こ
れに限定されない。
More preferred examples of the -C-0-1 photosensitive group P'P"P" include RI+ -CH, CH, 0-C-CH-CH-CH-CHR"I (wherein R1" is hydrogen, cyano group, lower alkino 1
R11 is a group selected from hydrogen, a lower alkyl group, an alkoxy group, R'', R+'', f(
, +4. m-, R1.represents a group selected from hydrogen, a lower alkyl group, and a vinyl group), but is not limited thereto.

さらに好ましいものの例としては、 等が挙げられる。More preferable examples include: etc.

P′、P”、P”は同一であってもよいし、異なった基
でもよい。
P', P'', and P'' may be the same or different groups.

一般式(21の繰返し単位で表わされるポリマのR8、
R4として好ましいものの例としては、+ CHt +
j(但し、〕は1かも5までの整数である)、基を表わ
す)等が挙げられるが、これらに限定されない。
General formula (R8 of the polymer represented by 21 repeating units,
Examples of preferable R4 include +CHt+
j (wherein ) is an integer from 1 to 5), represents a group), etc., but is not limited to these.

さらに好ましいものの例としては、 等が挙げられる。More preferable examples include: etc.

R”、R’は同一であってもよく、異なったものでもよ
い。
R'' and R' may be the same or different.

几“、R1、R’、R”として好ましいものの例として
は、低級アルキル基、ツーニル基等が挙げられるが、こ
れらに限定されない。
Preferred examples of ", R1, R', R" include, but are not limited to, lower alkyl groups and tunyl groups.

さらに好ましいものの例としては、メチル基・フェニル
基等が挙げられる。
More preferable examples include methyl group and phenyl group.

R’、 R,’、R′、R1は同一であってもよく、異
なった基でもよい。
R', R,', R' and R1 may be the same or different groups.

kは、好ましくは1から5までの整数であり、さらに好
ましくは1または2である。
k is preferably an integer from 1 to 5, more preferably 1 or 2.

一般式(1)、(2)の繰返し単位で示される共重合ポ
リマにおいて、一般式(2)の繰返し単位で示されるポ
リマの含有率は、好ましくはcl、1〜50.0モルチ
であり、さらに好ましくは0.1〜2α0モルチである
。この範囲より含有率が多い場合には十分な耐熱性が得
られず、また少ない場合には支持基板との接着性が悪く
なる等の悪影響を生ずる。
In the copolymer represented by the repeating units of general formulas (1) and (2), the content of the polymer represented by the repeating units of general formula (2) is preferably 1 to 50.0 mol/cl, More preferably, it is 0.1 to 2α0 mol. When the content is higher than this range, sufficient heat resistance cannot be obtained, and when it is lower than this range, adverse effects such as poor adhesion with the supporting substrate occur.

一般式(11、(21の繰返し単位で示される共重合ポ
リマは、エステル残基に感光基を持つテトラカルボン酸
ジエステルと感光基を有する芳香族ジアミン化合物およ
びSiを含有するジアミン化合物との脱水剤重合反応に
よって合成される。
The copolymer represented by the repeating units of general formulas (11 and (21) is a dehydrating agent composed of a tetracarboxylic acid diester having a photosensitive group in the ester residue, an aromatic diamine compound having a photosensitive group, and a diamine compound containing Si. Synthesized by polymerization reaction.

