JPH01282741A - 光ディスク装置におけるフォーカス引き込み回路 - Google Patents

光ディスク装置におけるフォーカス引き込み回路

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JPH01282741A
JPH01282741A JP11157988A JP11157988A JPH01282741A JP H01282741 A JPH01282741 A JP H01282741A JP 11157988 A JP11157988 A JP 11157988A JP 11157988 A JP11157988 A JP 11157988A JP H01282741 A JPH01282741 A JP H01282741A
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circuit
receives
focus
signal
disk
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JP11157988A
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Tadashi Saito
斉藤 規
Masashi Mori
雅志 森
Toshihiro Matsunaga
敏裕 松永
Katsumi Takeda
竹田 克美
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Hitachi Image Information Systems Inc
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Video Engineering Co Ltd
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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスク装置において、ディスク面上に常
に所定の径をもつビームスポットを結ばせるためのフォ
ーカス・サーボを動作状態に引き込むためのフォーカス
引き込み回路の改良に関するものである。
〔従来の技術] 光ディスク装置としては様々のものがあるが、例えば円
盤状の記録媒体(以下、ディスクと称す)をモータで回
転させ、記録時にはディスク上に照射している光源から
の光ビームの光量を変化させて記録し、再生時にはディ
スク上に照射している光ビームを弱い一定の光量にし、
ディスクからの反射光または透過光を光検出器により検
出して記録されている13号を再生する装置がある。
このような装置に用いられるディスクとしては、様々の
ものが提案されているが、例えばアクリル等の基板上に
記録材料膜を設け、記録材料面を内側にして2枚張り合
わせたものがある。アクリル等の基材は塵埃等による再
生信号への影苦を除くための保護層として利用されてい
る。記録材料としては、ビスマス(Bi)のように光ビ
ームの熱によって蒸発するもの、光ビームの熱によって
状態変化を生じるアモルファス半導体、光ビームの熱に
よって外部磁界を加えれば容易に磁化するビスマス化マ
ンガン(M n B i )等が知られており、記録膜
の反射率は記録材料により異る。
光ディスクに於けるフォーマットとしては、トラック1
周に一定間隔であらかしめピットを形成しておき、この
ピットから得られる再生信号をもとに、クロック、トラ
ックキング誤差信号等を得る方式が知られている。
この方式はサンプル・サーボ方式と呼ばれ、第8図に示
されている様にa、b、cの3つのピ・ントよりなるサ
ンプルマークを用いる方法である。
すなわち、仮想的なトラックd、eを例に考えると、各
トラックの一方の側にずれてピットaを、他方の側にず
れてピットbを配置し、トラック上にピットCを配置す
る。
そしてこの三つのピッ)a、b、cを1組としてサンプ
ル・マークと称し、これを1トラツク上に1千組以上も
配置(プリフォーマット)する。
ビットa、bの再生信号からトラッキング誤差信号を得
、ピットCからクロック信号を得ることができる。
また光ディスクのなかには、トラッキング誤差信号を得
るための情報が記録されていない領域を合わせ持つもの
がある。これらの領域には例えばディスクの仕様等が記
録されている(以後、ががる領域をPEP領域と称す)
