JPH01280256A - 自動化学分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、試料の測定データをコントロール試料の測定
データに基づき補正する機能を備えた自動化学分析装置
に関する。

（従来の技術） 例えば人体から採取した血清を試料（サンプル）として
用いこれに所望の試薬を反応させてこの反応液内の特定
成分の濃度を例えば比色法により測定することによって
、総蛋白（ＴＰ）、尿酸（ＵＡ）、中性脂肪（ＴＧ＞等
の所望の項目を分析するようにした自動化学分析装置が
知られている。

第３図はこのような分析装置の一例を示すもので、分析
装置は大別してサンプラ部１と、サンプル希釈移送部２
と、反応部３とから構成されている。サンプラ部１は例
えば回転テーブル４を備えこの回転テーブル４には円周
に沿って分析すべぎ試料が試料容器５に収納された状態
でセットされ、これら容器５は回転テーブル４によって
一定のサイクルで間欠移動される。また回転テーブル４
の試料容器５の間には適当な間隔でコントロール試料が
収納されたコントロール容器６がセットされ、このコン
トロール試料は後述のように試料の測定データを補正す
る場合に用いられるようになっている。

サンプラ部１に隣接してサンプル希釈移送部２が配置さ
れ、回転テーブル４の所望位置に移動してきた容器５か
らは試料分注ノズル７によって所望の試料が吸引されて
前記移送部２の希釈容器８に分注されいわゆるサンプリ
ングが行われる。サンプル希釈移送部２はベルトコンベ
ア９によって希釈容器８を一定のサイクルで間欠移動さ
せ、試料を所望の倍率で希釈するための希釈ノズル１０
を価えている。また必要に応じて試料を電極法によって
測定するための電解質測定電極１１を僅えている。

サンプル希釈移送部２に隣接して反応部３が配置され、
ベルトコンベア９の所望位置に移動してきた容器８から
は試料分注ノズル１２によって希釈された所望の試料が
吸引されて前記反応部３の反応容器１３に分注される。

反応部３は試薬分注ノズル１４によって容器１３の試料
に所望の試薬を反応させ、また攪拌子１５によって容器
１３内の反応液を攪拌した後、測光系１６によって反応
液内の特定成分の濃度を比色法により測定するように構
成されている。なおサンプラ部１からの試料は直接に反
応部３に供給するように構成してもよい。このような分
析装置で試料の分析を行う場合、サンプラ部１からサン
プリングが開始された試料は以後一定のナイクルで先に
移送されて連続的に反応、測定が行われる。

このような分析装置で反応部３の測光系１６によって測
定されたデータは、測定順に適当な記憶装置に登録され
て必要に応じて取出されるようになっている。ただしこ
の場合各データの測定時刻は把握されていない。

ところでこのようにして連続的に得られる複数の測定デ
ータは時間の経過につれ、何らかの原因によって例えば
分析装置のシステムの故障によってドリフト状態にバラ
ついてしまうのが避けられない。このために測定データ
が正常か否かを判断する目的で、所望のタイミングで予
め測定結果が既知のコントロール試料を前記のようにサ
ンプラ部１の回転テーブルに用意し、このコントロール
試料を反応、ｇＩｌａに供給してこの測定データを）９
ることによって、この測定データに基づいて前記試料の
測定データを補正することが行われている。

第４図はこのような補正方法の一例を示すもので、一定
のサイクルで連続的に得られた複数の測定データＤｉ　
、　Ｄ２　、　Ｄ３、−・・に任意のタイミングで得ら
れた少なくとも２つのコンｌ−ロール試料の測定データ
ＣＩ　、Ｃ２を時系列的に配列させ、Ｃ１，Ｃ２間の測
定データのバラつきを０１゜Ｃ２に基づいて補正する場
合、隣接しでいる測定データ間の測定間隔Δｔは等しい
ものとみなして、Ｃ１、Ｃ２間の間隔Ｔと八ｔを基に０
１　、Ｃ２間の試料の数Ｎを求めて均等補正するように
したものでおる。すなわち隣接した測定データ間の変化
量は等しいものとみなしてＮに応じた均等補正を行うよ
うにしたものでおる。また第５図は他の補正方法を示す
もので、コントロール試料の測定データＣＩ　、　Ｃ２
、Ｃ３、・・・を一定のタイミングで得るようにその測
定間隔Ｔｌ　、　Ｔ２　、・・・を等しく設定し、これ
ら測定間隔に配列される等数（例えば４個）の試料の測
定データのバラつきをＣ１。