本発明による耐熱感光性重合体組成物は光重合開始剤ま
たは光架橋剤または増感剤の添加が必須である。これら
の好ましいものの例としては、ミヒラケトン、ビス−4
,4′−ジエチルアミノベンゾフェノン、ベンゾフェノ
ン、ベンゾインエーテル、ベンゾインインプロピルエー
テル、アントロン、1.9−ベンゾアントロン、アクリ
ジン、ニトロピレン、1.8−ジニトロピレン、5−ニ
トロアセナフテン、2−ニトロフルオレン、ピレン−1
,6−キノン、9−フルオレン、1.2−ベンゾアント
ラキノン、アントアントロン、2−クロロ−1,2−ベ
ンズアントラキノン、2−ブロモベンズアントラキノン
、2−クロロ−1,8−7タロイルナフタレン、3.5
−ジエチルチオキサントン、3.5−ジメチルチオキサ
ントン、3.5−ジイソプロピルチオキサントン、ベン
ジル、2.6−ジ(41−アジドベンザル)シクロヘキ
サノン、2.6−ジ(41−アジドベンザル)−4−メ
チルシクロヘキサノン、2.6−ジ(41−アジドベン
ザル)−4−カルボキシシクロヘキサノン、2.6−ジ
(a+−アジドベンザル)−4−ヒドロキシシクロヘキ
サノン、2.6−ジ(4′−アジドシンナミリデン)シ
クロヘキサノン、2.6−ジ(41−アジドシンナミリ
デン)−4−メチルシクロヘキサノン、2.6−ジ(4
+−アジドシンナミリデン)−4−カルボキシシクロヘ
キサノン、2.6−ジ(a+−アジドシンナミリデン)
−4−ヒドロキシシクロヘキサノン、1−フェニル−5
−メルカ7’トー1H−テトラゾール、1−フェニル−
5−メルテイクス、3−アセチルフェナントレン、1−
インダノン、7−H−ベンズ(de)  アントラセン
−7−オン、1−ナフトルアルデヒド、チオキサンチン
−9−オン、10−チオキサンテノン、3−アセドルイ
ンドール等が挙げられるが、これらに限定されない。
In the heat-resistant photosensitive polymer composition according to the present invention, it is essential to add a photopolymerization initiator, a photocrosslinking agent, or a sensitizer. Preferred examples of these include mihiraketone, bis-4
, 4'-diethylaminobenzophenone, benzophenone, benzoin ether, benzoin propyl ether, anthrone, 1,9-benzoanthrone, acridine, nitropyrene, 1,8-dinitropyrene, 5-nitroacenaphthene, 2-nitrofluorene, pyrene- 1
3 .5
-diethylthioxanthone, 3.5-dimethylthioxanthone, 3.5-diisopropylthioxanthone, benzyl, 2.6-di(41-azidobenzal)cyclohexanone, 2.6-di(41-azidobenzal)-4-methylcyclohexanone, 2. 6-di(41-azidobenzal)-4-carboxycyclohexanone, 2.6-di(a+-azidobenzal)-4-hydroxycyclohexanone, 2.6-di(4'-azidocinnamylidene)cyclohexanone, 2.6- Di(41-azidocinnamylidene)-4-methylcyclohexanone, 2,6-di(4
+-azidocinnamylidene)-4-carboxycyclohexanone, 2,6-di(a+-azidocinnamylidene)
-4-hydroxycyclohexanone, 1-phenyl-5
-Merka 7'to 1H-tetrazole, 1-phenyl-
5-melteix, 3-acetylphenanthrene, 1-
Examples include, but are not limited to, indanone, 7-H-benz(de)anthracen-7-one, 1-naphthaldehyde, thioxanthin-9-one, 10-thioxanthenon, 3-acedolindole, and the like.

これらの中でさらに好ましし・ものの例としては、ミヒ
ラケトン、ビス−4,41−ジエチルアミノベンゾフェ
ノン、1−フェニル−5−メルカプト−1H−テトラゾ
ール、ベンジル、2.4−ジエチルチオキサントン、2
.4−ジメチルチオキサントン、2.4−ジイソプロピ
ルチオキサントン等が挙げられる。
Among these, more preferred examples include Mihiraketone, bis-4,41-diethylaminobenzophenone, 1-phenyl-5-mercapto-1H-tetrazole, benzyl, 2,4-diethylthioxanthone, 2
.. Examples include 4-dimethylthioxanthone and 2,4-diisopropylthioxanthone.

これらは単独または数種混合して用いられる。These may be used alone or in combination.