このような様々なディスクは、そり、凹凸等を有し、デ
ィスクを回転させたとき、面振れを生じる。この面振れ
は大きいもので1柵程度あり、また湿度、温度変化ある
いは重力等によって垂れ下がったり、そり上がったりす
る。高密度に信号を記録し再生するには、ディスク上の
光ビーム径を1μm程度に絞る必要があり、多種多様の
面振れを有するディスク上の光ビームが略一定の収束状
態となるようにフォーカス・サーボを講じる必要がある
以下、従来技術について説明する。
第2図は、従来のフォーカス・サーボ、特にそのフォー
カス引込み回路を示すブロック図である。
なお、第3図は第2図の従来回路における各部波形図で
ある。
第2図において、半導体レーザ等の光源1より発生した
光ビーム2はカップリングレンズ3により平行光にされ
、半透明鏡4、反射鏡5、収束レンズ6を介してディス
ク10上に収束され、ディスク10によって反射された
反射光7は収束レンズ6、反射鏡5、半透明鏡4を介し
て光検出器11.12上に照射されている。
これらの光学系は移送台8に連結した送りモータ(図示
省略)で移動する。ディスク10はモータ9により回転
しているが、光ビームがディスク面振れ等に追従するよ
うに、フォーカス・サーボは2分割構造の光検出器11
.12の出力の差を差動増幅回路13で検出してフォー
カス誤差信号を得ており、この誤差信号を位相補償回路
14、ループ・スイッチ15(その制御端子が゛H′ル
ベルのときに閉じ、“LI+レベルのときに開くものと
する)、駆動回路16を介してアクチュエータ17の変
化量(レンズ6を上下動させてフォーカスさせる移動量
)を制御している。
なお、光ビームの入射光軸を対物レンズ6の光軸および
ディスク面に対してわずかに傾けると、ディスク反射光
軸も傾くが、ディスク面を上下するとその反射光軸が平
行移動するので、結像面近くに2分割の光検出器(11
,12)を置き、この出力を差動増幅してフォーカス誤
差信号を得る方法は、ビーム偏心法と呼ばれ周知のもの
である。
一方、光検出器11.12出力は差動増幅回路13に入
力されるとともに、加算増幅回路20にも入力されてお
り、この加算増幅回路20によりディスク10の保護層
表面あるいは記録面から反射される戻り光量(記録面か
らの場合は再生信号になる)を知る事ができる。さらに
差動増幅回路13の出力信号B(フォーカス誤差信号)
は第1のコンパレータ回路18へ、また加算増幅回路2
0の出力信号Cは第2のコンパレータ回路21に導かれ
ている。ただし、第1のコンパレータ回路18は入力信
号が一度しきい電圧E1に達すると、自らしきい電圧E
lを下げ、出力をそのまま“11”ルベルに保つことが
できる。
23はCPU (中央処理装置)である。CPU23は
多くの場合、ROM、RAM、I10ポートを1チツプ
に収めたシングルチップマイコンを用いるが、ROM、
RAM、I10拡張のラッチ、バッファ等とアドレスデ
コーダを外部にもつマルチチップマイコンであることも
ある。いずれの場合も、CPU23は複数本の入力ポー
トおよび出力ボートを有し、あらかじめROMに記録し
たプログラムに従い、それらの入出力ボートを制御する
。このCPU23により、光ディスク装置のフォーカス
を含む各サーボ(フォーカス以外は本発明と直接関係は
ないが)を制御している。
なお、100はLASW信号で、“HIIレベルのとき
に半導体レーザ等の光源lの発光を停止し、“L”レベ
ルのときに同光源1の発光を開始する。
101はF OK k 号で“I7゛レベルのときにフ
ォーカス・サーボの解除、またははずれていることを示
し、“Ho”レベルのときにフォーカス・サーボがロッ
クしていることを示し、CPU23へ入力している。1
02はFLAG信号で、AND回路19を経て、ループ
スイッチ15を開閉制御する。
第3図において、まずタイミングT1までは■ASW信
号100(第3図A)がH++レベルで、光源10発光
を停止している。次に、タイミングT1でLASW(3
号100を“L”レベルにして光源1を発光させるとと
もに、FLA(1,信号102(第3図E)を“H”レ
ベルに設定しておき、収束レンズ6を図示せざる手段で
ディスク10へ接近させると、ディスク10の保護層表
面からの反射信号によるフォーカス誤差信号(差動増幅
回路13の出力B)が第3図Bのように、また戻り光量
信号(加算増幅回路20の出力)が同図Cの様に発生す
る。
このとき、第1、第2のコンパレータ回路18゜21の