Ｃ２に基づいて補正するようにしたものでおる。

（発明が解決しようとする課題） ところで従来の分析装置における測定データの補正方法
には次のような問題がある。先ず前者においては試料の
測定データは一定のサイクルで得られるので各測定間隔
Δｔは等しいとの前提条件の基に行われているが、必ず
しも測定はこの条件を満足するようには行われないので
誤った補正が行われる場合がある。例えば試料の測定開
始後サンプラ部１から連続的にサンプリングされるべき
試料に空きが生じたような場合、または試料の中に緊急
試料が割込んだような場合には、試料の測定データは一
定のサイクルでは得られず飛び飛びで得られることにな
る。次に後者においては常に一定の間隔でコントロール
試料の測定データを得る必要があるので、コントロール
試料を頻繁にセットしなければならないため作業が煩雑
となり、また多量のコントロール試料を用意しなければ
ならずコストアップが避けられない。

本発明は以上のような事情に対処してなされたもので、
従来のいずれの問題をも解決することができる自動化学
分析装置を提供することを目的とするものでおる。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成するために本発明は、試料の複数の測定
データが得られた時刻またはこの測定データを得るため
の操作に着手した時刻を時系列的に把握して記憶するよ
うにしたものである。

（作　用） 複数の測定データが得られた時刻またはサンプリング時
刻等の測定データを得るための操作に着手した時刻を時
系列的に把握して記憶手段に記憶しておく。これによっ
て得られた複数データに関する時刻情報が認識されるた
め個々の測定データがいつ得られたかが正確に把握され
るので、試料の測定間隔に関係なくまたコントロール試
料の測定間隔に関係なしに測定データの補正を行うこと
ができる。従って正確でかつ簡単な作業で補正を行うこ
とができるようになる。

（実施例〉 第１図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示すブロ
ック図で、入力手段１８はキーボード等から（構成され
測定データの補正処理を行うのに必要なデータを入力す
るためのものである。時刻測定手段１９は時計機能から
成り反応部３の測光系１６において測定される試料の測
定データ及びコントロール試料の測定データの時刻を時
系列的に計時するためのものである。例えば第２図に示
すように最初に測定されるコントロール試料の測定デー
タＣ１の時刻をｔｏとして計時し、以下試料の測定デー
タＤｉ　、　Ｄ２　、　Ｄ３　、・・・が測定されるご
とに対応した時刻ｔ１．ｔ２．ｔ３．・・・を時系列的
に計時する。この場合何らかの原因によってＸ印で示す
ように測定データに空きが生じたときは、この時刻は計
時されない。またこれらの計時時刻の対象は測定データ
の測定時刻に限ることなく、サンプリング時の時刻のよ
うに測定データを得るための操作に着手した時刻を選ぶ
ようにしてもよい。これはサンプリング以降は一定のサ
イクルでシステマチックな動作が行われて、この時の相
互関係が維持されたまま反応、測定が行われるので、実
質的に測定データの測定時刻を対象に選んだ場合と同じ
結果が得られるからである。

記憶手段２０は各種のメモリ装置から構成され各測定デ
ータ及び前記時刻測定手段１９によって計時された試料
及びコントロール試料の時刻を時系列的に記憶するため
のもので、これらの測定データ及び時刻データは必要に
応じて読出し可能に構成されている。補正手段２１は演
算装置から構成され前記記憶手段２０に記憶されている
測定データ及び時刻データを読出して、第２図において
各測定データＤｉ　、　Ｄ２　、　Ｄ３　、・・・に対
応した時刻ｔｌ、↑２．ｔ３．・・・に応じてＣ１、Ｃ
２に基づいた補正を行うためのものでおる。これにより
従来におけるような均等補正でなく、Ｃ１，Ｃ２間の間
隔Ｔに対して実際の測定時刻に応じた補正が行われる。