本発明で用いる光重合開始剤、光架橋剤、増感剤の好適
な配合割合は、一般式(1)、(2)の繰返し単位で表
わされる共重合ポリマ100重量部に対し、0.1〜3
0重量部で配合するのが好ましく、さらに好ましくは、
0,5〜20重量部の範囲で配合するのが好ましい。こ
の範囲を逸脱すると現像性に悪影響を及ぼす。
The preferred blending ratio of the photopolymerization initiator, photocrosslinking agent, and sensitizer used in the present invention is 0.1 parts by weight per 100 parts by weight of the copolymer represented by the repeating units of general formulas (1) and (2). ~3
Preferably, it is blended in an amount of 0 parts by weight, and more preferably,
It is preferable to mix it in the range of 0.5 to 20 parts by weight. Deviation from this range will adversely affect developability.

本発明において必要に応じて加える増感助剤は、光重合
開始剤を用いる際の重合促進剤として用いるもので、好
ましいものの例としては、4−ジエチルアミンエチルベ
ンゾエート、4−ジメチルアミノエチルベンゾエート、
4−ジメチルアミノイソプロピルベンゾエート、4−ジ
メチルアミノインアミルベンゾエート、エチレングリコ
ールジチオグリコレート、エチレングリコールジ(5〜
メルカプトプロピオネート)、トリメチロールプロパン
チオグリコール、トリメチロールプロパントリ(3−メ
ルカプトプロピオレート)、ペンタエリスリトールテト
ラチオグリコレート、ペンタエリスリトールテトラ(5
−メルカプトプロピオ洋−ト)、トリメチロールエタン
トリチオグリコレート、トリメチロールエタントリ(3
−メルカプトプロピオネート)、ジペンタエリスリトー
ルヘキサ(3−メルカプトプロピオネート)、ジペンタ
エリスリトールヘキサ(6−メルカプトプロピオネート
)、チオグリコール酸、α−メルカプトプロピオン酸等
が挙げられるが、これらに限定されない。
The sensitizing aid added as necessary in the present invention is used as a polymerization accelerator when using a photopolymerization initiator, and preferred examples include 4-diethylamine ethyl benzoate, 4-dimethylaminoethyl benzoate,
4-dimethylaminoisopropylbenzoate, 4-dimethylaminoinamylbenzoate, ethylene glycol dithioglycolate, ethylene glycol di(5-
mercaptopropionate), trimethylolpropanethioglycol, trimethylolpropane tri(3-mercaptopropionate), pentaerythritol tetrathioglycolate, pentaerythritol tetra(5
-mercaptopropioate), trimethylolethane trithioglycolate, trimethylolethane tri(3
-mercaptopropionate), dipentaerythritol hexa(3-mercaptopropionate), dipentaerythritol hexa(6-mercaptopropionate), thioglycolic acid, α-mercaptopropionic acid, etc. Not limited.

これらの中でさらに好ましいものの例としては、4−ジ
メチルアミノエチルベンゾエート、4−ジメチルアミノ
イソアミルベンゾエート、ベアpエリスリトールテトラ
チオグリコレート、ペンタエリスリトールテトラ(3−
メルカプトプロピオネート)、トリメチロールプロパン
チオクリコレート等が挙げられる。
Among these, more preferable examples include 4-dimethylaminoethyl benzoate, 4-dimethylaminoisoamyl benzoate, bare p-erythritol tetrathioglycolate, and pentaerythritol tetra(3-dimethylaminoethyl benzoate).
mercaptopropionate), trimethylolpropanethioacrylate, and the like.

これらは単独または数種混合して用いる。These may be used alone or in combination.