入力信号(第3図B、C)が各々のしきい電圧El、E
2を越えるため、AND回路19出力は“H”レベルと
なり、ループ・スイッチ15を閉じて、ディスク10の
保護層表面というピントの記録面でない面に対してフォ
ーカス・サーボが引込む。
CPU23では、光源lが発光したタイミングTIから
保護層表面でフォーカス・サーボが引込むT2のタイミ
ングまでの時間Tsを図示せざるタイマーを用いてカウ
ントし、その値をRAMに記憶させる。しかる後、タイ
ミングT3で光源10発光を停止で、フォーカス・サー
ボを一時的に切る。
引続き、タイミングT4で光源1を発光させると同時に
、再度収束レンズ6をディスク10へ接近させる。この
とき、タイミングT5で再び保護層表面からの反射信号
が現われるが、タイミングT4から少なくともTa2間
はFLAG信号102(第3図E)が“L 11レベル
であるようにしておくと、第1.第2のコンパレータ回
路18.21の入力信号が各々のしきい電圧El、E2
を越えても、AND回路19出力(第3図D)はL I
+レベルを保つ。このため、ループ・スイッチ15は開
いたままになのるで、保護層表面でフォーカス・サーボ
は引込まない。
次に、タイミングT4からの時間Trが前記Tsよりも
長くなったタイミングT6でFLAG信号102が“H
”レベルになるように設定しておく。
すると、その後、今度は保護層表面ではなく、ピットが
実際に記録されている記録面としての記録膜からの反射
信号が入来して第1.第2のコンパレータ回路18.2
1の各々のしきい電圧El。
E2を越えると、AND回路19出力が“H”レベルと
なり、つまりT7のタイミングでループ・スイッチ15
が閉じ、フォーカス・サーボが引き込む。かくして保護
層表面(記録面ではないからフォーカス・サーボが引き
込んで欲しくない面)での引き込みを避け、記録面(膜
)での引き込みを実現することができる。
なお、タイミングT2において、フォーカス・サーボが
ロックした相手が保護層表面であるかどうかは、詳細な
説明を省いたが、トラッキング誤差信号(回路および動
作波形とも図示省略)の有無を検出して判断すればよい
(加算増幅回路20の出力としてトラッキング誤差信号
が検出されれば、記録膜であり、検出されなければ保護
表面である)。
また逆に、保護層表面からの反射信号レベルがゴミやキ
ズなどによって、極端に低下した場合、保護層表面で一
度、フォーカス・サーボが引き込まずに、いきなり記録
膜で引き込む可能性がある。
この場合も、前述のようにトラッキング誤差信号の有無
を検出して判断すればよい。
なお、この種の装置を記載したものとしては、例えば特
開昭62−31031号公報を挙げることができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
前記従来技術では、フォーカス・サーボ系のループを閉
じて引き込むタイミングを、フォーカス誤差信号と戻り
光量信号を、あらかじめ定めた値と比較する事により得
ていた。またディスク保護層表面を検出してフォーカス
・サーボが引き込んだ場合とディスク記録膜面を検出し
てフォーカス・サーボが引き込んだ場合との区別を、ト
ラッキング誤差信号が検出できるか否かで行って、いた
しかし、その方法には次に示す問題点がある。
a)戻り光量信号及びフォーカス誤差信号をあらかじめ
定めた値と大小比較するための回路(コンパレータ)が
必要となり回路規模が大きくなる。
b)戻り光量信号及びフォーカス誤差信号をあらかじめ
定めた固定値と比較しているため、ディスク記録膜の反
射率が様々に変化する場合には正常に動作しない(記録
膜の反射率が様々に異なる光ディスクが何種類も規格化
されている)、。
C)トラッキング誤差信号の有無のみで、フォーカス・
サーボが引き込んだ場所がどの面であるかを判断してい
るので、ディスク保護層表面でフォーカス・サーボが引
き込んだ場合に、保護層表面のキズやゴミによるノイズ
があると、それをトラッキング誤差信号と誤認識し記録
膜面での正しいフォーカス・サーボの引き込みが困難に
なる。
d)ディスクの偏心量が極端に少い場合、トラッキング
誤差信号の周波数が低(なり過ぎ、信号の有無の区別が
つけ難い。
e)−旦、フォーカス・サーボをディスク保護層表面で
引き込んでから、次に記録膜面での正しいフォーカス・
サーボの引き込みに移行するため、引き込み制御に要す
る時間が比較的長くなる。
f)トラッキング誤差信号を得るための情報が記録され