出力手段２２はプリンタ、ＣＲＴデイスプレィ等から構
成され、補正処理が施こされた後の測定データをハード
コピー、またはソフトコピーの形で出力するためのもの
である。制御手段２３は専用のマイクロプロセッサから
構成され、全体の制御動作を司るものである。

次に本実施例の作用を説明する。

所望の試料の所望項目の測定が開始されるに先立ちコン
トロール試料の測定データの測定が行われ、この測定時
刻が時計機能によって計時されて第２図のようにその測
定データＣ１に対応した時刻ｔｏが記憶される。次に試
料の測定が開始され連続的に得られた測定データＣｈ　
、　Ｄ２　、　Ｄ３　。

・・・に対応した時刻↑１．ｔ２．ｔ３．・・・が同様
に計時され記憶される。また任意のタイミングで次のコ
ントロール試料の測定データＣ２が測定され、この測定
データＣ２に対応した時刻ｔ５が計時されて記′磨され
、これらの各時刻データは測定データと共に時系列的に
配列される。

これによって０１，０２間の測定データＤ１゜Ｄ２　、
　Ｄ３　、・・・のバラつきをＣｔ　、Ｃ２に基づいて
補正する場合、Ｃ１、Ｃ２間の間隔下に対して各データ
に対応した時刻ｔ１．ｔ２．ｔ３．・・・に応じて補正
が行われる。すなわち従来のように隣接した測定データ
間の測定間隔は等しいとみなすのではなく、測定時刻の
把握に基づいて各測定間隔を正しく認識することにより
これに応じた補正が行われる。

このような本実施例によれば、連続的に得られる測定デ
ータの測定間隔が何らかの原因で飛び飛びになっても、
例えばサンプラ部１に試料を追加するための試料に空き
が生じたり、または緊急試料が割込んだり、さらにはそ
の項目の測定要求がなかった等の原因で試料の測定デー
タが一定のサイクルで得られなくとも、各測定データの
測定時刻が把握されることによりこれに応じた補正が行
われるので正確な補正が行われる。またこのように測定
時刻を把握することにより、コントロール試料を一定の
間隔でかつ頻繁にセットする必要はなくなるので、作業
が簡単となり多量のコントロール試料は不要となるため
コストダウンを図ることができる。

なお測定データの測定時刻を計時することなく、測定デ
ータを得るための操作例えばサンプリングに着手した時
刻を計時するようにしても同様な結果が得られることは
前記した通りでおる。

［発明の構成］ 以上述べたように本発明によれば、測定データが得られ
た時刻または測定データを得るための操作に着手した時
刻を時系列的に把握して測定データの補正を行うように
したので、正確で簡単に補正を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示すブロ
ック図、第２図は本実施例による測定データの補正方法
の説明図、第３図は自動化学分析装置の一例を示す構成
図、第４図及び第５図は従来装置による測定データの補
正方法の説明図である。 １・・・サンプラ部、　　２・・・サンプル希釈移送部
、３・・・反応部、　　　　１６・・・測光系、１９・
・・時刻測定手段、２０・・・記憶手段、２１・・・補
正手段。 代理人　弁理士　　則　　近　　憲　　缶周　　　　　
　　近　　　藤　　　　　　　猛第２図 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 試料を測定することにより時系列的に得られた複数の測
   定データをコントロール試料の測定データに基づき補正
   する機能を備えた自動化学分析装置において、前記試料
   の複数の測定データが得られた時刻またはこの測定デー
   タを得るための操作に着手した時刻を時系列的に把握し
   て記憶する手段を備えたことを特徴とする自動化学分析
   装置。