本発明で増感助剤を用いる場合の配合割合は、一般式(
1)、f2+の様返し単位で表わされる共重合ポリマ1
00重量部に対し%0.1〜60重量部が好ましく、さ
らに好ましくは、05〜20重量部の範囲である。この
範囲より少ない配合量では十分な重合促進効果が必ずし
も得られず、多い場合には現像性が低下する等の悪影響
が生ずることがある。
The blending ratio when using a sensitizing aid in the present invention is determined by the general formula (
1), copolymer 1 expressed by f2+ modified units
It is preferably in the range of 0.1 to 60 parts by weight, more preferably in the range of 05 to 20 parts by weight. If the amount is less than this range, a sufficient polymerization promoting effect may not necessarily be obtained, and if it is more than this range, adverse effects such as a decrease in developability may occur.

本発明による耐熱感光性重合体組成物は、上記構成取分
を適当な有機溶剤に溶解した溶液状態で用いる。この場
合に用いる溶媒としては、溶解性の観点から、非プロト
ン性極注溶媒が望ましい。
The heat-resistant photosensitive polymer composition according to the present invention is used in the form of a solution in which the above-mentioned components are dissolved in a suitable organic solvent. The solvent used in this case is preferably an aprotic injection solvent from the viewpoint of solubility.

具体的には、N−メチル−2−ピロリドン、N−アセチ
ル−2−ピロリドン、ヘーベンジルー2−ピロリドン、
N、N−ジメチルホルムアミド、へ、N−ジメチルアセ
トアミド、ジメチルホルホキンド、ヘキサメチルホスホ
ルトリアミド、N−アセチル−8−カプロラクタム、ジ
メチルイミダゾリジノン、1.2−ジメトキシエタン、
1−アセトキシ−2−メトキシエタン、r−ブチロラク
トン、ジエチレングリコールジメチルエーテル、トリエ
チレングリコールジメチルエーテルなどが好適な例とし
て挙げられろ。これらは単独で用いてもよく、数種の混
合系として用いることも可能である。
Specifically, N-methyl-2-pyrrolidone, N-acetyl-2-pyrrolidone, hebenzyl-2-pyrrolidone,
N,N-dimethylformamide, he,N-dimethylacetamide, dimethylforfoquinde, hexamethylphosphorotriamide, N-acetyl-8-caprolactam, dimethylimidazolidinone, 1,2-dimethoxyethane,
Suitable examples include 1-acetoxy-2-methoxyethane, r-butyrolactone, diethylene glycol dimethyl ether, and triethylene glycol dimethyl ether. These may be used alone or as a mixture of several types.

また、塗布性を改良するために、トルエン、キシレン、
メトキシベンゼン等の芳香族系溶媒を、ポリマの溶解に
悪影響を及ぼさない範囲で混合してもさしつかえない。
In addition, toluene, xylene,
An aromatic solvent such as methoxybenzene may be mixed as long as it does not adversely affect the dissolution of the polymer.

本発明による耐熱感光性重合体組成物の塗膜、または加
熱硬化後のポリイミド被膜と支持基板との接着性をさら
に向上させろために、適宜支持基板を接着補助剤で処理
してもさしつかえない。
In order to further improve the adhesion between the coating film of the heat-resistant photosensitive polymer composition of the present invention or the polyimide film after heat curing and the support substrate, the support substrate may be appropriately treated with an adhesion auxiliary agent.

不発明の耐熱感光性重合体M放物は、通常の帛細加工技
術でパターン加工が可能である。支持基板への木組放物
の塗布には、スピンナーを用いた回転塗布、浸漬、噴霧
印刷などの手段が可能であリ、適宜選択することができ
ろ。塗布膜厚は、塗布手段、本組成物の固形分濃度等に
よって調節可能である。
The uninvented heat-resistant photosensitive polymer M paraboloid can be patterned using ordinary textile processing techniques. To apply the Kigumi Paramonto onto the support substrate, methods such as spin coating using a spinner, dipping, and spray printing can be selected as appropriate. The coating film thickness can be adjusted by the coating means, the solid content concentration of the composition, and the like.