ていない領域、例えばP E P jJT域に於いては
、ディスク記録膜面でフォーカス・サーボが引き込んだ
事を認識出来ず不便である。
本発明の目的は、上記問題点を解決することのできるフ
ォーカス引き込み回路を提供する事である。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、次の様にして達成で出来る。すなわち、収
束レンズをディスクから充分遠い位置より除々にディス
クに近づけて行き、再生信号から、ディスク記録膜面に
プリフォーマットされたピットのパターンが検出された
瞬間に、光ビームがディスクの記録膜面上に集光してい
ると判断し、フォーカス・サーボ系を閉じる様にする(
但し、ディスク記録膜面にサンプル・マークの如きピッ
ト・パターンがプリフォ−マットされ゛ていることが必
要である)。あるいは、再生信号の電圧が最大になった
瞬間に、光ビームがディスクの記録膜面上に集光してい
ると判断し、フォーカス・サーボ系を閉じる様にする。
〔作用〕
本発明の動作について、以下説明する。
ディスクより再生された再生信号は、光検出器を介して
加算増幅回路で増幅されて、ピーク検出回路に出力され
る。一方、収束レンズをディスクに除々に接近させ、デ
ィスク保護層表面もしくは記録膜面に光ビームが集光し
た場合、ディスクから光検出器への反射光量が増加し、
再生信号の電圧レベルは上昇する。
さらに、光ビームが集光した場所が記録膜面である場合
には、再生信号にプリフォーマットされたピットのパタ
ーンが出力される。ピーク検出回路では、再生信号に現
われている信号のピークの時間的位置を検出し、クロッ
ク再生回路で、そのピーク位置の連続パターンが、ディ
スク記録膜面上のピットのパターンと一致するか否かを
fl’fl L’2する。もし一致したならば、光ビー
ムはディスク記録膜面上に集光していると判断し、フォ
ーカス・サーボ系を閉じる。
もしくは、加算増幅回路で増幅された出力信号をA/D
回路でディジタル信号に変換し、CPUへ出力する。C
PUは、ディジタル化された再生信号のレベルが最大に
なった瞬間に、光ビームがディスクの記録膜面上に集光
していると判断し、フォーカス・サーボ系を閉じる。
上記方式は、光ビームがディスク記録膜面上に集光した
事を、再生信号に特徴的なパターンが存在するか否かで
判断しているので、ノイズによる誤動作が生じ難い。又
、ピットはディスク−面に均等にプリフォーマットされ
ているので、偏心の有無に影響される事がない。さらに
は、ピットが存在すれば、トラッキング誤差信号の有無
に関係なく、フォーカス・サーボを引き込む事が出来る
そして、ディスク記録膜面を検出してから、フォーカス
・サーボ系を閉じているので、−旦保護層表面でフォー
カスが引き込む事がなくなるので、所要時間を短縮でき
る。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図において、第2図に示、した従来技術におけるのと同
一機能を有する部分には、同一番号を示しその説明を省
略する。そのほか、30はピーク検出回路、31.32
はそれぞれピット・パターン・デコード回路、70は特
異パターン検出回路、である。
第1図において、半導体レーザ等の光源1より発生した
光ビーム2はディスク10に向かって照射される。ディ
スク10に向かって照射された収束光40は、アクチュ
エータ17を強制駆動する事で(制御回路は図示省略)
収束レンズ6を上下させて、焦点距離を変化させる事が
出来る。ディスク10により反射された反射光7は光検
出器11.12上に照射されている。なお、ディスク1
0はモータ9によって回転しており、その際にディスク
10は面振れを生じる。フォーカス・サーボ系では、収
束光40がディスク10の面振れに追従する様に、2分
割構造の光検出器11.12のそれぞれの出力に対して
差動増幅回路13で誤差信号を出力し、ループ・スイッ
チ15(その制御端子Gl又はG2が“H”レベルのと
きに閉じ、L°“レベルのときに開くものとする)、駆
動回路16を介してアクチュエータ17により収束レン
ズ6の位置を制御している。
一方、光検出器11.12の出力は差動増幅回路13と
ともに加算増幅回路20にも入力されている。加算増幅
回路20で増幅された信号は特異パターン検出回路70
に出力される。特異パターン検出回路70は、ピーク検
出回路30とピット・パターン・デコード回路31.3
2から構成される。ピーク検出回路30では、信号のピ
ーク位置を検出して、ピット・パターン・デコード回路
31へ出力する。
なお、信号のピークはディスク10上のピットを再生し
た際に生じるものであり、スポットが記録膜面上に集光
され、かつそれがビット上を移動した場合に発生する。
ピット・パターン・デコード回路31では、信号のピー
ク位置の連続の中に、ディスク上のピットの連続に相当
するパターンが存在するか否かを検出する。もし、存在
したならば、光ビーム40はディスク10の記録膜面上
に集光していると判断し、ピット・パターン・デコード
回路31は出力(制御端子Gl)を“H”レベルへ変化
させる。それによってスイッチ15がオンとなりフォー
カス・サーボ系は閉じ、光ビーム40がディスク10の
記録膜面上に収束する様に制御される。
なお、収束レンズ6は、最初はディスク10より充分離
れた距離に位置し、除々にディスク上0へ近すけてゆく
。そして、ディスク10の記録膜面上に光ビーム40が
集光しフォーカス・サーボ系が閉じるまで、収束レンズ
6はディスク10への接近を続ける。もし、収束レンズ
6がディスク10に充分接近してもフォーカスが引き込
まない場合には、再び収束レンズ6をディスク10から
充分離れた位置へ移動し、除々にディスク10へ接近さ
せる、というリトライ動作を行う。
以上の動作により、サンプル・サーボ方式でプリフォー
マットされた領域へフォーカス・サーボを引き込む事が
出来る。しかし、P E P TiN域では、ピットの
サイズ及びピットのパターンが、サンプル・マーク方式
でプリフォーマットされた記録類域のそれとは異なって
いる。従って、ピット・パターン・デコード回路32を
別に設けて、信号のピーク位置の連続の中にPEP領域
のピットの連続に相当するパターンが存在するか否かを
検出している。もし、存在したならば、光ビーム40は
ディスク10の記録膜面上のPEP領域へ集光している
と判断し、ピット・パターン・デコード回路32は出力
(制御端子G2 )を“°L”レベルから゛°H″レベ
ルへ変化させる。それによりスイッチ15がオンし、フ
ォーカス・サーボ系は閉じ、光ビーム40がディスク1
0の記録膜面上のPED領域に集光する様に制御される
以上の動作によりP E P TiN域へフォーカス・
サーボを引き込む事が出来る。つまり、サンプル・サー
ボ方式でプリフォーマットされた領域とPEP jI域
とで、別のピット・パターン・デコード回路を設ける事
でいずれの領域に於いても、ディスク保護層表面を避は
記録膜面上でフォーカスを引き込む事が出来る。
第4図は第1図におけるピーク検出回路30の具体例を
示すブロック図である。第5図は第4図の回路における
各部信号波形図である。
第4図、第5図を参照する。ピーク検出回路30に入力
された信号aは微分回路51によってb2のような信号
に変換される。信号b2はコンパレータ回路52に出力
される。コンパレータ回路52のしきい値はblのよう
になっており、−旦b2がしきい値blを越えると、コ
ンパレータ回路52の出力Cは“°L“レベルから“H
”レベルへ変化し、その結果インバータ53の出力レベ
ルは“H”レベルから°°L゛°レベルへと変換する。
つまり、コンパレータ回路52のしきい値b1がL°”
レベルとなるため時間軸上のむ点が信号aのピーク値を
示す訳である。
コンパレータ回路52の出力信号Cの立ち下がりエツジ
がピーク検出回路30の出力として、ピット・パターン
・デコード回路31及びピット・パターン・デコード回
路32へ出力されるのである。サンプル・サーボ方式で
プリフォーマットされた領域に於けるピーク検出回路3
0の入出力信号について第6図を用いて説明する。
第6図において、aはピーク検出回路30へ出力される
信号であり、bはピーク検出回路30からビット・パタ
ーン・デコード回路31及びビット・パターン・デコー
ド回路32へ出力される信号である。サンプル・サーボ
方式に於いては、時間軸上の期間りに示されるパターン
(3個のパルスで1組とするサンプル・マーク)がディ
スク1周の間に1376回出現するのであるが、本発明
に於いては期間tに示されているパターン(サンプル・
マーク)を1度でも検出したならば、ピット・パターン
・デコード回路31は、出力を“L”レベルから“H1
1レベルへと変化させてフォーカス・サーボ系を閉じて
いる。P E P TJ域に於けるピーク検出回路の入
出力信号波形について第7図を用いて説明する。
第7図において、aはピーク検出回路30へ出力される
信号波形であり、bはピーク検出回路30の出力波形で