乾燥工程を経て支持基板上で塗膜となった本発明による
組成物に、フォトマスクを介して紫外線を照射し、つい
で未露光部を現像液で溶解除去することにより、所望の
レリーフ・パターンを得る。
A desired relief pattern is formed by irradiating the composition according to the present invention, which has become a coating film on a support substrate through a drying process, with ultraviolet rays through a photomask, and then dissolving and removing the unexposed areas with a developer. obtain.

現像液の主成分としては、r−ブチロラクトン、1.2
−ジメトキシニタン、1−アセトキシ−2−メトキシエ
タン、ジエチレングリコールジメチルエーテルなどの極
性溶媒を用いることができる。
The main components of the developer include r-butyrolactone, 1.2
-Polar solvents such as dimethoxynitane, 1-acetoxy-2-methoxyethane, and diethylene glycol dimethyl ether can be used.

目的に応じて、より極性が強く溶解性の大きいN−メチ
ル−2−ピロリドン、N、N−ジメチルアセトアミド、
ジメチルスルホキシド、ジメチルイミダゾリジノン等の
非プロトン性極性溶媒や、極性の低いトルエン、キシレ
ン等の芳香族系溶媒、一般式(1)、(2)の繰返し単
位で表わされる共重合ポリマの非溶媒であるアルコール
、水との混合系で用いることも可能である。また用途に
よっては、溶解性の大きい極性溶媒とアルコール、水と
の混合系によっても現像される。
Depending on the purpose, more polar and highly soluble N-methyl-2-pyrrolidone, N,N-dimethylacetamide,
Aprotic polar solvents such as dimethyl sulfoxide and dimethylimidazolidinone, aromatic solvents with low polarity such as toluene and xylene, and non-solvents for copolymerized polymers represented by repeating units of general formulas (1) and (2). It is also possible to use it in a mixed system with alcohol and water. Depending on the application, development may also be carried out using a mixed system of a highly soluble polar solvent, alcohol, and water.

現像によって形成したレリーフ・パターンは、ついでリ
ンス液によって洗浄して、現像溶媒を除去する。
The relief pattern formed by development is then washed with a rinse solution to remove the development solvent.

リンス液には、現像液との混和性がよく、一般式(1)
、(21の繰返し単位で表わされる共重合ポリマの非溶
媒が用いられる。好適な例としては、メタノール、エタ
ノール、イソプロピルアルコール、ベンゼン、トルエン
、キシレン、水Ql”lケラレる。
The rinsing liquid has good miscibility with the developer and has general formula (1).
, (21 repeating units) are used. Suitable examples include methanol, ethanol, isopropyl alcohol, benzene, toluene, xylene, and water.

上記の処理によって得られたレリーフ・パターンのポリ
マはポリイミドの前駆体であり、150℃〜450℃ま
での範囲から選ばれた加熱温度で処理することにより、
耐熱性を有するポリマのパターンが得られる。
The relief pattern polymer obtained by the above treatment is a precursor of polyimide, and by treatment at a heating temperature selected from the range of 150°C to 450°C,
A pattern of heat-resistant polymer is obtained.

〔作用J 上記したように、本発明によれば、液粘性が比較的低く
、溶解力の低い弱極性溶媒を現像液として使用しても、
未露光部分の十分な溶解性を確保することができるとと
もに、未露光部分の溶解拡散も良好なものとすることが
でき、その一方で、露光部の溶解を十分抑制することが
できる。。。
[Effect J As described above, according to the present invention, even if a weakly polar solvent with relatively low liquid viscosity and low dissolving power is used as a developer,
Sufficient solubility of the unexposed portions can be ensured, and dissolution and diffusion of the unexposed portions can also be made good, while dissolution of the exposed portions can be sufficiently suppressed. . .

ため−厚膜の場合であっても、優れた解像性が得られる
Therefore, even in the case of a thick film, excellent resolution can be obtained.

また、主成分である共重合ポリマの原料である酸二無水
物成分およびジアミン成分の両方に感光基を導入してい
るため、繰返し単位当りの感光基数を増すことが考えら
れる。
Furthermore, since photosensitive groups are introduced into both the acid dianhydride component and the diamine component, which are the raw materials for the copolymer that is the main component, it is possible to increase the number of photosensitive groups per repeating unit.