ある。P E P SJI域は、ビットが連続して70
〜93個プリフォーマットされている領域と、それと同
じ時間だけピットが全く存在しない領域との2種類の領
域から成っている。本発明に於いては、期間tに示され
ているパターンを1度でも検出したならば、ビット・パ
ターン・デコード回路31が、出力を“L IIレベル
から“H″゛゛レベル変化させて、フォーカス・サーボ
系を閉じている。
以上説明した様に、第1図に示される回路構成を採用す
ることによって、ディスク保護層表面を避は偏心の影響
を受は難いフォーカス引き込み回路を実現出来る。しか
も、従来はディスク保護層面と記録膜面との区別を一旦
フオーカスをいずれかに引き込んでから行っていたのに
対し、本実施例では、収束レンズ6を除々にディスク1
0に近すけなから、もしくは遠ざけなから、ディスクの
記録膜面を検出する事が出来るので、処理時間を短縮す
る事が出来る。さらに、光ビーム40が収束した場所が
、サンプル方式でプリフォーマットされた領域であって
もP E P FJ域であってもフォーカス・サーボを
引き込む事が出来る。
第9図は本発明の第2の実施例を示すブロック図である
。ただし、第9図において、第1図に示した第1の実施
例におけるのと同一機能を有する部分は同一番号で示し
てその説明を省略する。そのほか34はゲイン・コント
ロール回路、33はA/D変換回路、23はCPUであ
る。
第9図に於いて、ディスク10により反射された反射光
7は光検出器11.12を介して差動増幅回路13へ入
力され、誤差信号として差動増幅回路13から出力され
る。この誤差信号は位相補償回路14、ループ・スイッ
チ15、駆動回路16を介してアクチュエータ17を駆
動し、収束光40がディスク10の記録膜面上に収束す
る様に制御している。
一方、光検出器11.12の出力は、差動増幅回路13
に入力されるとともに加算増幅回路20にも入力されて
いる。そして、その加算増幅回路20の出力はゲインコ
ントロール回路34を介してピーク検出回路30及びA
/D変換回路33に入力されている。ピーク検出回路3
0では、信号のピーク位置を検出して、ビット・パター
ン・デコード回路31へ出力する。ビット・パターン・
デコード回路31では、信号のピーク位置の連続の中に
ディスク上のビットの連続に相当するパターンが存在す
るか否かを検出する。
もし、存在したならば光ビーム40はディスク10の記
録膜面上に集光していると判断し、ビット・パターン・
デコード回路31は出力(制御端子G1)をL°”レベ
ルから°“H“レベルへ変化させ、スイッチ15をオン
してフォーカス・サーボ系を閉じる。
それにより光ビーム40はディスク10の記録膜面上に
収束する様に制御される。このとき、ビット・パターン
・デコード回路31がフォーカス・サーボ系を閉じるタ
イミングは、CPU23にも入力されている。CPUは
、その瞬間にA/D変換回路33より入力されるディジ
タル化された再生信号のレベルを読む事でディスクの反
射光量を知る事が出来る。
つまり、もしもディスク面の反射率に起因した反射光量
の過不足によりフォーカスが引き込まない場合には、A
/D変換回路33の出力レベルが適切な値となる様に、
ゲイン・コントロール回路34のゲインをCPU23が
調整するようにすればよい。これによって記録膜面の反
射率の変化に対応出来、様々な反射率をもつディスクに
於いてフォーカス・サーボを引き込む事が出来る。
以上の動作によりサンプル・サーボ方式でプリフォーマ
ットされた領域へフォーカス・サーボを引き込む事が出
来る。一方、P E P 55域に於いては、ビット・
パターン・デコード回路31は動作しないので、CPU
23がA/D変換回路33の出力からフォーカス引き込
みタイミングを判断し、ループ・スイッチ15を制御す
る。
以下、P E P Fifi域にてフォーカスを引き込
むための第1の手段について説明する。第10図に示す
ように、先ず、収束レンズ6をディスク1oから充分遠
い距離へ位置させ、除々にディスク1゜へ接近させると
A/D変換回路33の出力であるディジタル化された再
生信号aは、ディスク10の保護層表面に光ビーム40
の焦点が接近すると上昇を開始し、丁度保護層表面に集
光した瞬間L1に局所的な最大値をとる。その後再びレ
ベルが下がり光ビーム40の焦点がディスク10の記録
膜面上に接近するとともにまたレベルが上昇する。
光ビーム40が記録膜面上に丁度集光した際に(t2.
)A/D変換回路33の出力aは最大となるのであるが
、本実施例に於いては、A/D変換回路33の出力aが
上昇の後、下降を開始した事で記録膜面を検出し、その
タイミング(t6)でループ・スイッチ15を閉じる。
以上の制御によりディスク10の記録膜面上でフォーカ
ス・サーボを引き込む事が出来る。この場合も、CPU
23は、A/D変換回路33の出力aのレベルから、デ
ィスク記録膜面の反射率を検出する事が出来、ゲイン・
コントロール回路34を調整する事によって、ディスク
記録膜面の変化に対応出来る。なお、第10図において
bは収束レンズ6をディスク10へ接近させるとき“H
”レベルであり“L”レベルで収束レンズ6をディスク
10より充分遠い位置へ戻す制御信号である。
またCは、CPU23がループ・スイッチ15を閉じる
タイミング(“′H”で閉じる)信号である。
PEP領域へフォーカス・サーボを引き込む第2の手段
を、第11図を用いて以下説明する。先ず収束レンズ6
をディスク10より充分遠い距離へ位置させ、ある時間
軸のポイント10より除々にディスクへ接近させる。b
は収束レンズ6をディスク10へ接近させるための制御
信号である(“H”レベルで収束レンズ6はディスク1
0へ除々に接近、“L”レベルでディスク10より充分
遠い位置へ戻る)。A/D変換回路33の出力aは時刻
t1で収束レンズ6がディスク10の保護層表面で集光
し、電圧レベルが上昇する。その後、時刻t2で収束レ
ンズ6はディスク10の記録膜面上に集光する。このと
き、CPU23はA/D変換回路33の出力aの電圧レ
ベルを記憶しておく。
その後、再度収束レンズ6をディスク10から充分遠い
位置へ戻しくt3)、再びディスク10へ接近を開始す
る(L4)。−度ディスク10の保護層表面で集光した
後(t5)、ディスク10の記録膜面へ収束レンズ6の
焦点が接近し、A/D変換回路33の出力は電圧レベル
が上昇する。
そのとき、時刻L2のタイミングで記憶したA/D変換
回路33の出力に再び達した瞬間(t6)に、CPU2
3は、ループ・スイッチ15を閉じる。CはCPU23
がループ・スイッチ15を閉じるタイミングである(“
H”で閉じる)。以上の制御によりディスク10の記録
膜面上でフォーカス・サーボを引き込む事ができる。
本実施例に於けるP E P SR域へフォーカスを引
き込む手段は、あらゆるフォーマットのディスクに対応
する事が出来る。つまり、記録膜面上のフォーマット情
報を何も利用せずかつ、ディスク記録膜面の反射率の変
化にも対応出来るのである。
また、本発明に於ける第1の実施例ではフォーカス引き
込みのために加算増幅回路20、ピーク検出回路30、
ピット・パターン・デコード回路31を用いているが、
これらは)3号再生のために必要なものであり、フォー
カス引き込みのためのみに必要なのは、第1図において
ピット・パターン・デコード回路32のみである。また
、本発明に於ける第2の実施例では、フォーカス引き込
みのためのみに必要な回路ブロックは存在しない。
つまり、従来技術と比較して、回路規模も充分縮小され
ている。
〔発明の効果〕
本発明によれば、ディスク記録膜面上にプリフォーマッ
トされている特徴的なピットのパターンが、再生信号か
ら検出された事で、光ビームがディスク記録膜面上に集
光したと判断しているので、ディスク保護層面上のキズ
やゴミによるノイズの影響を受は難く、トラッキング誤
差信号の有無にかかわらず、フォーカスを記録膜面上に
引き込む事が出来る。また、ピットはディスク−面に均
等にプリフォーマ・レトされているので、偏心の有無に
影響される事がない。さらには、−旦、ディスク保護層
表面へフォーカスが引き込む事がないので制御に要する
時間が短くなる。
また、ディスク記録膜面上に光ビームが収光した事を、
ディジタル化した再生信号が最大になった事で検出して
いるので、ディスク記録膜面の反射率にかかわらず、フ
ォーカスを引き込む事が出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
従来のフォーカス引き込み回路を示すブロック図、第3
図は第2図の回路に於ける各部信号波形図、第4図は第
1図に於けるピーク検出回路の具体例を示すブロック図
、第5図は第4図に於ける各部信号波形図、第6図はサ
ンプル・マーク方式でプリフォーマットされた領域に於
けるピーク検出回路の入出力信号波形図、第7図はPE
P領域に於けるピーク検出回路の入出力信号波形図、第
8図はサンプル・フォーマットに於けるピットの配置図
、第9図は本発明の他の実施例を示すブロック図、第1