さらに、支持基板との反応性の高いSi成分を含むSi
系ジアミンをポリマ主鎖に共重合させているので、支持
基板との接着性を向上させることができる。
Furthermore, Si containing a Si component that is highly reactive with the supporting substrate
Since the system diamine is copolymerized with the polymer main chain, it is possible to improve the adhesion to the supporting substrate.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の詳細な説明する。 The present invention will be explained in detail below.

実施例1 3.3.4.4′−ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物7.35g(0,025モル)と2−ヒドロキシエチ
ルメタクリレート6.5 g(0,05モル)を窒素気
流下に50gのN−メチル−2−ピロリドン (略号N
MP)に加え、ついでピリジン(略号Py)6.5g(
α05モル)を加えて、40℃で5時間反応させた。得
られた均一溶液に対し、3.5−ジアミノ(2′−メタ
クリロイルオキシエチル)ベンゾニー)5.02g(0
,019モル)とビス(3−アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサン0.25g(1001モル)を加え、
ついでジシクロへキシルカルボジイミド(略号DDC)
 10.3 g (0,05モル)を加えて室温で5時
間反応させた(式1)。
Example 1 7.35 g (0.025 mol) of 3.3.4.4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride and 6.5 g (0.05 mol) of 2-hydroxyethyl methacrylate were added to 50 g under a nitrogen stream. N-methyl-2-pyrrolidone (abbreviation N
MP), then 6.5 g of pyridine (abbreviation Py) (
α05 mol) was added thereto, and the mixture was reacted at 40°C for 5 hours. To the obtained homogeneous solution, 5.02 g (3,5-diamino(2'-methacryloyloxyethyl)benzony) (0
,019 mol) and 0.25 g (1001 mol) of bis(3-aminopropyl)tetramethyldisiloxane,
Then dicyclohexylcarbodiimide (abbreviation DDC)
10.3 g (0.05 mol) was added and reacted at room temperature for 5 hours (Formula 1).

(以下余白) 得られた反応混液を激しく攪拌している700−tのメ
タノール中にゆっくりと注いだ。反応混液がメタノール
に混ざるとすぐに、ポリマ(I)が析出してきた。析出
したポリマな吸引濾過で集め、さらに、20Odづつの
メタノールで3回洗浄した。さらに減圧乾燥して、最終
的に4.1gのポリマIを得た。
(Left below) The resulting reaction mixture was slowly poured into 700-t methanol with vigorous stirring. As soon as the reaction mixture was mixed with methanol, polymer (I) began to precipitate. The precipitated polymer was collected by suction filtration and further washed three times with 20 od of methanol each. Further drying was carried out under reduced pressure to finally obtain 4.1 g of Polymer I.

上記によって得たポリマ(I)2.5g、2.4−ジエ
チルチオキサントン0.075g、4−ジメチルアミノ
エチルベンゾx −) 0.15g?ニア、1 gON
、 N−ジメチルアミノアセトアミドに溶解し、ついで
1μm孔のフィルタを用いて加圧濾過して感光性ワニス
を得た。
2.5 g of polymer (I) obtained above, 0.075 g of 2,4-diethylthioxanthone, 0.15 g of 4-dimethylaminoethylbenzox-)? Near, 1 gON
, was dissolved in N-dimethylaminoacetamide, and then filtered under pressure using a filter with 1 μm pores to obtain a photosensitive varnish.

上記ワニルをスピンナを用いてシリコンウェハ上に回転
塗布し、ついで90tで50分間乾燥して、31μmの
塗膜を得た。この塗膜をストライプパターンを有するフ
ォトマスクで密着被覆し、500W高圧水銀灯を用いて
10秒間紫外線照射した。受光面での紫外線強度は、3
65nmの波長で5 m W/−であった。r−ブチロ
ラクトン7谷、キソL/ン3谷から成る混液で現像し、
ついでイソプロピルアルコールでリンスして最小20β
mのライン・アンド・スペース・パターンが解像された
The above varnish was spin-coated onto a silicon wafer using a spinner, and then dried at 90 tons for 50 minutes to obtain a coating film of 31 μm. This coating film was closely covered with a photomask having a stripe pattern, and irradiated with ultraviolet rays for 10 seconds using a 500W high-pressure mercury lamp. The intensity of ultraviolet rays at the light receiving surface is 3
It was 5 mW/- at a wavelength of 65 nm. Developed with a mixed solution consisting of 7 troughs of r-butyrolactone and 3 troughs of xo L/n,
Then rinse with isopropyl alcohol to reduce the
m line-and-space patterns were resolved.

現像後膜厚が現像前膜厚の1/2になる照射量で定義し
たg度は、22mJ/dであった。つぎに、このパター
ンを200℃で30分間、350℃で30分間加熱する
ことにより、耐熱性を有する22μm厚のポリイミドバ
ター7を得た。このパターンにおいて、現像後および最
終硬化後に、基板からの剥離は見られなかった。
The degree of g, defined as the dose at which the film thickness after development becomes 1/2 of the film thickness before development, was 22 mJ/d. Next, this pattern was heated at 200° C. for 30 minutes and at 350° C. for 30 minutes to obtain heat-resistant polyimide butter 7 with a thickness of 22 μm. In this pattern, no peeling from the substrate was observed after development and after final curing.

実施例2〜16 実施例2〜13において、第1表に示した1組成で、実
施例1と同様の操作な行なった。得られた結果を同表に
示す。
Examples 2 to 16 In Examples 2 to 13, the same operations as in Example 1 were performed using one composition shown in Table 1. The obtained results are shown in the same table.

(以下余白) 比較例 ジアミノジフェニルエーテル11gyN−メチル−2−
ピロリドン5t8gに溶解し、アミン溶液を調脅した。
(Left below) Comparative example Diaminodiphenyl ether 11gyN-methyl-2-
It was dissolved in 5t8g of pyrrolidone to prepare an amine solution.

無水ピロメリット酸12g’i<このアミン溶液に力口
え、50℃で3時間反応させてポリアミドm溶液を得た
12 g'i of pyromellitic anhydride was added to this amine solution and reacted at 50° C. for 3 hours to obtain a polyamide m solution.

上記のポリアミド酸溶液50gにミヒラケトン115g
を3.0gのN、N−ジメチルアセトアミドに溶解した
溶液とジエチルアミノメタクリレ−)10.2gを10
gのN、N−ジメチルアセトアミドに溶解した溶液を混
倉し、1μm孔のフィルタを用いて加圧濾過した。
115g of Mihiraketone to 50g of the above polyamic acid solution
was dissolved in 3.0 g of N,N-dimethylacetamide and 10.2 g of diethylaminomethacrylate was dissolved in 10
A solution prepared by dissolving 1 g of N,N-dimethylacetamide was mixed and filtered under pressure using a filter with 1 μm pores.