0図および第11図はそれぞれ第9図の実施例に於ける
P E P 9M域へのフォーカス引き込み手段のタイ
ミング・チャート、である。 符号の説明 1・・・光源、10・・・ディスク、工3・・・差動増
幅回路、15・・・ループ・スイッチ、17・・・アク
チュエータ、20・・・加算増幅回路、23・・・CP
U、30・・・ピーク検出回路、31・・・ピット・パ
ターン・デコード回路、32・・・ピット・パターン・
デコード回路、33・・・A/D変換回路、34・・・
ゲイン・コントロール回路 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 ん 1 工 第2里 n 第3 図 第4 コ 第 5 屈 第 6 = 4jr−7F 弔 I ム 石 8 因 第 9 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、記録媒体としての光ディスクに投射した光ビームの
    反射光を検出する少なくとも2つの光検出器と、前記2
    つの光検出器からの検出出力を入力され差動増幅してフ
    ォーカス誤差信号を出力する差動増幅器と、該差動増幅
    器からのフォーカス誤差信号をスイッチ回路を介して入
    力される駆動回路と、該駆動回路からの駆動出力を入力
    されて前記光ビームをフォーカス方向に駆動するアクチ
    ュエータと、から成る光ディスク装置におけるフォーカ
    ス引き込み回路において、 前記2つの光検出器からの検出出力を入力され相互に加
    算して再生信号を出力する加算増幅器と、該加算増幅器
    からの再生信号を入力されその中に予め定められた特異
    パターンが含まれているときはそれを検出し、その検出
    出力により前記スイッチ回路をそれまでの開状態から閉
    状態に閉じる特異パターン検出回路と、を具備したこと
    を特徴とする光ディスク装置におけるフォーカス引き込
    み回路。 2、記録媒体としての光ディスクに投射した光ビームの
    反射光を検出する少なくとも2つの光検出器と、前記2
    つの光検出器からの検出出力を入力され差動増幅してフ
    ォーカス誤差信号を出力する差動増幅器と、該差動増幅
    器からのフォーカス誤差信号をスイッチ回路を介して入
    力される駆動回路と、該駆動回路からの駆動出力を入力
    されて前記光ビームをフォーカス方向に駆動するアクチ
    ュエータと、から成る光ディスク装置におけるフォーカ
    ス引き込み回路において、 前記2つの光検出器からの検出出力を入力され相互に加
    算して再生信号を出力する加算増幅器と、該加算増幅器
    からの再生信号を入力されその振幅を検出する再生信号
    振幅検出回路と、該再生信号振幅検出回路からの検出さ
    れた振幅値を入力されそれに従って前記スイッチ回路を
    それまでの開状態から閉状態に閉じる制御回路と、を具
    備したことを特徴とする光ディスク装置におけるフォー
    カス引き込み回路。 3、記録媒体としての光ディスクに投射した光ビームの
    反射光を検出する少なくとも2つの光検出器と、前記2
    つの光検出器からの検出出力を入力され差動増幅してフ
    ォーカス誤差信号を出力する差動増幅器と、該差動増幅
    器からのフォーカス誤差信号をスイッチ回路を介して入
    力される駆動回路と、該駆動回路からの駆動出力を入力
    されて前記光ビームをフォーカス方向に駆動するアクチ
    ュエータと、から成る光ディスク装置におけるフォーカ
    ス引き込み回路において、 前記2つの光検出器からの検出出力を入力され相互に加
    算して再生信号を出力する加算増幅器と、該加算増幅器
    からの再生信号を入力されその中に予め定められた特異
    パターンが含まれているときはそれを検出し、その検出
    出力により前記スイッチ回路をそれまでの開状態から閉
    状態に閉じる特異パターン検出回路と、 前記加算増幅器からの再生信号を入力されその振幅を検
    出する再生信号振幅検出回路と、該再生信号振幅検出回
    路からの検出された振幅値を入力されそれに従って前記
    スイッチ回路をそれまでの開状態から閉状態に閉じる制
    御回路と、を具備したことを特徴とする光ディスク装置
    におけるフォーカス引き込み回路。
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