得られた溶液をスピンナーでシリコンウエノ\上に塗布
し、100℃で5分間乾燥して、27μmの塗膜を得た
。実施例1と同じ露光装置、フォトマスクを用いて1分
間露光し、N%N−ジメチルホルムアミド5答、メタノ
ール2容から成る混合液で25℃で10分間現像したが
、未露光部分は完全に溶解せず、パターンは解像されな
かった。そこで現像温度を55℃に上げたが、この場会
は露光部分も含めて全体が溶はパターンは得られなかっ
た。つぎに露光時間を5分間とし・35℃で15分間現
像した。このとき、解像されたパターンの最小寸法は1
50nmであったが〜パターン周辺部分に基板からの剥
離が見られた。仄いで、200℃、30分間、さらに!
150cで30分間加熱して得た最終膜厚は8μmであ
った。
The obtained solution was applied onto silicone Ueno\ using a spinner and dried at 100°C for 5 minutes to obtain a 27 μm coating film. It was exposed for 1 minute using the same exposure device and photomask as in Example 1, and developed for 10 minutes at 25°C with a mixture of 5 volumes of N%N-dimethylformamide and 2 volumes of methanol, but the unexposed areas were completely removed. It did not dissolve and the pattern was not resolved. Therefore, the development temperature was raised to 55° C., but in this case, the entire pattern, including the exposed portion, was dissolved and no pattern was obtained. Next, the exposure time was set to 5 minutes, and development was carried out at 35° C. for 15 minutes. At this time, the minimum dimension of the resolved pattern is 1
Although the thickness was 50 nm, peeling from the substrate was observed around the pattern. In the dark, at 200℃ for 30 minutes, and more!
The final film thickness obtained by heating at 150°C for 30 minutes was 8 μm.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳述したように、本発明によれば、高感度で、解像
性および支持基板との接着性に優れた厚膜のパターン形
成が可能な耐熱感光性重合体組成物を提供することがで
き、LSIメモリのα+I!遮蔽膜や薄膜多層基板の層
間絶縁膜材としての利用が可能となった。
As detailed above, according to the present invention, it is possible to provide a heat-resistant photosensitive polymer composition capable of forming a thick film pattern with high sensitivity and excellent resolution and adhesion to a supporting substrate. Yes, α+I of LSI memory! It has become possible to use it as a shielding film or an interlayer insulating film material for thin-film multilayer substrates.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、(a)一般式(1) ▲数式、化学式、表等があります▼…(1) (但し、(1)式中R^1は少なくとも4個以上の炭素
を含む4価の有機基、R^2は芳香族環を含む3価また
は4価の有機基、P^1、P^2、P^3は感光基、X
はP^3とR^2をつなぐ有機基または−O−または▲
数式、化学式、表等があります▼を表わし、nは1また
は2である)で示される繰返し単位を主成分とするポリ
マを99.9〜50.0モル%、および 一般式(2) ▲数式、化学式、表等があります▼…(2) (但し、(2)式中R^3、R^4はアルキレンまたは
フェニレン、R^5、R^6、R^7、R^8は低級ア
ルキル基またはフエニル基、kは1から5までの整数で
ある)で示される繰返し単位を主成分とするポリマを0
.1〜50.0モル%含有する共重合ポリマ100重量
部と、 (b)光重合開始剤、光架橋剤、増感剤0.1〜30重
量部と、 から成る耐熱感光性重合体組成物。 2、上記共重合ポリマ100重量部に対して、0.1〜
30重量部の増感助剤をさらに含む特許請求の範囲第1
項記載の耐熱感光性重合体組成物。
[Claims] 1. (a) General formula (1) ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼...(1) (However, in the formula (1), R^1 contains at least 4 or more carbons. Tetravalent organic group, R^2 is a trivalent or tetravalent organic group containing an aromatic ring, P^1, P^2, P^3 are photosensitive groups, X
is an organic group connecting P^3 and R^2 or -O- or ▲
There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc. 99.9 to 50.0 mol% of a polymer whose main component is a repeating unit represented by ▼, where n is 1 or 2), and general formula (2) ▲Math. , chemical formulas, tables, etc.▼...(2) (However, in formula (2), R^3 and R^4 are alkylene or phenylene, and R^5, R^6, R^7, and R^8 are lower alkyl. or phenyl group, k is an integer from 1 to 5).
.. A heat-resistant photosensitive polymer composition consisting of 100 parts by weight of a copolymer containing 1 to 50.0 mol%, and (b) 0.1 to 30 parts by weight of a photopolymerization initiator, a photocrosslinking agent, and a sensitizer. . 2. 0.1 to 100 parts by weight of the above copolymer
Claim 1 further comprising 30 parts by weight of a sensitizing aid.
The heat-resistant photosensitive polymer composition described in 1.
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